測繪儀器價格及種類有哪些
1、經緯儀
它是一種用(yong)來測(ce)(ce)量(liang)角(jiao)度(du)的(de)測(ce)(ce)繪儀器,一般用(yong)它來測(ce)(ce)量(liang)水平角(jiao)和(he)豎直角(jiao),根據(ju)其結構和(he)工(gong)作原理(li)的(de)不同可以分為光學經緯(wei)儀、游標(biao)經緯(wei)儀和(he)電子(zi)經緯(wei)儀三(san)大類,其中光學經緯(wei)儀和(he)電子(zi)經緯(wei)儀的(de)價格偏高(gao),這一因為它們(men)測(ce)(ce)量(liang)時(shi)獲(huo)取數據(ju)的(de)時(shi)間較(jiao)短,使用(yong)起來較(jiao)方便,它們(men)的(de)價格一般在2500-3500元之間。
2、水準儀
這是一(yi)種專門用來測量兩(liang)點間高(gao)差的(de)儀(yi)器,根(gen)據其構造不同可以分為 定(ding)鏡 水準(zhun)(zhun)(zhun)儀(yi)、轉鏡水準(zhun)(zhun)(zhun)儀(yi)、微(wei)傾水準(zhun)(zhun)(zhun)儀(yi)和自動安(an)平水準(zhun)(zhun)(zhun)儀(yi)幾個(ge)類(lei)型(xing)。同樣水準(zhun)(zhun)(zhun)儀(yi)也會因(yin)其品(pin)種、型(xing)號、品(pin)牌等因(yin)素(su)的(de)不同而價格相(xiang)差甚遠,便宜的(de)只(zhi)有幾十元,貴的(de)達(da)幾千(qian)元不等。
3、平板儀
主要用來測(ce)繪大(da)比例尺地形圖的(de)一(yi)種(zhong)儀器,它包(bao)括(kuo)小、中、大(da)三種(zhong)規格的(de),價格從幾(ji)百元(yuan)到(dao)幾(ji)千元(yuan)不等。
4、全站儀
全(quan)站(zhan)儀(yi),即(ji)全(quan)站(zhan)型(xing)電子(zi)測(ce)距(ju)儀(yi),因其一次(ci)安置儀(yi)器就可完成該測(ce)站(zhan)上全(quan)部測(ce)量工(gong)(gong)作,所以稱之為全(quan)站(zhan)儀(yi)。全(quan)站(zhan)儀(yi)之以自(zi)動記錄和顯示讀數代替人工(gong)(gong)光學測(ce)微(wei)讀數,使測(ce)角操作簡單(dan)化,且可避免讀數誤(wu)差的產生。全(quan)站(zhan)儀(yi)的價格比較(jiao)高昂,平均(jun)在八(ba)千元左右,好的要達到上萬元。
5、其它
電(dian)磁波測距儀(yi)、陀螺經緯儀(yi)、立體坐標(biao)測量儀(yi)、垂(chui)準儀(yi)、標(biao)線儀(yi)等等。
注:價格(ge)(ge)僅供參(can)考(kao),測繪(hui)儀器的(de)種類(lei)(lei)有很(hen)多,它(ta)們的(de)價格(ge)(ge)會因(yin)其種類(lei)(lei)、型號(hao)、規格(ge)(ge)、品牌的(de)不同而(er)不同,一般進(jin)口品牌的(de)測繪(hui)儀器的(de)價格(ge)(ge)會比(bi)較高(gao)。
什么是測繪儀器校準
測繪儀器(qi)校準是(shi)指在規定條件下(xia),為確定測量(liang)儀器(qi)或(huo)測量(liang)系(xi)統所(suo)指示的(de)量(liang)值或(huo)實物量(liang)具或(huo)參考物質所(suo)代(dai)表(biao)的(de)量(liang)值,與(yu)對(dui)應的(de)由標(biao)準所(suo)復(fu)現(xian)的(de)量(liang)值之間(jian)的(de)關系(xi)的(de)操(cao)作,是(shi)使用標(biao)準物質對(dui)儀器(qi)的(de)讀(du)數進行校準。
校準(zhun)時是(shi)按(an)照相關的(de)(de)校準(zhun)方法用標準(zhun)物質測(ce)(ce)試儀器(qi),檢查(cha)儀器(qi)的(de)(de)指示值與儀器(qi)的(de)(de)標定值之間的(de)(de)差異是(shi)否在(zai)允差范圍(wei)內(nei),用以(yi)判定儀器(qi)的(de)(de)測(ce)(ce)試狀態是(shi)否符合測(ce)(ce)試要求。在(zai)范圍(wei)內(nei)說明(ming)狀態正(zheng)常(chang),反之說明(ming)不正(zheng)常(chang),需對其進(jin)行校準(zhun)直至正(zheng)常(chang)狀態。
測(ce)繪儀器設備的測(ce)試(shi)數據(ju)(ju)(ju)結果(guo)是最重要的產品驗(yan)證依(yi)據(ju)(ju)(ju),如果(guo)不(bu)校準(zhun),無法確(que)定測(ce)試(shi)數據(ju)(ju)(ju)的準(zhun)確(que)性,如果(guo)數據(ju)(ju)(ju)不(bu)準(zhun),設備就沒了實際(ji)的意義。
測繪儀器校準周期
校準周(zhou)期,也就是確認間隔(ge),它是衡量(liang)(liang)計(ji)量(liang)(liang)工作質量(liang)(liang)的(de)關(guan)鍵環節(jie),關(guan)系到在用測量(liang)(liang)儀器的(de)合(he)格率。只有嚴(yan)格執(zhi)行(xing)校準周(zhou)期,才能(neng)保證科(ke)研生產等各項活動的(de)順(shun)利進行(xing)。為(wei)保證量(liang)(liang)值(zhi)準確可靠,必須科(ke)學的(de)確定校準周(zhou)期。
