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- 專利名稱：一種確認半成品電池片抗PID性能的測試方法
- 專利類型：發明
- 申請號：CN201410215742.6
- 公開(公告)號：CN103956974B
- 申請日：20140521
- 公開(公告)日：20151209
- 申請人：常州天合光能有限公司
- 發明人：肖婭,陳紅,高傳樓,彭義富
- 申請人地址：213022 江蘇省常州市新北區電子產業園天合路2號
- 申請人區域代碼：CN320411
- 專利權人：常州天合光能有限公司
- 洛迦諾分類：無
- IPC：H02S50/10
- 優先權：無
- 專利代理機構：常州市科誼專利代理事務所 32225
- 代理人：孫彬
- 審查員：張玉麒
- 國際申請：無
- 國際公開(公告)：無
- 進入國家日期：無
- 分案申請：無
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