主板診斷卡代碼大全及處理方法

FF、00、C0、D0、CF、F1或什么也沒(mei)有表示CPU沒(mei)通(tong)過(guo)

C1、C6、C3、D3、D4、D6、D8、B0、A7、E1表(biao)示內(nei)存不過

24、25、26、01、0A、0B、2A、2B、31表示(shi)顯卡不過

某些集成顯卡主板23、24、25表(biao)(biao)示(shi)(shi)(shi)可以(yi)正常(chang)點(dian)亮，某些(xie)VIA芯片(pian)組顯示(shi)(shi)(shi)13則表(biao)(biao)示(shi)(shi)(shi)可以(yi)點(dian)亮，某些(xie)品(pin)牌機里的(de)主板顯示(shi)(shi)(shi)0B則表(biao)(biao)示(shi)(shi)(shi)正常(chang)，某些(xie)主板顯示(shi)(shi)(shi)4E表(biao)(biao)示(shi)(shi)(shi)正常(chang)點(dian)亮，某些(xie)INTEL芯片(pian)組的(de)主板顯示(shi)(shi)(shi)26或16則表(biao)(biao)示(shi)(shi)(shi)可以(yi)正常(chang)點(dian)亮。C1、C6、C3、01、02這(zhe)個(ge)組合循(xun)環(huan)跳變(bian)大(da)部(bu)分是I/0壞或刷BIOS。

如顯示(shi)(shi)05、ED、41則直接刷BIOS 00 。已顯示(shi)(shi)系(xi)統的(de)配(pei)置(zhi)；即將控制INI19引導裝入(ru)。

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1、處理器(qi)測試(shi)(shi)(shi)1，處理器(qi)狀態(tai)核實，如(ru)果測試(shi)(shi)(shi)失敗，循環是無(wu)限的(de)。 處理器(qi)寄存器(qi)的(de)測試(shi)(shi)(shi)即(ji)將(jiang)開始，不(bu)可屏蔽中(zhong)斷即(ji)將(jiang)停用(yong)。 CPU寄存器(qi)測試(shi)(shi)(shi)正在進行或者失敗。

2、確定診斷的類(lei)型（正常或(huo)者制造）。如果鍵盤緩沖器含有數據就會(hui)失效。 停用(yong)不可(ke)屏蔽(bi)中(zhong)斷；通過延(yan)遲開始。 CMOS寫入／讀(du)出(chu)正在進行或(huo)者失靈。

3、清除8042鍵盤控(kong)制器(qi)，發出TESTKBRD命令（AAH） 通電延遲已(yi)完成。 ROM BIOS檢查部件正(zheng)在(zai)進行或失靈。

4、使8042鍵盤(pan)控制器(qi)復位，核實TESTKBRD。 鍵盤(pan)控制器(qi)軟復位／通電測試。 可編(bian)程間隔計時器(qi)的測試正在進行或失靈。

5、如(ru)果不斷(duan)重復制造測試1至5，可獲得8042控制狀態。 已(yi)確定軟復位／通(tong)電；即將啟動ROM。 DMA初(chu)如(ru)準備正(zheng)在進行或者失靈。

6、使電(dian)路片作(zuo)初(chu)始(shi)準(zhun)備，停用視頻、奇偶性(xing)、DMA電(dian)路片，以(yi)及清(qing)除DMA電(dian)路片，所有頁(ye)(ye)面寄存(cun)器(qi)和CMOS停機字節。 已啟動ROM計算ROM BIOS檢查總和，以(yi)及檢查鍵盤緩沖(chong)器(qi)是否清(qing)除。 DMA初(chu)始(shi)頁(ye)(ye)面寄存(cun)器(qi)讀(du)／寫測試正在進行或(huo)失靈。

7、處理器(qi)測試2，核實CPU寄存器(qi)的工(gong)作(zuo)。 ROM BIOS檢查總和正常，鍵(jian)盤緩沖器(qi)已(yi)清除，向鍵(jian)盤發出(chu)BAT（基本保證測試）命令。

