測厚(hou)(hou)儀可(ke)以(yi)用來(lai)在(zai)(zai)線(xian)(xian)(xian)測量軋制后(hou)的(de)(de)(de)板(ban)(ban)帶材厚(hou)(hou)度，并以(yi)電訊號的(de)(de)(de)形式輸出。該(gai)電訊號輸給顯示器(qi)和自動厚(hou)(hou)度控(kong)制系統，以(yi)實現對板(ban)(ban)帶厚(hou)(hou)度的(de)(de)(de)自動厚(hou)(hou)度控(kong)制（AGC）。 目前常(chang)見的(de)(de)(de)測厚(hou)(hou)儀有γ射線(xian)(xian)(xian)、β射線(xian)(xian)(xian)、x射線(xian)(xian)(xian)及同(tong)位(wei)素射線(xian)(xian)(xian)等四種(zhong)，其安放位(wei)置均(jun)在(zai)(zai)板(ban)(ban)帶軋機的(de)(de)(de)出口或(huo)入(ru)口側。設計、安裝測厚(hou)(hou)儀時要在(zai)(zai)可(ke)能的(de)(de)(de)條件下盡量靠近工作輥，目的(de)(de)(de)是降低板(ban)(ban)厚(hou)(hou)的(de)(de)(de)滯后(hou)調整時間。
用于測(ce)定材(cai)料(liao)本身(shen)厚(hou)度或材(cai)料(liao)表(biao)面覆蓋(gai)層厚(hou)度的(de)儀器。有(you)些構件在(zai)制造(zao)和(he)檢修(xiu)時(shi)(shi)必(bi)須測(ce)量(liang)其厚(hou)度，以便(bian)了解材(cai)料(liao)的(de)厚(hou)薄規格，各點均勻度和(he)材(cai)料(liao)腐(fu)蝕、磨損程度；有(you)時(shi)(shi)則(ze)要測(ce)定材(cai)料(liao)表(biao)面的(de)覆蓋(gai)層厚(hou)度，以保證產(chan)品質量(liang)和(he)生產(chan)安全。根據測(ce)定原理的(de)不同，常(chang)用測(ce)厚(hou)儀有(you)超聲、磁(ci)性、渦流、同位(wei)素等四種。
超(chao)聲(sheng)波(bo)測厚(hou)(hou)儀(yi)超(chao)聲(sheng)波(bo)在各種(zhong)介質中(zhong)的聲(sheng)速是不同的，但在同一介質中(zhong)聲(sheng)速是一常數。超(chao)聲(sheng)波(bo)在介質中(zhong)傳播(bo)遇到(dao)第二(er)種(zhong)介質時(shi)會(hui)被反(fan)射，測量超(chao)聲(sheng)波(bo)脈沖從發(fa)射至(zhi)接(jie)收(shou)的間(jian)隔時(shi)間(jian)，即(ji)可將這(zhe)間(jian)隔時(shi)間(jian)換算成厚(hou)(hou)度(du)。在電(dian)力工業中(zhong)應用(yong)(yong)最廣的就(jiu)是這(zhe)類測厚(hou)(hou)儀(yi)。常用(yong)(yong)于測定鍋爐鍋筒、受熱面(mian)管子、管道等的厚(hou)(hou)度(du)，也用(yong)(yong)于校核工件(jian)結構尺寸等。這(zhe)類測厚(hou)(hou)儀(yi)多是攜帶式(shi)的，體積(ji)與(yu)小型半導體收(shou)音機相近，厚(hou)(hou)度(du)值的顯示多是數字式(shi)的。對于鋼材，最大(da)測定厚(hou)(hou)度(du)達2000mm左右，精度(du)在±0.01～±0.1mm之間(jian)。
