一、光時域反射儀測試誤差的原因有哪些

光(guang)時(shi)域反(fan)射儀(yi)(yi)是一種精密(mi)儀(yi)(yi)器(qi)，但測試過程中(zhong)，或(huo)多或(huo)少會存(cun)在(zai)一些(xie)誤差，一般導致測試誤差的原因主要有：

1、OTDR光時域反射儀存在的固有偏差

由(you)OTDR的(de)測試原(yuan)理可知(zhi)，它是按一定的(de)周(zhou)期向(xiang)被測光(guang)纖(xian)發送光(guang)脈沖，再按一定的(de)速率將來自光(guang)纖(xian)的(de)背向(xiang)散射(she)信號(hao)抽(chou)樣、量(liang)化、編碼后，存儲并(bing)顯示出來。OTDR光(guang)時(shi)域反射(she)儀(yi)本(ben)身由(you)于(yu)抽(chou)樣間隔而存在誤差，這種(zhong)固有偏(pian)差主要反映在距離(li)分(fen)辯率上(shang)。OTDR的(de)距離(li)分(fen)辯率正比于(yu)抽(chou)樣頻(pin)率。

2、測試儀表操作不當產生的誤差

在光(guang)纜故障定(ding)位(wei)測(ce)試(shi)時(shi)，OTDR光(guang)時(shi)域反射儀(yi)使用的(de)(de)(de)正(zheng)確性(xing)與障礙(ai)測(ce)試(shi)的(de)(de)(de)準(zhun)確性(xing)直接(jie)相關，儀(yi)表參數(shu)設(she)定(ding)和準(zhun)確性(xing)、儀(yi)表量程(cheng)范圍的(de)(de)(de)選擇(ze)不當或光(guang)標設(she)置不準(zhun)等都將導致測(ce)試(shi)結果的(de)(de)(de)誤差。

（1）設定儀表的折射率偏差產生的誤差

不(bu)同(tong)類(lei)型和廠家的(de)(de)光(guang)纖的(de)(de)折射(she)(she)率是(shi)不(bu)同(tong)的(de)(de)。使用OTDR測(ce)試(shi)光(guang)纖長度時(shi)，必須先(xian)進(jin)行儀表參數設定(ding)，折射(she)(she)率的(de)(de)設定(ding)就是(shi)其中之一。當幾段光(guang)纜的(de)(de)折射(she)(she)率不(bu)同(tong)時(shi)可(ke)采用分段設置的(de)(de)方(fang)法，以減少(shao)因折射(she)(she)率設置誤(wu)差(cha)而造成的(de)(de)測(ce)試(shi)誤(wu)差(cha)。

（2）量程范圍選擇不當

OTDR光時(shi)域反射儀測試(shi)(shi)距(ju)離分辯率為(wei)(wei)(wei)1米時(shi)，它是指圖形(xing)放大到水平刻度為(wei)(wei)(wei)25米/格時(shi)才能實現。儀表(biao)設計是以光標每移(yi)動(dong)25步(bu)為(wei)(wei)(wei)1滿格。在這種情(qing)況下，光標每移(yi)動(dong)一步(bu)，即(ji)表(biao)示移(yi)動(dong)1米的距(ju)離，所(suo)以讀出分辯率為(wei)(wei)(wei)1米。如果水平刻度選擇2公里(li)/每格，則光標每移(yi)動(dong)一步(bu)，距(ju)離就會偏(pian)(pian)移(yi)80米。由此可(ke)見，測試(shi)(shi)時(shi)選擇的量程范圍越(yue)大，測試(shi)(shi)結果的偏(pian)(pian)差就越(yue)大。

（3）脈沖寬度選擇不當

在脈沖幅(fu)度相(xiang)同的條(tiao)件下(xia)，脈沖寬(kuan)度越(yue)大，脈沖能(neng)量(liang)就越(yue)大，此時(shi)OTDR的動態范(fan)圍也越(yue)大，相(xiang)應盲(mang)區(qu)也就大。

（4）平均化處理時間選擇不當

OTDR測試(shi)曲(qu)線是將每次(ci)輸出脈沖后(hou)的反射信號采樣，并(bing)把多(duo)次(ci)采樣做平(ping)(ping)均(jun)處(chu)理以消除一(yi)(yi)些(xie)隨機事件，平(ping)(ping)均(jun)化時間越(yue)(yue)(yue)長(chang)，噪(zao)聲電平(ping)(ping)越(yue)(yue)(yue)接(jie)近最小值，動態范圍就越(yue)(yue)(yue)大。平(ping)(ping)均(jun)化時間越(yue)(yue)(yue)長(chang)，測試(shi)精(jing)度越(yue)(yue)(yue)高(gao)，但達到一(yi)(yi)定程(cheng)度時精(jing)度不(bu)再提高(gao)。為了提高(gao)測試(shi)速度，縮短整體測試(shi)時間，一(yi)(yi)般測試(shi)時間可在0.5~3分鐘內選擇(ze)。