8、使CMOS計時器(qi)(qi)作初始準備，正(zheng)常的更新(xin)(xin)計時器(qi)(qi)的循環。 已向(xiang)鍵(jian)盤發出BAT命(ming)令(ling)，即(ji)將寫(xie)入BAT命(ming)令(ling)。 RAM更新(xin)(xin)檢驗(yan)正(zheng)在進(jin)行(xing)或失靈。

9、EPROM檢(jian)查總和且(qie)必須等于零(ling)才通(tong)過。 核實鍵(jian)盤的基本(ben)保證測試，接(jie)著(zhu)核實鍵(jian)盤命令字節(jie)。 第一個64K RAM測試正(zheng)在進行(xing)。

0A 使視頻(pin)接口作初始(shi)準備。 發出(chu)鍵盤命令(ling)字(zi)節代碼，即將寫入命令(ling)字(zi)節數據。 第一個(ge)64K RAM芯(xin)片或數據線失靈，移位(wei)。

0B 測(ce)試(shi)8254通道0。 寫入鍵盤控制器命令(ling)字節，即將發(fa)出引腳23和24的(de)封鎖／解鎖命令(ling)。 第(di)一(yi)個64K RAM奇(qi)／偶邏輯失靈。

0C 測(ce)試(shi)8254通道1。 鍵盤控制器引腳23、24已封鎖／解(jie)鎖；已發出NOP命(ming)令。 第一個64K RAN的地址線(xian)故障。

0D：

1）檢查CPU速度是否與系統時鐘相匹配(pei)。

2）檢查控(kong)制芯片已編程值是否符(fu)合初設(she)置。

3）視(shi)頻通(tong)道(dao)測(ce)試，如果失(shi)敗，則鳴喇(la)叭。 已處理NOP命(ming)令；接著測(ce)試CMOS停開寄存器。 第一個64K RAM的奇偶性失(shi)靈。

0E 測(ce)試CMOS停(ting)機字節(jie)。 CMOS停(ting)開寄(ji)存器讀／寫測(ce)試；將計算CMOS檢查總和。 初(chu)始化(hua)輸入(ru)／輸出端口地址。

0F 測試擴展的(de)CMOS。 已計算CMOS檢查(cha)總和寫入診(zhen)斷(duan)字(zi)節(jie)；CMOS開(kai)始(shi)初始(shi)準備。

10、測(ce)試DMA通道(dao)0。 CMOS已作(zuo)初(chu)始準備，CMOS狀態寄存(cun)器即將為(wei)日期和時間作(zuo)初(chu)始準備。 第一個(ge)64K RAM第0位故障(zhang)。

11、測試(shi)DMA通道1。 CMOS狀態寄存器已(yi)作(zuo)初始(shi)準備，即將停(ting)用DMA和中斷控(kong)制(zhi)器。 第一個64DK RAM第1位故障。

12、測試(shi)DMA頁面寄存器。 停(ting)用(yong)DMA控制器1以及中斷控制器1和2；即將視頻(pin)顯(xian)示器并使(shi)端口(kou)B作初始準備(bei)。 第一個64DK RAM第2位故障。

13、測試(shi)8741鍵盤(pan)控制(zhi)器接(jie)口(kou)。 視頻顯(xian)示(shi)器已停用(yong)，端口(kou)B已作初始準備；即將開(kai)始電路(lu)片初始化／存儲器自動檢測。 第一(yi)個64DK RAM第3位故障。

14、測(ce)試存(cun)(cun)儲器(qi)更新(xin)觸發電路。 電路片初始(shi)化／存(cun)(cun)儲器(qi)處(chu)自動檢測(ce)結束；8254計時器(qi)測(ce)試即將開始(shi)。 第一個64DK RAM第4位故障。

