主板診斷卡代碼大全及處理方法

FF、00、C0、D0、CF、F1或什(shen)么也沒有(you)表示CPU沒通過

C1、C6、C3、D3、D4、D6、D8、B0、A7、E1表示內存不過

24、25、26、01、0A、0B、2A、2B、31表示顯卡不過(guo)

某些集成顯卡主板23、24、25表(biao)示(shi)可以(yi)正(zheng)常(chang)(chang)點(dian)(dian)(dian)(dian)亮(liang)，某(mou)些(xie)VIA芯片組(zu)顯(xian)(xian)示(shi)13則(ze)表(biao)示(shi)可以(yi)點(dian)(dian)(dian)(dian)亮(liang)，某(mou)些(xie)品(pin)牌機里的主板(ban)顯(xian)(xian)示(shi)0B則(ze)表(biao)示(shi)正(zheng)常(chang)(chang)，某(mou)些(xie)主板(ban)顯(xian)(xian)示(shi)4E表(biao)示(shi)正(zheng)常(chang)(chang)點(dian)(dian)(dian)(dian)亮(liang)，某(mou)些(xie)INTEL芯片組(zu)的主板(ban)顯(xian)(xian)示(shi)26或16則(ze)表(biao)示(shi)可以(yi)正(zheng)常(chang)(chang)點(dian)(dian)(dian)(dian)亮(liang)。C1、C6、C3、01、02這個組(zu)合循環跳變大(da)部(bu)分是(shi)I/0壞或刷BIOS。

如顯示05、ED、41則(ze)直接刷BIOS 00 。已(yi)顯示系(xi)統(tong)的(de)配置；即將控制INI19引導(dao)裝(zhuang)入。

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1、處理器測試(shi)1，處理器狀態(tai)核實(shi)，如果測試(shi)失敗，循環是無限(xian)的。 處理器寄存器的測試(shi)即(ji)將開始，不(bu)可屏蔽中斷即(ji)將停用。 CPU寄存器測試(shi)正在進行或者(zhe)失敗。

2、確(que)定(ding)診(zhen)斷的類型（正(zheng)常(chang)或者制造）。如果鍵盤緩沖器(qi)含(han)有數據(ju)就會失(shi)效。 停用(yong)不可屏蔽(bi)中斷；通過延遲開始。 CMOS寫入／讀出正(zheng)在(zai)進行或者失(shi)靈。

3、清除8042鍵盤(pan)控制器，發出TESTKBRD命(ming)令（AAH） 通電延遲(chi)已完(wan)成。 ROM BIOS檢查部件正在進行或失(shi)靈。

4、使8042鍵(jian)盤(pan)控(kong)制器復位，核實TESTKBRD。 鍵(jian)盤(pan)控(kong)制器軟復位／通電(dian)測試(shi)。 可編(bian)程間隔計(ji)時器的測試(shi)正在進行或失(shi)靈。

5、如(ru)果不斷(duan)重復(fu)制造測試(shi)1至5，可獲(huo)得8042控制狀態。 已確(que)定軟復(fu)位／通電；即將啟動ROM。 DMA初(chu)如(ru)準備正(zheng)在進行或者失靈。

6、使電(dian)路(lu)片(pian)作初始準備，停用(yong)視頻、奇偶性、DMA電(dian)路(lu)片(pian)，以及清(qing)(qing)除(chu)DMA電(dian)路(lu)片(pian)，所有頁面(mian)寄存器和CMOS停機字節。 已(yi)啟動ROM計算ROM BIOS檢查(cha)總和，以及檢查(cha)鍵盤(pan)緩沖器是否清(qing)(qing)除(chu)。 DMA初始頁面(mian)寄存器讀(du)／寫測試正在進行(xing)或失靈。

7、處(chu)理(li)器測(ce)試2，核實(shi)CPU寄存器的(de)工作(zuo)。 ROM BIOS檢查(cha)總和正常，鍵(jian)(jian)盤緩沖(chong)器已清除(chu)，向鍵(jian)(jian)盤發出BAT（基本保證(zheng)測(ce)試）命令。

8、使(shi)CMOS計時器作初始準備(bei)，正(zheng)常的更新計時器的循環。 已向鍵盤發出BAT命(ming)令，即將(jiang)寫入BAT命(ming)令。 RAM更新檢(jian)驗正(zheng)在(zai)進(jin)行或失(shi)靈。

