一、探傷儀是干什么用的
探傷儀是一種探測(ce)機器(qi)(qi)缺陷的的工程器(qi)(qi)械,它的主(zhu)要用途是探測(ce)機器(qi)(qi)加工件內部是否有缺陷,如裂紋(wen)、砂眼、氣孔(kong)、白點、夾雜(za)等,檢查焊(han)縫是否合格(ge),查找有無暗傷,進(jin)而(er)判(pan)定工件合格(ge)與(yu)否。
探(tan)傷(shang)儀的應用十分廣泛,目前探(tan)傷(shang)儀主要用在工業和醫(yi)療(liao)上(shang),工業上(shang)用于(yu)檢測金屬材料中是否有傷(shang)痕、氣泡、裂縫等,醫(yi)學上(shang)用于(yu)檢測人體的軟組(zu)織、血流(liu)等是否正常(chang)。
二、探傷儀的原理是什么
探傷儀檢測通常是(shi)對被測物(wu)(wu)體(ti)(比(bi)如(ru)工業材料、人體(ti))發(fa)(fa)射(she)超(chao)聲(sheng),然(ran)后利用其(qi)反射(she)、多(duo)普(pu)勒(le)效應(ying)、透(tou)射(she)等(deng)來獲取被測物(wu)(wu)體(ti)內(nei)部(bu)的信息并經過處理形成圖像。探傷儀其(qi)中(zhong)多(duo)普(pu)勒(le)效應(ying)法是(shi)利用超(chao)聲(sheng)在遇到(dao)運動的物(wu)(wu)體(ti)時(shi)發(fa)(fa)生的多(duo)普(pu)勒(le)頻移效應(ying)來得出該物(wu)(wu)體(ti)的運動方向和速度等(deng)特(te)性(xing);透(tou)射(she)法則是(shi)通過分(fen)析超(chao)聲(sheng)穿透(tou)過被測物(wu)(wu)體(ti)之后的變化而得出物(wu)(wu)體(ti)的內(nei)部(bu)特(te)性(xing)的,其(qi)應(ying)用還處于研(yan)制(zhi)階段。
三、探傷儀怎么使用
探(tan)傷(shang)儀五大常(chang)規方法是指射線探(tan)傷(shang)法、超聲波探(tan)傷(shang)法、磁粉探(tan)傷(shang)法、渦流探(tan)傷(shang)法和滲透探(tan)傷(shang)法。
1、射線探傷方法
射(she)(she)(she)線(xian)(xian)(xian)(xian)(xian)探傷(shang)(shang)(shang)是利(li)用(yong)(yong)(yong)射(she)(she)(she)線(xian)(xian)(xian)(xian)(xian)的(de)(de)(de)(de)(de)穿透(tou)性(xing)和(he)直(zhi)線(xian)(xian)(xian)(xian)(xian)性(xing)來(lai)(lai)探傷(shang)(shang)(shang)的(de)(de)(de)(de)(de)方(fang)法。這(zhe)些(xie)射(she)(she)(she)線(xian)(xian)(xian)(xian)(xian)雖然(ran)不(bu)(bu)會像可見光(guang)那樣憑肉眼就(jiu)(jiu)(jiu)能(neng)直(zhi)接(jie)(jie)察知,但它可使照相(xiang)底片(pian)(pian)感(gan)光(guang),也(ye)(ye)可用(yong)(yong)(yong)特(te)殊的(de)(de)(de)(de)(de)接(jie)(jie)收(shou)(shou)器(qi)來(lai)(lai)接(jie)(jie)收(shou)(shou)。常用(yong)(yong)(yong)于(yu)探傷(shang)(shang)(shang)的(de)(de)(de)(de)(de)射(she)(she)(she)線(xian)(xian)(xian)(xian)(xian)有(you)(you)x光(guang)和(he)同(tong)位素(su)發出(chu)的(de)(de)(de)(de)(de)γ射(she)(she)(she)線(xian)(xian)(xian)(xian)(xian),分別稱為x光(guang)探傷(shang)(shang)(shang)和(he)γ射(she)(she)(she)線(xian)(xian)(xian)(xian)(xian)探傷(shang)(shang)(shang)。