一、探傷儀是干什么用的
探(tan)傷(shang)(shang)儀是(shi)一種探(tan)測機器(qi)缺(que)陷的的工程器(qi)械,它的主要用途(tu)是(shi)探(tan)測機器(qi)加工件(jian)內部是(shi)否有缺(que)陷,如裂紋、砂眼、氣(qi)孔、白點、夾雜等,檢查焊(han)縫是(shi)否合(he)格,查找有無暗傷(shang)(shang),進而(er)判定工件(jian)合(he)格與否。
探傷儀(yi)的(de)應用(yong)十分廣(guang)泛,目前探傷儀(yi)主要用(yong)在工業(ye)和醫療上,工業(ye)上用(yong)于(yu)檢(jian)測(ce)金屬材料(liao)中是(shi)否有傷痕(hen)、氣泡(pao)、裂縫等,醫學上用(yong)于(yu)檢(jian)測(ce)人體的(de)軟(ruan)組織、血(xue)流等是(shi)否正常(chang)。
二、探傷儀的原理是什么
探(tan)傷儀(yi)檢測通(tong)常(chang)是(shi)(shi)對被測物體(比(bi)如工業材料、人(ren)體)發射(she)超聲,然后(hou)利(li)用(yong)(yong)其反射(she)、多(duo)(duo)普勒(le)效應(ying)、透(tou)射(she)等(deng)來(lai)獲取(qu)被測物體內(nei)部的(de)(de)(de)信息并經過處(chu)理形成圖(tu)像。探(tan)傷儀(yi)其中多(duo)(duo)普勒(le)效應(ying)法是(shi)(shi)利(li)用(yong)(yong)超聲在遇到運(yun)動的(de)(de)(de)物體時(shi)發生的(de)(de)(de)多(duo)(duo)普勒(le)頻移(yi)效應(ying)來(lai)得出(chu)該物體的(de)(de)(de)運(yun)動方向和速度等(deng)特性;透(tou)射(she)法則是(shi)(shi)通(tong)過分析(xi)超聲穿透(tou)過被測物體之后(hou)的(de)(de)(de)變化而(er)得出(chu)物體的(de)(de)(de)內(nei)部特性的(de)(de)(de),其應(ying)用(yong)(yong)還處(chu)于研(yan)制階段。
三、探傷儀怎么使用
探(tan)(tan)傷(shang)儀(yi)五大常規方法(fa)(fa)(fa)是指射(she)線探(tan)(tan)傷(shang)法(fa)(fa)(fa)、超(chao)聲波探(tan)(tan)傷(shang)法(fa)(fa)(fa)、磁粉(fen)探(tan)(tan)傷(shang)法(fa)(fa)(fa)、渦流(liu)探(tan)(tan)傷(shang)法(fa)(fa)(fa)和(he)滲透探(tan)(tan)傷(shang)法(fa)(fa)(fa)。
1、射線探傷方法
射(she)(she)(she)(she)(she)(she)線(xian)(xian)(xian)(xian)探(tan)(tan)傷(shang)是(shi)利用(yong)(yong)(yong)(yong)射(she)(she)(she)(she)(she)(she)線(xian)(xian)(xian)(xian)的(de)(de)(de)穿透(tou)性和(he)直(zhi)(zhi)線(xian)(xian)(xian)(xian)性來探(tan)(tan)傷(shang)的(de)(de)(de)方法。這些(xie)射(she)(she)(she)(she)(she)(she)線(xian)(xian)(xian)(xian)雖然不(bu)(bu)會像可(ke)見(jian)光(guang)那樣(yang)憑肉(rou)眼就能(neng)直(zhi)(zhi)接(jie)(jie)察(cha)知,但它可(ke)使照(zhao)(zhao)相(xiang)(xiang)底片(pian)(pian)感(gan)光(guang),也(ye)可(ke)用(yong)(yong)(yong)(yong)特殊的(de)(de)(de)接(jie)(jie)收(shou)(shou)器來接(jie)(jie)收(shou)(shou)。