15、測(ce)試開(kai)頭(tou)64K的系(xi)統存儲器(qi)。 第2通(tong)道(dao)計(ji)時器(qi)測(ce)試了一(yi)半；8254第2通(tong)道(dao)計(ji)時器(qi)即將完成(cheng)測(ce)試。 第一(yi)個64DK RAM第5位故障。

16、建立(li)8259所(suo)用的中斷(duan)矢量(liang)表。 第(di)2通(tong)道計(ji)時器(qi)測試(shi)(shi)結束；8254第(di)1通(tong)道計(ji)時器(qi)即(ji)將完成測試(shi)(shi)。 第(di)一個64DK RAM第(di)6位(wei)故障。

17、調準視(shi)頻(pin)輸入／輸出(chu)工作，若裝有視(shi)頻(pin)BIOS則啟用。 第1通道計時器測試(shi)結束；8254第0通道計時器即將完成測試(shi)。 第一個64DK RAM第7位故障。

18、測試(shi)視(shi)頻存儲器，如果安裝選用的視(shi)頻BIOS通過，由可繞(rao)過。 第(di)(di)0通道(dao)計(ji)時器測試(shi)結(jie)束；即將(jiang)開(kai)始更新存儲器。 第(di)(di)一個64DK RAM第(di)(di)8位故障(zhang)。

19、測試第1通道的中斷控制器(qi)（8259）屏蔽位(wei)。 已開始更(geng)新存(cun)儲器(qi)，接(jie)著將完成(cheng)存(cun)儲器(qi)的更(geng)新。 第一個64DK RAM第9位(wei)故障。

1A 測試(shi)第(di)2通(tong)(tong)道的(de)中(zhong)斷控制器(qi)（8259）屏蔽位(wei)。 正在觸(chu)發存儲器(qi)更新線路，即將檢查15微(wei)秒通(tong)(tong)／斷時間。 第(di)一個(ge)64DK RAM第(di)10位(wei)故障。

1B 測試CMOS電(dian)池電(dian)平。 完(wan)成存儲器更新(xin)時間30微秒測試；即將開始基本(ben)的64K存儲器測試。 第(di)一個64DK RAM第(di)11位故障。

1C 測試(shi)CMOS檢查總和。 第一(yi)個64DK RAM第12位故障。

1D 調定CMOS配(pei)置 。 第一(yi)個64DK RAM第13位故障。

1E 測定系統存儲器(qi)的大小，并且把它和(he)CMOS值比較(jiao)。第(di)(di)一個64DK RAM第(di)(di)14位故障。

1F 測試(shi)64K存儲器(qi)至最高640K。第一個64DK RAM第15位故障(zhang)。

20、測(ce)量(liang)固(gu)定(ding)的8259中斷位。 開始基本的64K存(cun)儲器(qi)測(ce)試；即將測(ce)試地址線(xian)。 從(cong)屬DMA寄存(cun)器(qi)測(ce)試正在(zai)進行或失(shi)靈。

21、維持不(bu)可屏蔽中斷（NMI）位（奇(qi)偶性(xing)或(huo)輸入／輸出通道的(de)檢查）。 通過地址線測(ce)(ce)試(shi)；即將(jiang)觸發奇(qi)偶性(xing)。 主DMA寄(ji)存器測(ce)(ce)試(shi)正在進行或(huo)失靈。

22、測(ce)(ce)試(shi)8259的中斷(duan)功能。 結束觸發奇偶性；將開始串行數(shu)據讀／寫(xie)測(ce)(ce)試(shi)。 主中斷(duan)屏蔽寄存(cun)器測(ce)(ce)試(shi)正在(zai)進(jin)行或失靈。

23、測試(shi)保護方式8086虛擬方式和8086頁面(mian)方式。 基本的(de)64K串行數(shu)據讀／寫測試(shi)正常；即將開始中(zhong)斷矢量初始化之前(qian)的(de)任(ren)何調節。 從屬中(zhong)斷屏(ping)蔽(bi)存器測試(shi)正在(zai)進(jin)行或失靈(ling)。

