軟件測試的目的

1、測試是為了發現程(cheng)(cheng)序中的(de)錯(cuo)誤而(er)執行程(cheng)(cheng)序的(de)過程(cheng)(cheng)。

2、好的測(ce)試方案是(shi)極可(ke)能發(fa)現迄今(jin)為(wei)止尚未發(fa)現的錯誤的測(ce)試方案。

3、成功的(de)測試是發(fa)(fa)現(xian)了至今為(wei)止尚(shang)未(wei)發(fa)(fa)現(xian)的(de)錯誤的(de)測試。

4、測試并不僅僅是為了找出錯誤。通過分析錯誤產生的原因和錯誤的發生趨勢，可以幫助軟件項目管(guan)理者(zhe)發(fa)現(xian)當前(qian)軟件(jian)開發(fa)過程中(zhong)的缺陷(xian)，以便及時改進。

5、這種(zhong)分析也能幫助測(ce)試(shi)人員設(she)計(ji)出有(you)針對性(xing)的測(ce)試(shi)方法，改善測(ce)試(shi)的效率和有(you)效性(xing)。

6、沒有發現錯誤的測試也是有價值的，完(wan)整(zheng)的測試是評定軟件質量的一種方法。

7、另(ling)外，根據測(ce)試(shi)目的(de)(de)的(de)(de)不同，還有回歸(gui)測(ce)試(shi)、壓力測(ce)試(shi)、性(xing)能測(ce)試(shi)等(deng)，分(fen)別為了檢(jian)驗修改或優化過程是(shi)否引發新的(de)(de)問題、軟件所能達(da)到(dao)處(chu)理(li)能力和是(shi)否達(da)到(dao)預期的(de)(de)處(chu)理(li)能力等(deng)。

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軟件測試的原則

1、測試應該盡(jin)早進行，最好(hao)在需求階段就開始介(jie)入，因為最嚴重的錯(cuo)誤不外乎是系統不能(neng)滿足用戶的需求。

2、程序員應該避(bi)免檢查自己的程序，軟件(jian)測試應該由第三方(fang)來負責(ze)。

3、設計測(ce)試用(yong)例時應考慮到合法的(de)輸入和(he)不合法的(de)輸入以及各種邊界條件(jian)，特殊(shu)情況下還要制造極端狀態和(he)意(yi)外狀態，如網絡異常中斷、電源(yuan)斷電等。

4、應該充分注(zhu)意測試中的群集現象。

5、對錯(cuo)誤結(jie)果要(yao)(yao)進(jin)行(xing)(xing)一(yi)(yi)個(ge)確(que)認過程(cheng)。一(yi)(yi)般由A測試出(chu)來(lai)的(de)錯(cuo)誤，一(yi)(yi)定要(yao)(yao)由B來(lai)確(que)認。嚴(yan)重的(de)錯(cuo)誤可以召開評審會(hui)議進(jin)行(xing)(xing)討論和分析(xi)，對測試結(jie)果要(yao)(yao)進(jin)行(xing)(xing)嚴(yan)格(ge)地確(que)認，是否真的(de)存(cun)在這個(ge)問題(ti)以及(ji)嚴(yan)重程(cheng)度(du)等。

6、制(zhi)定(ding)嚴格的測(ce)試(shi)計劃。一定(ding)要(yao)制(zhi)定(ding)測(ce)試(shi)計劃，并且要(yao)有指導性。測(ce)試(shi)時(shi)間安排(pai)盡量寬松，不要(yao)希望在極短的時(shi)間內完成一個高(gao)水平的測(ce)試(shi)。