磁性測厚(hou)儀在測定各(ge)種(zhong)導磁材料的磁阻(zu)時，測定值會因其表(biao)面(mian)非導磁覆(fu)蓋層厚(hou)度的不同而發生變化(hua)。利(li)用這種(zhong)變化(hua)即可測知覆(fu)蓋層厚(hou)度值。常用于測定鐵磁金屬表(biao)面(mian)上的噴鋁層、塑料層、電鍍層、磷化(hua)層、油漆(qi)層等的厚(hou)度。
渦流(liu)測厚(hou)(hou)儀當(dang)載有(you)高(gao)(gao)頻電流(liu)的(de)(de)探(tan)頭(tou)(tou)線(xian)圈(quan)(quan)置于(yu)被測金(jin)屬(shu)表(biao)面時，由于(yu)高(gao)(gao)頻磁場(chang)的(de)(de)作(zuo)(zuo)用而使金(jin)屬(shu)體內產生渦流(liu)，此渦流(liu)產生的(de)(de)磁場(chang)又(you)反作(zuo)(zuo)用于(yu)探(tan)頭(tou)(tou)線(xian)圈(quan)(quan)，使其阻抗發生變化(hua)(hua)，此變化(hua)(hua)量與(yu)探(tan)頭(tou)(tou)線(xian)圈(quan)(quan)離(li)金(jin)屬(shu)表(biao)面的(de)(de)距離(li)（即覆(fu)蓋層的(de)(de)厚(hou)(hou)度）有(you)關，因而根據(ju)探(tan)頭(tou)(tou)線(xian)圈(quan)(quan)阻抗的(de)(de)變化(hua)(hua)可間接(jie)測量金(jin)屬(shu)表(biao)面覆(fu)蓋層的(de)(de)厚(hou)(hou)度。常用于(yu)測定鋁材上的(de)(de)氧化(hua)(hua)膜或鋁、銅表(biao)面上其他絕緣覆(fu)蓋層的(de)(de)厚(hou)(hou)度。
同位素(su)測(ce)厚(hou)(hou)儀利用(yong)物質厚(hou)(hou)度(du)不同對(dui)輻射(she)的吸收與散射(she)不同的原理，可(ke)以測(ce)定薄鋼板(ban)(ban)、薄銅(tong)板(ban)(ban)、薄鋁板(ban)(ban)、硅鋼片、合金片等金屬材料及(ji)橡膠片，塑料膜，紙張等的厚(hou)(hou)度(du)。常用(yong)的同位素(su)射(she)線(xian)有γ射(she)線(xian)、β射(she)線(xian)等。
測(ce)(ce)厚(hou)儀(yi)的測(ce)(ce)試方法(fa)主要有：磁性(xing)測(ce)(ce)厚(hou)法(fa)，放射測(ce)(ce)厚(hou)法(fa)，電解(jie)測(ce)(ce)厚(hou)法(fa)，渦流(liu)測(ce)(ce)厚(hou)法(fa)，超聲波(bo)測(ce)(ce)厚(hou)法(fa)。
測量注意事項：
⒈在進行測試(shi)的時候(hou)要注意標準(zhun)片集體的金屬磁(ci)性和表面粗糙度(du)應當與試(shi)件(jian)相似。
⒉測(ce)量(liang)時側頭與試樣表面保持垂直(zhi)。
⒊測量時要(yao)注(zhu)意(yi)基體金屬的(de)臨(lin)界厚度，如果大于這個厚度測量就不受基體金屬厚度的(de)影響。
⒋測(ce)量(liang)時要注(zhu)意試件的(de)曲率對(dui)測(ce)量(liang)的(de)影響(xiang)。因此在彎(wan)曲的(de)試件表(biao)面上(shang)測(ce)量(liang)時不可靠的(de)。
⒌測量前要(yao)注意周圍其他的電器設備(bei)會(hui)不(bu)會(hui)產生磁場，如(ru)果會(hui)將(jiang)會(hui)干擾磁性(xing)測厚法(fa)。