當(dang)這(zhe)些(xie)射(she)(she)(she)線(xian)(xian)(xian)(xian)(xian)穿過(guo)(照射(she)(she)(she))物(wu)質(zhi)時(shi),該(gai)物(wu)質(zhi)的(de)(de)(de)(de)(de)密(mi)度(du)(du)越(yue)大,射(she)(she)(she)線(xian)(xian)(xian)(xian)(xian)強(qiang)度(du)(du)減弱(ruo)得(de)(de)越(yue)多(duo),即(ji)(ji)射(she)(she)(she)線(xian)(xian)(xian)(xian)(xian)能(neng)穿透(tou)過(guo)該(gai)物(wu)質(zhi)的(de)(de)(de)(de)(de)強(qiang)度(du)(du)就(jiu)(jiu)(jiu)越(yue)小。此(ci)(ci)(ci)時(shi),若(ruo)(ruo)用(yong)(yong)(yong)照相(xiang)底片(pian)(pian)接(jie)(jie)收(shou)(shou),則(ze)底片(pian)(pian)的(de)(de)(de)(de)(de)感(gan)光(guang)量(liang)(liang)就(jiu)(jiu)(jiu)小;若(ruo)(ruo)用(yong)(yong)(yong)儀(yi)器(qi)來(lai)(lai)接(jie)(jie)收(shou)(shou),獲(huo)得(de)(de)的(de)(de)(de)(de)(de)信號(hao)就(jiu)(jiu)(jiu)弱(ruo)。因此(ci)(ci)(ci),用(yong)(yong)(yong)射(she)(she)(she)線(xian)(xian)(xian)(xian)(xian)來(lai)(lai)照射(she)(she)(she)待探傷(shang)(shang)(shang)的(de)(de)(de)(de)(de)零部(bu)件時(shi),若(ruo)(ruo)其內部(bu)有(you)(you)氣(qi)孔、夾渣等缺(que)陷(xian),射(she)(she)(she)線(xian)(xian)(xian)(xian)(xian)穿過(guo)有(you)(you)缺(que)陷(xian)的(de)(de)(de)(de)(de)路(lu)(lu)徑比(bi)沒有(you)(you)缺(que)陷(xian)的(de)(de)(de)(de)(de)路(lu)(lu)徑所透(tou)過(guo)的(de)(de)(de)(de)(de)物(wu)質(zhi)密(mi)度(du)(du)要小得(de)(de)多(duo),其強(qiang)度(du)(du)就(jiu)(jiu)(jiu)減弱(ruo)得(de)(de)少(shao)些(xie),即(ji)(ji)透(tou)過(guo)的(de)(de)(de)(de)(de)強(qiang)度(du)(du)就(jiu)(jiu)(jiu)大些(xie),若(ruo)(ruo)用(yong)(yong)(yong)底片(pian)(pian)接(jie)(jie)收(shou)(shou),則(ze)感(gan)光(guang)量(liang)(liang)就(jiu)(jiu)(jiu)大些(xie),就(jiu)(jiu)(jiu)可以(yi)(yi)從底片(pian)(pian)上反(fan)映出(chu)缺(que)陷(xian)垂直(zhi)于(yu)射(she)(she)(she)線(xian)(xian)(xian)(xian)(xian)方(fang)向(xiang)的(de)(de)(de)(de)(de)平(ping)面(mian)投影;若(ruo)(ruo)用(yong)(yong)(yong)其它接(jie)(jie)收(shou)(shou)器(qi)也(ye)(ye)同(tong)樣可以(yi)(yi)用(yong)(yong)(yong)儀(yi)表來(lai)(lai)反(fan)映缺(que)陷(xian)垂直(zhi)于(yu)射(she)(she)(she)線(xian)(xian)(xian)(xian)(xian)方(fang)向(xiang)的(de)(de)(de)(de)(de)平(ping)面(mian)投影和(he)射(she)(she)(she)線(xian)(xian)(xian)(xian)(xian)的(de)(de)(de)(de)(de)透(tou)過(guo)量(liang)(liang)。