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著錄信息

  • 專利名稱:基于結構電磁耦合的天線反射面網格劃分方法
  • 專利類型:發明
  • 申請號:CN200810017924.7
  • 公開(公告)號:CN101257149B
  • 申請日:20080410
  • 公開(公告)日:20110629
  • 申請人:西安電子科技大學
  • 發明人:鄭飛,段寶巖,李鵬,宋立偉,王從思
  • 申請人地址:710071 陜西省西安市太白路2號
  • 申請人區域代碼:CN610103
  • 專利權人:西安電子科技大學
  • 洛迦諾分類:
  • IPC:H01Q15/16
  • 優先權:
  • 專利代理機構:陜西電子工業專利中心 61205
  • 代理人:王品華;黎漢華
  • 審查員:孫鵬
  • 國際申請:
  • 國際公開(公告):
  • 進入國家日期:
  • 分案申請:

關鍵詞

反射面天線,幾何圖像,網格劃分,反射面,網格,標準網格,電磁分析,映射,計算機輔助分析,結構分析模型,天線工作頻率,反射面結構,天線反射面,工作頻率,結構電磁,結構分析,三維網格,網格變換,網格模型,性能參數,綜合集成,耦合,采樣,天線,變換,分析
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