24、測定1MB以(yi)上(shang)的(de)(de)擴展存儲器。 矢量(liang)初(chu)始化(hua)之前的(de)(de)任何調節完(wan)成，即將開始中斷矢量(liang)的(de)(de)初(chu)始準備(bei)。 設置ES段(duan)地址寄存器注冊表到內存高端。

25、測(ce)試(shi)除頭一個64K之后的所有(you)存儲器。 完成(cheng)中斷(duan)矢量初始準備；將為旋轉式斷(duan)續開始讀出(chu)8042的輸入／輸出(chu)端口。 裝入中斷(duan)矢量正(zheng)在進行或失靈(ling)。

26、測試保護方式的(de)例外情況。 讀(du)出8042的(de)輸入／輸出端口；即將為旋轉(zhuan)式斷續開(kai)始使(shi)全(quan)局數據作初始準(zhun)備。 開(kai)啟A20地址(zhi)線；使(shi)之參入尋址(zhi)。

27、確定超高速緩沖存儲(chu)器的控制(zhi)或(huo)屏蔽RAM。 全1數據初(chu)始準(zhun)備(bei)結(jie)束；接著將進(jin)行中斷矢量之后的任何初(chu)始準(zhun)備(bei)。 鍵盤控制(zhi)器測試正在進(jin)行或(huo)失靈。

28、確(que)定超高速緩沖存(cun)儲器的控制或(huo)者特(te)別的8042鍵盤控制器。 完成中斷矢(shi)量之后的初始準備；即將調(diao)定單色方式。 CMOS電(dian)源故(gu)障／檢查總和計(ji)算正(zheng)在進行(xing)。

29、已調(diao)定單色方式，即將(jiang)調(diao)定彩色方式。 CMOS配置(zhi)有效性的檢(jian)查(cha)正在進行。

2A 使鍵盤控制器作初始準(zhun)備。 已(yi)調定彩色方式，即(ji)將進(jin)行(xing)ROM測試前的(de)觸(chu)發奇偶性。 置空64K基本內(nei)存。

2B 使磁碟驅動(dong)器(qi)和控制器(qi)作初始準(zhun)備。 觸發奇偶性(xing)結束；即將控制任(ren)(ren)選的視(shi)頻(pin)ROM檢(jian)查(cha)前所(suo)需(xu)的任(ren)(ren)何(he)調節(jie)。 屏幕存儲(chu)器(qi)測試正在進行或(huo)失(shi)靈。

2C 檢(jian)查串行端口，并(bing)使之作初(chu)始(shi)準備(bei)。 完成視(shi)頻(pin)ROM控制之前的(de)處理；即將查看任選的(de)視(shi)頻(pin)ROM并(bing)加以控制。 屏幕(mu)初(chu)始(shi)準備(bei)正(zheng)在進(jin)行或失(shi)靈。

2D 檢測(ce)并行端(duan)口，并使之作(zuo)初始準備。 已(yi)完成(cheng)任(ren)選的(de)視頻(pin)ROM控(kong)制(zhi)(zhi)，即將進(jin)行視頻(pin)ROM回(hui)復控(kong)制(zhi)(zhi)之后任(ren)何其他處理(li)的(de)控(kong)制(zhi)(zhi)。 屏幕回(hui)掃測(ce)試(shi)正在進(jin)行或(huo)失靈。

2E 使硬磁盤(pan)驅動器(qi)和控制器(qi)作初始準備。 從視頻ROM控制之后的處理復原；如果沒有發現(xian)EGA／VGA就要進(jin)行顯(xian)示器(qi)存儲器(qi)讀／寫測試。 檢(jian)測視頻ROM正在進(jin)行。