由此(ci)(ci)(ci)可見,一(yi)般(ban)情況下,射(she)(she)(she)線(xian)(xian)(xian)(xian)(xian)探傷(shang)(shang)(shang)是不(bu)(bu)易發現裂(lie)紋的(de)(de)(de)(de)(de),或者說,射(she)(she)(she)線(xian)(xian)(xian)(xian)(xian)探傷(shang)(shang)(shang)對裂(lie)紋是不(bu)(bu)敏(min)感(gan)的(de)(de)(de)(de)(de)。因此(ci)(ci)(ci),射(she)(she)(she)線(xian)(xian)(xian)(xian)(xian)探傷(shang)(shang)(shang)對氣(qi)孔、夾渣、未焊透(tou)等體(ti)積型(xing)缺(que)陷(xian)最敏(min)感(gan)。即(ji)(ji)射(she)(she)(she)線(xian)(xian)(xian)(xian)(xian)探傷(shang)(shang)(shang)適(shi)宜用(yong)(yong)(yong)于(yu)體(ti)積型(xing)缺(que)陷(xian)探傷(shang)(shang)(shang),而不(bu)(bu)適(shi)宜面(mian)積型(xing)缺(que)陷(xian)探傷(shang)(shang)(shang)。
2、超聲波探傷方法
人們的(de)(de)耳朵(duo)能(neng)直接(jie)接(jie)收到(dao)的(de)(de)聲(sheng)(sheng)(sheng)波(bo)(bo)(bo)(bo)的(de)(de)頻(pin)率(lv)范圍通常(chang)是20Hz到(dao)20kHz,即(ji)音(聲(sheng)(sheng)(sheng))頻(pin)。頻(pin)率(lv)低于20Hz的(de)(de)稱為次聲(sheng)(sheng)(sheng)波(bo)(bo)(bo)(bo),高(gao)于20 kHz的(de)(de)稱為超(chao)(chao)聲(sheng)(sheng)(sheng)波(bo)(bo)(bo)(bo)。工業(ye)上常(chang)用(yong)數兆赫茲超(chao)(chao)聲(sheng)(sheng)(sheng)波(bo)(bo)(bo)(bo)來探(tan)傷。超(chao)(chao)聲(sheng)(sheng)(sheng)波(bo)(bo)(bo)(bo)頻(pin)率(lv)高(gao),則(ze)傳(chuan)播的(de)(de)直線(xian)性強,又(you)易于在固體中傳(chuan)播,并且遇到(dao)兩種不(bu)同介(jie)質形成的(de)(de)界(jie)面(mian)(mian)時(shi)易于反(fan)(fan)射(she),這樣就可以用(yong)它來探(tan)傷。通常(chang)用(yong)超(chao)(chao)聲(sheng)(sheng)(sheng)波(bo)(bo)(bo)(bo)探(tan)頭與(yu)待探(tan)工件表面(mian)(mian)良好的(de)(de)接(jie)觸,探(tan)頭則(ze)可有(you)效地向工件發射(she)超(chao)(chao)聲(sheng)(sheng)(sheng)波(bo)(bo)(bo)(bo),并能(neng)接(jie)收(缺(que)(que)(que)陷(xian))界(jie)面(mian)(mian)反(fan)(fan)射(she)來的(de)(de)超(chao)(chao)聲(sheng)(sheng)(sheng)波(bo)(bo)(bo)(bo),同時(shi)轉(zhuan)換成電(dian)信(xin)號(hao),再傳(chuan)輸給(gei)儀器進行處理。