一、探傷儀是干什么用的
探傷儀是(shi)一(yi)種探測機(ji)(ji)器缺陷(xian)的的工程(cheng)器械，它的主要用途(tu)是(shi)探測機(ji)(ji)器加工件內部是(shi)否(fou)有缺陷(xian)，如(ru)裂紋(wen)、砂眼、氣(qi)孔、白點、夾雜等，檢查焊(han)縫(feng)是(shi)否(fou)合格(ge)，查找有無暗傷，進而判定工件合格(ge)與否(fou)。
探傷儀(yi)的(de)應用十分廣泛，目前探傷儀(yi)主要用在工(gong)業(ye)和醫療(liao)上(shang)，工(gong)業(ye)上(shang)用于(yu)檢測金屬材料(liao)中是否有傷痕、氣泡(pao)、裂縫等(deng)，醫學上(shang)用于(yu)檢測人體的(de)軟組織、血流等(deng)是否正常。
二、探傷儀的原理是什么
探傷儀(yi)檢測(ce)(ce)通(tong)常是對被測(ce)(ce)物(wu)體(ti)（比如(ru)工(gong)業材料、人體(ti)）發射(she)超(chao)聲，然后(hou)(hou)利用其(qi)(qi)反射(she)、多(duo)普(pu)勒效應(ying)、透(tou)射(she)等來獲取被測(ce)(ce)物(wu)體(ti)內部(bu)的(de)(de)信(xin)息并經過(guo)處理形成圖像(xiang)。探傷儀(yi)其(qi)(qi)中多(duo)普(pu)勒效應(ying)法是利用超(chao)聲在遇到(dao)運動的(de)(de)物(wu)體(ti)時發生的(de)(de)多(duo)普(pu)勒頻移效應(ying)來得出(chu)該物(wu)體(ti)的(de)(de)運動方(fang)向和速度等特(te)性；透(tou)射(she)法則是通(tong)過(guo)分析超(chao)聲穿透(tou)過(guo)被測(ce)(ce)物(wu)體(ti)之后(hou)(hou)的(de)(de)變化而(er)得出(chu)物(wu)體(ti)的(de)(de)內部(bu)特(te)性的(de)(de)，其(qi)(qi)應(ying)用還處于研制(zhi)階段。
三、探傷儀怎么使用
探傷儀五大常規方法(fa)(fa)是(shi)指射線(xian)探傷法(fa)(fa)、超(chao)聲(sheng)波探傷法(fa)(fa)、磁粉探傷法(fa)(fa)、渦(wo)流探傷法(fa)(fa)和滲(shen)透(tou)探傷法(fa)(fa)。
1、射線探傷方法
射(she)(she)(she)(she)(she)線(xian)探(tan)傷(shang)是利用(yong)射(she)(she)(she)(she)(she)線(xian)的(de)(de)(de)(de)(de)穿(chuan)(chuan)透(tou)性和(he)直線(xian)性來(lai)(lai)探(tan)傷(shang)的(de)(de)(de)(de)(de)方法。這(zhe)些(xie)(xie)射(she)(she)(she)(she)(she)線(xian)雖然不會像可(ke)見(jian)光(guang)(guang)(guang)那(nei)樣憑肉眼就能直接(jie)察(cha)知(zhi)，但它(ta)(ta)可(ke)使照相(xiang)底(di)片感光(guang)(guang)(guang)，也(ye)可(ke)用(yong)特(te)殊的(de)(de)(de)(de)(de)接(jie)收(shou)(shou)器(qi)(qi)來(lai)(lai)接(jie)收(shou)(shou)。常用(yong)于探(tan)傷(shang)的(de)(de)(de)(de)(de)射(she)(she)(she)(she)(she)線(xian)有(you)(you)x光(guang)(guang)(guang)和(he)同位(wei)素發(fa)出的(de)(de)(de)(de)(de)γ射(she)(she)(she)(she)(she)線(xian)，分(fen)別稱為(wei)x光(guang)(guang)(guang)探(tan)傷(shang)和(he)γ射(she)(she)(she)(she)(she)線(xian)探(tan)傷(shang)。當這(zhe)些(xie)(xie)射(she)(she)(she)(she)(she)線(xian)穿(chuan)(chuan)過(guo)（照射(she)(she)(she)(she)(she)）物(wu)質時，該(gai)物(wu)質的(de)(de)(de)(de)(de)密度(du)越大(da)，射(she)(she)(she)(she)(she)線(xian)強(qiang)(qiang)度(du)減弱(ruo)(ruo)得(de)越多，即射(she)(she)(she)(she)(she)線(xian)能穿(chuan)(chuan)透(tou)過(guo)該(gai)物(wu)質的(de)(de)(de)(de)(de)強(qiang)(qiang)度(du)就越小。此時，若用(yong)照相(xiang)底(di)片接(jie)收(shou)(shou)，則底(di)片的(de)(de)(de)(de)(de)感光(guang)(guang)(guang)量就小；若用(yong)儀器(qi)(qi)來(lai)(lai)接(jie)收(shou)(shou)，獲得(de)的(de)(de)(de)(de)(de)信號(hao)就弱(ruo)(ruo)。