常用(yong)(yong)(yong)(yong)于(yu)探(tan)(tan)傷(shang)的(de)(de)(de)射(she)(she)(she)(she)(she)(she)線(xian)(xian)(xian)(xian)有(you)x光(guang)和(he)同(tong)(tong)位素(su)發出(chu)的(de)(de)(de)γ射(she)(she)(she)(she)(she)(she)線(xian)(xian)(xian)(xian),分別稱為x光(guang)探(tan)(tan)傷(shang)和(he)γ射(she)(she)(she)(she)(she)(she)線(xian)(xian)(xian)(xian)探(tan)(tan)傷(shang)。當這些(xie)射(she)(she)(she)(she)(she)(she)線(xian)(xian)(xian)(xian)穿過(guo)(照(zhao)(zhao)射(she)(she)(she)(she)(she)(she))物(wu)質(zhi)(zhi)時(shi),該物(wu)質(zhi)(zhi)的(de)(de)(de)密度(du)(du)越大(da),射(she)(she)(she)(she)(she)(she)線(xian)(xian)(xian)(xian)強度(du)(du)減弱得(de)越多,即(ji)射(she)(she)(she)(she)(she)(she)線(xian)(xian)(xian)(xian)能(neng)穿透(tou)過(guo)該物(wu)質(zhi)(zhi)的(de)(de)(de)強度(du)(du)就越小。此(ci)時(shi),若用(yong)(yong)(yong)(yong)照(zhao)(zhao)相(xiang)(xiang)底片(pian)(pian)接(jie)(jie)收(shou)(shou),則(ze)底片(pian)(pian)的(de)(de)(de)感(gan)光(guang)量就小;若用(yong)(yong)(yong)(yong)儀器來接(jie)(jie)收(shou)(shou),獲得(de)的(de)(de)(de)信號就弱。因此(ci),用(yong)(yong)(yong)(yong)射(she)(she)(she)(she)(she)(she)線(xian)(xian)(xian)(xian)來照(zhao)(zhao)射(she)(she)(she)(she)(she)(she)待探(tan)(tan)傷(shang)的(de)(de)(de)零部(bu)件時(shi),若其(qi)內部(bu)有(you)氣(qi)孔、夾渣等缺(que)陷(xian)(xian)(xian),射(she)(she)(she)(she)(she)(she)線(xian)(xian)(xian)(xian)穿過(guo)有(you)缺(que)陷(xian)(xian)(xian)的(de)(de)(de)路徑比沒有(you)缺(que)陷(xian)(xian)(xian)的(de)(de)(de)路徑所透(tou)過(guo)的(de)(de)(de)物(wu)質(zhi)(zhi)密度(du)(du)要小得(de)多,其(qi)強度(du)(du)就減弱得(de)少些(xie),即(ji)透(tou)過(guo)的(de)(de)(de)強度(du)(du)就大(da)些(xie),若用(yong)(yong)(yong)(yong)底片(pian)(pian)接(jie)(jie)收(shou)(shou),則(ze)感(gan)光(guang)量就大(da)些(xie),就可(ke)以(yi)(yi)從(cong)底片(pian)(pian)上反(fan)(fan)映出(chu)缺(que)陷(xian)(xian)(xian)垂直(zhi)(zhi)于(yu)射(she)(she)(she)(she)(she)(she)線(xian)(xian)(xian)(xian)方向的(de)(de)(de)平(ping)面投(tou)(tou)影;若用(yong)(yong)(yong)(yong)其(qi)它接(jie)(jie)收(shou)(shou)器也(ye)同(tong)(tong)樣(yang)可(ke)以(yi)(yi)用(yong)(yong)(yong)(yong)儀表來反(fan)(fan)映缺(que)陷(xian)(xian)(xian)垂直(zhi)(zhi)于(yu)射(she)(she)(she)(she)(she)(she)線(xian)(xian)(xian)(xian)方向的(de)(de)(de)平(ping)面投(tou)(tou)影和(he)射(she)(she)(she)(she)(she)(she)線(xian)(xian)(xian)(xian)的(de)(de)(de)透(tou)過(guo)量。