芒果视频下载

一、探傷儀是干什么用的

探傷(shang)儀是(shi)一種探測機器(qi)缺(que)陷的(de)的(de)工(gong)程器(qi)械，它的(de)主(zhu)要用途是(shi)探測機器(qi)加工(gong)件內部是(shi)否有缺(que)陷，如裂(lie)紋(wen)、砂眼、氣(qi)孔、白點、夾雜等(deng)，檢查(cha)焊縫(feng)是(shi)否合格，查(cha)找(zhao)有無暗傷(shang)，進而判(pan)定工(gong)件合格與否。

探傷儀的(de)應用十分(fen)廣(guang)泛，目前探傷儀主要用在工業(ye)和醫療上(shang)，工業(ye)上(shang)用于(yu)檢(jian)測金屬材(cai)料中(zhong)是(shi)否有傷痕、氣泡、裂縫等(deng)，醫學上(shang)用于(yu)檢(jian)測人體的(de)軟(ruan)組織、血(xue)流(liu)等(deng)是(shi)否正常。

二、探傷儀的原理是什么

探傷(shang)(shang)儀檢測通(tong)(tong)常是對被(bei)測物(wu)(wu)體(ti)(ti)（比如工業材料(liao)、人體(ti)(ti)）發射(she)超聲(sheng)，然后(hou)利用其反射(she)、多普勒(le)效應(ying)(ying)、透(tou)射(she)等來獲取被(bei)測物(wu)(wu)體(ti)(ti)內部(bu)的信息(xi)并經過處理形(xing)成圖像(xiang)。探傷(shang)(shang)儀其中多普勒(le)效應(ying)(ying)法(fa)是利用超聲(sheng)在遇到運動的物(wu)(wu)體(ti)(ti)時發生的多普勒(le)頻移(yi)效應(ying)(ying)來得(de)出該物(wu)(wu)體(ti)(ti)的運動方向和速度等特(te)性(xing)；透(tou)射(she)法(fa)則(ze)是通(tong)(tong)過分(fen)析超聲(sheng)穿透(tou)過被(bei)測物(wu)(wu)體(ti)(ti)之(zhi)后(hou)的變(bian)化而得(de)出物(wu)(wu)體(ti)(ti)的內部(bu)特(te)性(xing)的，其應(ying)(ying)用還處于研制階段。

三、探傷儀怎么使用

探(tan)(tan)(tan)傷(shang)(shang)儀五(wu)大常規方(fang)法(fa)是指射(she)線探(tan)(tan)(tan)傷(shang)(shang)法(fa)、超聲波(bo)探(tan)(tan)(tan)傷(shang)(shang)法(fa)、磁粉探(tan)(tan)(tan)傷(shang)(shang)法(fa)、渦流探(tan)(tan)(tan)傷(shang)(shang)法(fa)和滲透(tou)探(tan)(tan)(tan)傷(shang)(shang)法(fa)。

