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基本介紹

HD Tune Pro硬盤檢(jian)測(ce)(ce)(ce)工具是(shi)一款小巧(qiao)易(yi)用的硬盤工具軟(ruan)件(jian)(jian)，其主要功(gong)能(neng)有硬盤傳輸速率檢(jian)測(ce)(ce)(ce)，健康(kang)狀(zhuang)態檢(jian)測(ce)(ce)(ce)，溫(wen)度檢(jian)測(ce)(ce)(ce)及磁盤表面掃描等(deng)。另外，還(huan)能(neng)檢(jian)測(ce)(ce)(ce)出硬盤的固件(jian)(jian)版本、序列號、容量、緩存大小以(yi)及當前的Ultra DMA模式等(deng)。雖然這些(xie)功(gong)能(neng)其它(ta)軟(ruan)件(jian)(jian)也有，但難能(neng)可貴的是(shi)此軟(ruan)件(jian)(jian)把所有這些(xie)功(gong)能(neng)積于一身，而且(qie)非常小巧(qiao)，速度又快，更重要的是(shi)它(ta)是(shi)免費軟(ruan)件(jian)(jian)，可自由使用。

產品設計

HD Tune是(shi)一(yi)(yi)款(kuan)小巧(qiao)易用的(de)硬(ying)(ying)(ying)盤工(gong)具(ju)軟(ruan)件(jian)，其主要功(gong)(gong)能(neng)(neng)有(you)硬(ying)(ying)(ying)盤傳輸速率檢(jian)測(ce)，健康狀態檢(jian)測(ce)，溫度檢(jian)測(ce)及磁盤表面(mian)掃描(miao)存取時間、CPU占用率。另外，還能(neng)(neng)檢(jian)測(ce)出(chu)硬(ying)(ying)(ying)盤的(de)固件(jian)版本、序列(lie)號、容(rong)量、緩(huan)存大小以及當前的(de)Ultra DMA模(mo)式等。雖然這些功(gong)(gong)能(neng)(neng)其它軟(ruan)件(jian)也有(you)，但(dan)難能(neng)(neng)可貴的(de)是(shi)此軟(ruan)件(jian)把所有(you)這些功(gong)(gong)能(neng)(neng)集于一(yi)(yi)身，而且(qie)非常小巧(qiao)，速度又快，更重要的(de)是(shi)它是(shi)免(mian)費軟(ruan)件(jian)，可以自由使(shi)用。

特色功能

S.M.A.R.T.包(bao)含(han)很多個屬性，每個屬性值(zhi)只(zhi)有(you)兩種(zhong)含(han)義，超(chao)過閾(yu)(yu)值(zhi)和沒有(you)超(chao)過閾(yu)(yu)值(zhi)。一(yi)旦有(you)屬性值(zhi)超(chao)過了閾(yu)(yu)值(zhi)，表(biao)明(ming)(ming)“硬盤快不(bu)行了”。每個硬盤的S.M.A.R.T.信息中都注明(ming)(ming)了這些屬性的閾(yu)(yu)值(zhi)，不(bu)同(tong)廠家的閾(yu)(yu)值(zhi)是不(bu)同(tong)的，不(bu)同(tong)的屬性值(zhi)對(dui)(dui)于(yu)(yu)閾(yu)(yu)值(zhi)對(dui)(dui)比關系有(you)兩種(zhong)情況：應大于(yu)(yu)閾(yu)(yu)值(zhi)和小于(yu)(yu)閾(yu)(yu)值(zhi)。

(01)讀(du)取錯誤率(lv)Read Error Rate(應小于閾值)

硬件讀(du)(du)取錯誤率，在(zai)(zai)從磁(ci)盤(pan)(pan)表(biao)面(mian)(mian)讀(du)(du)取數據發(fa)生錯誤時記錄。任何大于0的(de)數據表(biao)明在(zai)(zai)磁(ci)盤(pan)(pan)表(biao)面(mian)(mian)或者讀(du)(du)寫柱頭(tou)發(fa)生過問(wen)題。這項(xiang)的(de)最差值(zhi)很低的(de)話，則提(ti)示(shi)硬盤(pan)(pan)多半(ban)有壞(huai)道(dao)。某些二手(shou)硬盤(pan)(pan)檢(jian)測這個數值(zhi)不正常的(de)話，有可(ke)能是被修(xiu)復或屏蔽(bi)過壞(huai)道(dao)。

(02)重新映射扇區(qu)計數(shu)Reallocated Sectors Count(應小于閾值(zhi))