隨(sui)著時(shi)間(jian)的(de)(de)(de)推移,測量(liang)儀(yi)器(qi)(qi)的(de)(de)(de)校(xiao)準(zhun)周(zhou)(zhou)期是否合理(li),取決于校(xiao)準(zhun)合格(ge)率,也取決于儀(yi)器(qi)(qi)的(de)(de)(de)歷史(shi)校(xiao)準(zhun)記(ji)錄,可將其作為(wei)最(zui)基本的(de)(de)(de)依(yi)據。但隨(sui)著時(shi)間(jian)的(de)(de)(de)變化或是操作環境的(de)(de)(de)變化,或者是測量(liang)儀(yi)器(qi)(qi)使用方式和條件的(de)(de)(de)變化,可能(neng)導(dao)致儀(yi)器(qi)(qi)失準(zhun)。 因此,當(dang)(dang)測量(liang)儀(yi)器(qi)(qi)的(de)(de)(de)一個校(xiao)準(zhun)周(zhou)(zhou)期到達時(shi),就該立(li)即(ji)校(xiao)準(zhun)。另(ling)外,在有效校(xiao)準(zhun)期內(nei),也應不定期抽查儀(yi)器(qi)(qi)偏離的(de)(de)(de)狀態。根據上(shang)述信息對(dui)校(xiao)準(zhun)周(zhou)(zhou)期做適當(dang)(dang)調整,適當(dang)(dang)延長或縮(suo)短校(xiao)準(zhun)周(zhou)(zhou)期。
確定(ding)校(xiao)準(zhun)周(zhou)(zhou)期(qi)必須遵循兩條對立的(de)(de)基(ji)本原則:一是(shi)在這個(ge)周(zhou)(zhou)期(qi)內測(ce)量(liang)(liang)儀器超(chao)出(chu)允許誤差的(de)(de)風險盡(jin)可能小(xiao); 二是(shi)經(jing)濟合理(li),使校(xiao)準(zhun)費用盡(jin)可能少。為了尋求上述風險和費用兩者平衡的(de)(de)最佳(jia)值,必須使用科學(xue)的(de)(de)方法(fa),積累(lei)大量(liang)(liang)的(de)(de)實驗(yan)數據,經(jing)分析研究后確定(ding)。
校準(zhun)周(zhou)期(qi)(qi)的(de)(de)確(que)定需要(yao)各(ge)種專業(ye)知識,考慮多(duo)種因素。若超(chao)過一(yi)個周(zhou)期(qi)(qi),可(ke)能(neng)(neng)引起質量特性(xing)(xing)的(de)(de)惡化,那(nei)是由于機械磨損、灰塵、性(xing)(xing)能(neng)(neng)和測(ce)繪(hui)頻次等(deng)所致。對這些(xie)(xie)因素變化的(de)(de)敏感性(xing)(xing)取決(jue)于測(ce)繪(hui)儀(yi)器的(de)(de)類型。質量好(hao)的(de)(de),可(ke)能(neng)(neng)受(shou)的(de)(de)影(ying)響小一(yi)些(xie)(xie);質量不(bu)好(hao)的(de)(de),可(ke)能(neng)(neng)受(shou)的(de)(de)影(ying)響大一(yi)些(xie)(xie)。因此,應根(gen)據實際(ji)情況,確(que)定每(mei)種測(ce)量儀(yi)器的(de)(de)校準(zhun)周(zhou)期(qi)(qi)。
確定測繪儀器校準周期的依據
1、使用的頻繁程度
使用頻繁的(de)(de)測(ce)量(liang)儀器(qi), 容易使其計量(liang)性能降低(di), 故可以(yi)縮短校準周(zhou)期來解決。當然(ran),提高測(ce)量(liang)儀器(qi)所(suo)用的(de)(de)原材料性質、 制(zhi)造工藝和使用壽命也(ye)是重(zhong)要(yao)的(de)(de)手段。
2、測量準確度的要求
要求測繪儀器準確(que)度(du)高的(de)(de)單(dan)位(wei), 可(ke)適當縮(suo)短校準周期。各(ge)個單(dan)位(wei)要(yao)(yao)根據自己的(de)(de)實際情況決(jue)定, 需要(yao)(yao)什么準確(que)度(du)等級,就選(xuan)擇什么等級。該高就高,該低(di)就低(di),不盲目追求高準確(que)度(du),以(yi)免造成不必要(yao)(yao)的(de)(de)損失;但(dan)精度(du)過低(di), 滿足不了使用要(yao)(yao)求,給(gei)工作帶來損失,也是不可(ke)取的(de)(de)。
3、使用單位的維護保養能力
如(ru)果單(dan)位的維護保養比較好(hao),則適當縮短(duan)校準周(zhou)期;反之,則長一些。
4、測量儀器的性能
特(te)別是長期穩(wen)定性(xing)和可(ke)靠(kao)性(xing)的水平。即使同類型的測量儀器,穩(wen)定性(xing)、可(ke)靠(kao)性(xing)差的,校準周期應短(duan)一(yi)些。
5、特殊要求
對(dui)(dui)產品質量關系較(jiao)大的(de),以及有特(te)殊要求的(de)測量儀器,其校準周期則相對(dui)(dui)短一些(xie);反之(zhi), 則長(chang)一些(xie)。
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