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爐溫測試儀損壞的原因有哪些 爐溫曲線測試儀常見故障及維修方法

本文章由注冊用戶 時代工業園 上傳提供 2025-04-01 評論 0
摘要:爐溫測試儀在工業領域有著重要的作用,它的損壞對生產有較大的影響,一般造成爐溫測試儀損壞的原因有連接器損壞、充電充爆主板、高溫損壞、機械損傷等,因損壞造成的故障常見的有不能與電腦通訊、不能下載數據、制程界限數據不能保存、不能開機、開機一直叫等。下面一起來了解一下爐溫測試儀損壞的原因有哪些以及爐溫曲線測試儀常見故障及維修方法吧。

一、爐溫測試儀損壞的原因有哪些

爐溫測試儀是一種用于爐溫測試的儀器,又叫爐溫曲線測試儀,主要用于測試各種工業爐內的溫度,并可生成溫度曲線進行分析,在生產中非常重要。爐溫測試儀損(sun)壞會(hui)影(ying)響(xiang)生產,一般導致爐溫(wen)測試儀損(sun)壞的(de)主要原因有:

1、連接器損壞

爐溫(wen)測試儀R232串(chuan)(chuan)口連接器損(sun)壞,在(zai)插(cha)拔(ba)(ba)時,串(chuan)(chuan)口上的2顆螺絲(si)無需擰緊(jin)。其(qi)次(ci),垂直(zhi)于儀器插(cha)拔(ba)(ba),不要上下搖擺插(cha)拔(ba)(ba),會導致連接器與爐溫(wen)測試儀主板(ban)焊接點松動、引腳斷裂。

2、充電充爆主板

爐溫測(ce)試(shi)儀(yi)在(zai)充(chong)(chong)電(dian)的時候要采用原裝充(chong)(chong)電(dian)器(qi)(qi)或者(zhe)配置參(can)數一樣的充(chong)(chong)電(dian)器(qi)(qi)。偶爾遇到個別拿著充(chong)(chong)電(dian)器(qi)(qi)就用,結(jie)果因(yin)為(wei)充(chong)(chong)電(dian)器(qi)(qi)電(dian)流過大,充(chong)(chong)爆(bao)主(zhu)板。

3、高溫損壞

(1)放進烤箱、回流焊(han)(han)、波峰焊(han)(han)、隧道(dao)爐等高溫環(huan)境,需要蓋緊隔熱盒。且(qie)關注(zhu)進爐出爐的時間(jian),避免爐溫測試儀卡在(zai)爐腔內不能(neng)及(ji)時發現,導(dao)致高溫損壞(huai)。

(2)隔(ge)熱(re)盒(he)(he)有溫(wen)(wen)(wen)度(du)、時間限制(zhi)。回(hui)流爐(lu)爐(lu)溫(wen)(wen)(wen)測試(shi)儀(yi)通常是在恒(heng)溫(wen)(wen)(wen)300℃耐溫(wen)(wen)(wen)9分鐘(zhong),如果主(zhu)機和隔(ge)熱(re)盒(he)(he)沒有冷(leng)卻到(dao)位(wei)就連續測爐(lu)溫(wen)(wen)(wen),就會導致(zhi)爐(lu)溫(wen)(wen)(wen)測試(shi)儀(yi)高(gao)溫(wen)(wen)(wen)損壞。

(3)很多用(yong)戶(hu)理解錯(cuo)爐溫(wen)測試(shi)(shi)儀(yi)(yi)含義,爐溫(wen)測試(shi)(shi)儀(yi)(yi)測量范(fan)圍(wei)(wei)(wei)是-40℃~1370℃,是指k型測溫(wen)線(xian)能采集的(de)溫(wen)度范(fan)圍(wei)(wei)(wei),而不(bu)是此爐溫(wen)測試(shi)(shi)儀(yi)(yi)能使(shi)(shi)用(yong)的(de)溫(wen)度范(fan)圍(wei)(wei)(wei)。使(shi)(shi)用(yong)范(fan)圍(wei)(wei)(wei)與爐溫(wen)測試(shi)(shi)儀(yi)(yi)的(de)隔(ge)(ge)熱盒性(xing)(xing)能和測溫(wen)線(xian)耐溫(wen)性(xing)(xing)有關,被測環境溫(wen)度時長不(bu)能超出隔(ge)(ge)熱盒性(xing)(xing)能,否則(ze)就高(gao)溫(wen)損(sun)壞(huai)、甚至報廢。