根據超(chao)(chao)聲(sheng)(sheng)(sheng)波(bo)(bo)(bo)(bo)在介(jie)質中傳(chuan)播的(de)(de)速度(常(chang)稱聲(sheng)(sheng)(sheng)速)和傳(chuan)播的(de)(de)時(shi)間,就可知道缺(que)(que)(que)陷(xian)的(de)(de)位置(zhi)。當缺(que)(que)(que)陷(xian)越(yue)大(da),反(fan)(fan)射(she)面(mian)(mian)則(ze)越(yue)大(da),其(qi)反(fan)(fan)射(she)的(de)(de)能(neng)量(liang)也就越(yue)大(da),故可根據反(fan)(fan)射(she)能(neng)量(liang)的(de)(de)大(da)小來查知各缺(que)(que)(que)陷(xian)(當量(liang))的(de)(de)大(da)小。常(chang)用(yong)的(de)(de)探(tan)傷波(bo)(bo)(bo)(bo)形有(you)縱(zong)波(bo)(bo)(bo)(bo)、橫波(bo)(bo)(bo)(bo)、表面(mian)(mian)波(bo)(bo)(bo)(bo)等,前二者適用(yong)于探(tan)測(ce)內(nei)部缺(que)(que)(que)陷(xian),后者適宜于探(tan)測(ce)表面(mian)(mian)缺(que)(que)(que)陷(xian),但對表面(mian)(mian)的(de)(de)條件要求高(gao)。
3、磁粉探傷方法
磁(ci)(ci)(ci)粉(fen)探傷是建立在漏磁(ci)(ci)(ci)原理基礎上(shang)的一(yi)種(zhong)磁(ci)(ci)(ci)力探傷方法(fa)。當磁(ci)(ci)(ci)力線穿(chuan)過鐵磁(ci)(ci)(ci)材料(liao)及(ji)其(qi)制品(pin)時(shi),在其(qi)(磁(ci)(ci)(ci)性)不(bu)連續(xu)處將產生漏磁(ci)(ci)(ci)場,形成磁(ci)(ci)(ci)極。此時(shi)撒上(shang)干磁(ci)(ci)(ci)粉(fen)或(huo)澆(jiao)上(shang)磁(ci)(ci)(ci)懸液,磁(ci)(ci)(ci)極就會(hui)吸附磁(ci)(ci)(ci)粉(fen),產生用(yong)肉(rou)眼(yan)能直接(jie)觀(guan)察的明(ming)顯磁(ci)(ci)(ci)痕。因此,可借(jie)助(zhu)于該磁(ci)(ci)(ci)痕來顯示鐵磁(ci)(ci)(ci)材料(liao)及(ji)其(qi)制品(pin)的缺陷情況。磁(ci)(ci)(ci)粉(fen)探傷法(fa)可探測露出表(biao)面,用(yong)肉(rou)眼(yan)或(huo)借(jie)助(zhu)于放(fang)大鏡也(ye)不(bu)能直接(jie)觀(guan)察到的微小缺陷,也(ye)可探測未(wei)露出表(biao)面,而是埋藏在表(biao)面下幾毫米的近表(biao)面缺陷。用(yong)這種(zhong)方法(fa)雖然也(ye)能探查氣孔、夾雜、未(wei)焊(han)(han)透等(deng)體積型缺陷,但對面積型缺陷更靈敏,更適于檢查因淬火、軋(ya)制、鍛(duan)造(zao)、鑄造(zao)、焊(han)(han)接(jie)、電鍍、磨削、疲勞等(deng)引起(qi)的裂(lie)紋。