1、射線探傷方法

射線(xian)(xian)探(tan)(tan)(tan)傷(shang)是(shi)利用(yong)(yong)射線(xian)(xian)的(de)(de)(de)(de)穿(chuan)(chuan)透(tou)(tou)(tou)性和直(zhi)線(xian)(xian)性來(lai)探(tan)(tan)(tan)傷(shang)的(de)(de)(de)(de)方法(fa)。這些(xie)(xie)射線(xian)(xian)雖然不(bu)(bu)會像可(ke)(ke)(ke)見光那樣憑肉眼就(jiu)能(neng)直(zhi)接(jie)察知(zhi)，但它可(ke)(ke)(ke)使(shi)照相(xiang)底(di)片感光，也可(ke)(ke)(ke)用(yong)(yong)特殊的(de)(de)(de)(de)接(jie)收器來(lai)接(jie)收。常用(yong)(yong)于探(tan)(tan)(tan)傷(shang)的(de)(de)(de)(de)射線(xian)(xian)有(you)x光和同(tong)位(wei)素發(fa)出的(de)(de)(de)(de)γ射線(xian)(xian)，分別(bie)稱(cheng)為x光探(tan)(tan)(tan)傷(shang)和γ射線(xian)(xian)探(tan)(tan)(tan)傷(shang)。當這些(xie)(xie)射線(xian)(xian)穿(chuan)(chuan)過(guo)(guo)(guo)（照射）物質時，該物質的(de)(de)(de)(de)密度(du)(du)越(yue)大，射線(xian)(xian)強(qiang)度(du)(du)減弱得(de)越(yue)多(duo)，即射線(xian)(xian)能(neng)穿(chuan)(chuan)透(tou)(tou)(tou)過(guo)(guo)(guo)該物質的(de)(de)(de)(de)強(qiang)度(du)(du)就(jiu)越(yue)小。此(ci)時，若(ruo)用(yong)(yong)照相(xiang)底(di)片接(jie)收，則(ze)底(di)片的(de)(de)(de)(de)感光量(liang)(liang)就(jiu)小；若(ruo)用(yong)(yong)儀器來(lai)接(jie)收，獲(huo)得(de)的(de)(de)(de)(de)信號就(jiu)弱。因此(ci)，用(yong)(yong)射線(xian)(xian)來(lai)照射待探(tan)(tan)(tan)傷(shang)的(de)(de)(de)(de)零部件時，若(ruo)其內部有(you)氣孔(kong)、夾渣等缺(que)(que)陷(xian)(xian)，射線(xian)(xian)穿(chuan)(chuan)過(guo)(guo)(guo)有(you)缺(que)(que)陷(xian)(xian)的(de)(de)(de)(de)路徑比沒有(you)缺(que)(que)陷(xian)(xian)的(de)(de)(de)(de)路徑所透(tou)(tou)(tou)過(guo)(guo)(guo)的(de)(de)(de)(de)物質密度(du)(du)要(yao)小得(de)多(duo)，其強(qiang)度(du)(du)就(jiu)減弱得(de)少些(xie)(xie)，即透(tou)(tou)(tou)過(guo)(guo)(guo)的(de)(de)(de)(de)強(qiang)度(du)(du)就(jiu)大些(xie)(xie)，若(ruo)用(yong)(yong)底(di)片接(jie)收，則(ze)感光量(liang)(liang)就(jiu)大些(xie)(xie)，就(jiu)可(ke)(ke)(ke)以從(cong)底(di)片上反(fan)映出缺(que)(que)陷(xian)(xian)垂(chui)直(zhi)于射線(xian)(xian)方向的(de)(de)(de)(de)平(ping)面投(tou)影；若(ruo)用(yong)(yong)其它接(jie)收器也同(tong)樣可(ke)(ke)(ke)以用(yong)(yong)儀表(biao)來(lai)反(fan)映缺(que)(que)陷(xian)(xian)垂(chui)直(zhi)于射線(xian)(xian)方向的(de)(de)(de)(de)平(ping)面投(tou)影和射線(xian)(xian)的(de)(de)(de)(de)透(tou)(tou)(tou)過(guo)(guo)(guo)量(liang)(liang)。由此(ci)可(ke)(ke)(ke)見，一般情況下，射線(xian)(xian)探(tan)(tan)(tan)傷(shang)是(shi)不(bu)(bu)易(yi)發(fa)現(xian)裂紋(wen)的(de)(de)(de)(de)，或者說(shuo)，射線(xian)(xian)探(tan)(tan)(tan)傷(shang)對(dui)裂紋(wen)是(shi)不(bu)(bu)敏(min)感的(de)(de)(de)(de)。因此(ci)，射線(xian)(xian)探(tan)(tan)(tan)傷(shang)對(dui)氣孔(kong)、夾渣、未焊透(tou)(tou)(tou)等體(ti)積(ji)型(xing)缺(que)(que)陷(xian)(xian)最敏(min)感。即射線(xian)(xian)探(tan)(tan)(tan)傷(shang)適宜用(yong)(yong)于體(ti)積(ji)型(xing)缺(que)(que)陷(xian)(xian)探(tan)(tan)(tan)傷(shang)，而(er)不(bu)(bu)適宜面積(ji)型(xing)缺(que)(que)陷(xian)(xian)探(tan)(tan)(tan)傷(shang)。

