一、手動探針臺和自動的區別在哪里 ?

自動探(tan)針(zhen)臺可分為(wei)半自動探(tan)針(zhen)臺和全(quan)自動探(tan)針(zhen)，它們(men)和手動探(tan)針(zhen)臺在使用類型、功能、操(cao)作方式和價(jia)格(ge)等方面都有所不同。

1、手動探針臺是一(yi)種(zhong)手動控制的(de)(de)探針(zhen)臺，通常用于沒(mei)有很多待測器(qi)件(jian)需要(yao)測量或數據需要(yao)收集的(de)(de)情況下。該類探針(zhen)臺的(de)(de)優點是靈(ling)活、可變性(xing)高，易于配置環(huan)境(jing)和(he)轉(zhuan)換(huan)測試環(huan)境(jing)，并(bing)且不需要(yao)涉及額外培訓和(he)設置時間的(de)(de)電子(zi)設備(bei)、PC或軟件(jian)。手動探針(zhen)臺系統只需要(yao)少量的(de)(de)培訓，因此非常適合研發人員使用。

2、半(ban)自(zi)(zi)動探(tan)針(zhen)(zhen)臺(tai)是一種半(ban)自(zi)(zi)動控制的(de)(de)探(tan)針(zhen)(zhen)臺(tai)，可(ke)以(yi)在沒有(you)很多待測(ce)器(qi)件需(xu)要(yao)測(ce)量(liang)或數(shu)據需(xu)要(yao)收集的(de)(de)情況下(xia)使用。與手動探(tan)針(zhen)(zhen)臺(tai)相比，半(ban)自(zi)(zi)動探(tan)針(zhen)(zhen)臺(tai)的(de)(de)操作相對簡(jian)單，但(dan)需(xu)要(yao)使用者進行(xing)一些(xie)簡(jian)單的(de)(de)操作，如(ru)移動晶圓載物臺(tai)、調整顯微鏡(jing)焦距(ju)等。半(ban)自(zi)(zi)動探(tan)針(zhen)(zhen)臺(tai)通常需(xu)要(yao)進行(xing)一些(xie)預設(she)置，以(yi)便能夠適(shi)應不同的(de)(de)測(ce)試環境。

3、全(quan)自動(dong)探(tan)針臺(tai)是一種全(quan)自動(dong)控制的(de)探(tan)針臺(tai)，可(ke)以(yi)(yi)在沒有(you)很多待(dai)測器件需(xu)要(yao)測量(liang)或數據需(xu)要(yao)收(shou)集的(de)情況下(xia)使用。相比(bi)于半自動(dong)探(tan)針臺(tai)，全(quan)自動(dong)探(tan)針臺(tai)具(ju)有(you)更高的(de)精度和效(xiao)率，可(ke)以(yi)(yi)在短(duan)時間內完成大量(liang)的(de)測試操作。全(quan)自動(dong)探(tan)針臺(tai)通常還(huan)配備有(you)晶(jing)圓(yuan)材料(liao)處理搬運單元（MHU）、模式識(shi)別（自動(dong)對準）等(deng)功能，以(yi)(yi)確保(bao)晶(jing)圓(yuan)上(shang)的(de)晶(jing)粒(li)依次與探(tan)針接(jie)觸(chu)并逐個(ge)測試。全(quan)自動(dong)探(tan)針臺(tai)通常用于芯片量(liang)產或有(you)一些(xie)特殊要(yao)求如處理薄晶(jing)圓(yuan)、封裝基板(ban)等(deng)。

二、手動探針臺和自動的哪個好

半(ban)自(zi)(zi)(zi)動(dong)(dong)和(he)全自(zi)(zi)(zi)動(dong)(dong)探(tan)(tan)針平(ping)(ping)臺(tai)提(ti)(ti)供了更(geng)高程度的自(zi)(zi)(zi)動(dong)(dong)化(hua)。它們可以根(gen)據(ju)預設程序(xu)自(zi)(zi)(zi)動(dong)(dong)操作探(tan)(tan)針臂和(he)探(tan)(tan)針，將(jiang)其定位在(zai)待測(ce)物(wu)體上。用戶只需輸(shu)入指令(ling)來控(kong)制整個(ge)測(ce)試(shi)過程。這些平(ping)(ping)臺(tai)還配備了圖像識別技術，能夠自(zi)(zi)(zi)動(dong)(dong)識別待測(ce)物(wu)體的位置，提(ti)(ti)高測(ce)試(shi)的準確性和(he)效(xiao)率。與手動(dong)(dong)探(tan)(tan)針平(ping)(ping)臺(tai)相比，半(ban)自(zi)(zi)(zi)動(dong)(dong)和(he)全自(zi)(zi)(zi)動(dong)(dong)探(tan)(tan)針平(ping)(ping)臺(tai)系統更(geng)加高效(xiao)、便捷，能夠節(jie)省大(da)量的人力(li)和(he)時(shi)間成(cheng)本，并提(ti)(ti)供更(geng)可靠的測(ce)試(shi)結果。

但實(shi)際選擇時，手動(dong)探(tan)(tan)針(zhen)(zhen)臺(tai)適(shi)合研發(fa)人(ren)員使(shi)(shi)用(yong)(yong)，半自(zi)動(dong)探(tan)(tan)針(zhen)(zhen)臺(tai)適(shi)合初學(xue)者使(shi)(shi)用(yong)(yong)，而全(quan)自(zi)動(dong)探(tan)(tan)針(zhen)(zhen)臺(tai)適(shi)合具(ju)有一(yi)定經驗的(de)測試人(ren)員使(shi)(shi)用(yong)(yong)。不同類(lei)型的(de)探(tan)(tan)針(zhen)(zhen)臺(tai)各(ge)有優(you)缺(que)點(dian)，選擇何種探(tan)(tan)針(zhen)(zhen)臺(tai)主(zhu)要(yao)取決于測試的(de)需求和個人(ren)的(de)技能(neng)水平(ping)。