磁(ci)(ci)力探(tan)傷(shang)中(zhong)對缺(que)陷(xian)的(de)(de)顯(xian)示(shi)方(fang)法有(you)多種(zhong),有(you)用(yong)(yong)磁(ci)(ci)粉(fen)顯(xian)示(shi)的(de)(de),也有(you)不(bu)用(yong)(yong)磁(ci)(ci)粉(fen)顯(xian)示(shi)的(de)(de)。用(yong)(yong)磁(ci)(ci)粉(fen)顯(xian)示(shi)的(de)(de)稱(cheng)(cheng)為(wei)(wei)磁(ci)(ci)粉(fen)探(tan)傷(shang),因它(ta)顯(xian)示(shi)直觀(guan)、操作簡單、人(ren)們(men)樂于使用(yong)(yong),故它(ta)是最常用(yong)(yong)的(de)(de)方(fang)法之(zhi)一。不(bu)用(yong)(yong)磁(ci)(ci)粉(fen)顯(xian)示(shi)的(de)(de),習(xi)慣上稱(cheng)(cheng)為(wei)(wei)漏磁(ci)(ci)探(tan)傷(shang),它(ta)常借助(zhu)于感應線圈、磁(ci)(ci)敏(min)管、霍爾元件等(deng)來反映缺(que)陷(xian),它(ta)比磁(ci)(ci)粉(fen)探(tan)傷(shang)更衛生,但不(bu)如前者直觀(guan)。由(you)于磁(ci)(ci)力探(tan)傷(shang)主要用(yong)(yong)磁(ci)(ci)粉(fen)來顯(xian)示(shi)缺(que)陷(xian),因此,人(ren)們(men)有(you)時把(ba)磁(ci)(ci)粉(fen)探(tan)傷(shang)直接稱(cheng)(cheng)為(wei)(wei)磁(ci)(ci)力探(tan)傷(shang),其設(she)備稱(cheng)(cheng)為(wei)(wei)磁(ci)(ci)力探(tan)傷(shang)設(she)備。
4、渦流探傷方法
渦流(liu)(liu)(liu)探傷是由交(jiao)流(liu)(liu)(liu)電流(liu)(liu)(liu)產生的交(jiao)變磁場(chang)(chang)作(zuo)用于待(dai)(dai)探傷的導電材(cai)(cai)(cai)料,感應出電渦流(liu)(liu)(liu)。如果材(cai)(cai)(cai)料中有(you)缺(que)陷(xian)(xian),它將(jiang)干(gan)擾所產生的電渦流(liu)(liu)(liu),即形成干(gan)擾信(xin)號(hao)(hao)。用渦流(liu)(liu)(liu)探傷儀檢測出其(qi)干(gan)擾信(xin)號(hao)(hao),就可知道缺(que)陷(xian)(xian)的狀況(kuang)。影響(xiang)渦流(liu)(liu)(liu)的因(yin)素(su)很多(duo),即是說渦流(liu)(liu)(liu)中載有(you)豐富(fu)的信(xin)號(hao)(hao),這些信(xin)號(hao)(hao)與(yu)材(cai)(cai)(cai)料的很多(duo)因(yin)素(su)有(you)關,如何將(jiang)其(qi)中有(you)用的信(xin)號(hao)(hao)從諸多(duo)的信(xin)號(hao)(hao)中一(yi)(yi)一(yi)(yi)分離出來,是渦流(liu)(liu)(liu)研究(jiu)工(gong)作(zuo)者的難題,多(duo)年(nian)來已經取得了(le)一(yi)(yi)些進展(zhan),在(zai)一(yi)(yi)定條(tiao)件(jian)下(xia)可解決一(yi)(yi)些問(wen)題,但還遠不能滿足現場(chang)(chang)的要(yao)求,有(you)待(dai)(dai)于大力發展(zhan)。
渦流探傷的(de)顯著特點是(shi)對導電材(cai)料就能起作用(yong)(yong),而不一定(ding)是(shi)鐵(tie)磁(ci)材(cai)料,但(dan)對鐵(tie)磁(ci)材(cai)料的(de)效果較差。其次,待探工件(jian)表面(mian)的(de)光(guang)潔度、平整度、邊介等(deng)對渦流探傷都有較大影(ying)響(xiang),因此常將渦流探傷用(yong)(yong)于形狀較規則、表面(mian)較光(guang)潔的(de)銅管等(deng)非(fei)鐵(tie)磁(ci)性工件(jian)探傷。
5、滲透探傷方法
