一、ntc熱敏電阻怎么測量好壞

ntc被(bei)稱為(wei)負溫度(du)(du)系數熱敏電阻，是(shi)由(you)Mn-Co-Ni的(de)氧化物充分混合后燒(shao)結(jie)而成的(de)陶瓷材料制(zhi)備而來(lai)，它(ta)在實現(xian)小型化的(de)同(tong)時(shi)，還(huan)具有電阻值(zhi)-溫度(du)(du)特性波動(dong)小、對(dui)各(ge)種溫度(du)(du)變化響應快的(de)特點，可被(bei)用(yong)來(lai)做高(gao)靈敏度(du)(du)、高(gao)精度(du)(du)的(de)溫度(du)(du)傳感器(qi)，在電子電路當中也經常被(bei)用(yong)作實時(shi)的(de)溫度(du)(du)監(jian)控(kong)及溫度(du)(du)補償(chang)等(deng)。

可以從以下幾個方面測量ntc熱敏電阻的好壞。

1、將(jiang)萬用表置于合適的歐姆擋（根據標稱電阻(zu)值(zhi)確定擋位）。

2、用兩只表筆分別接觸熱(re)敏電阻的兩個引腳測(ce)出(chu)實(shi)際阻值。

3、標稱阻值(zhi)相比較，如果二者相差，過大，則說(shuo)明(ming)所測熱敏電阻性能不良或已損(sun)壞。

4、用手捏住熱敏電阻(zu)測電阻(zu)值(zhi)，觀(guan)察萬用表(biao)(biao)數數，此(ci)時(shi)會(hui)看到顯示(shi)(shi)的數據隨溫度(du)的升高而變化（ntc表(biao)(biao)示(shi)(shi)減小，PTC表(biao)(biao)示(shi)(shi)增大），表(biao)(biao)明電阻(zu)值(zhi)在(zai)逐漸(jian)變化

5、當(dang)阻(zu)值改變到一(yi)定數(shu)值時，顯示(shi)數(shu)據會逐漸穩定。

6、測量時若環境(jing)溫度接近(jin)體溫，則(ze)可使用電烙鐵靠近(jin)或緊(jin)貼(tie)熱敏電阻(zu)進行加熱。

二、ntc熱敏電阻壞了什么現象

1、ntc熱敏電阻短路

在(zai)ntc電(dian)路中，當環路電(dian)流高(gao)于(yu)(yu)值，或(huo)額定(ding)功(gong)率長時(shi)間高(gao)于(yu)(yu)大阻時(shi)，會使熱敏電(dian)阻的(de)溫度高(gao)于(yu)(yu)設定(ding)的(de)值。所以在(zai)電(dian)流啟動時(shi)，熱敏電(dian)阻會表現出相當低的(de)電(dian)阻，然(ran)后熱敏電(dian)阻將被燒毀，導(dao)致短路或(huo)開(kai)路。

2、ntc熱敏電阻開裂

當電(dian)流開(kai)始運作時，可(ke)能(neng)(neng)導致瞬間大的能(neng)(neng)量加載(zai)到(dao)熱(re)敏電(dian)阻(zu)(zu)中，如果產品生產的時候存在(zai)瑕疵，那(nei)么(me)ntc可(ke)能(neng)(neng)無法承受然后損壞，一般情(qing)況，ntc會表現出更高的阻(zu)(zu)值或(huo)者直接開(kai)裂(lie)。

3、ntc熱敏電阻阻值偏移

ntc熱(re)(re)敏(min)電阻是對熱(re)(re)靈敏(min)的(de)半(ban)導體元件。如果IR回流(liu)和返工(gong)超過一(yi)定的(de)溫度和時間，熱(re)(re)敏(min)電阻也容易(yi)損壞，導致阻值偏(pian)移。這個故障下(xia)ntc的(de)阻值可(ke)能變大或變小(xiao)。