因此，用(yong)射(she)(she)(she)(she)(she)線(xian)來(lai)(lai)照射(she)(she)(she)(she)(she)待探(tan)傷(shang)的(de)(de)(de)(de)(de)零部(bu)件時，若其(qi)內部(bu)有(you)(you)氣(qi)孔、夾(jia)(jia)渣等缺陷(xian)，射(she)(she)(she)(she)(she)線(xian)穿(chuan)(chuan)過(guo)有(you)(you)缺陷(xian)的(de)(de)(de)(de)(de)路徑(jing)比沒(mei)有(you)(you)缺陷(xian)的(de)(de)(de)(de)(de)路徑(jing)所透(tou)過(guo)的(de)(de)(de)(de)(de)物(wu)質密度(du)要小得(de)多，其(qi)強(qiang)(qiang)度(du)就減弱(ruo)(ruo)得(de)少些(xie)(xie)，即透(tou)過(guo)的(de)(de)(de)(de)(de)強(qiang)(qiang)度(du)就大(da)些(xie)(xie)，若用(yong)底(di)片接(jie)收(shou)(shou)，則感光(guang)(guang)(guang)量就大(da)些(xie)(xie)，就可(ke)以從底(di)片上反映(ying)出缺陷(xian)垂直于射(she)(she)(she)(she)(she)線(xian)方向的(de)(de)(de)(de)(de)平面(mian)投影；若用(yong)其(qi)它(ta)(ta)接(jie)收(shou)(shou)器(qi)(qi)也(ye)同樣可(ke)以用(yong)儀表來(lai)(lai)反映(ying)缺陷(xian)垂直于射(she)(she)(she)(she)(she)線(xian)方向的(de)(de)(de)(de)(de)平面(mian)投影和(he)射(she)(she)(she)(she)(she)線(xian)的(de)(de)(de)(de)(de)透(tou)過(guo)量。由此可(ke)見(jian)，一般情(qing)況下，射(she)(she)(she)(she)(she)線(xian)探(tan)傷(shang)是不易發(fa)現裂(lie)紋(wen)的(de)(de)(de)(de)(de)，或者(zhe)說，射(she)(she)(she)(she)(she)線(xian)探(tan)傷(shang)對(dui)裂(lie)紋(wen)是不敏感的(de)(de)(de)(de)(de)。因此，射(she)(she)(she)(she)(she)線(xian)探(tan)傷(shang)對(dui)氣(qi)孔、夾(jia)(jia)渣、未(wei)焊透(tou)等體積(ji)型缺陷(xian)最(zui)敏感。即射(she)(she)(she)(she)(she)線(xian)探(tan)傷(shang)適宜(yi)用(yong)于體積(ji)型缺陷(xian)探(tan)傷(shang)，而(er)不適宜(yi)面(mian)積(ji)型缺陷(xian)探(tan)傷(shang)。
2、超聲波探傷方法
人(ren)們的(de)(de)(de)(de)耳(er)朵能(neng)直接(jie)接(jie)收到的(de)(de)(de)(de)聲(sheng)(sheng)(sheng)波(bo)(bo)(bo)(bo)的(de)(de)(de)(de)頻率范圍通常是20Hz到20kHz，即音（聲(sheng)(sheng)(sheng)）頻。頻率低于(yu)(yu)20Hz的(de)(de)(de)(de)稱(cheng)(cheng)為(wei)(wei)次(ci)聲(sheng)(sheng)(sheng)波(bo)(bo)(bo)(bo)，高(gao)于(yu)(yu)20 kHz的(de)(de)(de)(de)稱(cheng)(cheng)為(wei)(wei)超(chao)(chao)(chao)聲(sheng)(sheng)(sheng)波(bo)(bo)(bo)(bo)。工業上(shang)常用數兆赫(he)茲超(chao)(chao)(chao)聲(sheng)(sheng)(sheng)波(bo)(bo)(bo)(bo)來(lai)探(tan)(tan)(tan)傷(shang)。超(chao)(chao)(chao)聲(sheng)(sheng)(sheng)波(bo)(bo)(bo)(bo)頻率高(gao)，則(ze)傳播(bo)的(de)(de)(de)(de)直線性強(qiang)，又易于(yu)(yu)在固(gu)體中傳播(bo)，并且(qie)遇(yu)到兩種不同介(jie)質(zhi)形成(cheng)的(de)(de)(de)(de)界面時易于(yu)(yu)反(fan)(fan)射(she)(she)(she)，這樣就(jiu)可以用它來(lai)探(tan)(tan)(tan)傷(shang)。