9、EPROM檢查總和且(qie)必(bi)須等于零才通過。 核(he)實鍵盤的基本(ben)保(bao)證測(ce)試，接著核(he)實鍵盤命令字節(jie)。 第一個64K RAM測(ce)試正(zheng)在進行。

0A 使視(shi)頻(pin)接口作初始(shi)準備。 發出鍵(jian)盤命令字(zi)節代碼，即將寫入命令字(zi)節數(shu)據。 第一個64K RAM芯片或數(shu)據線失靈(ling)，移位。

0B 測試8254通道0。 寫入鍵盤控(kong)制器(qi)命令字節，即將發(fa)出引(yin)腳23和24的(de)封鎖／解鎖命令。 第(di)一(yi)個64K RAM奇／偶邏輯失靈(ling)。

0C 測試(shi)8254通道1。 鍵盤控(kong)制器引腳23、24已封鎖／解(jie)鎖；已發出NOP命令。 第一個64K RAN的地址線故(gu)障。

0D：

1）檢查CPU速度是否與系統時鐘相匹配。

2）檢查控制芯片(pian)已編(bian)程值是否(fou)符合初設置。

3）視頻通道測試，如果失敗，則鳴喇叭。 已(yi)處理NOP命令；接(jie)著測試CMOS停開寄(ji)存器。 第一個64K RAM的奇偶性失靈。

0E 測(ce)試(shi)(shi)CMOS停機字節。 CMOS停開(kai)寄存器讀／寫測(ce)試(shi)(shi)；將計算CMOS檢(jian)查總和。 初始化(hua)輸入／輸出端口地(di)址。

0F 測(ce)試擴展的CMOS。 已計(ji)算CMOS檢查總和(he)寫入(ru)診斷字(zi)節；CMOS開(kai)始初始準備。

10、測試DMA通道0。 CMOS已作(zuo)初始(shi)(shi)準(zhun)備，CMOS狀態(tai)寄存(cun)器即將為日期和(he)時間作(zuo)初始(shi)(shi)準(zhun)備。 第一個(ge)64K RAM第0位故障。

11、測試DMA通道(dao)1。 CMOS狀態寄存器已作(zuo)初始(shi)準備，即將停用DMA和中斷控制器。 第一(yi)個64DK RAM第1位故(gu)障。

12、測試(shi)DMA頁面寄存器(qi)。 停用DMA控制(zhi)器(qi)1以及中斷控制(zhi)器(qi)1和2；即將視頻(pin)顯示(shi)器(qi)并使(shi)端口B作初始準(zhun)備。 第(di)(di)一個64DK RAM第(di)(di)2位故(gu)障。

13、測(ce)試8741鍵(jian)盤控制器接口。 視頻顯示器已(yi)停用，端口B已(yi)作(zuo)初始(shi)(shi)準備；即將開始(shi)(shi)電路片初始(shi)(shi)化／存儲器自動檢測(ce)。 第(di)一個(ge)64DK RAM第(di)3位故障(zhang)。

14、測(ce)(ce)試存儲器更新(xin)觸發電路。 電路片初始化／存儲器處自動(dong)檢測(ce)(ce)結束；8254計時器測(ce)(ce)試即將開始。 第(di)一個64DK RAM第(di)4位(wei)故(gu)障。

15、測(ce)試(shi)開頭64K的系(xi)統存儲器(qi)。 第(di)2通道計時器(qi)測(ce)試(shi)了一(yi)半；8254第(di)2通道計時器(qi)即將(jiang)完(wan)成測(ce)試(shi)。 第(di)一(yi)個(ge)64DK RAM第(di)5位故障。

16、建(jian)立8259所用的中斷矢量(liang)表。 第(di)2通道計(ji)時器(qi)測試(shi)結束；8254第(di)1通道計(ji)時器(qi)即將完成測試(shi)。 第(di)一個(ge)64DK RAM第(di)6位(wei)故障。

17、調準視頻輸入／輸出工(gong)作，若裝有視頻BIOS則啟用。 第(di)(di)1通(tong)道計(ji)時器測試結束；8254第(di)(di)0通(tong)道計(ji)時器即將完成測試。 第(di)(di)一個64DK RAM第(di)(di)7位故(gu)障。

18、測(ce)試視頻存儲器，如果(guo)安裝選(xuan)用的(de)視頻BIOS通(tong)(tong)過，由可繞過。 第0通(tong)(tong)道計時器測(ce)試結束；即將開始(shi)更新存儲器。 第一個64DK RAM第8位故(gu)障。

