一、ntc熱敏電阻怎么測量好壞

ntc被稱為負溫(wen)度(du)(du)(du)系數熱敏(min)電(dian)(dian)阻，是由Mn-Co-Ni的(de)氧化(hua)(hua)物(wu)充分(fen)混(hun)合后燒結而(er)成的(de)陶瓷材(cai)料(liao)制備而(er)來，它在實現小型化(hua)(hua)的(de)同時，還(huan)具有電(dian)(dian)阻值-溫(wen)度(du)(du)(du)特(te)性波動小、對各種溫(wen)度(du)(du)(du)變化(hua)(hua)響應快(kuai)的(de)特(te)點，可被用來做(zuo)高靈敏(min)度(du)(du)(du)、高精(jing)度(du)(du)(du)的(de)溫(wen)度(du)(du)(du)傳感器，在電(dian)(dian)子電(dian)(dian)路當(dang)中也經常被用作實時的(de)溫(wen)度(du)(du)(du)監控及溫(wen)度(du)(du)(du)補償等。

可以從以下幾個方面測量ntc熱敏電阻的好壞。

1、將(jiang)萬用表置于(yu)合適的歐(ou)姆擋（根據標稱(cheng)電阻值確定擋位）。

2、用兩(liang)只表筆(bi)分別接觸熱敏(min)電阻的兩(liang)個引腳測出實際阻值。

3、標稱阻值(zhi)相(xiang)比較，如果二者相(xiang)差，過大，則說明所(suo)測熱敏電(dian)阻性能不良(liang)或已損(sun)壞。

4、用(yong)手捏住熱敏電(dian)(dian)阻(zu)測電(dian)(dian)阻(zu)值，觀察萬用(yong)表(biao)數(shu)數(shu)，此時會(hui)看到(dao)顯(xian)示(shi)的數(shu)據隨溫(wen)度的升高而(er)變(bian)化(hua)（ntc表(biao)示(shi)減小，PTC表(biao)示(shi)增大），表(biao)明(ming)電(dian)(dian)阻(zu)值在逐漸變(bian)化(hua)

5、當阻值(zhi)改變到一定(ding)數值(zhi)時，顯示(shi)數據會逐漸穩(wen)定(ding)。

6、測量(liang)時若環境溫(wen)度接近體溫(wen)，則可使用電烙(luo)鐵靠近或(huo)緊(jin)貼熱敏電阻進行加(jia)熱。

二、ntc熱敏電阻壞了什么現象

1、ntc熱敏電阻短路

在ntc電路(lu)(lu)中(zhong)，當環路(lu)(lu)電流高于(yu)值，或額定功率長時(shi)(shi)間高于(yu)大阻時(shi)(shi)，會使熱(re)敏電阻的溫度(du)高于(yu)設定的值。所(suo)以在電流啟(qi)動時(shi)(shi)，熱(re)敏電阻會表現出相當低的電阻，然后熱(re)敏電阻將被燒(shao)毀(hui)，導致短路(lu)(lu)或開路(lu)(lu)。

2、ntc熱敏電阻開裂

當電(dian)流開始(shi)運作時，可能(neng)導致瞬間大(da)的(de)能(neng)量加載到熱敏電(dian)阻(zu)中(zhong)，如果產品生(sheng)產的(de)時候存在(zai)瑕(xia)疵，那么ntc可能(neng)無法承受然后損壞(huai)，一般情(qing)況，ntc會表現出更高的(de)阻(zu)值或(huo)者直接開裂。

3、ntc熱敏電阻阻值偏移

ntc熱敏(min)電(dian)阻(zu)(zu)是對熱靈敏(min)的(de)半導體元件(jian)。如果IR回(hui)流和返工超過一(yi)定(ding)的(de)溫度(du)和時間，熱敏(min)電(dian)阻(zu)(zu)也(ye)容易(yi)損壞，導致(zhi)阻(zu)(zu)值(zhi)偏(pian)移。這個故(gu)障下ntc的(de)阻(zu)(zu)值(zhi)可能變大或變小。