通常用超(chao)(chao)(chao)聲(sheng)(sheng)(sheng)波(bo)(bo)(bo)(bo)探(tan)(tan)(tan)頭與待探(tan)(tan)(tan)工件(jian)表面良好(hao)的(de)(de)(de)(de)接(jie)觸，探(tan)(tan)(tan)頭則(ze)可有(you)效地向(xiang)工件(jian)發射(she)(she)(she)超(chao)(chao)(chao)聲(sheng)(sheng)(sheng)波(bo)(bo)(bo)(bo)，并能(neng)接(jie)收（缺(que)陷(xian)(xian)）界面反(fan)(fan)射(she)(she)(she)來(lai)的(de)(de)(de)(de)超(chao)(chao)(chao)聲(sheng)(sheng)(sheng)波(bo)(bo)(bo)(bo)，同時轉換成(cheng)電信號，再(zai)傳輸給儀(yi)器進行處理。根(gen)據超(chao)(chao)(chao)聲(sheng)(sheng)(sheng)波(bo)(bo)(bo)(bo)在介(jie)質(zhi)中傳播(bo)的(de)(de)(de)(de)速度（常稱(cheng)(cheng)聲(sheng)(sheng)(sheng)速）和傳播(bo)的(de)(de)(de)(de)時間，就(jiu)可知道缺(que)陷(xian)(xian)的(de)(de)(de)(de)位置。當(dang)缺(que)陷(xian)(xian)越(yue)(yue)大(da)，反(fan)(fan)射(she)(she)(she)面則(ze)越(yue)(yue)大(da)，其(qi)反(fan)(fan)射(she)(she)(she)的(de)(de)(de)(de)能(neng)量也就(jiu)越(yue)(yue)大(da)，故可根(gen)據反(fan)(fan)射(she)(she)(she)能(neng)量的(de)(de)(de)(de)大(da)小來(lai)查知各缺(que)陷(xian)(xian)（當(dang)量）的(de)(de)(de)(de)大(da)小。常用的(de)(de)(de)(de)探(tan)(tan)(tan)傷(shang)波(bo)(bo)(bo)(bo)形有(you)縱波(bo)(bo)(bo)(bo)、橫波(bo)(bo)(bo)(bo)、表面波(bo)(bo)(bo)(bo)等，前二(er)者適用于(yu)(yu)探(tan)(tan)(tan)測內(nei)部缺(que)陷(xian)(xian)，后者適宜于(yu)(yu)探(tan)(tan)(tan)測表面缺(que)陷(xian)(xian)，但(dan)對表面的(de)(de)(de)(de)條件(jian)要求高(gao)。
3、磁粉探傷方法
磁(ci)(ci)粉探(tan)(tan)傷是建立在(zai)漏(lou)磁(ci)(ci)原理基礎上的一種磁(ci)(ci)力探(tan)(tan)傷方法。當磁(ci)(ci)力線穿過鐵(tie)磁(ci)(ci)材料及(ji)其制品時(shi)，在(zai)其（磁(ci)(ci)性(xing)）不連續處將(jiang)產(chan)生漏(lou)磁(ci)(ci)場，形成(cheng)磁(ci)(ci)極。此時(shi)撒(sa)上干磁(ci)(ci)粉或澆上磁(ci)(ci)懸(xuan)液(ye)，磁(ci)(ci)極就會(hui)吸(xi)附磁(ci)(ci)粉，產(chan)生用(yong)(yong)肉眼能(neng)(neng)直接觀(guan)察的明顯(xian)磁(ci)(ci)痕(hen)。因此，可借助于(yu)該磁(ci)(ci)痕(hen)來顯(xian)示鐵(tie)磁(ci)(ci)材料及(ji)其制品的缺(que)陷(xian)(xian)(xian)情況。磁(ci)(ci)粉探(tan)(tan)傷法可探(tan)(tan)測(ce)露(lu)出表面，用(yong)(yong)肉眼或借助于(yu)放大鏡(jing)也(ye)不能(neng)(neng)直接觀(guan)察到的微小缺(que)陷(xian)(xian)(xian)，也(ye)可探(tan)(tan)測(ce)未露(lu)出表面，而是埋(mai)藏在(zai)表面下幾毫米的近表面缺(que)陷(xian)(xian)(xian)。用(yong)(yong)這種方法雖(sui)然也(ye)能(neng)(neng)探(tan)(tan)查(cha)氣孔(kong)、夾雜、未焊透等體積型缺(que)陷(xian)(xian)(xian)，但對面積型缺(que)陷(xian)(xian)(xian)更(geng)靈敏(min)，更(geng)適于(yu)檢查(cha)因淬火、軋制、鍛造、鑄造、焊接、電(dian)鍍、磨削(xue)、疲勞等引起的裂紋。