19、測試第(di)1通道的(de)中斷控制(zhi)器（8259）屏蔽位(wei)。 已開始更新存儲器，接(jie)著將完(wan)成(cheng)存儲器的(de)更新。 第(di)一個64DK RAM第(di)9位(wei)故(gu)障。

1A 測(ce)試(shi)第(di)2通道的中斷控(kong)制(zhi)器(qi)（8259）屏蔽位。 正在觸發存儲(chu)器(qi)更新線路，即將(jiang)檢查15微秒(miao)通／斷時間。 第(di)一個64DK RAM第(di)10位故障。

1B 測(ce)(ce)試(shi)CMOS電池(chi)電平(ping)。 完(wan)成存(cun)儲器更新時(shi)間30微秒測(ce)(ce)試(shi)；即(ji)將(jiang)開始基本(ben)的64K存(cun)儲器測(ce)(ce)試(shi)。 第(di)一個64DK RAM第(di)11位(wei)故障。

1C 測(ce)試CMOS檢查總和。 第一個64DK RAM第12位故障。

1D 調定CMOS配(pei)置 。 第一個64DK RAM第13位故(gu)障。

1E 測(ce)定系統存儲器(qi)的大小，并(bing)且把它和CMOS值比(bi)較。第一個(ge)64DK RAM第14位故(gu)障(zhang)。

1F 測試64K存儲器(qi)至最高640K。第一個64DK RAM第15位故障。

20、測(ce)(ce)(ce)量(liang)固定的8259中斷位(wei)。 開始(shi)基本的64K存儲器(qi)測(ce)(ce)(ce)試；即將測(ce)(ce)(ce)試地址線。 從屬DMA寄存器(qi)測(ce)(ce)(ce)試正在(zai)進行(xing)或(huo)失靈(ling)。

21、維持(chi)不可屏(ping)蔽中(zhong)斷（NMI）位（奇(qi)偶性(xing)或輸入／輸出通(tong)道的檢查(cha)）。 通(tong)過地址(zhi)線測試；即將觸(chu)發奇(qi)偶性(xing)。 主DMA寄存器測試正(zheng)在進行或失靈。

22、測試8259的中斷功能。 結束觸(chu)發(fa)奇偶性(xing)；將開始串(chuan)行(xing)數據讀(du)／寫測試。 主中斷屏蔽寄存器測試正在進行(xing)或失(shi)靈。

23、測(ce)試(shi)保護方式(shi)8086虛擬方式(shi)和8086頁面方式(shi)。 基本的64K串(chuan)行數據讀／寫測(ce)試(shi)正(zheng)常；即將開始(shi)中斷矢量初始(shi)化(hua)之前的任何(he)調節。 從(cong)屬中斷屏蔽存(cun)器測(ce)試(shi)正(zheng)在進(jin)行或失靈(ling)。

24、測定1MB以上的擴展存儲器。 矢量初(chu)始(shi)化之(zhi)前的任何調節完成(cheng)，即將開始(shi)中斷(duan)矢量的初(chu)始(shi)準備(bei)。 設置ES段地址寄存器注冊表到內存高端。

25、測試除頭一個64K之后的所有存(cun)儲器。 完成(cheng)中(zhong)斷矢(shi)量(liang)初(chu)始(shi)準備(bei)；將為旋轉式斷續開始(shi)讀(du)出8042的輸(shu)入／輸(shu)出端口。 裝入中(zhong)斷矢(shi)量(liang)正(zheng)在進行或失靈。

26、測(ce)試保護方式(shi)的(de)(de)例外情況。 讀出8042的(de)(de)輸(shu)入(ru)／輸(shu)出端(duan)口(kou)；即將(jiang)為(wei)旋轉式(shi)斷續開始使全局(ju)數據作(zuo)初始準備。 開啟A20地址線；使之(zhi)參入(ru)尋址。

27、確(que)定超高速(su)緩沖(chong)存儲器的控制(zhi)或屏蔽RAM。 全(quan)1數據初(chu)始(shi)準備結束；接著將(jiang)進(jin)行(xing)中斷矢量之后的任何初(chu)始(shi)準備。 鍵盤控制(zhi)器測試正(zheng)在進(jin)行(xing)或失(shi)靈。

28、確定超高速緩沖存儲器(qi)的(de)控制(zhi)或者特別的(de)8042鍵盤(pan)控制(zhi)器(qi)。 完成中斷(duan)矢(shi)量(liang)之后的(de)初始(shi)準(zhun)備；即將調定單色方式。 CMOS電源故障／檢查總和(he)計算正(zheng)在進行(xing)。

