Ram Stress Test(RST)是(shi)一(yi)個維修(xiu)級內(nei)(nei)存(cun)(cun)檢測(ce)工具,能夠檢測(ce)內(nei)(nei)存(cun)(cun)有(you)哪一(yi)塊顆粒(li)損壞(huai),PCB板有(you)沒(mei)有(you)短路或虛焊(han);Ram Stress Test能檢測(ce)SD內(nei)(nei)存(cun)(cun),也(ye)能檢測(ce)DDR內(nei)(nei)存(cun)(cun),是(shi)專業(ye)的(de)內(nei)(nei)存(cun)(cun)維修(xiu)工具,完(wan)全可(ke)以取代昂貴的(de)內(nei)(nei)存(cun)(cun)檢測(ce)卡(ka)。