測(ce)(ce)厚(hou)(hou)儀(yi)可(ke)以(yi)(yi)用(yong)來在(zai)線測(ce)(ce)量軋制(zhi)后(hou)的(de)(de)板(ban)帶材厚(hou)(hou)度(du)，并以(yi)(yi)電訊(xun)號的(de)(de)形(xing)式輸(shu)出。該電訊(xun)號輸(shu)給顯示器和自(zi)(zi)動厚(hou)(hou)度(du)控制(zhi)系統，以(yi)(yi)實現對板(ban)帶厚(hou)(hou)度(du)的(de)(de)自(zi)(zi)動厚(hou)(hou)度(du)控制(zhi)（AGC）。 目前常見的(de)(de)測(ce)(ce)厚(hou)(hou)儀(yi)有(you)γ射(she)線、β射(she)線、x射(she)線及同位(wei)(wei)素(su)射(she)線等四種，其(qi)安(an)放位(wei)(wei)置均在(zai)板(ban)帶軋機的(de)(de)出口(kou)或入口(kou)側。設計、安(an)裝測(ce)(ce)厚(hou)(hou)儀(yi)時要在(zai)可(ke)能的(de)(de)條件下(xia)盡量靠近工(gong)作(zuo)輥(gun)，目的(de)(de)是降低板(ban)厚(hou)(hou)的(de)(de)滯后(hou)調整時間。
用于測(ce)定(ding)材料(liao)(liao)本身厚(hou)(hou)(hou)度或材料(liao)(liao)表(biao)面覆(fu)蓋(gai)層厚(hou)(hou)(hou)度的儀器。有(you)些構(gou)件在制造和檢修時(shi)必(bi)須測(ce)量(liang)其厚(hou)(hou)(hou)度，以(yi)便了解材料(liao)(liao)的厚(hou)(hou)(hou)薄規格，各點均(jun)勻度和材料(liao)(liao)腐蝕、磨損程度；有(you)時(shi)則(ze)要測(ce)定(ding)材料(liao)(liao)表(biao)面的覆(fu)蓋(gai)層厚(hou)(hou)(hou)度，以(yi)保證產(chan)(chan)品質(zhi)量(liang)和生(sheng)產(chan)(chan)安(an)全(quan)。根(gen)據測(ce)定(ding)原(yuan)理的不同，常用測(ce)厚(hou)(hou)(hou)儀有(you)超聲、磁性、渦流、同位素等(deng)四種。
超聲(sheng)波(bo)測(ce)厚(hou)(hou)(hou)(hou)儀(yi)(yi)超聲(sheng)波(bo)在(zai)(zai)各種介質(zhi)中(zhong)的(de)(de)(de)聲(sheng)速是不同(tong)的(de)(de)(de)，但在(zai)(zai)同(tong)一介質(zhi)中(zhong)聲(sheng)速是一常(chang)數(shu)。超聲(sheng)波(bo)在(zai)(zai)介質(zhi)中(zhong)傳(chuan)播遇到第二種介質(zhi)時會(hui)被反射，測(ce)量超聲(sheng)波(bo)脈沖從(cong)發射至(zhi)接(jie)收(shou)的(de)(de)(de)間(jian)(jian)隔(ge)時間(jian)(jian)，即可將這(zhe)間(jian)(jian)隔(ge)時間(jian)(jian)換(huan)算成厚(hou)(hou)(hou)(hou)度(du)。在(zai)(zai)電(dian)力工(gong)業中(zhong)應用最廣的(de)(de)(de)就是這(zhe)類(lei)測(ce)厚(hou)(hou)(hou)(hou)儀(yi)(yi)。常(chang)用于測(ce)定鍋(guo)爐鍋(guo)筒、受熱(re)面管子、管道等(deng)的(de)(de)(de)厚(hou)(hou)(hou)(hou)度(du)，也用于校核(he)工(gong)件結構尺寸等(deng)。這(zhe)類(lei)測(ce)厚(hou)(hou)(hou)(hou)儀(yi)(yi)多(duo)是攜(xie)帶(dai)式的(de)(de)(de)，體積與小型半導體收(shou)音機相近，厚(hou)(hou)(hou)(hou)度(du)值(zhi)的(de)(de)(de)顯示多(duo)是數(shu)字(zi)式的(de)(de)(de)。對于鋼材，最大測(ce)定厚(hou)(hou)(hou)(hou)度(du)達(da)2000mm左右，精度(du)在(zai)(zai)±0.01～±0.1mm之間(jian)(jian)。