29、已(yi)調定單色方(fang)式(shi)，即(ji)將調定彩色方(fang)式(shi)。 CMOS配(pei)置有效性的檢查正在進行(xing)。

2A 使鍵盤控(kong)制器作初(chu)始準備。 已調定(ding)彩色方式，即將(jiang)進行(xing)ROM測試前(qian)的(de)觸(chu)發奇偶性。 置空64K基本內存。

2B 使磁碟驅動(dong)器和控(kong)制器作初始準備。 觸發奇偶性(xing)結束；即將控(kong)制任選的(de)視頻ROM檢查前所需的(de)任何調節。 屏幕存儲器測試(shi)正(zheng)在進行(xing)或失靈。

2C 檢(jian)查(cha)串行(xing)端口，并使之作(zuo)初始(shi)準(zhun)備。 完成(cheng)視(shi)頻(pin)ROM控(kong)制(zhi)之前的處理；即將查(cha)看任(ren)選的視(shi)頻(pin)ROM并加以(yi)控(kong)制(zhi)。 屏幕(mu)初始(shi)準(zhun)備正(zheng)在進(jin)行(xing)或失靈。

2D 檢測(ce)并行(xing)端口，并使之(zhi)作初始準備。 已完成任(ren)(ren)選(xuan)的視頻(pin)ROM控制，即將進(jin)行(xing)視頻(pin)ROM回復控制之(zhi)后任(ren)(ren)何其他處(chu)理的控制。 屏幕回掃測(ce)試正在進(jin)行(xing)或失靈。

2E 使硬磁盤驅(qu)動(dong)器和(he)控制器作初始準備。 從視(shi)頻(pin)ROM控制之后的處理復原；如果沒有(you)發現EGA／VGA就(jiu)要進行顯示器存儲器讀(du)／寫測(ce)試(shi)。 檢(jian)測(ce)視(shi)頻(pin)ROM正在(zai)進行。

2F 檢測數學協處理器(qi)，并(bing)使之作(zuo)初始準(zhun)備。 沒發現(xian)EGA／VGA；即將(jiang)開始顯示(shi)器(qi)存儲器(qi)讀／寫測試。

30、建立基本內存(cun)和擴展(zhan)內存(cun)。 通(tong)過顯示器(qi)存(cun)儲器(qi)讀／寫測試(shi)；即將進行掃描檢(jian)查。 認為屏(ping)幕是(shi)可(ke)以(yi)工作的(de)。

31、檢測(ce)(ce)從C800：0至EFFF：0的選(xuan)用ROM，并使之作初始準(zhun)備(bei)。 顯示器(qi)(qi)存儲(chu)器(qi)(qi)讀／寫測(ce)(ce)試或掃描(miao)檢查失敗，即將進(jin)行另一(yi)種顯示器(qi)(qi)存儲(chu)器(qi)(qi)讀／寫測(ce)(ce)試。 單色監(jian)視(shi)器(qi)(qi)是可以工作的。

32、對主板(ban)上COM／LTP／FDD／聲音設備(bei)等I／O芯片編程(cheng)使之適合設置值。 通過另一種(zhong)顯(xian)示(shi)器(qi)存儲器(qi)讀／寫測試；卻將進(jin)行(xing)另一種(zhong)顯(xian)示(shi)器(qi)掃描檢查。 彩色監視(shi)器(qi)（40列）是可(ke)以工作的。

33、視(shi)頻顯示(shi)器(qi)檢(jian)查結(jie)束；將開始利用調節開關和實際插卡(ka)檢(jian)驗顯示(shi)器(qi)的(de)關型。 彩(cai)色監視(shi)器(qi)（80列）是(shi)可以(yi)工作的(de)。

34、已檢驗顯(xian)示(shi)器(qi)適(shi)配器(qi)；接著將調定顯(xian)示(shi)方式。 計時器(qi)滴答聲中(zhong)斷測試正在進行或失靈。

