精度(du)高---測(ce)角精度(du)可達±0.3秒;
壽(shou)(shou)命(ming)長(chang)---主軸采(cai)用(yong)氣浮結構,精(jing)度保持長(chang)久(jiu),永不(bu)磨損(sun),使用(yong)壽(shou)(shou)命(ming)長(chang);
讀(du)數系統采用進口的高(gao)精度位相光柵編(bian)碼器及其相關技術;
光(guang)柵刻線條數達16300線/圓度(du)。
刻線寬度為(wei)0.1чm。準確(que)度高,穩定性好(hao)。
瞄準(zhun)(zhun)系統采用以圖(tu)象傳感器(qi)探(tan)測信號的自(zi)準(zhun)(zhun)儀(yi),精度高。
主軸精度:±0.02чm;
角(jiao)度傳感器絕度精(jing)度:0.3秒;
單次測角精(jing)度:±1秒;
多次測角(jiao)精度:±0.5秒;
CCD分辨率:0.03秒;
CCD重(zhong)復性(xing):±0.2秒;
承載重量:50kg。
接(jie)觸角(jiao)測(ce)(ce)量(liang)儀(yi)由美國海軍研(yan)究實(shi)驗室(UnitedStatesNavalResearchLaboratory)的威廉·濟斯(si)曼(man)(WilliamZisman)博士發明,由萊姆-哈特公(gong)司(ramé-hart instrumentco.)于1960年代試制(zhi)成(cheng)功。人們(men)不(bu)僅可以(yi)生產基于濟斯(si)曼(man)博士設計思想(xiang)的手動接(jie)觸角(jiao)儀(yi),還(huan)開發出了各種利(li)用(yong)攝像(xiang)機(ji)和(he)(he)軟(ruan)件(jian)控制(zhi)的全(quan)自動測(ce)(ce)角(jiao)儀(yi),測(ce)(ce)量(liang)領(ling)域(yu)也不(bu)僅局限于測(ce)(ce)量(liang)液(ye)體接(jie)觸角(jiao)和(he)(he)表(biao)面能,還(huan)括(kuo)展到表(biao)面張力的懸滴法(pendantdrop)和(he)(he)躺滴法(sessiledrop)測(ce)(ce)量(liang)等(deng)等(deng)其他(ta)技(ji)術中。手動接(jie)觸角(jiao)儀(yi)需(xu)要操作員從(cong)顯微(wei)鏡目鏡中觀察測(ce)(ce)量(liang)。新(xin)一(yi)代測(ce)(ce)角(jiao)儀(yi)則可利(li)用(yong)攝像(xiang)機(ji)和(he)(he)計算機(ji)軟(ruan)件(jian)自動獲取和(he)(he)分析液(ye)滴形(xing)狀。這將(jiang)極大方便人們(men)的生活(huo)和(he)(he)專業(ye)學習。
1.清(qing)洗正多面棱(leng)體,并對棱(leng)鏡及棱(leng)體恒溫。
2.調整儀(yi)器(qi)使儀(yi)器(qi)處于正常工(gong)作狀態下(xia),并檢查(cha)外觀,儀(yi)器(qi)應(ying)能平穩(wen)的工(gong)作,讀數裝置視場亮度(du)應(ying)均(jun)勻。開關按扭應(ying)可靠的工(gong)作。金屬度(du)盤刻度(du)方向及示(shi)值應(ying)一致。
3.用自準儀檢查工(gong)作臺(tai)的(de)工(gong)作面(mian)的(de)直線度(du)和平面(mian)度(du)。
4.用心軸、測微表(biao)檢定工作臺的平行度和頂尖的斜(xie)向圓跳(tiao)動。
5.示(shi)值誤差檢定(ding):選用標(biao)準(zhun)(zhun)正多面棱(leng)體(ti)和自準(zhun)(zhun)直(zhi)儀(yi)做標(biao)準(zhun)(zhun),將棱(leng)體(ti)借助心軸固(gu)定(ding)在分(fen)(fen)度(du)頭(tou)上,儀(yi)器度(du)盤(pan)位(wei)于0°位(wei)置(zhi),調(diao)整多面棱(leng)體(ti),使(shi)其(qi)0°工作(zuo)面與(yu)自準(zhun)(zhun)直(zhi)儀(yi)照準(zhun)(zhun),在分(fen)(fen)度(du)頭(tou)讀(du)數裝(zhuang)置(zhi)中讀(du)數,然后轉動分(fen)(fen)度(du)頭(tou),使(shi)度(du)盤(pan)分(fen)(fen)別為30°…60°…330°位(wei)置(zhi),每(mei)個(ge)測回的示(shi)值用最(zui)大(da)與(yu)最(zui)小(xiao)之差來確定(ding)。
晶(jing)體測角(jiao)(jiao)(jiao)(jiao)儀(goniometer)是測量晶(jing)體面角(jiao)(jiao)(jiao)(jiao)以研究晶(jing)體幾何形狀的(de)儀器。常(chang)用(yong)的(de)有接觸(chu)測角(jiao)(jiao)(jiao)(jiao)儀和反(fan)射(she)(she)測角(jiao)(jiao)(jiao)(jiao)儀。最(zui)普通的(de)接觸(chu)測角(jiao)(jiao)(jiao)(jiao)儀(contactgoniometer)相(xiang)當(dang)于量角(jiao)(jiao)(jiao)(jiao)器加一小尺,適用(yong)于較(jiao)大晶(jing)體的(de)測量,精度較(jiao)低,只達12°。反(fan)射(she)(she)測角(jiao)(jiao)(jiao)(jiao)儀有單(dan)圈反(fan)射(she)(she)測角(jiao)(jiao)(jiao)(jiao)儀和雙圈反(fan)射(she)(she)測角(jiao)(jiao)(jiao)(jiao)儀兩種。
單(dan)圈反射測角儀(onecirclereflectiongoniometer)主要由水平(ping)圈、光(guang)管、視(shi)物(wu)管(望遠鏡)和掣晶臺四部分組成。根據(ju)晶面對光(guang)線反射的性質,利用(yong)光(guang)學(xue)系統進行測量(liang),精(jing)度較高,可達1′,適用(yong)于(yu)測量(liang)粒徑約數(shu)毫(hao)米而且晶面平(ping)整光(guang)滑的小晶體。
雙圈(quan)反(fan)射測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)角(jiao)儀(yi)(twocirclereflectiongoniometer)比單圈(quan)反(fan)射測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)角(jiao)儀(yi)多一(yi)(yi)個(ge)直(zhi)立圈(quan),使晶體(ti)可繞互相垂直(zhi)的(de)兩個(ge)軸任意轉動,大大簡化(hua)了測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)量(liang)手續,是(shi)晶體(ti)測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)量(liang)的(de)主要儀(yi)器。用(yong)接觸測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)角(jiao)儀(yi)或單圈(quan)反(fan)射測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)角(jiao)儀(yi)測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)得的(de)是(shi)每(mei)兩個(ge)晶面(mian)法線間的(de)夾角(jiao)值(zhi)(zhi)(zhi)(zhi),即面(mian)角(jiao)值(zhi)(zhi)(zhi)(zhi)。而由雙圈(quan)反(fan)射測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)角(jiao)儀(yi)測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)得的(de)則是(shi)每(mei)一(yi)(yi)個(ge)晶面(mian)的(de)一(yi)(yi)組球面(mian)坐標值(zhi)(zhi)(zhi)(zhi)——方位(wei)角(jiao)和極距角(jiao)值(zhi)(zhi)(zhi)(zhi),前者相當于(yu)地球上(shang)的(de)經度,而后者則相當于(yu)緯度。