磁(ci)性測厚儀在(zai)測定(ding)(ding)各(ge)種導(dao)磁(ci)材(cai)料的(de)磁(ci)阻時，測定(ding)(ding)值會因(yin)其表面(mian)非導(dao)磁(ci)覆蓋層(ceng)(ceng)厚度的(de)不同而發生變化。利(li)用這種變化即可測知覆蓋層(ceng)(ceng)厚度值。常用于測定(ding)(ding)鐵磁(ci)金(jin)屬(shu)表面(mian)上的(de)噴鋁層(ceng)(ceng)、塑(su)料層(ceng)(ceng)、電(dian)鍍(du)層(ceng)(ceng)、磷化層(ceng)(ceng)、油漆層(ceng)(ceng)等的(de)厚度。
渦流測(ce)厚(hou)(hou)儀(yi)當(dang)載(zai)有高(gao)頻電流的(de)(de)探(tan)(tan)頭(tou)線圈(quan)置于被測(ce)金屬表面(mian)(mian)時，由于高(gao)頻磁場的(de)(de)作(zuo)用而(er)使(shi)金屬體內(nei)產(chan)生渦流，此渦流產(chan)生的(de)(de)磁場又(you)反作(zuo)用于探(tan)(tan)頭(tou)線圈(quan)，使(shi)其(qi)阻抗(kang)發生變(bian)化，此變(bian)化量與探(tan)(tan)頭(tou)線圈(quan)離金屬表面(mian)(mian)的(de)(de)距(ju)離（即覆(fu)蓋層的(de)(de)厚(hou)(hou)度）有關，因(yin)而(er)根據探(tan)(tan)頭(tou)線圈(quan)阻抗(kang)的(de)(de)變(bian)化可間接(jie)測(ce)量金屬表面(mian)(mian)覆(fu)蓋層的(de)(de)厚(hou)(hou)度。常用于測(ce)定鋁材上(shang)的(de)(de)氧化膜或鋁、銅表面(mian)(mian)上(shang)其(qi)他絕(jue)緣覆(fu)蓋層的(de)(de)厚(hou)(hou)度。
同(tong)位素(su)測厚(hou)儀(yi)利用(yong)(yong)物質(zhi)厚(hou)度(du)不同(tong)對輻射(she)的吸收與散射(she)不同(tong)的原理，可以測定(ding)薄(bo)(bo)鋼(gang)(gang)板、薄(bo)(bo)銅板、薄(bo)(bo)鋁板、硅鋼(gang)(gang)片(pian)、合金(jin)片(pian)等金(jin)屬材(cai)料及(ji)橡膠(jiao)片(pian)，塑(su)料膜(mo)，紙張等的厚(hou)度(du)。常用(yong)(yong)的同(tong)位素(su)射(she)線有γ射(she)線、β射(she)線等。
測厚(hou)(hou)儀(yi)的(de)測試(shi)方(fang)法(fa)(fa)主要(yao)有：磁(ci)性測厚(hou)(hou)法(fa)(fa)，放射測厚(hou)(hou)法(fa)(fa)，電(dian)解測厚(hou)(hou)法(fa)(fa)，渦流(liu)測厚(hou)(hou)法(fa)(fa)，超聲(sheng)波測厚(hou)(hou)法(fa)(fa)。
測量注意事項：
⒈在進(jin)行測(ce)試的(de)時候(hou)要注(zhu)意標(biao)準片集體的(de)金屬磁(ci)性和(he)表(biao)面粗(cu)糙度應當與試件相似。
⒉測(ce)量時(shi)側頭(tou)與試樣表面保持(chi)垂直。
⒊測量(liang)時要注意基體金(jin)屬(shu)的(de)臨界厚(hou)度，如果大于這個厚(hou)度測量(liang)就不受基體金(jin)屬(shu)厚(hou)度的(de)影響。
⒋測(ce)量(liang)時要注意試(shi)(shi)件的(de)(de)曲(qu)率(lv)對測(ce)量(liang)的(de)(de)影響。因此在彎曲(qu)的(de)(de)試(shi)(shi)件表(biao)面上測(ce)量(liang)時不可(ke)靠的(de)(de)。
⒌測量(liang)前要注意周(zhou)圍(wei)其他的電器設備會不會產生磁(ci)場，如果(guo)會將會干擾磁(ci)性測厚(hou)法。
