1、超(chao)聲波(bo)(bo)在(zai)介質(zhi)中傳播時(shi)，在(zai)不(bu)同(tong)質(zhi)界面上(shang)具有反(fan)射(she)的特性，如遇(yu)到缺(que)陷(xian)，缺(que)陷(xian)的尺(chi)(chi)寸(cun)等(deng)于或大于超(chao)聲波(bo)(bo)波(bo)(bo)長(chang)時(shi)，則超(chao)聲波(bo)(bo)在(zai)缺(que)陷(xian)上(shang)反(fan)射(she)回來(lai)，探(tan)傷儀可將反(fan)射(she)波(bo)(bo)顯示出來(lai)；如缺(que)陷(xian)的尺(chi)(chi)寸(cun)甚至(zhi)小于波(bo)(bo)長(chang)時(shi)，聲波(bo)(bo)將繞過射(she)線而(er)不(bu)能反(fan)射(she)。
2、波聲的方向(xiang)(xiang)性好，頻率越(yue)高，方向(xiang)(xiang)性越(yue)好，以很窄的波束(shu)向(xiang)(xiang)介質中(zhong)輻射，易于(yu)確(que)定缺陷的位置(zhi)。
3、超聲波(bo)(bo)的(de)(de)傳播能(neng)量大，如(ru)頻率為1MHZ（1兆赫茲(zi)）的(de)(de)超聲波(bo)(bo)所傳播的(de)(de)能(neng)量，相(xiang)當于振幅相(xiang)同而頻率為1000HZ（赫茲(zi)）的(de)(de)聲波(bo)(bo)的(de)(de)100萬倍。
探(tan)傷儀檢(jian)測(ce)通常是對被測(ce)物體（比(bi)如(ru)工業材料(liao)、人體）發射(she)超(chao)聲，然后利用(yong)其反射(she)、多普勒(le)效應(ying)、透(tou)射(she)等來獲取被測(ce)物體內部的(de)信(xin)息并經過處理形成圖像。
探傷儀其中多普勒效應法是利(li)用超聲在遇到運動的(de)物(wu)體(ti)時(shi)發生(sheng)的(de)多普勒頻移效應來得出(chu)該(gai)物(wu)體(ti)的(de)運動方向和速度(du)等特性；透射(she)法則是通(tong)過分(fen)析超聲穿(chuan)透過被測物(wu)體(ti)之(zhi)后的(de)變(bian)化而(er)得出(chu)物(wu)體(ti)的(de)內(nei)部特性的(de)，其應用還處于研制階(jie)段；
探(tan)傷儀內部(bu)缺(que)陷性質的估判及原因和防止措施
單個(ge)氣(qi)孔(kong)回波(bo)(bo)高度(du)低(di)，波(bo)(bo)形為單縫(feng)，較穩定。從(cong)各(ge)個(ge)方(fang)向(xiang)探(tan)測，反射波(bo)(bo)大體(ti)相同(tong)，但稍一動探(tan)頭就消失(shi)，密集氣(qi)孔(kong)會出現(xian)(xian)一簇反射波(bo)(bo)，波(bo)(bo)高隨氣(qi)孔(kong)大小而不同(tong)，當(dang)探(tan)頭作定點轉動時(shi)，會出現(xian)(xian)此(ci)起彼落(luo)的(de)(de)現(xian)(xian)象。產生這類(lei)缺(que)陷(xian)的(de)(de)原(yuan)因主要是焊(han)(han)(han)(han)材(cai)未按規定溫(wen)度(du)烘干(gan)(gan)(gan)，焊(han)(han)(han)(han)條(tiao)藥皮變質脫落(luo)、焊(han)(han)(han)(han)芯銹蝕，焊(han)(han)(han)(han)絲清(qing)理不干(gan)(gan)(gan)凈(jing)，手工(gong)焊(han)(han)(han)(han)時(shi)電(dian)(dian)流(liu)過(guo)(guo)大，電(dian)(dian)弧過(guo)(guo)長(chang);埋弧焊(han)(han)(han)(han)時(shi)電(dian)(dian)壓過(guo)(guo)高或網絡(luo)電(dian)(dian)壓波(bo)(bo)動太(tai)大;氣(qi)體(ti)保護焊(han)(han)(han)(han)時(shi)保護氣(qi)體(ti)純度(du)低(di)等。如果焊(han)(han)(han)(han)縫(feng)中存(cun)在著(zhu)氣(qi)孔(kong)，既破壞(huai)了(le)焊(han)(han)(han)(han)縫(feng)金(jin)屬的(de)(de)致密性，又使得焊(han)(han)(han)(han)縫(feng)有效截面(mian)積減少，降(jiang)低(di)了(le)機械(xie)性能(neng)，特別是存(cun)鏈狀氣(qi)孔(kong)時(shi)，對彎曲和沖擊(ji)韌性會有比較明顯(xian)降(jiang)低(di)。防止(zhi)這類(lei)缺(que)陷(xian)產生的(de)(de)措施(shi)有：不使用藥皮開裂、剝(bo)落(luo)、變質及焊(han)(han)(han)(han)芯銹蝕的(de)(de)焊(han)(han)(han)(han)條(tiao)，生銹的(de)(de)焊(han)(han)(han)(han)絲必(bi)須除銹后才能(neng)使用。所用焊(han)(han)(han)(han)接(jie)材(cai)料應按規定溫(wen)度(du)烘干(gan)(gan)(gan)，坡口及其兩側(ce)清(qing)理干(gan)(gan)(gan)凈(jing)，并(bing)要選用合(he)適的(de)(de)焊(han)(han)(han)(han)接(jie)電(dian)(dian)流(liu)、電(dian)(dian)弧電(dian)(dian)壓和焊(han)(han)(han)(han)接(jie)速度(du)等。
點狀(zhuang)夾(jia)渣(zha)回(hui)波(bo)(bo)(bo)信號與點狀(zhuang)氣(qi)孔相似，條狀(zhuang)夾(jia)渣(zha)回(hui)波(bo)(bo)(bo)信號多(duo)呈鋸(ju)齒狀(zhuang)波(bo)(bo)(bo)幅(fu)(fu)不(bu)(bu)高，波(bo)(bo)(bo)形(xing)多(duo)呈樹(shu)枝狀(zhuang)，主峰(feng)(feng)邊(bian)上有(you)小峰(feng)(feng)，探頭平移波(bo)(bo)(bo)幅(fu)(fu)有(you)變動，從各(ge)(ge)個(ge)方向(xiang)探測(ce)時反射波(bo)(bo)(bo)幅(fu)(fu)不(bu)(bu)相同。這類缺陷產(chan)生的(de)原因有(you)：焊(han)接(jie)(jie)電流過(guo)小，速(su)度(du)過(guo)快，熔渣(zha)來不(bu)(bu)及(ji)浮起，被焊(han)邊(bian)緣(yuan)和(he)各(ge)(ge)層(ceng)焊(han)縫(feng)清(qing)理(li)(li)(li)不(bu)(bu)干凈，其本金屬和(he)焊(han)接(jie)(jie)材料化學成分不(bu)(bu)當，含硫、磷較(jiao)多(duo)等。防(fang)止措施有(you)：正確選用焊(han)接(jie)(jie)電流，焊(han)接(jie)(jie)件的(de)坡(po)口角(jiao)度(du)不(bu)(bu)要(yao)太小，焊(han)前必須把坡(po)口清(qing)理(li)(li)(li)干凈，多(duo)層(ceng)焊(han)時必須層(ceng)層(ceng)清(qing)除焊(han)渣(zha);并合理(li)(li)(li)選擇運條角(jiao)度(du)焊(han)接(jie)(jie)速(su)度(du)等。
反射率(lv)高，波幅(fu)也較高，探頭(tou)平移時，波形(xing)較穩定，在(zai)焊(han)(han)縫兩側探傷(shang)時均能得(de)到大致相同的(de)反射波幅(fu)。這(zhe)類缺(que)(que)陷不(bu)僅(jin)降低了焊(han)(han)接(jie)接(jie)頭(tou)的(de)機械性能，而(er)且在(zai)未焊(han)(han)透處的(de)缺(que)(que)口(kou)和端部(bu)形(xing)成應力集(ji)中點，承載后往往會引起裂紋(wen)，是(shi)一種危險性缺(que)(que)陷。其產生(sheng)原(yuan)因(yin)一般是(shi)：坡口(kou)純邊間隙(xi)太(tai)小(xiao)，焊(han)(han)接(jie)電(dian)流太(tai)小(xiao)或運條(tiao)速度(du)過快，坡口(kou)角(jiao)度(du)小(xiao)，運條(tiao)角(jiao)度(du)不(bu)對以及電(dian)弧偏吹等。防止措施有：合理選用坡口(kou)型式(shi)、裝配間隙(xi)和采用正確(que)的(de)焊(han)(han)接(jie)工藝(yi)等。