35、完成調定顯(xian)示(shi)方式(shi)；即將檢查BIOS ROM的(de)數據區。 停機測試正(zheng)在進行或(huo)失(shi)靈。

36、已檢查BIOS ROM數(shu)據區；即將調(diao)定通電信息的游(you)標(biao)。 門電路中A－20失靈(ling)。

37、識別通電信(xin)息的(de)游標調定已(yi)完(wan)成；即將顯示通電信(xin)息。 保護方(fang)式中的(de)意外中斷。

38、完成顯(xian)示通電信息；即將讀出新(xin)的游標位置。 RAM測試正在進(jin)行或者地址故障＞FFFFH。

39、已(yi)讀(du)出保存游標位(wei)置，即(ji)將顯(xian)示引用信息串。

3A 引用信息串(chuan)顯示結(jie)束；即將顯示發現《ESC》信息。 間隔計時器通道2測試或失靈。

3B 用OPTI電路片（只是486）使(shi)輔助超高速緩沖存儲器作(zuo)初始準(zhun)備。 已顯示發現＜ESC＞信息(xi)；虛(xu)擬方(fang)式，存儲器測(ce)試即將(jiang)開始。 按日計算的日歷時(shi)鐘測(ce)試正(zheng)在(zai)進行或(huo)失靈。

3C 建立(li)允許進(jin)入CMOS設置的標志(zhi)。 。 串行端口測試正在進(jin)行或失靈。

3D 初始化(hua)鍵盤／PS2鼠標／PNP設備及總內存(cun)節(jie)點。并行(xing)端口測試正在(zai)(zai)進行(xing)或失(shi)靈。3E 嘗試打開L2高(gao)速緩(huan)存(cun)。數學(xue)協處理器測試正在(zai)(zai)進行(xing)或失(shi)靈。

40、已開始(shi)準備虛擬方(fang)式的測試；即將從視頻(pin)存儲器來檢(jian)驗。 調整CPU速度(du)，使之(zhi)與外圍(wei)時鐘精確匹配。

41、中斷已打開，將初始化數據(ju)以便于0：0檢測(ce)內存變換（中斷控制(zhi)器或內存不良(liang)） 從視頻存儲器檢驗之后(hou)復原；即將準備描述符表。 系統插件(jian)板選擇失(shi)靈(ling)。

42、顯示窗口進入SETUP。 描述(shu)符表(biao)已(yi)準備好；即將進行虛擬方式(shi)作存儲器測試。 擴展(zhan)CMOS RAM故障。

43、若是即插即用BIOS，則串口(kou)、并口(kou)初始化。 進入虛擬(ni)方式；即將為診斷方式實(shi)現中(zhong)斷。

44、已實現中斷(duan)（如(ru)已接通診斷(duan)開(kai)關；即將(jiang)使數據作初(chu)始準備以(yi)檢查存儲(chu)器在0：0返轉。） BIOS中斷(duan)進行初(chu)始化。

45、初(chu)始(shi)化數(shu)學(xue)協(xie)處(chu)理器。 數(shu)據已作(zuo)初(chu)始(shi)準備；即將檢查存儲(chu)器在(zai)0：0返(fan)轉以及找出系統(tong)存儲(chu)器的規模。

46、測(ce)試(shi)存(cun)儲(chu)器已返回；存(cun)儲(chu)器大(da)小(xiao)計算完(wan)畢，即將寫(xie)入(ru)頁面來測(ce)試(shi)存(cun)儲(chu)器。 檢查只讀存(cun)儲(chu)器ROM版(ban)本。

47、即(ji)(ji)將在擴展的存儲器試(shi)寫(xie)頁面；即(ji)(ji)將基本640K存儲器寫(xie)入頁面。

48、已將基本存(cun)儲(chu)器寫(xie)入(ru)頁面(mian)；即將確定1MB以上的存(cun)儲(chu)器。 視頻檢查，CMOS重新配置(zhi)。

49、找出1BM以(yi)下(xia)的存儲(chu)器(qi)并檢驗；即將確(que)定1MB以(yi)上的存儲(chu)器(qi)。 。

4A 找(zhao)出1MB以(yi)上的存儲(chu)器(qi)并檢驗；即將(jiang)檢查(cha)BIOS ROM數據區(qu)。進行視頻(pin)的初始化。

4B BIOS ROM數據(ju)區的檢(jian)驗結束，即將檢(jian)查＜ESC＞和為軟復(fu)位清除1MB以(yi)上(shang)的存儲(chu)器。

4C 清除1MB以上的(de)存(cun)儲器(qi)（軟(ruan)復(fu)位(wei)）即將(jiang)清除1MB以上的(de)存(cun)儲器(qi)。 屏蔽視(shi)頻BIOS ROM。

4D 已(yi)清除1MB以上的(de)存儲器(qi)（軟復位(wei)）；將保存存儲器(qi)的(de)大小。

4E 若檢測(ce)到有錯(cuo)誤(wu)；在顯(xian)示器上顯(xian)示錯(cuo)誤(wu)信(xin)(xin)息(xi)，并(bing)等待客戶按(an)＜F1＞鍵繼續(xu)。 開(kai)始(shi)存(cun)儲器的測(ce)試：（無軟(ruan)復(fu)位）；即將(jiang)顯(xian)示第一個64K存(cun)儲器的測(ce)試。 顯(xian)示版權信(xin)(xin)息(xi)。