⒍測量時(shi)要(yao)注意不要(yao)在內轉角處(chu)和靠(kao)近試件邊緣處(chu)測量，因為一般(ban)的測厚儀試件表面形狀的忽然變化很(hen)敏感。
⒎在測(ce)量時要保(bao)持壓力的恒(heng)定，否則會(hui)影響(xiang)測(ce)量的讀(du)數。
⒏在進行測(ce)試的(de)(de)時候要注意儀(yi)器測(ce)頭和被測(ce)試件的(de)(de)要直接(jie)接(jie)觸，因此(ci)超聲(sheng)波測(ce)厚儀(yi)在進行對側頭清(qing)除附著物(wu)質。
1、激光(guang)測厚儀是利用激光(guang)的反射原理，根據光(guang)切(qie)法(fa)測量和觀察(cha)機(ji)械制造中零件加工(gong)表面的微觀幾何形狀來測量產品的厚度，是一種非接觸(chu)式(shi)的動(dong)態測量儀器。它可直(zhi)接輸出數字信號與工(gong)業(ye)計算機(ji)相連接，并迅速處理數據并輸出偏差值(zhi)到各種工(gong)業(ye)設(she)備。
2、X射(she)線(xian)(xian)測厚(hou)(hou)儀(yi)利(li)用(yong)X射(she)線(xian)(xian)穿透被(bei)測材料(liao)(liao)時，X射(she)線(xian)(xian)的(de)強度的(de)變化與材料(liao)(liao)的(de)厚(hou)(hou)度相(xiang)關的(de)特性，滄州(zhou)歐譜從(cong)而測定材料(liao)(liao)的(de)厚(hou)(hou)度，是一種非接觸式的(de)動態計量儀(yi)器。它以PLC和工業計算(suan)機為核心，采集計算(suan)數據(ju)并輸出目標偏差值給軋(ya)機厚(hou)(hou)度控制(zhi)系(xi)統(tong)，達(da)到要求的(de)軋(ya)制(zhi)厚(hou)(hou)度。主要應用(yong)行業：有色金屬的(de)板(ban)(ban)帶箔加工、冶(ye)金行業的(de)板(ban)(ban)帶加工。
3、紙張測厚儀：適(shi)用于4mm以下的(de)(de)各種薄膜、紙張、紙板以及(ji)其他片狀材料厚度(du)的(de)(de)測量(liang)。
4、薄膜測(ce)厚(hou)儀：用于測(ce)定薄膜、薄片等材(cai)料的厚(hou)度(du)，測(ce)量范(fan)圍寬、測(ce)量精度(du)高，具有數據輸(shu)出、任意位(wei)置置零、公(gong)英制轉換、自(zi)動斷電等特(te)點。
5、涂層測厚儀：用于測量鐵(tie)(tie)及非鐵(tie)(tie)金屬基(ji)體上涂層的厚度。
6、超(chao)(chao)(chao)聲(sheng)波測(ce)(ce)厚儀：超(chao)(chao)(chao)聲(sheng)波測(ce)(ce)厚儀是根(gen)據(ju)超(chao)(chao)(chao)聲(sheng)波脈(mo)(mo)沖反射(she)原理來進行厚度(du)測(ce)(ce)量的，當探頭發射(she)的超(chao)(chao)(chao)聲(sheng)波脈(mo)(mo)沖通(tong)過被(bei)測(ce)(ce)物體到達材料分界面(mian)時，脈(mo)(mo)沖被(bei)反射(she)回探頭，通(tong)過精確測(ce)(ce)量超(chao)(chao)(chao)聲(sheng)波在(zai)材料中傳播的時間(jian)來確定(ding)被(bei)測(ce)(ce)材料的厚度(du)。凡能使超(chao)(chao)(chao)聲(sheng)波以一(yi)恒定(ding)速度(du)在(zai)其(qi)內部(bu)傳播的各種材料均可采(cai)用此(ci)原理測(ce)(ce)量。
