一、手動探針臺和自動的區別在哪里 ?

自動(dong)(dong)探(tan)針(zhen)臺可分為半自動(dong)(dong)探(tan)針(zhen)臺和全自動(dong)(dong)探(tan)針(zhen)，它們和手動(dong)(dong)探(tan)針(zhen)臺在使用類型、功能、操(cao)作方(fang)式和價格(ge)等(deng)方(fang)面都有所(suo)不同(tong)。

1、手動探針臺是一(yi)種手(shou)動控制的探針(zhen)臺(tai)，通常(chang)用于沒(mei)有(you)很(hen)多(duo)待測器件需(xu)要(yao)測量或數(shu)據(ju)需(xu)要(yao)收集的情況(kuang)下。該類探針(zhen)臺(tai)的優點是靈(ling)活、可變性高，易于配置環境和轉(zhuan)換測試環境，并且不需(xu)要(yao)涉及額外(wai)培訓和設(she)置時間的電子設(she)備、PC或軟件。手(shou)動探針(zhen)臺(tai)系統只需(xu)要(yao)少(shao)量的培訓，因此非常(chang)適合研發人員使用。

2、半(ban)自動(dong)探(tan)針(zhen)臺是(shi)一(yi)種半(ban)自動(dong)控制的探(tan)針(zhen)臺，可以在沒有很多(duo)待測器件需要(yao)測量(liang)或(huo)數據需要(yao)收集的情況下使用(yong)。與手動(dong)探(tan)針(zhen)臺相(xiang)比，半(ban)自動(dong)探(tan)針(zhen)臺的操作相(xiang)對(dui)簡單(dan)，但(dan)需要(yao)使用(yong)者進(jin)行(xing)一(yi)些簡單(dan)的操作，如移動(dong)晶(jing)圓載物臺、調整顯微(wei)鏡焦距等。半(ban)自動(dong)探(tan)針(zhen)臺通常需要(yao)進(jin)行(xing)一(yi)些預設置(zhi)，以便能夠適應(ying)不同的測試環境。

3、全(quan)自(zi)動(dong)(dong)探(tan)(tan)針(zhen)臺是(shi)一(yi)種全(quan)自(zi)動(dong)(dong)控制的探(tan)(tan)針(zhen)臺，可以(yi)在(zai)(zai)沒(mei)有(you)很(hen)多待測器件(jian)需要(yao)測量或數(shu)據需要(yao)收(shou)集的情況下使(shi)用。相(xiang)比于(yu)半自(zi)動(dong)(dong)探(tan)(tan)針(zhen)臺，全(quan)自(zi)動(dong)(dong)探(tan)(tan)針(zhen)臺具有(you)更高的精度(du)和效率，可以(yi)在(zai)(zai)短時(shi)間內完成(cheng)大量的測試(shi)操作。全(quan)自(zi)動(dong)(dong)探(tan)(tan)針(zhen)臺通常(chang)還配備有(you)晶(jing)(jing)圓(yuan)材(cai)料處理搬運單(dan)元（MHU）、模式識別（自(zi)動(dong)(dong)對準）等功能，以(yi)確保晶(jing)(jing)圓(yuan)上的晶(jing)(jing)粒依次(ci)與探(tan)(tan)針(zhen)接觸并逐個測試(shi)。全(quan)自(zi)動(dong)(dong)探(tan)(tan)針(zhen)臺通常(chang)用于(yu)芯片量產或有(you)一(yi)些特(te)殊要(yao)求(qiu)如處理薄(bo)晶(jing)(jing)圓(yuan)、封裝基板等。

二、手動探針臺和自動的哪個好

半(ban)自(zi)(zi)(zi)動(dong)和(he)(he)全(quan)自(zi)(zi)(zi)動(dong)探針平(ping)臺(tai)提供(gong)了(le)更高(gao)(gao)程(cheng)(cheng)度的自(zi)(zi)(zi)動(dong)化。它們可以根據預設程(cheng)(cheng)序自(zi)(zi)(zi)動(dong)操作探針臂和(he)(he)探針，將(jiang)其(qi)定位在(zai)待(dai)(dai)測(ce)(ce)物(wu)體上。用(yong)戶只需輸入指令來控制整(zheng)個測(ce)(ce)試(shi)(shi)過程(cheng)(cheng)。這些(xie)平(ping)臺(tai)還配(pei)備了(le)圖像(xiang)識(shi)別技術，能夠自(zi)(zi)(zi)動(dong)識(shi)別待(dai)(dai)測(ce)(ce)物(wu)體的位置，提高(gao)(gao)測(ce)(ce)試(shi)(shi)的準確(que)性和(he)(he)效率。與手(shou)動(dong)探針平(ping)臺(tai)相(xiang)比，半(ban)自(zi)(zi)(zi)動(dong)和(he)(he)全(quan)自(zi)(zi)(zi)動(dong)探針平(ping)臺(tai)系統更加高(gao)(gao)效、便捷，能夠節(jie)省大量的人力和(he)(he)時(shi)間成本，并(bing)提供(gong)更可靠(kao)的測(ce)(ce)試(shi)(shi)結果。

但實(shi)際選(xuan)擇(ze)時，手(shou)動探(tan)針(zhen)臺(tai)(tai)(tai)適合(he)研發人員(yuan)(yuan)使(shi)用(yong)，半(ban)自(zi)(zi)動探(tan)針(zhen)臺(tai)(tai)(tai)適合(he)初學者使(shi)用(yong)，而全自(zi)(zi)動探(tan)針(zhen)臺(tai)(tai)(tai)適合(he)具(ju)有一定經(jing)驗(yan)的(de)測(ce)試(shi)人員(yuan)(yuan)使(shi)用(yong)。不同類型的(de)探(tan)針(zhen)臺(tai)(tai)(tai)各有優(you)缺點，選(xuan)擇(ze)何種(zhong)探(tan)針(zhen)臺(tai)(tai)(tai)主(zhu)要取(qu)決于測(ce)試(shi)的(de)需(xu)求和(he)個人的(de)技能水平。