一、ntc熱敏電阻怎么測量好壞

ntc被(bei)稱為負(fu)溫度(du)(du)系數熱敏電(dian)阻，是由(you)Mn-Co-Ni的(de)(de)(de)氧化(hua)物充分混合(he)后(hou)燒(shao)結而(er)成(cheng)的(de)(de)(de)陶瓷材料制(zhi)備而(er)來，它(ta)在(zai)實現(xian)小型化(hua)的(de)(de)(de)同時(shi)，還具有電(dian)阻值-溫度(du)(du)特(te)(te)性波動(dong)小、對各種溫度(du)(du)變化(hua)響應(ying)快(kuai)的(de)(de)(de)特(te)(te)點，可被(bei)用來做(zuo)高(gao)靈敏度(du)(du)、高(gao)精度(du)(du)的(de)(de)(de)溫度(du)(du)傳感器(qi)，在(zai)電(dian)子電(dian)路(lu)當中也經(jing)常被(bei)用作實時(shi)的(de)(de)(de)溫度(du)(du)監控及溫度(du)(du)補償等。

可以從以下幾個方面測量ntc熱敏電阻的好壞。

1、將萬用表置于合適(shi)的歐姆擋（根(gen)據標稱電阻(zu)值(zhi)確定擋位）。

2、用兩(liang)(liang)只表(biao)筆(bi)分(fen)別接觸熱敏(min)電阻的(de)兩(liang)(liang)個引腳(jiao)測出實(shi)際阻值。

3、標(biao)稱阻值(zhi)相比較，如果二者相差，過大，則(ze)說明所測熱敏電阻性能不良(liang)或已損壞(huai)。

4、用手(shou)捏住熱敏電阻測電阻值，觀察萬用表數(shu)數(shu)，此時(shi)會看到顯示(shi)的數(shu)據隨溫(wen)度的升高(gao)而變化（ntc表示(shi)減小，PTC表示(shi)增大），表明(ming)電阻值在逐漸變化

5、當阻值(zhi)改(gai)變到一(yi)定數(shu)值(zhi)時，顯(xian)示(shi)數(shu)據會逐漸穩定。

6、測(ce)量時若環境溫(wen)(wen)度接近體溫(wen)(wen)，則可使用(yong)電烙鐵靠近或緊貼熱(re)(re)敏電阻進行(xing)加熱(re)(re)。

二、ntc熱敏電阻壞了什么現象

1、ntc熱敏電阻短路

在ntc電(dian)路(lu)(lu)中，當環路(lu)(lu)電(dian)流(liu)(liu)高(gao)于(yu)值(zhi)，或(huo)額定功率長時(shi)間高(gao)于(yu)大阻(zu)(zu)時(shi)，會使熱(re)敏(min)電(dian)阻(zu)(zu)的(de)(de)溫度高(gao)于(yu)設定的(de)(de)值(zhi)。所(suo)以在電(dian)流(liu)(liu)啟動(dong)時(shi)，熱(re)敏(min)電(dian)阻(zu)(zu)會表(biao)現(xian)出相當低(di)的(de)(de)電(dian)阻(zu)(zu)，然(ran)后熱(re)敏(min)電(dian)阻(zu)(zu)將被燒毀，導致(zhi)短(duan)路(lu)(lu)或(huo)開路(lu)(lu)。

2、ntc熱敏電阻開裂

當(dang)電流開始運作時(shi)，可(ke)能導致瞬間大(da)的能量加載到熱敏電阻中，如果產品生產的時(shi)候存在瑕疵，那(nei)么(me)ntc可(ke)能無法(fa)承受然后損壞，一(yi)般情況，ntc會表現出(chu)更高的阻值或者(zhe)直(zhi)接(jie)開裂。

3、ntc熱敏電阻阻值偏移

ntc熱敏電阻(zu)是對熱靈(ling)敏的半導體(ti)元件。如果(guo)IR回流和返工超過一定的溫(wen)度(du)和時間，熱敏電阻(zu)也(ye)容易損壞，導致阻(zu)值(zhi)偏移。這(zhe)個(ge)故(gu)障下ntc的阻(zu)值(zhi)可能(neng)變(bian)大(da)或(huo)變(bian)小。