探(tan)頭平(ping)移時(shi)，波形較穩定，兩側探(tan)測時(shi)，反射波幅不(bu)同，有時(shi)只(zhi)能從一側探(tan)到。其產生的原因：坡(po)口不(bu)干凈，焊(han)速(su)太快，電(dian)流過(guo)(guo)小或過(guo)(guo)大，焊(han)條(tiao)角(jiao)度不(bu)對(dui)，電(dian)弧偏(pian)吹等(deng)。防止措施：正(zheng)確選用坡(po)口和(he)電(dian)流，坡(po)口清理干凈，正(zheng)確操作防止焊(han)偏(pian)等(deng)。
回波(bo)(bo)高(gao)度較(jiao)大，波(bo)(bo)幅(fu)寬(kuan)，會(hui)出現(xian)多峰，探頭平移時(shi)反射波(bo)(bo)連續出現(xian)波(bo)(bo)幅(fu)有變動，探頭轉時(shi)，波(bo)(bo)峰有上(shang)下錯動現(xian)象。裂(lie)紋(wen)是(shi)一種危險性最大的(de)缺(que)陷(xian)，它除降低(di)(di)焊(han)接(jie)(jie)(jie)(jie)接(jie)(jie)(jie)(jie)頭的(de)強度外，還因裂(lie)紋(wen)的(de)末端呈尖銷的(de)缺(que)口，焊(han)件(jian)承載后，引起應力(li)集(ji)中(zhong)(zhong)，成為結(jie)(jie)構斷(duan)裂(lie)的(de)起源。裂(lie)紋(wen)分為熱裂(lie)紋(wen)、冷裂(lie)紋(wen)和(he)再熱裂(lie)紋(wen)三(san)種。熱裂(lie)紋(wen)產(chan)生(sheng)的(de)原因是(shi)：焊(han)接(jie)(jie)(jie)(jie)時(shi)熔池(chi)的(de)冷卻速度很快，造(zao)成偏析;焊(han)縫受熱不(bu)均勻產(chan)生(sheng)拉應力(li)。防止措施：限制母(mu)材和(he)焊(han)接(jie)(jie)(jie)(jie)材料中(zhong)(zhong)易偏析元(yuan)素和(he)有害雜質(zhi)的(de)含(han)量(liang)，主(zhu)要限制硫含(han)量(liang)，提高(gao)錳含(han)量(liang);提高(gao)焊(han)條或焊(han)劑的(de)堿度，以降低(di)(di)雜質(zhi)含(han)量(liang)，改(gai)善偏析程度;改(gai)進焊(han)接(jie)(jie)(jie)(jie)結(jie)(jie)構形式，采用合理的(de)焊(han)接(jie)(jie)(jie)(jie)順序，提高(gao)焊(han)縫收(shou)縮時(shi)的(de)自(zi)由(you)度。
探(tan)(tan)傷(shang)儀(yi)檢(jian)測(ce)(ce)這(zhe)里(li)(li)(li)主要介(jie)(jie)紹的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)是(shi)應(ying)用最多(duo)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)通(tong)過反(fan)射(she)(she)(she)法(fa)來(lai)(lai)獲取物體(ti)(ti)內(nei)部(bu)(bu)特(te)性信息的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)方(fang)法(fa)。反(fan)射(she)(she)(she)法(fa)是(shi)基于(yu)超(chao)聲(sheng)(sheng)(sheng)(sheng)在通(tong)過不同聲(sheng)(sheng)(sheng)(sheng)阻(zu)抗組織界面(mian)時(shi)會發(fa)生較強(qiang)反(fan)射(she)(she)(she)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)原(yuan)理(li)(li)(li)工(gong)作(zuo)(zuo)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)，正如(ru)我們所知道，聲(sheng)(sheng)(sheng)(sheng)波(bo)(bo)在從一(yi)(yi)(yi)種(zhong)介(jie)(jie)質(zhi)傳(chuan)播到(dao)(dao)另外一(yi)(yi)(yi)種(zhong)介(jie)(jie)質(zhi)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)時(shi)候(hou)在兩者之(zhi)間的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)界面(mian)處(chu)(chu)會發(fa)生反(fan)射(she)(she)(she)，而(er)(er)且介(jie)(jie)質(zhi)之(zhi)間的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)差別(bie)越大(da)(da)反(fan)射(she)(she)(she)就(jiu)會越大(da)(da)，所以(yi)(yi)(yi)我們可(ke)以(yi)(yi)(yi)對(dui)一(yi)(yi)(yi)個物體(ti)(ti)發(fa)射(she)(she)(she)出(chu)(chu)(chu)(chu)穿透力強(qiang)、能夠直線傳(chuan)播的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)超(chao)聲(sheng)(sheng)(sheng)(sheng)波(bo)(bo)，探(tan)(tan)傷(shang)儀(yi)然后對(dui)反(fan)射(she)(she)(she)回來(lai)(lai)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)超(chao)聲(sheng)(sheng)(sheng)(sheng)波(bo)(bo)進行(xing)接(jie)收(shou)并根據(ju)這(zhe)些反(fan)射(she)(she)(she)回來(lai)(lai)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)超(chao)聲(sheng)(sheng)(sheng)(sheng)波(bo)(bo)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)先后、幅度等(deng)情(qing)(qing)況就(jiu)可(ke)以(yi)(yi)(yi)判(pan)斷(duan)出(chu)(chu)(chu)(chu)這(zhe)個組織中(zhong)(zhong)含有的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)各(ge)種(zhong)介(jie)(jie)質(zhi)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)大(da)(da)小、分(fen)布情(qing)(qing)況以(yi)(yi)(yi)及各(ge)種(zhong)介(jie)(jie)質(zhi)之(zhi)間的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)對(dui)比差別(bie)程度等(deng)信息（其(qi)(qi)(qi)(qi)中(zhong)(zhong)反(fan)射(she)(she)(she)回來(lai)(lai)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)超(chao)聲(sheng)(sheng)(sheng)(sheng)波(bo)(bo)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)先后可(ke)以(yi)(yi)(yi)反(fan)映(ying)(ying)(ying)出(chu)(chu)(chu)(chu)反(fan)射(she)(she)(she)界面(mian)離探(tan)(tan)測(ce)(ce)表面(mian)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)距(ju)離，幅度則可(ke)以(yi)(yi)(yi)反(fan)映(ying)(ying)(ying)出(chu)(chu)(chu)(chu)介(jie)(jie)質(zhi)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)大(da)(da)小、對(dui)比差別(bie)程度等(deng)特(te)性），探(tan)(tan)傷(shang)儀(yi)從而(er)(er)判(pan)斷(duan)出(chu)(chu)(chu)(chu)該(gai)被(bei)測(ce)(ce)物體(ti)(ti)是(shi)否有異(yi)常(chang)(chang)。