由此(ci)可(ke)見(jian),一般情況下,射(she)(she)(she)(she)(she)(she)線(xian)(xian)(xian)(xian)探(tan)(tan)傷(shang)是(shi)不(bu)(bu)易(yi)發現(xian)裂(lie)紋的(de)(de)(de),或者(zhe)說,射(she)(she)(she)(she)(she)(she)線(xian)(xian)(xian)(xian)探(tan)(tan)傷(shang)對裂(lie)紋是(shi)不(bu)(bu)敏(min)感(gan)的(de)(de)(de)。因此(ci),射(she)(she)(she)(she)(she)(she)線(xian)(xian)(xian)(xian)探(tan)(tan)傷(shang)對氣(qi)孔、夾渣、未焊透(tou)等體積型缺(que)陷(xian)(xian)(xian)最敏(min)感(gan)。即(ji)射(she)(she)(she)(she)(she)(she)線(xian)(xian)(xian)(xian)探(tan)(tan)傷(shang)適宜用(yong)(yong)(yong)(yong)于(yu)體積型缺(que)陷(xian)(xian)(xian)探(tan)(tan)傷(shang),而不(bu)(bu)適宜面積型缺(que)陷(xian)(xian)(xian)探(tan)(tan)傷(shang)。
2、超聲波探傷方法
人(ren)們(men)的(de)(de)(de)耳朵能直接(jie)接(jie)收到(dao)(dao)的(de)(de)(de)聲(sheng)(sheng)波(bo)(bo)(bo)(bo)的(de)(de)(de)頻(pin)率(lv)(lv)范圍(wei)通常(chang)是20Hz到(dao)(dao)20kHz,即音(聲(sheng)(sheng))頻(pin)。頻(pin)率(lv)(lv)低于(yu)(yu)(yu)20Hz的(de)(de)(de)稱(cheng)為次聲(sheng)(sheng)波(bo)(bo)(bo)(bo),高(gao)于(yu)(yu)(yu)20 kHz的(de)(de)(de)稱(cheng)為超(chao)(chao)聲(sheng)(sheng)波(bo)(bo)(bo)(bo)。工業上常(chang)用(yong)數兆赫(he)茲超(chao)(chao)聲(sheng)(sheng)波(bo)(bo)(bo)(bo)來(lai)探(tan)(tan)(tan)(tan)傷。超(chao)(chao)聲(sheng)(sheng)波(bo)(bo)(bo)(bo)頻(pin)率(lv)(lv)高(gao),則傳播的(de)(de)(de)直線性強,又易(yi)于(yu)(yu)(yu)在固體中(zhong)傳播,并且(qie)遇到(dao)(dao)兩種不同介質形(xing)成的(de)(de)(de)界(jie)面(mian)時(shi)易(yi)于(yu)(yu)(yu)反(fan)射(she)(she),這樣就(jiu)可(ke)以用(yong)它(ta)來(lai)探(tan)(tan)(tan)(tan)傷。通常(chang)用(yong)超(chao)(chao)聲(sheng)(sheng)波(bo)(bo)(bo)(bo)探(tan)(tan)(tan)(tan)頭(tou)與待探(tan)(tan)(tan)(tan)工件(jian)表面(mian)良好(hao)的(de)(de)(de)接(jie)觸(chu),探(tan)(tan)(tan)(tan)頭(tou)則可(ke)有效(xiao)地向工件(jian)發射(she)(she)超(chao)(chao)聲(sheng)(sheng)波(bo)(bo)(bo)(bo),并能接(jie)收(缺(que)陷(xian)(xian))界(jie)面(mian)反(fan)射(she)(she)來(lai)的(de)(de)(de)超(chao)(chao)聲(sheng)(sheng)波(bo)(bo)(bo)(bo),同時(shi)轉換(huan)成電信號,再傳輸(shu)給儀器進行處理。