一、晶閘管怎么測量好壞

晶閘管是一種大功率半導體開關器件，其主要功能是實現對電流的精確控制，其導通和關斷過程中的電壓降較小，因此廣泛應用于電力電子領域。使用晶閘管時，可以通過以下幾種方法來測量判斷晶閘管的好壞：

1、觀察外觀

首先，可(ke)以通過觀(guan)察晶(jing)閘管(guan)的(de)外觀(guan)來判斷其是否損(sun)壞。正(zheng)常情(qing)況下(xia)，晶(jing)閘管(guan)的(de)表面(mian)應無明顯劃(hua)痕、裂紋等現象。如果發(fa)現晶(jing)閘管(guan)表面(mian)有破損(sun)、燒焦等現象，則(ze)說(shuo)明晶(jing)閘管(guan)可(ke)能已經損(sun)壞。

2、檢查引腳

其次，可以(yi)檢查晶閘(zha)管的(de)引(yin)腳(jiao)(jiao)是否有松(song)動(dong)、斷裂等現象(xiang)(xiang)。正常情況(kuang)下，晶閘(zha)管的(de)引(yin)腳(jiao)(jiao)應(ying)牢固地連接在電路板上，且無銹蝕(shi)現象(xiang)(xiang)。如(ru)果發(fa)現引(yin)腳(jiao)(jiao)有松(song)動(dong)、斷裂等現象(xiang)(xiang)，則說明晶閘(zha)管可能(neng)已(yi)經(jing)損壞。

3、測量電阻

為了更(geng)準確地判斷晶(jing)(jing)閘(zha)管的(de)好壞，可以使用(yong)萬(wan)用(yong)表對其(qi)進行電(dian)阻(zu)測量。將(jiang)萬(wan)用(yong)表的(de)紅表筆(bi)連接到晶(jing)(jing)閘(zha)管的(de)柵極（A+），黑表筆(bi)連接到晶(jing)(jing)閘(zha)管的(de)發射極（K），此時萬(wan)用(yong)表應顯(xian)示一個(ge)較低的(de)電(dian)阻(zu)值（通常(chang)在幾(ji)百歐(ou)姆至幾(ji)千歐(ou)姆之間）。如果(guo)萬(wan)用(yong)表顯(xian)示的(de)電(dian)阻(zu)值為無(wu)窮大或(huo)很高，則說明晶(jing)(jing)閘(zha)管可能(neng)已經(jing)損壞；如果(guo)萬(wan)用(yong)表顯(xian)示的(de)電(dian)阻(zu)值較低，則說明晶(jing)(jing)閘(zha)管正常(chang)工作。

4、測試導通和關斷能力

為了進(jin)一步判斷晶(jing)閘(zha)管(guan)的好(hao)壞(huai)，可以進(jin)行導(dao)通和關(guan)斷能(neng)力的測(ce)試。將晶(jing)閘(zha)管(guan)連接到一個適(shi)當的負(fu)載（如燈(deng)泡、電(dian)機(ji)等），然后輸(shu)入一個正(zheng)(zheng)向(xiang)電(dian)流信號。如果晶(jing)閘(zha)管(guan)能(neng)夠(gou)正(zheng)(zheng)常(chang)導(dao)通并(bing)承受(shou)負(fu)載的電(dian)流，且關(guan)斷時能(neng)夠(gou)迅速(su)切斷電(dian)流，則(ze)說明(ming)晶(jing)閘(zha)管(guan)正(zheng)(zheng)常(chang)工作；如果晶(jing)閘(zha)管(guan)無(wu)法(fa)導(dao)通或導(dao)通后無(wu)法(fa)正(zheng)(zheng)常(chang)關(guan)斷，則(ze)說明(ming)晶(jing)閘(zha)管(guan)可能(neng)已經損壞(huai)。

5、檢查驅動電路

除了(le)直接檢(jian)查晶閘管本(ben)身(shen)，還需要檢(jian)查其(qi)驅(qu)動電(dian)(dian)路(lu)是否正常工作。如(ru)果驅(qu)動電(dian)(dian)路(lu)出現故障，可能(neng)會導致晶閘管無法正常工作。可以使用示(shi)波器或其(qi)他測試儀器檢(jian)查驅(qu)動電(dian)(dian)路(lu)的信號波形，以判(pan)斷(duan)其(qi)是否正常。