在這(zhe)個過程中(zhong)(zhong)就(jiu)涉及到(dao)(dao)很多(duo)方(fang)面(mian)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)內(nei)容，包括超(chao)聲(sheng)(sheng)(sheng)(sheng)波(bo)(bo)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)產(chan)(chan)生、接(jie)收(shou)、信號(hao)(hao)轉(zhuan)換(huan)和(he)處(chu)(chu)理(li)(li)(li)等(deng)。其(qi)(qi)(qi)(qi)中(zhong)(zhong)產(chan)(chan)生超(chao)聲(sheng)(sheng)(sheng)(sheng)波(bo)(bo)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)方(fang)法(fa)是(shi)通(tong)過電路產(chan)(chan)生激勵電信號(hao)(hao)傳(chuan)給具有壓電效應(ying)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)晶體(ti)(ti)（比如(ru)石英、硫酸鋰(li)等(deng)），使其(qi)(qi)(qi)(qi)振動(dong)從而(er)(er)產(chan)(chan)生超(chao)聲(sheng)(sheng)(sheng)(sheng)波(bo)(bo)；而(er)(er)接(jie)收(shou)反(fan)射(she)(she)(she)回來(lai)(lai)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)超(chao)聲(sheng)(sheng)(sheng)(sheng)波(bo)(bo)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)時(shi)候(hou)，這(zhe)個壓電晶體(ti)(ti)又會受到(dao)(dao)反(fan)射(she)(she)(she)回來(lai)(lai)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)聲(sheng)(sheng)(sheng)(sheng)波(bo)(bo)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)壓力而(er)(er)產(chan)(chan)生電信號(hao)(hao)并傳(chuan)送給信號(hao)(hao)處(chu)(chu)理(li)(li)(li)電路進行(xing)一(yi)(yi)(yi)系列的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)處(chu)(chu)理(li)(li)(li)，探(tan)(tan)傷(shang)儀(yi)最后形(xing)成(cheng)(cheng)圖像供人(ren)們觀察(cha)(cha)判(pan)斷(duan)。這(zhe)里(li)(li)(li)根據(ju)圖像處(chu)(chu)理(li)(li)(li)方(fang)法(fa)（也(ye)就(jiu)是(shi)將得(de)到(dao)(dao)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)信號(hao)(hao)轉(zhuan)換(huan)成(cheng)(cheng)什么形(xing)式的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)圖像）的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)種(zhong)類又可(ke)以(yi)(yi)(yi)分(fen)為A型(xing)(xing)顯(xian)(xian)示(shi)(shi)、M型(xing)(xing)顯(xian)(xian)示(shi)(shi)、B型(xing)(xing)顯(xian)(xian)示(shi)(shi)、C型(xing)(xing)顯(xian)(xian)示(shi)(shi)、F型(xing)(xing)顯(xian)(xian)示(shi)(shi)等(deng)。其(qi)(qi)(qi)(qi)中(zhong)(zhong)A型(xing)(xing)顯(xian)(xian)示(shi)(shi)是(shi)將接(jie)收(shou)到(dao)(dao)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)超(chao)聲(sheng)(sheng)(sheng)(sheng)信號(hao)(hao)處(chu)(chu)理(li)(li)(li)成(cheng)(cheng)波(bo)(bo)形(xing)圖像，根據(ju)波(bo)(bo)形(xing)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)形(xing)狀可(ke)以(yi)(yi)(yi)看出(chu)(chu)(chu)(chu)被(bei)測(ce)(ce)物體(ti)(ti)里(li)(li)(li)面(mian)是(shi)否有異(yi)常(chang)(chang)和(he)缺(que)陷(xian)在那里(li)(li)(li)、有多(duo)大(da)(da)等(deng)，探(tan)(tan)傷(shang)儀(yi)主要用于(yu)工(gong)業檢(jian)測(ce)(ce)；M型(xing)(xing)顯(xian)(xian)示(shi)(shi)是(shi)將一(yi)(yi)(yi)條(tiao)經過輝(hui)度處(chu)(chu)理(li)(li)(li)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)探(tan)(tan)測(ce)(ce)信息按時(shi)間順序展開(kai)形(xing)成(cheng)(cheng)一(yi)(yi)(yi)維的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)"空間多(duo)點運(yun)動(dong)時(shi)序圖"，適于(yu)觀察(cha)(cha)內(nei)部(bu)(bu)處(chu)(chu)于(yu)運(yun)動(dong)狀態的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)物體(ti)(ti)，探(tan)(tan)傷(shang)儀(yi)如(ru)運(yun)動(dong)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)臟(zang)器、動(dong)脈(mo)血管等(deng)；B型(xing)(xing)顯(xian)(xian)示(shi)(shi)是(shi)將并排(pai)很多(duo)條(tiao)經過輝(hui)度處(chu)(chu)理(li)(li)(li)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)探(tan)(tan)測(ce)(ce)信息組合成(cheng)(cheng)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)二維的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)、反(fan)映(ying)(ying)(ying)出(chu)(chu)(chu)(chu)被(bei)測(ce)(ce)物體(ti)(ti)內(nei)部(bu)(bu)斷(duan)層切(qie)面(mian)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)"解剖圖像"（醫院里(li)(li)(li)使用的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)B超(chao)就(jiu)是(shi)用這(zhe)種(zhong)原(yuan)理(li)(li)(li)做(zuo)出(chu)(chu)(chu)(chu)來(lai)(lai)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)），探(tan)(tan)傷(shang)儀(yi)適于(yu)觀察(cha)(cha)內(nei)部(bu)(bu)處(chu)(chu)于(yu)靜態的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)物體(ti)(ti)；而(er)(er)C型(xing)(xing)顯(xian)(xian)示(shi)(shi)、F型(xing)(xing)顯(xian)(xian)示(shi)(shi)用得(de)比較少。探(tan)(tan)傷(shang)儀(yi)檢(jian)測(ce)(ce)不但(dan)可(ke)以(yi)(yi)(yi)做(zuo)到(dao)(dao)非常(chang)(chang)準確，而(er)(er)且相對(dui)其(qi)(qi)(qi)(qi)他檢(jian)測(ce)(ce)方(fang)法(fa)來(lai)(lai)說更為方(fang)便、快捷，也(ye)不會對(dui)檢(jian)測(ce)(ce)對(dui)象和(he)操作(zuo)(zuo)者產(chan)(chan)生危(wei)害，所以(yi)(yi)(yi)受到(dao)(dao)了人(ren)們越來(lai)(lai)越普遍的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)歡迎，有著非常(chang)(chang)廣闊的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)發(fa)展前景。