根(gen)據(ju)超(chao)(chao)聲(sheng)(sheng)波(bo)(bo)(bo)(bo)在介質中(zhong)傳播的(de)(de)(de)速度(du)(常(chang)稱(cheng)聲(sheng)(sheng)速)和傳播的(de)(de)(de)時(shi)間,就(jiu)可(ke)知道缺(que)陷(xian)(xian)的(de)(de)(de)位置(zhi)。當缺(que)陷(xian)(xian)越(yue)大,反(fan)射(she)(she)面(mian)則越(yue)大,其(qi)反(fan)射(she)(she)的(de)(de)(de)能量也就(jiu)越(yue)大,故可(ke)根(gen)據(ju)反(fan)射(she)(she)能量的(de)(de)(de)大小來(lai)查知各缺(que)陷(xian)(xian)(當量)的(de)(de)(de)大小。常(chang)用(yong)的(de)(de)(de)探(tan)(tan)(tan)(tan)傷波(bo)(bo)(bo)(bo)形(xing)有縱波(bo)(bo)(bo)(bo)、橫波(bo)(bo)(bo)(bo)、表面(mian)波(bo)(bo)(bo)(bo)等,前二者適用(yong)于(yu)(yu)(yu)探(tan)(tan)(tan)(tan)測內部缺(que)陷(xian)(xian),后者適宜于(yu)(yu)(yu)探(tan)(tan)(tan)(tan)測表面(mian)缺(que)陷(xian)(xian),但對(dui)表面(mian)的(de)(de)(de)條件(jian)要求高(gao)。
3、磁粉探傷方法
磁(ci)(ci)(ci)(ci)粉探(tan)(tan)(tan)傷(shang)(shang)是建立在(zai)漏(lou)磁(ci)(ci)(ci)(ci)原理基(ji)礎上的(de)(de)一(yi)種磁(ci)(ci)(ci)(ci)力探(tan)(tan)(tan)傷(shang)(shang)方法。當磁(ci)(ci)(ci)(ci)力線(xian)穿過鐵(tie)磁(ci)(ci)(ci)(ci)材料及其制品(pin)時(shi),在(zai)其(磁(ci)(ci)(ci)(ci)性)不連續處將產(chan)生漏(lou)磁(ci)(ci)(ci)(ci)場,形成磁(ci)(ci)(ci)(ci)極(ji)(ji)。此時(shi)撒上干磁(ci)(ci)(ci)(ci)粉或(huo)澆上磁(ci)(ci)(ci)(ci)懸液(ye),磁(ci)(ci)(ci)(ci)極(ji)(ji)就(jiu)會吸附(fu)磁(ci)(ci)(ci)(ci)粉,產(chan)生用肉眼能直(zhi)接觀(guan)(guan)察的(de)(de)明顯(xian)磁(ci)(ci)(ci)(ci)痕。因(yin)此,可(ke)(ke)借助于該(gai)磁(ci)(ci)(ci)(ci)痕來顯(xian)示鐵(tie)磁(ci)(ci)(ci)(ci)材料及其制品(pin)的(de)(de)缺(que)(que)陷情(qing)況。磁(ci)(ci)(ci)(ci)粉探(tan)(tan)(tan)傷(shang)(shang)法可(ke)(ke)探(tan)(tan)(tan)測露出(chu)表面,用肉眼或(huo)借助于放大鏡(jing)也(ye)不能直(zhi)接觀(guan)(guan)察到的(de)(de)微小(xiao)缺(que)(que)陷,也(ye)可(ke)(ke)探(tan)(tan)(tan)測未露出(chu)表面,而是埋藏在(zai)表面下幾毫米的(de)(de)近表面缺(que)(que)陷。用這(zhe)種方法雖然也(ye)能探(tan)(tan)(tan)查(cha)氣(qi)孔(kong)、夾雜、未焊透等體積型(xing)缺(que)(que)陷,但對面積型(xing)缺(que)(que)陷更靈敏,更適于檢查(cha)因(yin)淬火、軋(ya)制、鍛(duan)造(zao)、鑄造(zao)、焊接、電鍍(du)、磨削(xue)、疲(pi)勞等引起的(de)(de)裂(lie)紋。