重新(xin)映(ying)射(she)扇區的(de)(de)計數值。硬盤發現(xian)一個(ge)讀(du)、寫或(huo)校驗錯誤(wu)時，會將(jiang)這(zhe)個(ge)扇區重新(xin)映(ying)射(she)并將(jiang)數據轉移(yi)到一個(ge)特(te)殊的(de)(de)保(bao)留的(de)(de)空閑區域，這(zhe)些區域就稱為重新(xin)映(ying)射(she)扇區。也就是說，硬盤是無(wu)法通過檢(jian)測來發現(xian)“壞塊(kuai)(kuai)”的(de)(de)，所(suo)有的(de)(de)壞塊(kuai)(kuai)都被隱藏到了重新(xin)映(ying)射(she)的(de)(de)扇區里面了，當(dang)然這(zhe)樣讀(du)寫速度會有影響變慢。

(03)通電時(shi)間(jian)計數 Power-On Hours Count，POH(越(yue)小越(yue)好，通常無閾值(zhi))

通電(dian)狀(zhuang)態(tai)下的小(xiao)時(shi)計數。這個值表(biao)示了(le)硬(ying)盤(pan)通電(dian)狀(zhuang)態(tai)下總計的小(xiao)時(shi)計數，不過不同廠家這個值的單(dan)位(wei)有(you)所不同，也有(you)以分鐘(zhong)、秒鐘(zhong)為單(dan)位(wei)的。新買回的硬(ying)盤(pan)應該小(xiao)于10小(xiao)時(shi)吧。

(0A)馬(ma)達重試計數Spin Retry Count(應(ying)小于(yu)閾值)

馬達(da)(da)嘗(chang)試啟(qi)動(dong)的重試計數(shu)。這個屬性存(cun)儲(chu)了(le)(le)馬達(da)(da)為了(le)(le)達(da)(da)到(dao)(dao)標準轉(zhuan)速而進行(xing)的啟(qi)動(dong)嘗(chang)試的總(zong)計數(shu)，即(ji)第一次啟(qi)動(dong)并不能成功達(da)(da)到(dao)(dao)標準轉(zhuan)速。數(shu)值高可能電路或是硬盤的保(bao)留區(qu)有問(wen)題，說(shuo)明硬盤的機械系統出(chu)現了(le)(le)問(wen)題。

(0C)通(tong)電周期計(ji)數(shu)Power Cycle Count(越小越好，通(tong)常無閾(yu)值)

這個屬性(xing)表明了整個硬盤通電/去電周期的次(ci)數，即開關次(ci)數。

(C2)Temperature(越(yue)小越(yue)好，通常(chang)無(wu)閾值)

當前內部溫(wen)度。一般不應(ying)超過45攝氏度。

(C4)重新(xin)映射事件(jian)計數Reallocetion Event Count(應小(xiao)于(yu)閾(yu)值)

重新映射(she)操作的計數值。這個(ge)屬性值表明了將重新映射(she)扇區(qu)的數據(ju)轉移(yi)(yi)到空(kong)閑區(qu)域(yu)的嘗試總次數。成功(gong)的轉移(yi)(yi)和不成功(gong)的轉移(yi)(yi)都會被計數。

(C5)當(dang)前待映射扇區計數Current Pending Sector Count(應小于(yu)閾值(zhi))

“不穩定(ding)的”扇(shan)區(qu)數(shu)量，即等待被映(ying)射(she)(she)(she)的扇(shan)區(qu)數(shu)量。如(ru)果不穩定(ding)的扇(shan)區(qu)隨后被讀(du)寫(xie)(xie)成功，這個值(zhi)會(hui)(hui)降低，扇(shan)區(qu)也(ye)不會(hui)(hui)重新映(ying)射(she)(she)(she)。扇(shan)區(qu)讀(du)取錯誤不會(hui)(hui)造成重新映(ying)射(she)(she)(she)，扇(shan)區(qu)只(zhi)會(hui)(hui)在寫(xie)(xie)入(ru)失敗時發生(sheng)重新映(ying)射(she)(she)(she)。這個值(zhi)有時候會(hui)(hui)有問(wen)題(ti)，因為帶緩(huan)存寫(xie)(xie)入(ru)不會(hui)(hui)重新映(ying)射(she)(she)(she)扇(shan)區(qu)，只(zhi)有直接(jie)讀(du)寫(xie)(xie)才會(hui)(hui)真正寫(xie)(xie)入(ru)磁盤(pan)。假如(ru)這個數(shu)值(zhi)異(yi)常，則可(ke)能預示硬盤(pan)快掛了。。。。

(C6)無法校正扇區計(ji)數Uncorrectable Sector Count(應小(xiao)于閾值)

讀(du)寫扇(shan)區(qu)時發生(sheng)的無法校正(zheng)的錯誤總計數。這(zhe)個值上升(sheng)表(biao)明硬盤表(biao)明有缺損(sun)或者機械系統有問題。

(C7)直接內(nei)存訪問校驗(yan)錯誤計數UltraDMA CRC Error Count(應小(xiao)于閾值(zhi))

通(tong)過接(jie)口循環冗余校驗(yan)(Interface Cyclic Redundancy Check，ICRC)發(fa)現(xian)的(de)通(tong)過接(jie)口電(dian)纜進行數據傳輸的(de)錯誤。