2、超聲波探傷方法

人們的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)耳朵能(neng)(neng)直(zhi)接接收到(dao)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)聲(sheng)(sheng)(sheng)波(bo)(bo)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)頻(pin)率(lv)范(fan)圍(wei)通(tong)常(chang)是20Hz到(dao)20kHz，即(ji)音（聲(sheng)(sheng)(sheng)）頻(pin)。頻(pin)率(lv)低(di)于(yu)20Hz的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)稱為次聲(sheng)(sheng)(sheng)波(bo)(bo)，高于(yu)20 kHz的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)稱為超(chao)聲(sheng)(sheng)(sheng)波(bo)(bo)。工業上常(chang)用(yong)(yong)數兆(zhao)赫(he)茲(zi)超(chao)聲(sheng)(sheng)(sheng)波(bo)(bo)來(lai)探(tan)(tan)(tan)傷(shang)。超(chao)聲(sheng)(sheng)(sheng)波(bo)(bo)頻(pin)率(lv)高，則傳(chuan)(chuan)播(bo)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)直(zhi)線性強，又易于(yu)在固體(ti)中傳(chuan)(chuan)播(bo)，并且遇到(dao)兩種(zhong)不同介(jie)質形成的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)界(jie)面時易于(yu)反射(she)，這樣(yang)就(jiu)可以用(yong)(yong)它來(lai)探(tan)(tan)(tan)傷(shang)。通(tong)常(chang)用(yong)(yong)超(chao)聲(sheng)(sheng)(sheng)波(bo)(bo)探(tan)(tan)(tan)頭(tou)與待(dai)探(tan)(tan)(tan)工件(jian)表(biao)面良(liang)好的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)接觸，探(tan)(tan)(tan)頭(tou)則可有效地向工件(jian)發射(she)超(chao)聲(sheng)(sheng)(sheng)波(bo)(bo)，并能(neng)(neng)接收（缺(que)陷(xian)(xian)(xian)）界(jie)面反射(she)來(lai)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)超(chao)聲(sheng)(sheng)(sheng)波(bo)(bo)，同時轉換成電信號(hao)，再傳(chuan)(chuan)輸給儀器進行處(chu)理。根據(ju)(ju)超(chao)聲(sheng)(sheng)(sheng)波(bo)(bo)在介(jie)質中傳(chuan)(chuan)播(bo)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)速(su)度(du)（常(chang)稱聲(sheng)(sheng)(sheng)速(su)）和傳(chuan)(chuan)播(bo)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)時間，就(jiu)可知道缺(que)陷(xian)(xian)(xian)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)位(wei)置。當缺(que)陷(xian)(xian)(xian)越(yue)大(da)，反射(she)面則越(yue)大(da)，其反射(she)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)能(neng)(neng)量也就(jiu)越(yue)大(da)，故可根據(ju)(ju)反射(she)能(neng)(neng)量的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)大(da)小(xiao)來(lai)查(cha)知各缺(que)陷(xian)(xian)(xian)（當量）的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)大(da)小(xiao)。常(chang)用(yong)(yong)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)探(tan)(tan)(tan)傷(shang)波(bo)(bo)形有縱波(bo)(bo)、橫波(bo)(bo)、表(biao)面波(bo)(bo)等，前二者適用(yong)(yong)于(yu)探(tan)(tan)(tan)測(ce)內部缺(que)陷(xian)(xian)(xian)，后者適宜于(yu)探(tan)(tan)(tan)測(ce)表(biao)面缺(que)陷(xian)(xian)(xian)，但對表(biao)面的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)條件(jian)要求(qiu)高。

3、磁粉探傷方法

磁(ci)(ci)(ci)粉探(tan)傷是建立在(zai)漏磁(ci)(ci)(ci)原理基(ji)礎上的(de)(de)一(yi)種(zhong)(zhong)磁(ci)(ci)(ci)力探(tan)傷方法(fa)。當磁(ci)(ci)(ci)力線(xian)穿過(guo)鐵(tie)磁(ci)(ci)(ci)材料及其(qi)制品時，在(zai)其(qi)（磁(ci)(ci)(ci)性(xing)）不連續處將產生漏磁(ci)(ci)(ci)場，形成磁(ci)(ci)(ci)極。此(ci)時撒上干磁(ci)(ci)(ci)粉或澆上磁(ci)(ci)(ci)懸液，磁(ci)(ci)(ci)極就會吸附磁(ci)(ci)(ci)粉，產生用(yong)肉眼能(neng)直(zhi)接觀(guan)察的(de)(de)明(ming)顯(xian)磁(ci)(ci)(ci)痕。因此(ci)，可借助于該磁(ci)(ci)(ci)痕來顯(xian)示鐵(tie)磁(ci)(ci)(ci)材料及其(qi)制品的(de)(de)缺(que)陷情況。磁(ci)(ci)(ci)粉探(tan)傷法(fa)可探(tan)測露出表(biao)面，用(yong)肉眼或借助于放(fang)大鏡也(ye)不能(neng)直(zhi)接觀(guan)察到的(de)(de)微小缺(que)陷，也(ye)可探(tan)測未(wei)露出表(biao)面，而是埋(mai)藏(zang)在(zai)表(biao)面下幾毫(hao)米的(de)(de)近表(biao)面缺(que)陷。用(yong)這種(zhong)(zhong)方法(fa)雖然也(ye)能(neng)探(tan)查氣(qi)孔、夾雜、未(wei)焊透等體(ti)積型缺(que)陷，但對面積型缺(que)陷更(geng)靈(ling)敏，更(geng)適于檢查因淬火、軋制、鍛(duan)造(zao)、鑄(zhu)造(zao)、焊接、電鍍、磨削、疲(pi)勞等引起的(de)(de)裂紋。