磁(ci)(ci)(ci)(ci)力(li)(li)探傷(shang)(shang)中對缺陷的(de)顯示(shi)方法有多種,有用(yong)(yong)磁(ci)(ci)(ci)(ci)粉(fen)顯示(shi)的(de),也有不用(yong)(yong)磁(ci)(ci)(ci)(ci)粉(fen)顯示(shi)的(de)。用(yong)(yong)磁(ci)(ci)(ci)(ci)粉(fen)顯示(shi)的(de)稱(cheng)(cheng)為磁(ci)(ci)(ci)(ci)粉(fen)探傷(shang)(shang),因它顯示(shi)直觀(guan)、操(cao)作簡單、人們樂于(yu)使用(yong)(yong),故它是最常(chang)用(yong)(yong)的(de)方法之一。不用(yong)(yong)磁(ci)(ci)(ci)(ci)粉(fen)顯示(shi)的(de),習慣上(shang)稱(cheng)(cheng)為漏磁(ci)(ci)(ci)(ci)探傷(shang)(shang),它常(chang)借助于(yu)感應線圈、磁(ci)(ci)(ci)(ci)敏管、霍爾(er)元件等來(lai)反映(ying)缺陷,它比(bi)磁(ci)(ci)(ci)(ci)粉(fen)探傷(shang)(shang)更衛生(sheng),但不如前(qian)者直觀(guan)。由于(yu)磁(ci)(ci)(ci)(ci)力(li)(li)探傷(shang)(shang)主(zhu)要用(yong)(yong)磁(ci)(ci)(ci)(ci)粉(fen)來(lai)顯示(shi)缺陷,因此,人們有時把磁(ci)(ci)(ci)(ci)粉(fen)探傷(shang)(shang)直接稱(cheng)(cheng)為磁(ci)(ci)(ci)(ci)力(li)(li)探傷(shang)(shang),其設備稱(cheng)(cheng)為磁(ci)(ci)(ci)(ci)力(li)(li)探傷(shang)(shang)設備。
4、渦流探傷方法
渦流探(tan)傷(shang)是(shi)由交(jiao)流電(dian)流產(chan)(chan)生(sheng)的(de)(de)交(jiao)變磁(ci)場作用(yong)于待探(tan)傷(shang)的(de)(de)導電(dian)材料(liao),感應(ying)出(chu)電(dian)渦流。如果材料(liao)中有(you)缺陷,它將干(gan)擾所產(chan)(chan)生(sheng)的(de)(de)電(dian)渦流,即(ji)形成干(gan)擾信號(hao)。用(yong)渦流探(tan)傷(shang)儀檢測(ce)出(chu)其(qi)干(gan)擾信號(hao),就可(ke)(ke)知道缺陷的(de)(de)狀況。影響渦流的(de)(de)因素很多,即(ji)是(shi)說渦流中載(zai)有(you)豐(feng)富的(de)(de)信號(hao),這(zhe)些信號(hao)與材料(liao)的(de)(de)很多因素有(you)關,如何將其(qi)中有(you)用(yong)的(de)(de)信號(hao)從諸多的(de)(de)信號(hao)中一(yi)一(yi)分離(li)出(chu)來,是(shi)渦流研究工作者的(de)(de)難題(ti),多年來已(yi)經取(qu)得了一(yi)些進展,在一(yi)定條件(jian)下可(ke)(ke)解決一(yi)些問題(ti),但(dan)還遠不(bu)能滿(man)足現場的(de)(de)要求,有(you)待于大力發(fa)展。
渦流(liu)探(tan)(tan)(tan)傷的(de)顯著(zhu)特點(dian)是對導電材料(liao)就能(neng)起作用(yong),而不一定是鐵(tie)磁(ci)材料(liao),但對鐵(tie)磁(ci)材料(liao)的(de)效果較差。其次,待探(tan)(tan)(tan)工(gong)件表面(mian)的(de)光(guang)(guang)潔度(du)、平(ping)整(zheng)度(du)、邊介等(deng)對渦流(liu)探(tan)(tan)(tan)傷都有較大影響(xiang),因此常將渦流(liu)探(tan)(tan)(tan)傷用(yong)于形狀較規則、表面(mian)較光(guang)(guang)潔的(de)銅管等(deng)非鐵(tie)磁(ci)性工(gong)件探(tan)(tan)(tan)傷。