探傷(shang)儀(yi)的(de)(de)應用(yong)(yong)(yong)有(you)很廣泛，比(bi)如用(yong)(yong)(yong)超(chao)聲(sheng)的(de)(de)反射(she)來(lai)(lai)測量距離，利用(yong)(yong)(yong)大功率(lv)超(chao)聲(sheng)的(de)(de)振動來(lai)(lai)清除(chu)附著在(zai)(zai)鍋爐上面的(de)(de)水垢，利用(yong)(yong)(yong)高能超(chao)聲(sheng)做成"超(chao)聲(sheng)刀"來(lai)(lai)消滅、擊碎人(ren)體內的(de)(de)癌變(bian)、結石等，探傷(shang)儀(yi)而利用(yong)(yong)(yong)超(chao)聲(sheng)的(de)(de)反射(she)等效(xiao)應和穿透力強、能夠(gou)直(zhi)線(xian)傳播等的(de)(de)特性(xing)來(lai)(lai)進行檢測也(ye)是其中一個很大的(de)(de)應用(yong)(yong)(yong)領域。探傷(shang)儀(yi)的(de)(de)檢測應用(yong)(yong)(yong)主(zhu)要(yao)包括在(zai)(zai)工業上對各種材料(liao)的(de)(de)檢測和在(zai)(zai)醫療上對人(ren)體的(de)(de)檢測診斷，通過(guo)它人(ren)們可以(yi)探測出金(jin)屬(shu)等工業材料(liao)中有(you)沒(mei)有(you)氣泡(pao)、傷(shang)痕(hen)、裂縫等缺陷，可以(yi)檢測出人(ren)們身(shen)體的(de)(de)軟(ruan)組織、血流等是否正常。
粉探(tan)傷(shang)儀適用于(yu)零(ling)件表(biao)面(mian)的(de)探(tan)傷(shang)，主要(yao)適用于(yu)濕磁粉法檢測(ce)曲軸(zhou)、凸輪軸(zhou)、花鍵軸(zhou)等(deng)各(ge)種中小型(xing)零(ling)件的(de)表(biao)面(mian)及(ji)近表(biao)面(mian)因(yin)鑄造(zao)、淬火、加(jia)工、疲(pi)勞等(deng)原因(yin)引起(qi)的(de)裂紋及(ji)細微缺(que)陷，是(shi)單(dan)件檢測(ce)，小批抽檢，大批量檢測(ce)的(de)首選(xuan)機型(xing)。
輕(qing)小，可以到現場探(tan)傷乃至高(gao)(gao)空進行(xing)(xing)探(tan)傷作業。包(bao)括對大型零部件進行(xing)(xing)局部磁(ci)化探(tan)傷。特(te)別適用于平焊縫、角焊縫、壓(ya)力容器、管(guan)道及形狀復雜(za)零部件的探(tan)傷。對不允許高(gao)(gao)電壓(ya)進入設(she)備內探(tan)傷的場合(he)更為適合(he)。
磁粉探(tan)傷(shang)儀只能對大型工件分段探(tan)傷(shang)，不(bu)能一次性檢測(ce)出全方位的裂紋(wen)，所以(yi)其探(tan)傷(shang)效率(lv)較低。
該設(she)備(bei)操(cao)作(zuo)簡便(bian)，工(gong)(gong)作(zuo)效率高(gao)，采用工(gong)(gong)業PLC控制，既可(ke)(ke)(ke)手動單步(bu)操(cao)作(zuo)，亦可(ke)(ke)(ke)自(zi)(zi)動循環(huan)工(gong)(gong)作(zuo)，周(zhou)、縱向(xiang)電(dian)流分(fen)別(bie)可(ke)(ke)(ke)調(diao)，具有斷(duan)電(dian)相位控制功能(neng)。可(ke)(ke)(ke)分(fen)別(bie)進行(xing)周(zhou)向(xiang)、縱向(xiang)、復(fu)合磁化。工(gong)(gong)件可(ke)(ke)(ke)以轉(zhuan)動，檢測時機器(qi)可(ke)(ke)(ke)按工(gong)(gong)藝(yi)要(yao)求設(she)定(ding)的(de)程序(xu)自(zi)(zi)動完成除上下料及觀察外（如(ru)夾緊(jin)、噴(pen)液、磁化、退磁、轉(zhuan)動等等）的(de)自(zi)(zi)動化工(gong)(gong)作(zuo)。
1、周向磁化電(dian)流：AC0－4000A連續可調駛(shi)帶(dai)斷電(dian)相位(wei)控制；
2、縱向磁化電流：DC0－20000AT連(lian)續可調帶斷電相位控制(zhi)；
3、退(tui)磁(ci)磁(ci)勢：AC20000－0AT連續(xu)可調自動衰(shuai)減；
4、退磁效果：≤0.2mT；
5、夾緊方式：氣動(dong)或電動(dong)夾緊；
6、電極間距：0－1000mm由夾具(ju)確定(ding)；
7、夾緊行程：0－50mm；
8、夾頭轉速(su)：10rpm；
（1）超聲波探傷儀PD-F1儀器特點：
高分辨(bian)率TFTLCD，獨特的遮(zhe)陽(yang)設(she)計，符合人體工(gong)程學。
采用(yong)高(gao)端ARM處理器，系統響(xiang)應(ying)速度快，實時性好。
采用性能(neng)先進的前置放大(da)器，大(da)大(da)減小檢測盲(mang)區。
簡(jian)潔易用(yong)的人機交互，儀器操控(kong)性強。
高達(da)4GB海量存儲，能夠(gou)進(jin)行長時間的探傷波形(xing)(xing)動態記(ji)錄，存儲大(da)量波形(xing)(xing)信息。
具有豐富(fu)的通信(xin)接口，強大的數(shu)據備份和數(shu)據轉儲(chu)能(neng)力。
防(fang)水等級IP64。
鍵盤背光功能。
探(tan)頭接口采用(yong)瑞士原裝進口的LEMO接頭，美觀(guan)大方，耐用(yong)性好。
增加(jia)Ethernet網口，可(ke)接入以太網。
增加了大量的操作提示信息(xi)，人機(ji)交(jiao)互界(jie)面更加友好。
用戶可根據自己喜好來選(xuan)擇不同的屏幕顏色。
內置AWS、API5UE等多(duo)種標準。
（2）超聲波探傷儀主要性能指標：
探測范(fan)圍：(0~9999)mm
工作頻率：(0.25~20)MHz
各(ge)頻段等(deng)效輸(shu)入噪(zao)聲：<15%
發射(she)脈沖：負脈沖s
能量可選擇(ze)，適用探頭范圍廣(guang)。
脈沖寬度在(0.1~0.5)μs范(fan)圍內連續調節，以匹配不同頻率(lv)的(de)探頭。
脈沖(chong)幅度：低（300伏）、中(zhong)（500伏）、高(gao)（700伏）分(fen)級選擇，適用探頭范圍廣(guang)。
脈沖(chong)寬度：在（0.1~0.5）μs范圍(wei)內(nei)連(lian)續調節，以匹(pi)配不(bu)同頻率(lv)的探頭。
超聲波探傷儀探頭(tou)阻尼(ni)：50Ω，150Ω、300Ω、400Ω可選，滿(man)足(zu)靈敏度及分辨(bian)率(lv)的(de)不同工(gong)作。
動(dong)態范(fan)圍：≥36dB
數字抑制：(0~80)%，不(bu)影響(xiang)線性與增益。
垂直線性誤(wu)差：≤2.6%。
水平線性(xing)誤差：≤0.1%。
分(fen)辨力：>38dB。
靈敏度余量(liang)：60dB。
電(dian)噪(zao)聲電(dian)平：≤10%。
濾波頻(pin)(pin)帶：（0.25~20）MHz，根(gen)據探頭頻(pin)(pin)率全自動匹配，無需手(shou)動設置。
探(tan)(tan)傷通道：200組探(tan)(tan)傷工作通道。
探頭接口：LEMO接口，ERA.1S。
探(tan)頭(tou)(tou)(tou)類型：直(zhi)探(tan)頭(tou)(tou)(tou)、斜探(tan)頭(tou)(tou)(tou)、雙晶探(tan)頭(tou)(tou)(tou)、穿透探(tan)頭(tou)(tou)(tou)。
報(bao)警：蜂鳴(ming)器報(bao)警，鍵盤背光燈報(bao)警。
電(dian)源：直流（DC）9V；鋰電(dian)池(chi)連續工作6~8小(xiao)時(shi)以(yi)上。
外型尺寸：220×156×58(mm)結構待定。
環(huan)境溫度：(-10~50)℃。
相對(dui)濕度：(20~95)%RH。
注(zhu)：以(yi)上指標(biao)是在探頭頻率為(wei)(wei)2.5MHz、檢波方式(shi)為(wei)(wei)全波的情況(kuang)下(xia)所測得的。