二、晶閘管測量好壞注意事項

1、在判(pan)斷晶閘(zha)管好(hao)壞時，應(ying)確(que)保操作環(huan)境干(gan)燥、通風良好(hao)，避免(mian)在潮濕、高(gao)溫(wen)、高(gao)濕等惡劣環(huan)境下進行測試。

2、在進行導通和關斷能力的(de)測試時，應注(zhu)意避免(mian)過大的(de)電流直(zhi)接作用(yong)于(yu)晶(jing)閘(zha)管，以免(mian)造成器(qi)件損壞(huai)。

3、如果懷疑晶(jing)閘管的(de)性能(neng)下降是由于(yu)溫(wen)度(du)過高導致的(de)，可以嘗試降低工作環(huan)境的(de)溫(wen)度(du)，或(huo)者(zhe)使用散熱器等輔(fu)助散熱設(she)備來降低晶(jing)閘管的(de)工作溫(wen)度(du)。

4、在(zai)更(geng)換晶閘(zha)(zha)管時(shi)，應注(zhu)意(yi)選擇與原(yuan)器件(jian)參數相近的新品，以確保電(dian)(dian)路(lu)的正常工作。同時(shi)，更(geng)換晶閘(zha)(zha)管時(shi)應注(zhu)意(yi)防(fang)止靜電(dian)(dian)對器件(jian)造(zao)成損壞。

三、如何使用萬用表判斷晶閘管的好壞

晶閘管(guan)的(de)好壞判斷有多種方(fang)法(fa)，其中用(yong)萬(wan)用(yong)表(biao)測量(liang)判斷是比較常見的(de)，使用(yong)萬(wan)用(yong)表(biao)來判斷晶閘管(guan)好壞的(de)步驟如下：

1、檢查萬用表設置是否正確

將萬(wan)用(yong)表(biao)置于電阻測量位置上，并確保范圍合適，電阻測量范圍應選最(zui)小。例(li)如，在數字萬(wan)用(yong)表(biao)上，可選擇200歐姆范圍。

2、查看測試屏幕

屏幕應顯示(shi)“OL”，表明還沒有測(ce)量到(dao)電路。

3、測試晶閘管

將晶(jing)閘管放(fang)置在(zai)測試(shi)(shi)夾鉗中(zhong)，一端連(lian)(lian)(lian)(lian)接陰(yin)極(ji)，另一端連(lian)(lian)(lian)(lian)接陽極(ji)，在(zai)該過程中(zhong)，陽極(ji)必須(xu)先與晶(jing)閘管的(de)門極(ji)相連(lian)(lian)(lian)(lian)。將萬用(yong)表的(de)夾鉗連(lian)(lian)(lian)(lian)接到晶(jing)閘管的(de)柵極(ji)上。檢查(cha)測試(shi)(shi)屏幕。如果屏幕顯示(shi)“OL”，說明晶(jing)閘管正常，如果屏幕在(zai)數值范圍內，那(nei)么就需(xu)要后續的(de)測試(shi)(shi)。

4、測試晶閘管的導通電阻

將晶閘(zha)管(guan)放置在測試夾鉗中，測試夾鉗連(lian)接(jie)陽極(ji)和陰(yin)極(ji)，夾鉗連(lian)接(jie)到(dao)門極(ji)上。這時，測試屏幕應顯示一個很小的數(shu)值。如果測試屏幕還是空白，說明晶閘(zha)管(guan)已經損壞了。

5、測試晶閘管反向電阻

將晶(jing)閘(zha)管放置(zhi)在(zai)測試夾(jia)鉗中，將門(men)極和陽極連接在(zai)一起，然后(hou)將夾(jia)鉗連接到陰極上。測試屏幕應顯示一個大于OL的數值。如(ru)果測試屏幕還(huan)是空白，說明晶(jing)閘(zha)管已經損壞了。

6、測試晶閘管的正向電壓

將(jiang)晶閘管放置在測試夾鉗中(zhong)，將(jiang)夾鉗連(lian)接(jie)(jie)到晶閘管的(de)陰極(ji)和柵極(ji)上(shang)，然后(hou)將(jiang)陽極(ji)連(lian)接(jie)(jie)到電(dian)源(yuan)上(shang)，這時測試屏幕應顯(xian)示一(yi)個很小的(de)數值(zhi)。如果測試屏幕還是(shi)空白，說明晶閘管已經(jing)損壞了(le)。