磁(ci)力(li)探(tan)(tan)(tan)(tan)傷(shang)中對(dui)缺(que)陷(xian)的(de)顯(xian)示(shi)(shi)方法有(you)多種，有(you)用(yong)(yong)磁(ci)粉(fen)(fen)顯(xian)示(shi)(shi)的(de)，也(ye)有(you)不用(yong)(yong)磁(ci)粉(fen)(fen)顯(xian)示(shi)(shi)的(de)。用(yong)(yong)磁(ci)粉(fen)(fen)顯(xian)示(shi)(shi)的(de)稱(cheng)為(wei)(wei)(wei)磁(ci)粉(fen)(fen)探(tan)(tan)(tan)(tan)傷(shang)，因它(ta)顯(xian)示(shi)(shi)直觀、操作(zuo)簡單、人們樂于使(shi)用(yong)(yong)，故它(ta)是最(zui)常(chang)用(yong)(yong)的(de)方法之一。不用(yong)(yong)磁(ci)粉(fen)(fen)顯(xian)示(shi)(shi)的(de)，習慣上稱(cheng)為(wei)(wei)(wei)漏磁(ci)探(tan)(tan)(tan)(tan)傷(shang)，它(ta)常(chang)借助于感應線圈、磁(ci)敏管、霍爾(er)元件等來(lai)反(fan)映缺(que)陷(xian)，它(ta)比(bi)磁(ci)粉(fen)(fen)探(tan)(tan)(tan)(tan)傷(shang)更衛生，但不如前者直觀。由于磁(ci)力(li)探(tan)(tan)(tan)(tan)傷(shang)主要用(yong)(yong)磁(ci)粉(fen)(fen)來(lai)顯(xian)示(shi)(shi)缺(que)陷(xian)，因此(ci)，人們有(you)時把磁(ci)粉(fen)(fen)探(tan)(tan)(tan)(tan)傷(shang)直接稱(cheng)為(wei)(wei)(wei)磁(ci)力(li)探(tan)(tan)(tan)(tan)傷(shang)，其(qi)設(she)備(bei)稱(cheng)為(wei)(wei)(wei)磁(ci)力(li)探(tan)(tan)(tan)(tan)傷(shang)設(she)備(bei)。

4、渦流探傷方法

渦(wo)流(liu)探傷是(shi)(shi)由(you)交流(liu)電(dian)(dian)流(liu)產(chan)生的交變磁場(chang)作(zuo)(zuo)用(yong)于待探傷的導電(dian)(dian)材(cai)料(liao)，感(gan)應出電(dian)(dian)渦(wo)流(liu)。如(ru)果(guo)材(cai)料(liao)中(zhong)有缺陷，它將干擾所產(chan)生的電(dian)(dian)渦(wo)流(liu)，即(ji)形成干擾信號(hao)。用(yong)渦(wo)流(liu)探傷儀檢測出其(qi)干擾信號(hao)，就(jiu)可(ke)知道(dao)缺陷的狀況。影(ying)響渦(wo)流(liu)的因素很多(duo)，即(ji)是(shi)(shi)說渦(wo)流(liu)中(zhong)載有豐富的信號(hao)，這些(xie)信號(hao)與(yu)材(cai)料(liao)的很多(duo)因素有關，如(ru)何將其(qi)中(zhong)有用(yong)的信號(hao)從諸多(duo)的信號(hao)中(zhong)一(yi)一(yi)分離出來(lai)(lai)，是(shi)(shi)渦(wo)流(liu)研究工作(zuo)(zuo)者的難題，多(duo)年來(lai)(lai)已經取(qu)得(de)了一(yi)些(xie)進展，在(zai)一(yi)定(ding)條件下可(ke)解決(jue)一(yi)些(xie)問題，但(dan)還遠不能滿足現(xian)場(chang)的要(yao)求(qiu)，有待于大力發展。