7、妥善保存測試計(ji)劃、測試用(yong)例、出錯統計(ji)和最(zui)終分析報告(gao)，為維(wei)護提供方便(bian)。

軟件測試的方法

1、靜態測試

靜態測(ce)(ce)試(shi)(shi)方式(shi)指軟(ruan)件(jian)(jian)代(dai)碼的(de)(de)(de)靜態分析(xi)測(ce)(ce)驗，此類(lei)過(guo)(guo)程(cheng)中(zhong)應用數據較少(shao)，主要過(guo)(guo)程(cheng)為通過(guo)(guo)軟(ruan)件(jian)(jian)的(de)(de)(de)靜態性(xing)測(ce)(ce)試(shi)(shi)（即(ji)人工(gong)推(tui)斷或(huo)計算機輔助測(ce)(ce)試(shi)(shi)）測(ce)(ce)試(shi)(shi)程(cheng)序中(zhong)運算方式(shi)、算法(fa)的(de)(de)(de)正確性(xing)，進而完成測(ce)(ce)試(shi)(shi)過(guo)(guo)程(cheng)，此類(lei)測(ce)(ce)試(shi)(shi)的(de)(de)(de)優點在于能(neng)夠(gou)(gou)消耗較短(duan)時間、較少(shao)資源完成對軟(ruan)件(jian)(jian)、軟(ruan)件(jian)(jian)代(dai)碼的(de)(de)(de)測(ce)(ce)試(shi)(shi)，能(neng)夠(gou)(gou)較為明顯地發現(xian)此類(lei)代(dai)碼中(zhong)出現(xian)的(de)(de)(de)錯誤。靜態測(ce)(ce)試(shi)(shi)方法(fa)適(shi)用范圍較大(da)，尤(you)其適(shi)用于較大(da)型的(de)(de)(de)軟(ruan)件(jian)(jian)測(ce)(ce)試(shi)(shi)。

2、動態測試

計算機動(dong)(dong)態(tai)(tai)(tai)測(ce)試(shi)(shi)的主要目(mu)(mu)的為(wei)檢測(ce)軟(ruan)件(jian)運(yun)(yun)行(xing)中(zhong)(zhong)出現的問題，較靜態(tai)(tai)(tai)測(ce)試(shi)(shi)方式相比(bi)，其被稱(cheng)為(wei)動(dong)(dong)態(tai)(tai)(tai)的原因(yin)(yin)即為(wei)其測(ce)試(shi)(shi)方式主要依(yi)賴程序的運(yun)(yun)用，主要為(wei)檢測(ce)軟(ruan)件(jian)中(zhong)(zhong)動(dong)(dong)態(tai)(tai)(tai)行(xing)為(wei)是(shi)否缺失、軟(ruan)件(jian)運(yun)(yun)行(xing)效果是(shi)否良(liang)好。其最為(wei)明顯的特(te)征即為(wei)進行(xing)動(dong)(dong)態(tai)(tai)(tai)測(ce)試(shi)(shi)時軟(ruan)件(jian)為(wei)運(yun)(yun)轉狀態(tai)(tai)(tai)，只有(you)(you)如此(ci)才能于使用過(guo)程中(zhong)(zhong)發現軟(ruan)件(jian)缺陷，進而對此(ci)類缺陷進行(xing)修復。目(mu)(mu)前(qian)動(dong)(dong)態(tai)(tai)(tai)測(ce)試(shi)(shi)過(guo)程中(zhong)(zhong)可包(bao)括兩類因(yin)(yin)素，即被測(ce)試(shi)(shi)軟(ruan)件(jian)與測(ce)試(shi)(shi)中(zhong)(zhong)所需數據，兩類因(yin)(yin)素決定(ding)動(dong)(dong)態(tai)(tai)(tai)測(ce)試(shi)(shi)正確展開(kai)、有(you)(you)效展開(kai)。

3、黑盒測試

黑(hei)盒(he)測(ce)試(shi)，顧(gu)名思(si)義即為將軟(ruan)件(jian)測(ce)試(shi)環境模(mo)擬(ni)為不(bu)可(ke)見(jian)的“黑(hei)盒(he)”。通過(guo)數(shu)據(ju)(ju)(ju)(ju)輸(shu)入(ru)(ru)觀察數(shu)據(ju)(ju)(ju)(ju)輸(shu)出(chu)，檢查軟(ruan)件(jian)內部功(gong)能是否正常(chang)。測(ce)試(shi)展開時(shi)(shi)，數(shu)據(ju)(ju)(ju)(ju)輸(shu)入(ru)(ru)軟(ruan)件(jian)中，等待(dai)數(shu)據(ju)(ju)(ju)(ju)輸(shu)出(chu)。數(shu)據(ju)(ju)(ju)(ju)輸(shu)出(chu)時(shi)(shi)若與(yu)預計(ji)數(shu)據(ju)(ju)(ju)(ju)一致(zhi)，則證明(ming)該軟(ruan)件(jian)通過(guo)測(ce)試(shi)，若數(shu)據(ju)(ju)(ju)(ju)與(yu)預計(ji)數(shu)據(ju)(ju)(ju)(ju)有出(chu)入(ru)(ru)，即便出(chu)入(ru)(ru)較小(xiao)亦證明(ming)軟(ruan)件(jian)程序內部出(chu)現問(wen)題(ti)，需盡快解決。