（3）超聲波探傷儀PD-F1主要功能參數：
數據采集：
硬件實時采(cai)樣(yang)：10位(wei)AD轉(zhuan)換器，采(cai)樣(yang)速度(du)125MHz，波(bo)形高度(du)保(bao)真。
檢(jian)波(bo)方式(shi)：正半波(bo)、負半波(bo)、全(quan)波(bo)、射頻檢(jian)波(bo)。
閘(zha)門讀數(shu)：單閘(zha)門和雙閘(zha)門讀數(shu)方式可選；閘(zha)門內(nei)峰值讀數(shu)、邊緣檢測可選。
增益(yi)(yi)(yi)：0-110dB，最小增益(yi)(yi)(yi)調節量0.1dB，獨特的全自(zi)動增益(yi)(yi)(yi)調節及掃查(cha)增益(yi)(yi)(yi)功能。
超聲波探傷儀探傷功能
波峰記憶：實時檢索缺(que)陷最高波，記錄缺(que)陷最大(da)值。
Φ值計算(suan)：直探頭鍛件探傷找準缺陷最高波(bo)后(hou)自動計算(suan)、顯示缺陷當(dang)量尺寸。
缺陷定(ding)位(wei)：實時顯(xian)示缺陷水平、深度（垂(chui)直）、聲(sheng)程位(wei)置。
缺(que)陷(xian)定(ding)量：缺(que)陷(xian)當量dB值實(shi)時顯示；
缺陷定(ding)性：通過(guo)回波(bo)包(bao)絡(luo)波(bo)形，方便(bian)人工經驗判斷；
探頭頻率檢(jian)測：通過(guo)抓取回波，準(zhun)確檢(jian)測出探頭的中心(xin)頻率，500mm范圍內任(ren)意波幅回波，一鍵(jian)輕松完成檢(jian)測；
曲面修正：修正斜探頭圓管檢(jian)測時的深度和水平距離；
超聲波探傷儀修正(zheng)模式：內弧(hu)/外弧(hu)；
DAC/AVG：曲(qu)線(xian)自(zi)(zi)動(dong)(dong)(dong)生成，取樣(yang)點(dian)不受(shou)限制，并可進(jin)行(xing)補償(chang)與修正。曲(qu)線(xian)隨增(zeng)益自(zi)(zi)動(dong)(dong)(dong)浮動(dong)(dong)(dong)、隨聲程自(zi)(zi)動(dong)(dong)(dong)擴展(zhan)、隨延時(shi)自(zi)(zi)動(dong)(dong)(dong)移動(dong)(dong)(dong)。能顯示任(ren)意(yi)孔徑的(de)AVG曲(qu)線(xian)。
裂紋(wen)測高：利用端點衍射波自(zi)動測量、計算裂紋(wen)高度(du)。
B型掃描(miao)：采用定時掃描(miao)方式形成B型圖像。
門內展(zhan)寬(kuan)：放大回波細節，便于回波分析。
動(dong)態(tai)記(ji)錄：檢測實(shi)時動(dong)態(tai)記(ji)錄、存儲、回放波形，每段記(ji)錄可達8分(fen)鐘。
波形凍(dong)結：凍(dong)結屏幕上顯示的波形，便于缺(que)陷分析。
焊縫圖示：顯(xian)示焊縫坡(po)口形式和(he)聲束走(zou)向，直觀顯(xian)示缺陷位置。
內置(zhi)標(biao)準(zhun)：可(ke)自由設置(zhi)各行業探(tan)傷工藝標(biao)準(zhun)。
回波編碼：輸入工件厚度，儀器根據一次(ci)(ci)波、二次(ci)(ci)波及多次(ci)(ci)波的區域能生成(cheng)不同的背景(jing)色彩(cai)。
工作(zuo)方式：直探(tan)(tan)頭、斜探(tan)(tan)頭、雙晶(jing)探(tan)(tan)頭、穿透探(tan)(tan)傷。
閘(zha)(zha)門(men)(men)報(bao)警：門(men)(men)位、門(men)(men)寬、門(men)(men)高任意可調；B閘(zha)(zha)門(men)(men)可選擇設置進波報(bao)警或失波報(bao)警；數據存(cun)(cun)儲(chu)：200組(zu)探(tan)傷(shang)參數通道，可預先(xian)調校好各(ge)類(lei)探(tan)頭和儀(yi)器的組(zu)合參數，自由設置各(ge)行業(ye)探(tan)傷(shang)標(biao)準(zhun)；可存(cun)(cun)儲(chu)10000幅探(tan)傷(shang)回波信(xin)號(hao)及參數，實現(xian)存(cun)(cun)儲(chu)、讀出及通過USB接口(kou)傳輸(shu)。
實時(shi)(shi)時(shi)(shi)鐘：實時(shi)(shi)探傷(shang)日期、時(shi)(shi)間(jian)的跟蹤記(ji)錄，并記(ji)錄存(cun)儲(chu)。
通(tong)訊接(jie)口：USB主機(ji)接(jie)口和(he)從機(ji)接(jie)口，既能與(yu)PC機(ji)通(tong)信(xin)，又能方便(bian)地訪問U盤(pan)。藍(lan)牙無(wu)線通(tong)信(xin)模塊。
電池(chi)模塊：高容量(liang)鋰(li)電池(chi)模塊，在線充電和脫機充電兩種充電方式，方便探傷。
醫用超聲波探傷儀
超(chao)(chao)聲(sheng)波探(tan)傷儀(yi)工作原理與聲(sheng)納有(you)一定的(de)(de)相似性(xing)，即將超(chao)(chao)聲(sheng)波發射(she)到人體內(nei)，當(dang)它(ta)在體內(nei)遇到界面時會發生反(fan)射(she)及折射(she)，并(bing)且(qie)在人體組(zu)織中(zhong)可能被吸收而衰(shuai)減。因為(wei)人體各種組(zu)織的(de)(de)形態與結構(gou)是(shi)不相同(tong)的(de)(de)，因此其反(fan)射(she)與折射(she)以(yi)及吸收超(chao)(chao)聲(sheng)波的(de)(de)程度也就不同(tong)，醫生們(men)正是(shi)通過儀(yi)器所反(fan)映出的(de)(de)波型(xing)(xing)、曲(qu)線，或影象的(de)(de)特征來辨別它(ta)們(men)。此外再(zai)結合解剖學知識、正常與病理的(de)(de)改變，便(bian)可診(zhen)斷所檢查的(de)(de)器官是(shi)否有(you)病。醫生們(men)應用的(de)(de)超(chao)(chao)聲(sheng)診(zhen)斷方(fang)法(fa)有(you)不同(tong)的(de)(de)形式，可分(fen)為(wei)A型(xing)(xing)、B型(xing)(xing)、M型(xing)(xing)及D型(xing)(xing)四大類(lei):
A型(xing)：是以(yi)(yi)波形來顯示組(zu)織特(te)征的(de)方(fang)法，主(zhu)要用于測(ce)量(liang)器官的(de)徑線，以(yi)(yi)判(pan)定其大(da)小。可用來鑒別(bie)病變組(zu)織的(de)一些物理特(te)性(xing)，如實質性(xing)、液(ye)體(ti)或是氣體(ti)是否存在等。
B型：用平面圖形(xing)的形(xing)式來顯(xian)示被探(tan)查組織的具(ju)體(ti)情況。檢查時，將人(ren)體(ti)界(jie)面的反(fan)射信號轉變為強弱不同的光點，這(zhe)些光點可通過熒光屏顯(xian)現(xian)出(chu)來，這(zhe)種方法直觀性(xing)好，重復性(xing)強，可供前(qian)后對比，所以廣泛用于婦產科(ke)、泌尿、消化及心血(xue)管(guan)等(deng)系統疾病的診斷。
M型(xing)：是用(yong)于觀察(cha)活(huo)動(dong)界面時間變化的一種方法(fa)。最適用(yong)于檢(jian)查心(xin)臟(zang)的活(huo)動(dong)情況，其曲線的動(dong)態改變稱為超聲心(xin)動(dong)圖，可以(yi)用(yong)來觀察(cha)心(xin)臟(zang)各(ge)層結構的位(wei)置、活(huo)動(dong)狀(zhuang)態、結構的狀(zhuang)況等，多用(yong)于輔助(zhu)心(xin)臟(zang)及大(da)血管疫病的診斷。
D型：是專(zhuan)門用來(lai)檢測(ce)血液流動和器(qi)官活動的(de)一(yi)種超(chao)聲(sheng)(sheng)(sheng)診(zhen)斷(duan)方(fang)(fang)法(fa)，又(you)稱為多普勒超(chao)聲(sheng)(sheng)(sheng)診(zhen)斷(duan)法(fa)。可確定血管(guan)是否通暢、管(guan)腔有否狹窄、閉塞(sai)以及(ji)病變部位。新一(yi)代的(de)D型超(chao)聲(sheng)(sheng)(sheng)波還能(neng)定量地測(ce)定管(guan)腔內血液的(de)流量。科學家(jia)又(you)發展了彩色編碼多普勒系(xi)統，可在(zai)超(chao)聲(sheng)(sheng)(sheng)心動圖解剖標(biao)志的(de)指(zhi)示下(xia)，以不(bu)同顏色顯示血流的(de)方(fang)(fang)向(xiang)，色澤的(de)深淺代表血流的(de)流速。還有立體超(chao)聲(sheng)(sheng)(sheng)顯象、超(chao)聲(sheng)(sheng)(sheng)CT、超(chao)聲(sheng)(sheng)(sheng)內窺(kui)鏡等超(chao)聲(sheng)(sheng)(sheng)技術不(bu)斷(duan)涌現出來(lai)，并且還可以與其他檢查(cha)儀(yi)器(qi)結合使用，使疾病的(de)診(zhen)斷(duan)準確率(lv)大大提高。超(chao)聲(sheng)(sheng)(sheng)波技術正在(zai)醫學界發揮(hui)著巨大的(de)作用，隨著科學的(de)進步，它將更加(jia)完善，將更好(hao)地造福于人類。