渦流(liu)探(tan)(tan)傷的(de)顯(xian)著特點是對導電材料(liao)就能起作用，而不一定是鐵(tie)(tie)磁(ci)材料(liao)，但對鐵(tie)(tie)磁(ci)材料(liao)的(de)效果(guo)較(jiao)(jiao)差。其(qi)次，待(dai)探(tan)(tan)工(gong)件(jian)表(biao)面的(de)光潔度、平整度、邊(bian)介等(deng)對渦流(liu)探(tan)(tan)傷都有(you)較(jiao)(jiao)大影響，因(yin)此(ci)常將渦流(liu)探(tan)(tan)傷用于形狀較(jiao)(jiao)規(gui)則、表(biao)面較(jiao)(jiao)光潔的(de)銅(tong)管等(deng)非鐵(tie)(tie)磁(ci)性工(gong)件(jian)探(tan)(tan)傷。

5、滲透探傷方法

滲透(tou)(tou)探(tan)傷(shang)是利(li)用毛細(xi)現象(xiang)來進行探(tan)傷(shang)的(de)(de)(de)(de)(de)方法(fa)。對于表面(mian)(mian)(mian)光(guang)滑而(er)清(qing)潔(jie)的(de)(de)(de)(de)(de)零(ling)部(bu)件，用一(yi)(yi)種帶色（常為紅色）或帶有熒(ying)(ying)光(guang)的(de)(de)(de)(de)(de)、滲透(tou)(tou)性(xing)很強的(de)(de)(de)(de)(de)液(ye)體(ti)，涂覆于待探(tan)零(ling)部(bu)件的(de)(de)(de)(de)(de)表面(mian)(mian)(mian)。若(ruo)表面(mian)(mian)(mian)有肉眼(yan)不(bu)能直接察知(zhi)的(de)(de)(de)(de)(de)微裂(lie)紋(wen)，由于該(gai)液(ye)體(ti)的(de)(de)(de)(de)(de)滲透(tou)(tou)性(xing)很強，它將(jiang)(jiang)沿著裂(lie)紋(wen)滲透(tou)(tou)到其根部(bu)。然后將(jiang)(jiang)表面(mian)(mian)(mian)的(de)(de)(de)(de)(de)滲透(tou)(tou)液(ye)洗去，再涂上對比度較(jiao)大(da)的(de)(de)(de)(de)(de)顯(xian)(xian)(xian)(xian)示液(ye)（常為白色）。放置片刻(ke)后，由于裂(lie)紋(wen)很窄，毛細(xi)現象(xiang)作用顯(xian)(xian)(xian)(xian)著，原滲透(tou)(tou)到裂(lie)紋(wen)內的(de)(de)(de)(de)(de)滲透(tou)(tou)液(ye)將(jiang)(jiang)上升(sheng)到表面(mian)(mian)(mian)并擴散(san)，在白色的(de)(de)(de)(de)(de)襯底上顯(xian)(xian)(xian)(xian)出(chu)較(jiao)粗的(de)(de)(de)(de)(de)紅線，從而(er)顯(xian)(xian)(xian)(xian)示出(chu)裂(lie)紋(wen)露(lu)于表面(mian)(mian)(mian)的(de)(de)(de)(de)(de)形狀，因此，常稱(cheng)為著色探(tan)傷(shang)。若(ruo)滲透(tou)(tou)液(ye)采用的(de)(de)(de)(de)(de)是帶熒(ying)(ying)光(guang)的(de)(de)(de)(de)(de)液(ye)體(ti)，由毛細(xi)現象(xiang)上升(sheng)到表面(mian)(mian)(mian)的(de)(de)(de)(de)(de)液(ye)體(ti)，則會在紫外燈照射下發出(chu)熒(ying)(ying)光(guang)，從而(er)更能顯(xian)(xian)(xian)(xian)示出(chu)裂(lie)紋(wen)露(lu)于表面(mian)(mian)(mian)的(de)(de)(de)(de)(de)形狀，故常常又將(jiang)(jiang)此時(shi)的(de)(de)(de)(de)(de)滲透(tou)(tou)探(tan)傷(shang)直接稱(cheng)為熒(ying)(ying)光(guang)探(tan)傷(shang)。此探(tan)傷(shang)方法(fa)也可(ke)用于金屬和非金屬表面(mian)(mian)(mian)探(tan)傷(shang)。其使用的(de)(de)(de)(de)(de)探(tan)傷(shang)液(ye)劑有較(jiao)大(da)氣(qi)味，常有一(yi)(yi)定毒性(xing)。

探傷儀除以上五大(da)常規方(fang)法外，近年來又(you)有了紅(hong)外、聲發射等一些新的探(tan)傷方(fang)法。