2F 檢測數學協處理器(qi)，并使之作(zuo)初始準備(bei)。 沒發(fa)現EGA／VGA；即將開始顯示器(qi)存儲器(qi)讀／寫測試。

30、建(jian)立基本內存(cun)和(he)擴展內存(cun)。 通過顯示器存(cun)儲器讀／寫測(ce)試(shi)；即(ji)將進行掃描檢查。 認為屏幕是可(ke)以(yi)工(gong)作的。

31、檢測(ce)從C800：0至EFFF：0的(de)(de)選(xuan)用ROM，并使之作初始(shi)準備。 顯示器存(cun)儲(chu)(chu)器讀／寫(xie)測(ce)試或掃描檢查失敗，即將(jiang)進行(xing)另一種顯示器存(cun)儲(chu)(chu)器讀／寫(xie)測(ce)試。 單色監視(shi)器是可以(yi)工(gong)作的(de)(de)。

32、對主板上(shang)COM／LTP／FDD／聲音設備(bei)等(deng)I／O芯片編程使之適合設置值。 通(tong)過(guo)另一(yi)(yi)種(zhong)顯示器(qi)(qi)(qi)存(cun)儲器(qi)(qi)(qi)讀／寫測試(shi)；卻將進行另一(yi)(yi)種(zhong)顯示器(qi)(qi)(qi)掃描檢查(cha)。 彩(cai)色監(jian)視(shi)器(qi)(qi)(qi)（40列）是(shi)可以工作的。

33、視頻顯示器檢(jian)(jian)查結束；將(jiang)開(kai)始利用(yong)調節開(kai)關(guan)和實際插卡(ka)檢(jian)(jian)驗顯示器的(de)關(guan)型(xing)。 彩色監視器（80列(lie)）是(shi)可以工作的(de)。

34、已檢驗顯(xian)示器適配器；接著將調定顯(xian)示方式。 計時器滴答聲中斷(duan)測試正在進行或失(shi)靈(ling)。

35、完成調定顯示方式；即將檢查BIOS ROM的數據(ju)區(qu)。 停(ting)機測(ce)試(shi)正(zheng)在進行或失(shi)靈。

36、已檢查(cha)BIOS ROM數據區(qu)；即將調定通電(dian)信息的游標(biao)。 門電(dian)路中A－20失靈。

37、識別通(tong)電(dian)信(xin)(xin)息的游標調定已(yi)完成；即將顯示(shi)通(tong)電(dian)信(xin)(xin)息。 保護方式中(zhong)的意外中(zhong)斷。

38、完(wan)成(cheng)顯示(shi)通電(dian)信息；即將讀(du)出新的游(you)標位置。 RAM測試正在進行或者(zhe)地址故障＞FFFFH。

39、已讀出保(bao)存(cun)游標位置，即將顯(xian)示引用信息串(chuan)。

3A 引用(yong)信(xin)息串顯示(shi)結束；即將顯示(shi)發現《ESC》信(xin)息。 間(jian)隔計(ji)時器通道(dao)2測試或失靈。

3B 用OPTI電路片（只是(shi)486）使輔助(zhu)超高速(su)緩沖存(cun)(cun)儲(chu)器作(zuo)初(chu)始(shi)準備。 已顯(xian)示發現＜ESC＞信(xin)息；虛擬方式，存(cun)(cun)儲(chu)器測試(shi)(shi)即(ji)將(jiang)開始(shi)。 按日計算的(de)日歷時鐘測試(shi)(shi)正在(zai)進(jin)行或失靈。

3C 建立允(yun)許進入CMOS設置(zhi)的標志。 。 串行(xing)端口測試正在進行(xing)或失靈。

3D 初始化鍵盤／PS2鼠標／PNP設備及總內存(cun)節點。并行端口測試(shi)正(zheng)(zheng)在(zai)進行或失(shi)(shi)靈。3E 嘗(chang)試(shi)打開L2高速緩存(cun)。數學協處理器測試(shi)正(zheng)(zheng)在(zai)進行或失(shi)(shi)靈。