4F 讀寫軟、硬盤數(shu)據，進行(xing)(xing)DOS引導。 開始(shi)顯(xian)示存儲器的(de)大小，正(zheng)在測試存儲器將使(shi)之更新(xin)；將進行(xing)(xing)串行(xing)(xing)和隨機的(de)存儲器測試。

50、將當前BIOS監時(shi)區內的(de)CMOS值存到(dao)CMOS中。 完成1MB以(yi)下的(de)存儲(chu)器測(ce)試；即將高速存儲(chu)器的(de)大小以(yi)便(bian)再定位和掩蔽。 將CPU類(lei)型和速度送(song)到(dao)屏幕。

51、測試1MB以上的存儲(chu)器(qi)。

52、所有ISA只讀存(cun)儲器ROM進行(xing)初始化，最終給PCI分配IRQ號(hao)等初始化工作。 已完成(cheng)1MB以上的存(cun)儲器測試；即將(jiang)準備(bei)回到實址方式。 進入鍵盤(pan)檢測。

53、如果不是即插即用(yong)BIOS，則初始(shi)化串口(kou)、并口(kou)和設置時種值。 保存(cun)CPU寄存(cun)器(qi)和存(cun)儲器(qi)的(de)大小(xiao)，將進入實址方式。

54、成功地(di)開啟實址(zhi)方式；即(ji)將復原準(zhun)備停機時保存的寄存器(qi)。 掃(sao)描“打擊鍵”。

55、寄存(cun)器已復原，將停(ting)用門(men)電(dian)路(lu)A－20的(de)地址線。

56、成功地停用A－20的(de)地址線；即將檢查(cha)BIOS ROM數據區。 鍵(jian)盤(pan)測(ce)試(shi)結束。

57、BIOS ROM數據區檢(jian)查了一半；繼續進(jin)行。

58、BIOS ROM的數據區檢查結(jie)束；將清除發現＜ESC＞信(xin)息。 非設置(zhi)中(zhong)斷(duan)測試(shi)。

59、已(yi)清除＜ESC＞信息(xi)；信息(xi)已(yi)顯示；即將開始(shi)DMA和中斷控制(zhi)器的(de)測試。

5A 顯示按“F2”鍵(jian)進行設置。

5B 測試(shi)基本內存地址。

5C 測試640K基本內存。

60、設置硬盤(pan)引(yin)導扇區(qu)病毒保(bao)護功能。 通過DMA頁面(mian)寄存器(qi)的(de)測(ce)試；即將檢驗視頻存儲器(qi)。 測(ce)試擴展內存。

61、顯示系統配置表。 視頻(pin)存儲(chu)器檢(jian)驗結束；即將進行DMA＃1基本寄(ji)存器的測試(shi)。

62、開始用中斷19H進行(xing)系統引導。 通(tong)過DMA＃1基本寄(ji)存(cun)器的測試；即將進行(xing)DMA＃2寄(ji)存(cun)器的測試。 測試擴展內存(cun)地址線。

63、通過(guo)DMA＃2基本寄存器的測試；即將(jiang)檢查BIOS ROM數據區。

64、BIOS ROM數據區檢查了一半，繼續進行。

65、BIOS ROM數據區檢查結(jie)束；將把DMA裝置1和2編程。

66、DMA裝(zhuang)置1和2編程(cheng)結束(shu)；即將使用59號中斷控制(zhi)器作初(chu)始準備。 Cache注冊表進行優(you)化(hua)配置。

67、8259初始準備已(yi)結(jie)束；即將開(kai)始鍵(jian)盤測(ce)試。

68、使外部(bu)Cache和CPU內部(bu)Cache都工作。

6A 測試并顯示外部(bu)Cache值。

6C 顯(xian)示被屏蔽內容。

6E 顯示附屬配置信息。

69、檢測到的(de)錯誤代(dai)碼送到屏(ping)幕顯示。

70、檢測配置(zhi)有否(fou)錯誤(wu)。

71、測試實時時鐘。

72、掃(sao)查(cha)鍵盤錯誤(wu)。

7A 鎖鍵盤。

7C 設置硬(ying)件中斷(duan)矢(shi)量。

7E 測試有否安裝數學處理器(qi)。