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專利名稱：輻射探測器及其成像裝置、電極結構和獲取圖像的方法
專利類型：發明
申請號：CN201010288195.6
公開(公告)號：CN102401906B
申請日：20100919
公開(公告)日：20140312
申請人：同方威視技術股份有限公司
發明人：張嵐,陳志強,趙自然,吳萬龍,李元景,鄧智,鄭曉翠
申請人地址：100084 北京市海淀區雙清路同方大廈A座2層
申請人區域代碼：CN110108
專利權人：同方威視技術股份有限公司
洛迦諾分類：無
IPC：G01T1/24,H04N5/32,H01L27/146
優先權：無
專利代理機構：中科專利商標代理有限責任公司 11021
代理人：王波波
審查員：王策
國際申請：無
國際公開(公告)：無
進入國家日期：無
分案申請：無

關(guan)鍵詞

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