滲(shen)透(tou)(tou)(tou)探(tan)傷是利用(yong)毛(mao)(mao)細(xi)現(xian)象(xiang)來進(jin)行(xing)探(tan)傷的(de)(de)(de)方(fang)法。對于(yu)(yu)表(biao)面(mian)(mian)光(guang)滑(hua)而清潔的(de)(de)(de)零(ling)(ling)部件(jian),用(yong)一(yi)種帶色(常(chang)為(wei)(wei)紅色)或帶有(you)熒光(guang)的(de)(de)(de)、滲(shen)透(tou)(tou)(tou)性很(hen)強(qiang)的(de)(de)(de)液(ye)(ye)體(ti),涂覆(fu)于(yu)(yu)待探(tan)零(ling)(ling)部件(jian)的(de)(de)(de)表(biao)面(mian)(mian)。若表(biao)面(mian)(mian)有(you)肉眼不能直(zhi)接察知的(de)(de)(de)微裂紋(wen),由(you)(you)于(yu)(yu)該液(ye)(ye)體(ti)的(de)(de)(de)滲(shen)透(tou)(tou)(tou)性很(hen)強(qiang),它將(jiang)沿(yan)著裂紋(wen)滲(shen)透(tou)(tou)(tou)到其根部。然后將(jiang)表(biao)面(mian)(mian)的(de)(de)(de)滲(shen)透(tou)(tou)(tou)液(ye)(ye)洗去,再(zai)涂上(shang)對比度(du)較(jiao)大的(de)(de)(de)顯(xian)示(shi)液(ye)(ye)(常(chang)為(wei)(wei)白(bai)色)。放置片刻后,由(you)(you)于(yu)(yu)裂紋(wen)很(hen)窄,毛(mao)(mao)細(xi)現(xian)象(xiang)作用(yong)顯(xian)著,原滲(shen)透(tou)(tou)(tou)到裂紋(wen)內的(de)(de)(de)滲(shen)透(tou)(tou)(tou)液(ye)(ye)將(jiang)上(shang)升(sheng)到表(biao)面(mian)(mian)并擴散,在白(bai)色的(de)(de)(de)襯(chen)底上(shang)顯(xian)出較(jiao)粗的(de)(de)(de)紅線,從(cong)而顯(xian)示(shi)出裂紋(wen)露于(yu)(yu)表(biao)面(mian)(mian)的(de)(de)(de)形(xing)(xing)狀,因(yin)此(ci),常(chang)稱為(wei)(wei)著色探(tan)傷。若滲(shen)透(tou)(tou)(tou)液(ye)(ye)采(cai)用(yong)的(de)(de)(de)是帶熒光(guang)的(de)(de)(de)液(ye)(ye)體(ti),由(you)(you)毛(mao)(mao)細(xi)現(xian)象(xiang)上(shang)升(sheng)到表(biao)面(mian)(mian)的(de)(de)(de)液(ye)(ye)體(ti),則會(hui)在紫外燈照射下發出熒光(guang),從(cong)而更能顯(xian)示(shi)出裂紋(wen)露于(yu)(yu)表(biao)面(mian)(mian)的(de)(de)(de)形(xing)(xing)狀,故常(chang)常(chang)又(you)將(jiang)此(ci)時的(de)(de)(de)滲(shen)透(tou)(tou)(tou)探(tan)傷直(zhi)接稱為(wei)(wei)熒光(guang)探(tan)傷。此(ci)探(tan)傷方(fang)法也可用(yong)于(yu)(yu)金(jin)屬(shu)和非金(jin)屬(shu)表(biao)面(mian)(mian)探(tan)傷。其使用(yong)的(de)(de)(de)探(tan)傷液(ye)(ye)劑有(you)較(jiao)大氣味,常(chang)有(you)一(yi)定毒性。
探傷儀除以(yi)上五大常規方(fang)法外,近年來又有了(le)紅(hong)外、聲發(fa)射(she)等一些新的(de)探傷(shang)方(fang)法。