主要用(yong)于探測(ce)機(ji)加工件內部(bu)有(you)無缺陷（裂紋、砂眼、氣孔、白點、夾雜等），焊縫是否(fou)合格，查找(zhao)有(you)無暗傷，從而判定工件合格與否(fou)。
全數字
真彩(cai)顯示(shi)器：五種顏色(se)可(ke)(ke)選、亮度可(ke)(ke)調(diao)
高(gao)性(xing)能(neng)鋰電池，連(lian)續工作7小時
與(yu)計(ji)算機(ji)通訊，可自動生成探傷報告
實時顯示SL、EL、GL、RL定量值
自動校準：自動測試“探頭(tou)零(ling)點(dian)”、“K值”、“前沿”及“材(cai)料聲速”；
自動顯(xian)示缺陷回波位(wei)置（深(shen)度d、水平p、距離s、波幅(fu)、當量(liang)dB、孔徑ф值）；
自由切換三種標(biao)(biao)尺（深度d、水(shui)平p、距離s），滿足不同的探(tan)傷標(biao)(biao)準要(yao)求和探(tan)傷工(gong)程(cheng)師的標(biao)(biao)尺使用習慣；
自(zi)動(dong)增益：自(zi)動(dong)將波(bo)形調(diao)至屏高的80%，大大提高了探傷效率；
自動錄制探傷過程(cheng)并(bing)可以進行動態回放；
自動φ值(zhi)計(ji)算：直探頭(tou)鍛(duan)件探傷，找(zhao)準(zhun)缺陷(xian)最高(gao)波自動換算孔徑ф值(zhi)；
自動DAC、AVG曲線自動生成并可以分段制作，取樣點不受限制，并可進行修正與補償，滿足任意探傷標準；阻尼自動。
硬件實時(shi)采樣：150MHz，波形高度保真(zhen)
閘門(men)信號：單(dan)閘門(men)、雙閘門(men)，峰值或邊緣讀數(shu)
增益調(diao)節(jie)：手動調(diao)節(jie)110dB（0.2dB、0.5dB、1dB、2dB、6dB、12dB步(bu)進）或(huo)自(zi)動調(diao)節(jie)至屏高(gao)的80%
曲線包絡和(he)波峰記(ji)憶：實時檢索并記(ji)錄(lu)缺陷(xian)最高波
φ值計(ji)算(suan)：直探頭鍛件探傷找(zhao)準缺陷(xian)最(zui)高波自動(dong)換算(suan)
動態(tai)(tai)錄制：實時動態(tai)(tai)錄制波形，并可存儲、回放
缺陷定位：實(shi)時顯(xian)示水平值L、深度值H、聲(sheng)程值S
缺陷定(ding)量(liang)：實時顯示SL、EL、GL、RL定(ding)量(liang)值
實時顯示(shi)孔狀缺陷(xian)Φ值(zhi)
缺陷(xian)定性：通過(guo)波形，人工經(jing)驗判斷
曲(qu)面(mian)修正(zheng)：曲(qu)面(mian)工件探傷(shang)，修正(zheng)曲(qu)率換算
B型掃描：實時(shi)掃查，描述缺陷橫切(qie)面
閘(zha)門(men)報(bao)警：進波(bo)報(bao)警、失波(bo)報(bao)警
DAC報警：自(zi)由設(she)置SL、EL、GL、RL報警
五大常規方法(fa)是指射線探(tan)(tan)傷(shang)(shang)(shang)法(fa)、超聲波探(tan)(tan)傷(shang)(shang)(shang)法(fa)、磁(ci)粉探(tan)(tan)傷(shang)(shang)(shang)法(fa)、渦流探(tan)(tan)傷(shang)(shang)(shang)法(fa)和滲透(tou)探(tan)(tan)傷(shang)(shang)(shang)法(fa)。
射(she)(she)(she)(she)(she)線(xian)(xian)探(tan)(tan)(tan)傷(shang)(shang)(shang)是(shi)利用(yong)射(she)(she)(she)(she)(she)線(xian)(xian)的(de)(de)(de)穿透性(xing)和(he)(he)直線(xian)(xian)性(xing)來(lai)探(tan)(tan)(tan)傷(shang)(shang)(shang)的(de)(de)(de)方(fang)法。這些(xie)射(she)(she)(she)(she)(she)線(xian)(xian)雖然(ran)不會像可(ke)(ke)(ke)見光那(nei)樣(yang)憑肉眼就能(neng)直接(jie)(jie)察知，但它(ta)可(ke)(ke)(ke)使照相底片(pian)(pian)感(gan)(gan)光，也可(ke)(ke)(ke)用(yong)特殊的(de)(de)(de)接(jie)(jie)收(shou)(shou)器(qi)來(lai)接(jie)(jie)收(shou)(shou)。常(chang)用(yong)于探(tan)(tan)(tan)傷(shang)(shang)(shang)的(de)(de)(de)射(she)(she)(she)(she)(she)線(xian)(xian)有x光和(he)(he)同位素(su)發出(chu)(chu)的(de)(de)(de)γ射(she)(she)(she)(she)(she)線(xian)(xian)，分(fen)別稱為x光探(tan)(tan)(tan)傷(shang)(shang)(shang)和(he)(he)γ射(she)(she)(she)(she)(she)線(xian)(xian)探(tan)(tan)(tan)傷(shang)(shang)(shang)。當這些(xie)射(she)(she)(she)(she)(she)線(xian)(xian)穿過（照射(she)(she)(she)(she)(she)）物質(zhi)時，該(gai)物質(zhi)的(de)(de)(de)密度越大(da)，射(she)(she)(she)(she)(she)線(xian)(xian)強(qiang)度減弱得越多，即射(she)(she)(she)(she)(she)線(xian)(xian)能(neng)穿透過該(gai)物質(zhi)的(de)(de)(de)強(qiang)度就越小(xiao)。此時，若用(yong)照相底片(pian)(pian)接(jie)(jie)收(shou)(shou)，則(ze)底片(pian)(pian)的(de)(de)(de)感(gan)(gan)光量(liang)就小(xiao)；若用(yong)儀器(qi)來(lai)接(jie)(jie)收(shou)(shou)，獲得的(de)(de)(de)信(xin)號就弱。因此，用(yong)射(she)(she)(she)(she)(she)線(xian)(xian)來(lai)照射(she)(she)(she)(she)(she)待(dai)探(tan)(tan)(tan)傷(shang)(shang)(shang)的(de)(de)(de)零部(bu)件(jian)時，若其內部(bu)有氣孔、夾渣等(deng)(deng)缺(que)(que)(que)(que)陷(xian)，射(she)(she)(she)(she)(she)線(xian)(xian)穿過有缺(que)(que)(que)(que)陷(xian)的(de)(de)(de)路徑比(bi)沒(mei)有缺(que)(que)(que)(que)陷(xian)的(de)(de)(de)路徑所透過的(de)(de)(de)物質(zhi)密度要小(xiao)得多，其強(qiang)度就減弱得少些(xie)，即透過的(de)(de)(de)強(qiang)度就大(da)些(xie)，若用(yong)底片(pian)(pian)接(jie)(jie)收(shou)(shou)，則(ze)感(gan)(gan)光量(liang)就大(da)些(xie)，就可(ke)(ke)(ke)以(yi)從底片(pian)(pian)上(shang)反映出(chu)(chu)缺(que)(que)(que)(que)陷(xian)垂直于射(she)(she)(she)(she)(she)線(xian)(xian)方(fang)向(xiang)的(de)(de)(de)平面投(tou)影；若用(yong)其它(ta)接(jie)(jie)收(shou)(shou)器(qi)也同樣(yang)可(ke)(ke)(ke)以(yi)用(yong)儀表(biao)來(lai)反映缺(que)(que)(que)(que)陷(xian)垂直于射(she)(she)(she)(she)(she)線(xian)(xian)方(fang)向(xiang)的(de)(de)(de)平面投(tou)影和(he)(he)射(she)(she)(she)(she)(she)線(xian)(xian)的(de)(de)(de)透過量(liang)。