磁(ci)(ci)(ci)力(li)探(tan)(tan)傷中對(dui)缺陷的顯示(shi)(shi)(shi)方法有(you)(you)多(duo)種，有(you)(you)用(yong)磁(ci)(ci)(ci)粉顯示(shi)(shi)(shi)的，也有(you)(you)不(bu)用(yong)磁(ci)(ci)(ci)粉顯示(shi)(shi)(shi)的。用(yong)磁(ci)(ci)(ci)粉顯示(shi)(shi)(shi)的稱(cheng)為(wei)磁(ci)(ci)(ci)粉探(tan)(tan)傷，因它顯示(shi)(shi)(shi)直觀、操作(zuo)簡單、人(ren)們樂于(yu)使(shi)用(yong)，故它是最(zui)常(chang)用(yong)的方法之一。不(bu)用(yong)磁(ci)(ci)(ci)粉顯示(shi)(shi)(shi)的，習慣上稱(cheng)為(wei)漏磁(ci)(ci)(ci)探(tan)(tan)傷，它常(chang)借助于(yu)感(gan)應線圈、磁(ci)(ci)(ci)敏管、霍爾元件等來反(fan)映缺陷，它比磁(ci)(ci)(ci)粉探(tan)(tan)傷更衛生，但不(bu)如前者(zhe)直觀。由于(yu)磁(ci)(ci)(ci)力(li)探(tan)(tan)傷主(zhu)要(yao)用(yong)磁(ci)(ci)(ci)粉來顯示(shi)(shi)(shi)缺陷，因此，人(ren)們有(you)(you)時把磁(ci)(ci)(ci)粉探(tan)(tan)傷直接稱(cheng)為(wei)磁(ci)(ci)(ci)力(li)探(tan)(tan)傷，其(qi)設備(bei)稱(cheng)為(wei)磁(ci)(ci)(ci)力(li)探(tan)(tan)傷設備(bei)。
4、渦流探傷方法
渦(wo)流(liu)(liu)探傷(shang)(shang)是由交流(liu)(liu)電(dian)流(liu)(liu)產生的(de)(de)交變(bian)磁場作用于(yu)待(dai)探傷(shang)(shang)的(de)(de)導電(dian)材料(liao)，感應出(chu)(chu)電(dian)渦(wo)流(liu)(liu)。如果(guo)材料(liao)中(zhong)(zhong)有(you)缺陷(xian)，它(ta)將(jiang)干(gan)擾(rao)所產生的(de)(de)電(dian)渦(wo)流(liu)(liu)，即(ji)形成(cheng)干(gan)擾(rao)信號(hao)(hao)。用渦(wo)流(liu)(liu)探傷(shang)(shang)儀檢測出(chu)(chu)其干(gan)擾(rao)信號(hao)(hao)，就可(ke)知道缺陷(xian)的(de)(de)狀況。影響渦(wo)流(liu)(liu)的(de)(de)因(yin)素很(hen)多，即(ji)是說渦(wo)流(liu)(liu)中(zhong)(zhong)載有(you)豐(feng)富的(de)(de)信號(hao)(hao)，這些信號(hao)(hao)與(yu)材料(liao)的(de)(de)很(hen)多因(yin)素有(you)關，如何將(jiang)其中(zhong)(zhong)有(you)用的(de)(de)信號(hao)(hao)從諸多的(de)(de)信號(hao)(hao)中(zhong)(zhong)一(yi)(yi)一(yi)(yi)分離出(chu)(chu)來，是渦(wo)流(liu)(liu)研究工作者的(de)(de)難題(ti)，多年來已經取得了一(yi)(yi)些進展，在(zai)一(yi)(yi)定(ding)條件下可(ke)解決(jue)一(yi)(yi)些問題(ti)，但還遠(yuan)不(bu)能滿(man)足現場的(de)(de)要求(qiu)，有(you)待(dai)于(yu)大(da)力(li)發展。
渦流(liu)探(tan)傷(shang)的顯著(zhu)特點是(shi)對(dui)導(dao)電材料就能起作用(yong)，而不一定是(shi)鐵磁材料，但對(dui)鐵磁材料的效果(guo)較差。其次，待探(tan)工(gong)件表(biao)面的光潔度(du)、平整度(du)、邊介等對(dui)渦流(liu)探(tan)傷(shang)都有較大影響，因此常將(jiang)渦流(liu)探(tan)傷(shang)用(yong)于(yu)形狀較規則、表(biao)面較光潔的銅管等非鐵磁性工(gong)件探(tan)傷(shang)。
5、滲透探傷方法
滲(shen)(shen)(shen)透(tou)(tou)(tou)(tou)(tou)(tou)探(tan)(tan)傷(shang)是利(li)用毛(mao)細(xi)現象來進行探(tan)(tan)傷(shang)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)方法。對于表(biao)(biao)面光滑而清(qing)潔的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)零(ling)部件，用一(yi)種(zhong)帶(dai)(dai)色(se)（常(chang)為紅色(se)）或(huo)帶(dai)(dai)有熒(ying)(ying)光的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)、滲(shen)(shen)(shen)透(tou)(tou)(tou)(tou)(tou)(tou)性很強(qiang)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)液(ye)體(ti)，涂覆于待探(tan)(tan)零(ling)部件的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)表(biao)(biao)面。