⒍測量(liang)時要(yao)注意(yi)不(bu)要(yao)在內轉角處(chu)和靠近試件邊(bian)緣(yuan)處(chu)測量(liang)，因(yin)為一般的測厚儀(yi)試件表面形狀的忽然變化很敏感。
⒎在測量(liang)(liang)時要保持壓力(li)的恒定，否(fou)則(ze)會影響(xiang)測量(liang)(liang)的讀數。
⒏在(zai)進行測(ce)試的時候要(yao)注意儀器測(ce)頭(tou)和被測(ce)試件的要(yao)直接(jie)(jie)接(jie)(jie)觸，因此(ci)超聲波測(ce)厚儀在(zai)進行對側頭(tou)清除附著物質。
1、激(ji)(ji)光測厚儀是(shi)利(li)用激(ji)(ji)光的反射(she)原(yuan)理，根據光切(qie)法測量和(he)觀察機械制造中(zhong)零件(jian)加工表面的微觀幾(ji)何(he)形狀來測量產品的厚度，是(shi)一種非接觸式的動態測量儀器。它可直接輸出數字信(xin)號與工業計算機相連接，并迅速(su)處(chu)理數據并輸出偏差值到各種工業設(she)備。
2、X射線測厚(hou)儀(yi)利用X射線穿透被測材(cai)(cai)料(liao)時，X射線的強度(du)(du)的變(bian)化與材(cai)(cai)料(liao)的厚(hou)度(du)(du)相關的特性(xing)，滄州歐譜從而(er)測定材(cai)(cai)料(liao)的厚(hou)度(du)(du)，是一種非(fei)接觸(chu)式的動態(tai)計(ji)量儀(yi)器。它以PLC和工業(ye)(ye)計(ji)算機為核心(xin)，采集計(ji)算數據并輸出目標偏差值給(gei)軋機厚(hou)度(du)(du)控制系統(tong)，達到要(yao)求的軋制厚(hou)度(du)(du)。主要(yao)應用行業(ye)(ye)：有色金(jin)屬的板(ban)帶箔加工、冶金(jin)行業(ye)(ye)的板(ban)帶加工。
3、紙(zhi)張測(ce)厚(hou)儀(yi)：適用于4mm以下(xia)的各種薄膜、紙(zhi)張、紙(zhi)板以及其他片(pian)狀(zhuang)材料厚(hou)度的測(ce)量。
4、薄(bo)膜測(ce)(ce)(ce)厚儀(yi)：用于(yu)測(ce)(ce)(ce)定薄(bo)膜、薄(bo)片等材(cai)料(liao)的(de)厚度，測(ce)(ce)(ce)量(liang)范圍寬、測(ce)(ce)(ce)量(liang)精度高，具有數據輸(shu)出、任意(yi)位(wei)置置零、公英制轉換、自動斷電等特點。
5、涂層(ceng)測厚(hou)(hou)儀(yi)：用于(yu)測量鐵(tie)及非(fei)鐵(tie)金屬(shu)基(ji)體上(shang)涂層(ceng)的厚(hou)(hou)度(du)。
6、超(chao)(chao)聲(sheng)(sheng)(sheng)波(bo)測(ce)(ce)厚(hou)儀(yi)：超(chao)(chao)聲(sheng)(sheng)(sheng)波(bo)測(ce)(ce)厚(hou)儀(yi)是(shi)根據超(chao)(chao)聲(sheng)(sheng)(sheng)波(bo)脈沖(chong)反射(she)(she)原(yuan)(yuan)理來進行厚(hou)度測(ce)(ce)量(liang)的(de)(de)，當探頭發(fa)射(she)(she)的(de)(de)超(chao)(chao)聲(sheng)(sheng)(sheng)波(bo)脈沖(chong)通過(guo)被(bei)測(ce)(ce)物體到達(da)材料分界(jie)面時(shi)，脈沖(chong)被(bei)反射(she)(she)回探頭，通過(guo)精(jing)確測(ce)(ce)量(liang)超(chao)(chao)聲(sheng)(sheng)(sheng)波(bo)在材料中傳(chuan)播的(de)(de)時(shi)間來確定(ding)被(bei)測(ce)(ce)材料的(de)(de)厚(hou)度。凡能使超(chao)(chao)聲(sheng)(sheng)(sheng)波(bo)以一恒定(ding)速度在其內部傳(chuan)播的(de)(de)各種材料均可采用此原(yuan)(yuan)理測(ce)(ce)量(liang)。