由此可(ke)(ke)(ke)見，一般情況下，射(she)(she)(she)(she)(she)線(xian)(xian)探(tan)(tan)(tan)傷(shang)(shang)(shang)是(shi)不易發現裂(lie)紋(wen)的(de)(de)(de)，或者(zhe)說，射(she)(she)(she)(she)(she)線(xian)(xian)探(tan)(tan)(tan)傷(shang)(shang)(shang)對裂(lie)紋(wen)是(shi)不敏感(gan)(gan)的(de)(de)(de)。因此，射(she)(she)(she)(she)(she)線(xian)(xian)探(tan)(tan)(tan)傷(shang)(shang)(shang)對氣孔、夾渣、未焊透等(deng)(deng)體(ti)積型(xing)缺(que)(que)(que)(que)陷(xian)最敏感(gan)(gan)。即射(she)(she)(she)(she)(she)線(xian)(xian)探(tan)(tan)(tan)傷(shang)(shang)(shang)適宜用(yong)于體(ti)積型(xing)缺(que)(que)(que)(que)陷(xian)探(tan)(tan)(tan)傷(shang)(shang)(shang)，而(er)不適宜面積型(xing)缺(que)(que)(que)(que)陷(xian)探(tan)(tan)(tan)傷(shang)(shang)(shang)。
人(ren)們的(de)(de)耳(er)朵能(neng)(neng)直接接收(shou)到(dao)的(de)(de)聲(sheng)(sheng)波(bo)的(de)(de)頻率范圍通(tong)常(chang)是(shi)20Hz到(dao)20kHz，即音(yin)（聲(sheng)(sheng)）頻。頻率低(di)于(yu)(yu)20Hz的(de)(de)稱(cheng)為(wei)次聲(sheng)(sheng)波(bo)，高于(yu)(yu)20kHz的(de)(de)稱(cheng)為(wei)超(chao)聲(sheng)(sheng)波(bo)。工(gong)(gong)業上常(chang)用數兆赫茲(zi)超(chao)聲(sheng)(sheng)波(bo)來探(tan)(tan)(tan)(tan)傷。超(chao)聲(sheng)(sheng)波(bo)頻率高，則傳(chuan)(chuan)(chuan)播的(de)(de)直線性(xing)強，又(you)易于(yu)(yu)在(zai)固體中傳(chuan)(chuan)(chuan)播，并(bing)且遇(yu)到(dao)兩種(zhong)不同(tong)介(jie)質(zhi)形(xing)(xing)成的(de)(de)界(jie)面(mian)(mian)時易于(yu)(yu)反射(she)，這樣就(jiu)(jiu)(jiu)可以用它來探(tan)(tan)(tan)(tan)傷。通(tong)常(chang)用超(chao)聲(sheng)(sheng)波(bo)探(tan)(tan)(tan)(tan)頭與待(dai)探(tan)(tan)(tan)(tan)工(gong)(gong)件表(biao)面(mian)(mian)良好的(de)(de)接觸(chu)，探(tan)(tan)(tan)(tan)頭則可有效地向工(gong)(gong)件發射(she)超(chao)聲(sheng)(sheng)波(bo)，并(bing)能(neng)(neng)接收(shou)（缺(que)(que)陷(xian)(xian)(xian)）界(jie)面(mian)(mian)反射(she)來的(de)(de)超(chao)聲(sheng)(sheng)波(bo)，同(tong)時轉換成電信號(hao)，再傳(chuan)(chuan)(chuan)輸給儀(yi)器(qi)進行處理(li)。根(gen)據超(chao)聲(sheng)(sheng)波(bo)在(zai)介(jie)質(zhi)中傳(chuan)(chuan)(chuan)播的(de)(de)速度（常(chang)稱(cheng)聲(sheng)(sheng)速）和傳(chuan)(chuan)(chuan)播的(de)(de)時間(jian)，就(jiu)(jiu)(jiu)可知道缺(que)(que)陷(xian)(xian)(xian)的(de)(de)位(wei)置(zhi)。當缺(que)(que)陷(xian)(xian)(xian)越大，反射(she)面(mian)(mian)則越大，其反射(she)的(de)(de)能(neng)(neng)量(liang)(liang)也就(jiu)(jiu)(jiu)越大，故可根(gen)據反射(she)能(neng)(neng)量(liang)(liang)的(de)(de)大小來查知各缺(que)(que)陷(xian)(xian)(xian)（當量(liang)(liang)）的(de)(de)大小。常(chang)用的(de)(de)探(tan)(tan)(tan)(tan)傷波(bo)形(xing)(xing)有縱波(bo)、橫波(bo)、表(biao)面(mian)(mian)波(bo)等，前二者適(shi)用于(yu)(yu)探(tan)(tan)(tan)(tan)測(ce)內部缺(que)(que)陷(xian)(xian)(xian)，后(hou)者適(shi)宜于(yu)(yu)探(tan)(tan)(tan)(tan)測(ce)表(biao)面(mian)(mian)缺(que)(que)陷(xian)(xian)(xian)，但對表(biao)面(mian)(mian)的(de)(de)條(tiao)件要求高。
磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)粉(fen)(fen)探(tan)傷(shang)是建(jian)立在(zai)漏磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)原理基礎上(shang)(shang)(shang)的一種磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)力(li)探(tan)傷(shang)方(fang)法(fa)。當磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)力(li)線(xian)穿過(guo)鐵磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)材料及其制品(pin)時，在(zai)其（磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)性）不(bu)連續處將產(chan)(chan)生漏磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)場(chang)，形成(cheng)磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)極(ji)。此(ci)時撒上(shang)(shang)(shang)干(gan)磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)粉(fen)(fen)或澆(jiao)上(shang)(shang)(shang)磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)懸(xuan)液，磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)極(ji)就(jiu)會吸附磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)粉(fen)(fen)，產(chan)(chan)生用(yong)肉(rou)眼(yan)能直(zhi)接(jie)(jie)觀察(cha)的明顯磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)痕。因(yin)此(ci)，可借(jie)助(zhu)(zhu)于(yu)該磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)痕來顯示鐵磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)材料及其制品(pin)的缺(que)(que)(que)陷情(qing)況。磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)粉(fen)(fen)探(tan)傷(shang)法(fa)可探(tan)測露出(chu)表(biao)(biao)面(mian)，用(yong)肉(rou)眼(yan)或借(jie)助(zhu)(zhu)于(yu)放大(da)鏡(jing)也不(bu)能直(zhi)接(jie)(jie)觀察(cha)到的微小缺(que)(que)(que)陷，也可探(tan)測未(wei)露出(chu)表(biao)(biao)面(mian)，而是埋藏在(zai)表(biao)(biao)面(mian)下幾毫米的近表(biao)(biao)面(mian)缺(que)(que)(que)陷。用(yong)這種方(fang)法(fa)雖然(ran)也能探(tan)查氣孔、夾雜、未(wei)焊透(tou)等(deng)體積型缺(que)(que)(que)陷，但對面(mian)積型缺(que)(que)(que)陷更靈敏，更適于(yu)檢查因(yin)淬火、軋制、鍛(duan)造(zao)、鑄造(zao)、焊接(jie)(jie)、電鍍(du)、磨削、疲勞等(deng)引起(qi)的裂紋。