5、滲透探傷方法
滲(shen)透(tou)探(tan)傷(shang)(shang)是利用(yong)(yong)毛(mao)細(xi)現象(xiang)來進行(xing)探(tan)傷(shang)(shang)的(de)方(fang)法。對于(yu)(yu)表(biao)面(mian)光(guang)(guang)(guang)(guang)滑而(er)清潔的(de)零部件(jian),用(yong)(yong)一種帶(dai)色(常為(wei)紅色)或帶(dai)有(you)(you)熒(ying)光(guang)(guang)(guang)(guang)的(de)、滲(shen)透(tou)性很(hen)強(qiang)的(de)液體(ti)(ti),涂(tu)覆于(yu)(yu)待探(tan)零部件(jian)的(de)表(biao)面(mian)。若(ruo)表(biao)面(mian)有(you)(you)肉(rou)眼不能(neng)直(zhi)接察知的(de)微裂(lie)(lie)(lie)紋(wen)(wen),由于(yu)(yu)該液體(ti)(ti)的(de)滲(shen)透(tou)性很(hen)強(qiang),它將沿(yan)著裂(lie)(lie)(lie)紋(wen)(wen)滲(shen)透(tou)到(dao)其根部。然(ran)后將表(biao)面(mian)的(de)滲(shen)透(tou)液洗去,再涂(tu)上(shang)對比度(du)較大的(de)顯(xian)(xian)(xian)示(shi)(shi)液(常為(wei)白(bai)色)。放(fang)置片刻后,由于(yu)(yu)裂(lie)(lie)(lie)紋(wen)(wen)很(hen)窄,毛(mao)細(xi)現象(xiang)作(zuo)用(yong)(yong)顯(xian)(xian)(xian)著,原滲(shen)透(tou)到(dao)裂(lie)(lie)(lie)紋(wen)(wen)內(nei)的(de)滲(shen)透(tou)液將上(shang)升到(dao)表(biao)面(mian)并擴散,在(zai)白(bai)色的(de)襯底上(shang)顯(xian)(xian)(xian)出較粗的(de)紅線,從(cong)而(er)顯(xian)(xian)(xian)示(shi)(shi)出裂(lie)(lie)(lie)紋(wen)(wen)露于(yu)(yu)表(biao)面(mian)的(de)形狀,因此,常稱為(wei)著色探(tan)傷(shang)(shang)。若(ruo)滲(shen)透(tou)液采(cai)用(yong)(yong)的(de)是帶(dai)熒(ying)光(guang)(guang)(guang)(guang)的(de)液體(ti)(ti),由毛(mao)細(xi)現象(xiang)上(shang)升到(dao)表(biao)面(mian)的(de)液體(ti)(ti),則會在(zai)紫(zi)外燈(deng)照射(she)下發出熒(ying)光(guang)(guang)(guang)(guang),從(cong)而(er)更能(neng)顯(xian)(xian)(xian)示(shi)(shi)出裂(lie)(lie)(lie)紋(wen)(wen)露于(yu)(yu)表(biao)面(mian)的(de)形狀,故常常又將此時的(de)滲(shen)透(tou)探(tan)傷(shang)(shang)直(zhi)接稱為(wei)熒(ying)光(guang)(guang)(guang)(guang)探(tan)傷(shang)(shang)。此探(tan)傷(shang)(shang)方(fang)法也可用(yong)(yong)于(yu)(yu)金屬和非金屬表(biao)面(mian)探(tan)傷(shang)(shang)。其使用(yong)(yong)的(de)探(tan)傷(shang)(shang)液劑有(you)(you)較大氣(qi)味(wei),常有(you)(you)一定毒性。
探傷儀除(chu)以上五大常規方法外,近(jin)年(nian)來又(you)有(you)了紅外、聲(sheng)發射(she)等(deng)一些新的探傷方法。