40、已開始準備虛擬(ni)方(fang)式的測試；即(ji)將(jiang)從視頻存儲器來檢驗。 調(diao)整CPU速度，使(shi)之與外圍時(shi)鐘精確(que)匹配。

41、中斷(duan)已打開，將初始(shi)化數據以便于0：0檢測(ce)內存變換（中斷(duan)控制(zhi)器或內存不良） 從視頻存儲器檢驗之后復原；即(ji)將準備描(miao)述(shu)符表。 系統插件板選擇失靈。

42、顯示窗口進(jin)入SETUP。 描述(shu)符表已準備好；即將進(jin)行(xing)虛擬方式作存儲器測試。 擴展CMOS RAM故障。

43、若是即(ji)(ji)插即(ji)(ji)用BIOS，則(ze)串口(kou)、并口(kou)初始化。 進入虛擬方式；即(ji)(ji)將為診斷(duan)方式實現(xian)中斷(duan)。

44、已實現(xian)中(zhong)斷(duan)（如(ru)已接通(tong)診斷(duan)開關；即將使(shi)數(shu)據(ju)作初始準備(bei)以檢查存儲(chu)器在0：0返轉。） BIOS中(zhong)斷(duan)進行初始化。

45、初始(shi)化數學協處理器(qi)。 數據已作初始(shi)準備；即將檢查存儲器(qi)在0：0返轉(zhuan)以及找出系統存儲器(qi)的規模。

46、測(ce)試(shi)存(cun)儲器已(yi)返回(hui)；存(cun)儲器大小計算(suan)完(wan)畢，即將寫(xie)入頁面來測(ce)試(shi)存(cun)儲器。 檢查(cha)只讀存(cun)儲器ROM版本。

47、即將在擴(kuo)展的(de)存儲器試寫頁面(mian)；即將基本640K存儲器寫入頁面(mian)。

48、已(yi)將基(ji)本(ben)存儲器(qi)寫入(ru)頁(ye)面；即將確定1MB以上的存儲器(qi)。 視頻檢查，CMOS重新(xin)配置。

49、找出1BM以下的(de)存儲(chu)(chu)器并檢驗；即(ji)將確定1MB以上的(de)存儲(chu)(chu)器。 。

4A 找出1MB以上的(de)(de)存儲(chu)器并檢驗；即將(jiang)檢查BIOS ROM數據區。進行視頻的(de)(de)初始化。

4B BIOS ROM數據區的檢驗結束(shu)，即(ji)將檢查＜ESC＞和為(wei)軟(ruan)復位(wei)清(qing)除1MB以上的存儲(chu)器。

4C 清(qing)(qing)除(chu)1MB以上(shang)(shang)的存儲器(qi)（軟復(fu)位(wei)）即(ji)將清(qing)(qing)除(chu)1MB以上(shang)(shang)的存儲器(qi)。 屏蔽視頻(pin)BIOS ROM。

4D 已清除1MB以上的(de)存(cun)儲(chu)器（軟(ruan)復位）；將保存(cun)存(cun)儲(chu)器的(de)大(da)小。

4E 若檢(jian)測(ce)到(dao)有錯(cuo)誤；在顯(xian)示(shi)器上(shang)顯(xian)示(shi)錯(cuo)誤信(xin)息，并(bing)等待客戶按＜F1＞鍵繼(ji)續(xu)。 開始存(cun)儲器的測(ce)試(shi)：（無軟復位）；即將顯(xian)示(shi)第一個64K存(cun)儲器的測(ce)試(shi)。 顯(xian)示(shi)版權信(xin)息。

4F 讀寫軟、硬盤數據，進行(xing)DOS引導。 開始(shi)顯(xian)示存(cun)儲(chu)(chu)器(qi)的大小，正(zheng)在測試存(cun)儲(chu)(chu)器(qi)將使(shi)之更新；將進行(xing)串行(xing)和(he)隨機(ji)的存(cun)儲(chu)(chu)器(qi)測試。