若表(biao)(biao)面有肉眼不能(neng)直(zhi)接察知(zhi)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)微(wei)裂(lie)(lie)紋(wen)(wen)(wen)，由于該液(ye)體(ti)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)滲(shen)(shen)(shen)透(tou)(tou)(tou)(tou)(tou)(tou)性很強(qiang)，它將(jiang)沿著裂(lie)(lie)紋(wen)(wen)(wen)滲(shen)(shen)(shen)透(tou)(tou)(tou)(tou)(tou)(tou)到(dao)其根部。然后將(jiang)表(biao)(biao)面的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)滲(shen)(shen)(shen)透(tou)(tou)(tou)(tou)(tou)(tou)液(ye)洗去，再涂上(shang)對比度較(jiao)(jiao)大的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)顯示(shi)液(ye)（常(chang)為白(bai)色(se)）。放置片刻(ke)后，由于裂(lie)(lie)紋(wen)(wen)(wen)很窄，毛(mao)細(xi)現象作用顯著，原滲(shen)(shen)(shen)透(tou)(tou)(tou)(tou)(tou)(tou)到(dao)裂(lie)(lie)紋(wen)(wen)(wen)內的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)滲(shen)(shen)(shen)透(tou)(tou)(tou)(tou)(tou)(tou)液(ye)將(jiang)上(shang)升(sheng)到(dao)表(biao)(biao)面并擴(kuo)散(san)，在白(bai)色(se)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)襯(chen)底上(shang)顯出(chu)較(jiao)(jiao)粗的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)紅線(xian)，從而顯示(shi)出(chu)裂(lie)(lie)紋(wen)(wen)(wen)露于表(biao)(biao)面的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)形(xing)狀，因(yin)此，常(chang)稱為著色(se)探(tan)(tan)傷(shang)。若滲(shen)(shen)(shen)透(tou)(tou)(tou)(tou)(tou)(tou)液(ye)采用的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)是帶(dai)(dai)熒(ying)(ying)光的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)液(ye)體(ti)，由毛(mao)細(xi)現象上(shang)升(sheng)到(dao)表(biao)(biao)面的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)液(ye)體(ti)，則(ze)會在紫外燈(deng)照射(she)下(xia)發出(chu)熒(ying)(ying)光，從而更(geng)能(neng)顯示(shi)出(chu)裂(lie)(lie)紋(wen)(wen)(wen)露于表(biao)(biao)面的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)形(xing)狀，故常(chang)常(chang)又將(jiang)此時的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)滲(shen)(shen)(shen)透(tou)(tou)(tou)(tou)(tou)(tou)探(tan)(tan)傷(shang)直(zhi)接稱為熒(ying)(ying)光探(tan)(tan)傷(shang)。此探(tan)(tan)傷(shang)方法也可用于金屬(shu)(shu)和非(fei)金屬(shu)(shu)表(biao)(biao)面探(tan)(tan)傷(shang)。其使(shi)用的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)探(tan)(tan)傷(shang)液(ye)劑(ji)有較(jiao)(jiao)大氣味，常(chang)有一(yi)定毒性。
探傷儀除以上(shang)五大常規方法(fa)外，近年來又有了紅外、聲發(fa)射等一些新的探傷方法(fa)。
