測(ce)試項目主(zhu)要包括電磁兼容試驗(yan)、環境試驗(yan)、IC卡解鎖試驗(yan)、指紋解鎖試驗(yan)、密碼邏(luo)輯安(an)全性和電路非正常試驗(yan)。

在此次試驗(yan)(yan)中，有14款智(zhi)能門鎖樣品宣稱(cheng)采用(yong)活體指(zhi)(zhi)(zhi)紋檢測(ce)技術，對假指(zhi)(zhi)(zhi)紋可(ke)以進(jin)行(xing)防護，但檢測(ce)人員使用(yong)假指(zhi)(zhi)(zhi)紋進(jin)行(xing)試驗(yan)(yan)時，均被輕易解鎖。涉(she)及標(biao)稱(cheng)“固特”、“金點原子”、“凱迪仕”等多(duo)個(ge)品牌的樣品。

本(ben)次試驗的(de)樣(yang)品(pin)(pin)中，有26款為IC卡(ka)解鎖。試驗結果顯(xian)示，有24款樣(yang)品(pin)(pin)的(de)IC卡(ka)可被破解、復制。

密碼(ma)設(she)置是智能門鎖的(de)主要功能之一，此次比較試(shi)驗(yan)從虛位密碼(ma)長(chang)(chang)度、密碼(ma)有效(xiao)長(chang)(chang)度、允許輸入錯誤密碼(ma)次數和鎖屏時間四(si)個(ge)方(fang)面對樣品(pin)進行了橫向比較。

專家介紹，智(zhi)能門鎖的(de)密(mi)(mi)碼(ma)設置存在以下問(wen)題：一是密(mi)(mi)碼(ma)長度過短(duan)，有(you)的(de)只有(you)四位；二是允許輸入錯誤(wu)密(mi)(mi)碼(ma)次(ci)數(shu)過多，有(you)的(de)高達20次(ci)。

專家強調，所有電子產品(pin)都需要考(kao)慮在故(gu)(gu)障條(tiao)件下(xia)產品(pin)的功(gong)能可(ke)靠(kao)性，單一故(gu)(gu)障不能造成核(he)心功(gong)能的喪失(shi)。

在(zai)此次試(shi)驗中，檢(jian)測人員針對38款智能門(men)(men)鎖施加了單一故障(zhang)，有30款智能門(men)(men)鎖樣(yang)品在(zai)單一故障(zhang)條(tiao)件下(xia)出現解鎖異常或上鎖異常的情況，只有8款智能門(men)(men)鎖樣(yang)品在(zai)此條(tiao)件下(xia)不(bu)受影響。

當(dang)檢測(ce)(ce)人員完(wan)成所有(you)(you)單項(xiang)檢測(ce)(ce)，對(dui)數(shu)據進行匯(hui)總分析時，發現了(le)一(yi)個讓人擔憂的事實：沒(mei)有(you)(you)任何一(yi)款(kuan)智能門(men)鎖通過所有(you)(you)項(xiang)目檢測(ce)(ce)。

檢(jian)測結果顯(xian)示，38款智(zhi)能門鎖(suo)樣(yang)(yang)品(pin)(pin)均存在或多或少的(de)安全風險；超一半樣(yang)(yang)品(pin)(pin)存在三(san)項(xiang)(xiang)(xiang)或三(san)項(xiang)(xiang)(xiang)以上(shang)安全風險；有(you)8款智(zhi)能門鎖(suo)樣(yang)(yang)品(pin)(pin)存在四項(xiang)(xiang)(xiang)或四項(xiang)(xiang)(xiang)以上(shang)的(de)安全風險。