（5）光標位置放置不當

光(guang)(guang)纖(xian)活動(dong)連接器、機械(xie)接頭和(he)光(guang)(guang)纖(xian)中的(de)斷裂都會引起(qi)損耗和(he)反(fan)射，光(guang)(guang)纖(xian)末端(duan)的(de)破裂端(duan)面(mian)由于末端(duan)端(duan)面(mian)的(de)不(bu)規(gui)則性會產(chan)生各種菲涅爾反(fan)射峰或者不(bu)產(chan)生菲涅爾反(fan)射。如果光(guang)(guang)標設置不(bu)夠準(zhun)確，也會產(chan)生一定誤差。

二、如何減少OTDR測試誤差

為了減(jian)少測(ce)試誤差，在使用OTDR光時(shi)域反射(she)儀(yi)的(de)時(shi)候，可以(yi)采取以(yi)下幾(ji)個方法：

1、設定儀表的折射率偏差

不(bu)同(tong)類型和(he)廠家的(de)(de)(de)光纖的(de)(de)(de)折射率(lv)是不(bu)同(tong)的(de)(de)(de)，使用OTDR測試光纖長(chang)度(du)時(shi)，必須先進行儀表參數設定(ding)，折射率(lv)的(de)(de)(de)設定(ding)就(jiu)是其中之一。當幾(ji)段光纜(lan)的(de)(de)(de)折射率(lv)不(bu)同(tong)時(shi)可采用分段設置(zhi)的(de)(de)(de)方(fang)法，以減少因折射率(lv)設置(zhi)誤差而造(zao)成(cheng)的(de)(de)(de)測試誤差。

2、選擇正確的量程范圍

OTDR測(ce)試距(ju)離分辯率為(wei)(wei)1米(mi)時，它是指圖形放大(da)到水平刻(ke)度(du)(du)為(wei)(wei)25米(mi)/格時才能實現。儀(yi)表(biao)設計(ji)是以光(guang)標(biao)每移(yi)動(dong)25步為(wei)(wei)1滿格，在這(zhe)種情況下，光(guang)標(biao)每移(yi)動(dong)一步，即(ji)表(biao)示移(yi)動(dong)1米(mi)的距(ju)離，所以讀(du)出(chu)分辯率為(wei)(wei)1米(mi)；如果水平刻(ke)度(du)(du)選擇2公里(li)/每格，則光(guang)標(biao)每移(yi)動(dong)一步，距(ju)離就會(hui)偏移(yi)80米(mi)。

3、保持測試參數的一致性

在光纖線路的測試中，應盡量保持使用同一塊光時域反射儀進行(xing)某(mou)條線路的測(ce)試(shi)，各次(ci)測(ce)試(shi)時主要(yao)參(can)數值的設(she)置(zhi)也應保(bao)持一(yi)致，這樣可(ke)以(yi)減少測(ce)試(shi)誤差，便于和上次(ci)的測(ce)試(shi)結(jie)果比較。即使(shi)使(shi)用不同型號的儀表(biao)進行(xing)測(ce)試(shi)，只(zhi)要(yao)其(qi)動態(tai)范圍能達到(dao)要(yao)求(qiu)，折射率、波長(chang)、脈(mo)寬、距離、均(jun)化時間等(deng)參(can)數的設(she)置(zhi)亦(yi)和上一(yi)次(ci)的相同，這樣測(ce)試(shi)數據一(yi)般不會(hui)有大(da)的差別。

4、選擇合適的測試方式

通過OTDR來對(dui)光(guang)纖(xian)線(xian)路(lu)進行(xing)(xing)測試，就會考(kao)慮到實時(shi)、自動與手動三種相(xiang)應(ying)的(de)處理(li)方式。在(zai)進行(xing)(xing)實時(shi)處理(li)中，要求(qiu)對(dui)于刷(shua)新曲線(xian)進行(xing)(xing)不斷地(di)掃描，但是因(yin)為曲線(xian)反(fan)復跳動和變化的(de)緣(yuan)故，因(yin)此使用頻(pin)率相(xiang)對(dui)偏少(shao)。自動方式多(duo)用于對(dui)整條線(xian)路(lu)狀況的(de)概覽，僅需完成折射率及波長等基本參數的(de)設置即(ji)可，儀表在(zai)測試中能(neng)自動完成剩(sheng)余參數的(de)設定(ding)。