4、白盒測試

白(bai)(bai)盒(he)(he)(he)測(ce)(ce)試(shi)相(xiang)對(dui)于黑(hei)(hei)盒(he)(he)(he)測(ce)(ce)試(shi)而(er)言具(ju)有一定透明性(xing)，原理為(wei)(wei)(wei)根據軟(ruan)(ruan)(ruan)件(jian)內部(bu)應(ying)用(yong)、源代(dai)(dai)碼(ma)等對(dui)產品內部(bu)工作(zuo)(zuo)過(guo)程(cheng)(cheng)進(jin)(jin)行(xing)調試(shi)。測(ce)(ce)試(shi)過(guo)程(cheng)(cheng)中(zhong)常將其與(yu)軟(ruan)(ruan)(ruan)件(jian)內部(bu)結構協同展開分(fen)析(xi)，最(zui)大(da)優點即(ji)為(wei)(wei)(wei)其能(neng)夠(gou)有效(xiao)解決(jue)軟(ruan)(ruan)(ruan)件(jian)內部(bu)應(ying)用(yong)程(cheng)(cheng)序(xu)出現(xian)的(de)(de)問(wen)(wen)(wen)題(ti)，測(ce)(ce)試(shi)過(guo)程(cheng)(cheng)中(zhong)常將其與(yu)黑(hei)(hei)盒(he)(he)(he)測(ce)(ce)試(shi)方式(shi)結合，當(dang)測(ce)(ce)試(shi)軟(ruan)(ruan)(ruan)件(jian)功能(neng)較(jiao)多時(shi)，白(bai)(bai)盒(he)(he)(he)測(ce)(ce)試(shi)法(fa)亦可(ke)對(dui)此類情(qing)況展開有效(xiao)調試(shi)。其中(zhong)，判(pan)定測(ce)(ce)試(shi)作(zuo)(zuo)為(wei)(wei)(wei)白(bai)(bai)盒(he)(he)(he)測(ce)(ce)試(shi)法(fa)中(zhong)最(zui)為(wei)(wei)(wei)主要的(de)(de)測(ce)(ce)試(shi)程(cheng)(cheng)序(xu)結構之(zhi)一，此類程(cheng)(cheng)序(xu)結構作(zuo)(zuo)為(wei)(wei)(wei)對(dui)程(cheng)(cheng)序(xu)邏輯結構的(de)(de)整(zheng)體(ti)實現(xian)，對(dui)于程(cheng)(cheng)序(xu)測(ce)(ce)試(shi)而(er)言具(ju)有較(jiao)為(wei)(wei)(wei)重要的(de)(de)作(zuo)(zuo)用(yong)。此類測(ce)(ce)試(shi)方式(shi)針對(dui)程(cheng)(cheng)序(xu)中(zhong)各類型(xing)的(de)(de)代(dai)(dai)碼(ma)進(jin)(jin)行(xing)覆蓋式(shi)檢(jian)測(ce)(ce)，覆蓋范圍較(jiao)廣，適用(yong)于多類型(xing)程(cheng)(cheng)序(xu)。實際(ji)檢(jian)測(ce)(ce)中(zhong)，白(bai)(bai)盒(he)(he)(he)測(ce)(ce)試(shi)法(fa)常與(yu)黑(hei)(hei)盒(he)(he)(he)檢(jian)測(ce)(ce)法(fa)并用(yong)，以動態檢(jian)測(ce)(ce)方式(shi)中(zhong)測(ce)(ce)試(shi)出的(de)(de)未知錯誤為(wei)(wei)(wei)例，首(shou)先使用(yong)黑(hei)(hei)盒(he)(he)(he)檢(jian)測(ce)(ce)法(fa)，若程(cheng)(cheng)序(xu)輸入數據與(yu)輸出數據相(xiang)同，則證明內部(bu)數據未出現(xian)問(wen)(wen)(wen)題(ti)，應(ying)從代(dai)(dai)碼(ma)方面進(jin)(jin)行(xing)分(fen)析(xi)，若出現(xian)問(wen)(wen)(wen)題(ti)則使用(yong)白(bai)(bai)盒(he)(he)(he)測(ce)(ce)試(shi)法(fa)，針對(dui)軟(ruan)(ruan)(ruan)件(jian)內部(bu)結構進(jin)(jin)行(xing)分(fen)析(xi)，直至檢(jian)測(ce)(ce)出問(wen)(wen)(wen)題(ti)所在，及時(shi)加以修改(gai)。