磁(ci)力(li)探(tan)(tan)傷(shang)(shang)中對缺(que)陷(xian)的(de)(de)顯示(shi)(shi)(shi)(shi)方法有(you)多種，有(you)用(yong)磁(ci)粉(fen)顯示(shi)(shi)(shi)(shi)的(de)(de)，也有(you)不用(yong)磁(ci)粉(fen)顯示(shi)(shi)(shi)(shi)的(de)(de)。用(yong)磁(ci)粉(fen)顯示(shi)(shi)(shi)(shi)的(de)(de)稱(cheng)為(wei)磁(ci)粉(fen)探(tan)(tan)傷(shang)(shang)，因它(ta)顯示(shi)(shi)(shi)(shi)直觀、操(cao)作簡單、人們樂于使用(yong)，故它(ta)是最常用(yong)的(de)(de)方法之一。不用(yong)磁(ci)粉(fen)顯示(shi)(shi)(shi)(shi)的(de)(de)，習慣上稱(cheng)為(wei)漏磁(ci)探(tan)(tan)傷(shang)(shang)，它(ta)常借助(zhu)于感(gan)應(ying)線圈、磁(ci)敏管、霍爾元件(jian)等來反映缺(que)陷(xian)，它(ta)比(bi)磁(ci)粉(fen)探(tan)(tan)傷(shang)(shang)更衛生，但不如(ru)前(qian)者(zhe)直觀。由于磁(ci)力(li)探(tan)(tan)傷(shang)(shang)主要用(yong)磁(ci)粉(fen)來顯示(shi)(shi)(shi)(shi)缺(que)陷(xian)，因此，人們有(you)時把磁(ci)粉(fen)探(tan)(tan)傷(shang)(shang)直接(jie)稱(cheng)為(wei)磁(ci)力(li)探(tan)(tan)傷(shang)(shang)，其設備稱(cheng)為(wei)磁(ci)力(li)探(tan)(tan)傷(shang)(shang)設備。
渦(wo)(wo)(wo)流(liu)(liu)探(tan)傷是由交流(liu)(liu)電(dian)流(liu)(liu)產生的(de)(de)(de)交變磁場作用(yong)(yong)于待探(tan)傷的(de)(de)(de)導電(dian)材(cai)料(liao)(liao)，感應出電(dian)渦(wo)(wo)(wo)流(liu)(liu)。如果(guo)材(cai)料(liao)(liao)中(zhong)(zhong)有(you)缺(que)陷，它(ta)將干(gan)擾所產生的(de)(de)(de)電(dian)渦(wo)(wo)(wo)流(liu)(liu)，即形(xing)成干(gan)擾信(xin)號(hao)。用(yong)(yong)渦(wo)(wo)(wo)流(liu)(liu)探(tan)傷儀檢測出其干(gan)擾信(xin)號(hao)，就(jiu)可知(zhi)道缺(que)陷的(de)(de)(de)狀況。影響(xiang)渦(wo)(wo)(wo)流(liu)(liu)的(de)(de)(de)因素很(hen)多，即是說(shuo)渦(wo)(wo)(wo)流(liu)(liu)中(zhong)(zhong)載(zai)有(you)豐富(fu)的(de)(de)(de)信(xin)號(hao)，這(zhe)些信(xin)號(hao)與材(cai)料(liao)(liao)的(de)(de)(de)很(hen)多因素有(you)關，如何將其中(zhong)(zhong)有(you)用(yong)(yong)的(de)(de)(de)信(xin)號(hao)從(cong)諸多的(de)(de)(de)信(xin)號(hao)中(zhong)(zhong)一一分離出來，是渦(wo)(wo)(wo)流(liu)(liu)研究工(gong)作者(zhe)的(de)(de)(de)難題，多年來已經取(qu)得了一些進展，在一定條(tiao)件(jian)下可解決一些問題，但還遠(yuan)不(bu)能(neng)滿足現場的(de)(de)(de)要求(qiu)，有(you)待于大力(li)發展。
渦流(liu)探傷的(de)顯著特點是對(dui)導(dao)電材(cai)料就(jiu)能起作用，而不一定是鐵(tie)磁材(cai)料，但對(dui)鐵(tie)磁材(cai)料的(de)效果較(jiao)差(cha)。其次，待探工(gong)件(jian)表面的(de)光潔(jie)度(du)(du)、平(ping)整度(du)(du)、邊介(jie)等(deng)對(dui)渦流(liu)探傷都有較(jiao)大影(ying)響，因此常(chang)將渦流(liu)探傷用于(yu)形狀較(jiao)規則、表面較(jiao)光潔(jie)的(de)銅管(guan)等(deng)非鐵(tie)磁性工(gong)件(jian)探傷。
滲透(tou)探傷(shang)(shang)是(shi)利(li)用(yong)毛細(xi)(xi)現(xian)象來(lai)進行探傷(shang)(shang)的(de)(de)(de)(de)方法。對于(yu)表(biao)(biao)面光(guang)滑而清(qing)潔的(de)(de)(de)(de)零(ling)部(bu)件，用(yong)一種(zhong)帶(dai)色(se)(se)（常為(wei)紅色(se)(se)）或帶(dai)有熒(ying)(ying)光(guang)的(de)(de)(de)(de)、滲透(tou)性(xing)很強的(de)(de)(de)(de)液(ye)體(ti)，涂(tu)覆于(yu)待探零(ling)部(bu)件的(de)(de)(de)(de)表(biao)(biao)面。若表(biao)(biao)面有肉眼不能直接察知的(de)(de)(de)(de)微裂(lie)紋(wen)(wen)，由(you)于(yu)該液(ye)體(ti)的(de)(de)(de)(de)滲透(tou)性(xing)很強，它將沿著(zhu)裂(lie)紋(wen)(wen)滲透(tou)到(dao)其(qi)(qi)根部(bu)。然后(hou)(hou)將表(biao)(biao)面的(de)(de)(de)(de)滲透(tou)液(ye)洗(xi)去，再(zai)涂(tu)上對比度較(jiao)(jiao)大的(de)(de)(de)(de)顯(xian)示液(ye)（常為(wei)白色(se)(se)）。放置片刻后(hou)(hou)，由(you)于(yu)裂(lie)紋(wen)(wen)很窄，毛細(xi)(xi)現(xian)象作用(yong)顯(xian)著(zhu)，原滲透(tou)到(dao)裂(lie)紋(wen)(wen)內的(de)(de)(de)(de)滲透(tou)液(ye)將上升(sheng)到(dao)表(biao)(biao)面并(bing)擴散，在白色(se)(se)的(de)(de)(de)(de)襯底上顯(xian)出較(jiao)(jiao)粗的(de)(de)(de)(de)紅線，從(cong)而顯(xian)示出裂(lie)紋(wen)(wen)露(lu)于(yu)表(biao)(biao)面的(de)(de)(de)(de)形狀，因(yin)此(ci)，常稱(cheng)為(wei)著(zhu)色(se)(se)探傷(shang)(shang)。若滲透(tou)液(ye)采用(yong)的(de)(de)(de)(de)是(shi)帶(dai)熒(ying)(ying)光(guang)的(de)(de)(de)(de)液(ye)體(ti)，由(you)毛細(xi)(xi)現(xian)象上升(sheng)到(dao)表(biao)(biao)面的(de)(de)(de)(de)液(ye)體(ti)，則會(hui)在紫外(wai)燈照射下(xia)發出熒(ying)(ying)光(guang)，從(cong)而更能顯(xian)示出裂(lie)紋(wen)(wen)露(lu)于(yu)表(biao)(biao)面的(de)(de)(de)(de)形狀，故(gu)常常又將此(ci)時的(de)(de)(de)(de)滲透(tou)探傷(shang)(shang)直接稱(cheng)為(wei)熒(ying)(ying)光(guang)探傷(shang)(shang)。此(ci)探傷(shang)(shang)方法也可(ke)用(yong)于(yu)金(jin)屬(shu)和非金(jin)屬(shu)表(biao)(biao)面探傷(shang)(shang)。其(qi)(qi)使用(yong)的(de)(de)(de)(de)探傷(shang)(shang)液(ye)劑有較(jiao)(jiao)大氣(qi)味，常有一定(ding)毒性(xing)。
除以上(shang)五大常規(gui)方法外，近年來(lai)又(you)有(you)了紅外、聲發射等(deng)一些新的(de)探傷方法。