4、機械損傷

爐溫(wen)測(ce)試(shi)儀通常(chang)需要安(an)裝在生產線上或設備上,容易被(bei)機(ji)械損傷。例如(ru),在安(an)裝或拆卸爐溫(wen)測(ce)試(shi)儀的過程(cheng)中,如(ru)果(guo)使用不(bu)當或暴(bao)力操作,可(ke)能會(hui)導致傳(chuan)感(gan)器(qi)或其他(ta)部件損壞。此(ci)外,如(ru)果(guo)生產線上有振動或沖擊(ji),也可(ke)能會(hui)對(dui)爐溫(wen)測(ce)試(shi)儀造成影響,導致其損壞。

5、環境因素

爐溫(wen)(wen)測試(shi)儀通(tong)常需要在(zai)干(gan)燥、無塵、無強磁場干(gan)擾的(de)環境中(zhong)使(shi)用。如果爐溫(wen)(wen)測試(shi)儀長時間暴(bao)露在(zai)惡劣的(de)環境中(zhong),可能(neng)會導致傳感器或其他(ta)部件(jian)受潮(chao)、腐蝕或被磁場干(gan)擾,進(jin)而導致測溫(wen)(wen)儀損壞(huai)。

二、爐溫曲線測試儀常見故障及維修方法

1、爐溫測試儀不能與電腦通訊

可能(neng)原因:a、連(lian)接(jie)線(xian)(xian)損壞,b、接(jie)口(kou)沒插好,c、儀器本(ben)身故(gu)障。解(jie)決方法:a、更換(huan)連(lian)接(jie)線(xian)(xian),b、檢查連(lian)接(jie)線(xian)(xian)是(shi)否(fou)有(you)彎或斷裂(lie),c、軟(ruan)體(ti)復位,d、跟換(huan)U11,U14。

2、不能下載數據

可能原因(yin):a、軟件問題,b、IC受熱(re)浮高(gao),松動,c、儀(yi)器高(gao)溫受損。解(jie)決方法:a、復位,b、拔插IC,更(geng)換U11,U14,c、換主板及隔熱(re)護套。

3、制程界限數據不能保存

可(ke)能原因(yin):軟件版本(ben)太低(di)。解(jie)決辦(ban)法:升級軟件。

4、溫度跳動很快,幅度大

可(ke)能原因:儀器本身故障。解決辦法(fa):更換IC AD620。

5、不能開機

可能(neng)原(yuan)因(yin):a、開關壞,b、電池扣壞,c、BIOS松動。解決辦法:a、換(huan)(huan)開關,b、換(huan)(huan)電池扣,c、清潔(jie)BIOS,c、換(huan)(huan)U14。

6、開機一直叫

可能原因:a、BIOS松動,b、IC接觸不好(hao)。解決辦法:拔插(cha)IC,清潔(jie)。

7、下載數據不全或無數據

可(ke)能(neng)原(yuan)因(yin):a、軟件問題(ti),b、儀器受溫(wen)過高。解決辦法:軟體(ti)復位。

8、單個通道溫度偏差較大

可能原因(yin):a、此(ci)通道損壞,b、IC壞。解決辦法(fa):a、檢查(cha)該通道線路,b、更(geng)換IC AD620(U11)。

9、看不到后半截曲線

可能原因:軟件設置不正確。解決辦法:a、改變中間結(jie)束溫度設置,b、取(qu)讀(du)數據頻率(lv)改低。

10、電池耗電快

可(ke)能原因:IC壞。解決辦法:更(geng)換U9、U10。

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