50、將(jiang)當前(qian)BIOS監時區內的CMOS值存(cun)到CMOS中(zhong)。 完(wan)成(cheng)1MB以(yi)下(xia)的存(cun)儲器測試；即將(jiang)高速存(cun)儲器的大小(xiao)以(yi)便再定位和(he)掩蔽(bi)。 將(jiang)CPU類型和(he)速度送(song)到屏幕。

51、測試1MB以上的存儲器。

52、所有ISA只讀(du)存(cun)儲器ROM進(jin)(jin)行初始化(hua)(hua)，最終給PCI分配(pei)IRQ號等初始化(hua)(hua)工作。 已(yi)完成(cheng)1MB以上的存(cun)儲器測試(shi)；即將(jiang)準(zhun)備回(hui)到實址方式。 進(jin)(jin)入(ru)鍵盤檢測。

53、如(ru)果不是即插即用BIOS，則初(chu)始化串口、并口和設置時種值。 保存(cun)CPU寄存(cun)器和存(cun)儲器的大小，將進入實(shi)址方(fang)式。

54、成功地開啟實址方式；即將復原準備(bei)停機(ji)時保存(cun)的寄存(cun)器。 掃描“打(da)擊鍵”。

55、寄(ji)存(cun)器已復原，將停用(yong)門電路(lu)A－20的地址線(xian)。

56、成功地停用A－20的地址線；即將檢查BIOS ROM數(shu)據區。 鍵盤測試結束。

57、BIOS ROM數據區檢查了一半；繼續進行。

58、BIOS ROM的(de)數據(ju)區檢查結束；將清除發現＜ESC＞信息。 非設置中斷測試(shi)。

59、已(yi)清除(chu)＜ESC＞信息；信息已(yi)顯示(shi)；即將開(kai)始DMA和中斷控制(zhi)器的測試。

5A 顯示按(an)“F2”鍵進行設置。

5B 測試基本(ben)內存地址。

5C 測試640K基本內(nei)存。

60、設置硬盤引導扇區病毒保(bao)護功能。 通過DMA頁面寄存(cun)(cun)器(qi)的測(ce)試；即將檢驗視(shi)頻存(cun)(cun)儲器(qi)。 測(ce)試擴展內存(cun)(cun)。

61、顯(xian)示系統配置(zhi)表。 視(shi)頻(pin)存儲器檢驗結束；即將進行DMA＃1基本寄存器的測試。

62、開始用(yong)中斷(duan)19H進行系(xi)統(tong)引導。 通過DMA＃1基本(ben)寄存(cun)器的測試；即將(jiang)進行DMA＃2寄存(cun)器的測試。 測試擴(kuo)展內存(cun)地址線。

63、通過DMA＃2基(ji)本寄存器的測試；即(ji)將檢(jian)查BIOS ROM數據區。

64、BIOS ROM數據區檢查(cha)了一半，繼續(xu)進行。

65、BIOS ROM數據區檢(jian)查結(jie)束；將把(ba)DMA裝(zhuang)置1和2編程。

66、DMA裝置1和2編程結束；即將使用59號中斷控制器(qi)作初始準備。 Cache注冊表進行優(you)化配置。

67、8259初始準備已結束；即將開始鍵盤測試(shi)。

68、使外部Cache和CPU內(nei)部Cache都工作。

6A 測試并顯示外(wai)部Cache值。

6C 顯(xian)示被(bei)屏蔽內容(rong)。

6E 顯(xian)示附屬配置信(xin)息。

69、檢測(ce)到的錯誤代碼送到屏幕顯示。

70、檢測配置(zhi)有否(fou)錯誤。

71、測試(shi)實時(shi)時(shi)鐘。

72、掃查(cha)鍵(jian)盤錯誤。

7A 鎖鍵盤。

7C 設置(zhi)硬件中(zhong)斷矢量。

7E 測試(shi)有否安裝數學處理器(qi)。