電路板檢測方法有哪些
1、針床測試法
這種方法由帶有彈簧的探針連接到電路板上(shang)的(de)(de)(de)(de)每一個(ge)檢測(ce)點(dian)。彈簧使每個(ge)探針(zhen)(zhen)具(ju)有100-200g的(de)(de)(de)(de)壓力,以保(bao)證每個(ge)檢測(ce)點(dian)接(jie)觸良好(hao),這樣的(de)(de)(de)(de)探針(zhen)(zhen)排(pai)列(lie)在(zai)一起被稱(cheng)為(wei)"針(zhen)(zhen)床"。在(zai)檢測(ce)軟件(jian)的(de)(de)(de)(de)控制下(xia),可以對檢測(ce)點(dian)和檢測(ce)信(xin)號進行(xing)編(bian)程。實際(ji)上(shang)只(zhi)有那些需要測(ce)試(shi)(shi)的(de)(de)(de)(de)測(ce)試(shi)(shi)點(dian)的(de)(de)(de)(de)探針(zhen)(zhen)是(shi)(shi)安裝了的(de)(de)(de)(de)。盡管使用針(zhen)(zhen)床測(ce)試(shi)(shi)法可能(neng)同(tong)時(shi)(shi)在(zai)電路(lu)板的(de)(de)(de)(de)兩面進行(xing)檢測(ce),當(dang)設計電路(lu)板時(shi)(shi),還(huan)是(shi)(shi)應(ying)該使所有的(de)(de)(de)(de)檢測(ce)點(dian)在(zai)電路(lu)板的(de)(de)(de)(de)焊接(jie)面。針(zhen)(zhen)床測(ce)試(shi)(shi)儀設備昂貴,且很(hen)難維修。針(zhen)(zhen)頭(tou)依據其具(ju)體(ti)應(ying)用選不同(tong)排(pai)列(lie)的(de)(de)(de)(de)探針(zhen)(zhen)。
一(yi)種基(ji)本(ben)的通用柵格(ge)處(chu)理器(qi)由(you)一(yi)個鉆孔的板(ban)(ban)子構成(cheng),其上(shang)(shang)插針(zhen)(zhen)的中心間距為100、75或50mil。插針(zhen)(zhen)起(qi)探(tan)針(zhen)(zhen)的作用,并利用電(dian)(dian)路板(ban)(ban)上(shang)(shang)的電(dian)(dian)連(lian)接(jie)器(qi)或節點進(jin)行直接(jie)的機械連(lian)接(jie)。如果電(dian)(dian)路板(ban)(ban)上(shang)(shang)的焊盤與測試柵格(ge)相配(pei),那么按照(zhao)規范打(da)孔的聚醋薄膜就會被(bei)放置在柵格(ge)和電(dian)(dian)路板(ban)(ban)之間,以便于設計特定(ding)(ding)的探(tan)測。連(lian)續性(xing)檢測是通過訪問網格(ge)的末端點(已(yi)被(bei)定(ding)(ding)義為焊盤的x-y坐標(biao))實現的。既然電(dian)(dian)路板(ban)(ban)上(shang)(shang)的每一(yi)個網絡都進(jin)行連(lian)續性(xing)檢測。這樣,一(yi)個獨(du)立(li)的檢測就完成(cheng)了(le)。然而,探(tan)針(zhen)(zhen)的接(jie)近(jin)程度限(xian)制了(le)針(zhen)(zhen)床測試法的效能。
2、電路板的觀測
電路(lu)板體積小,結(jie)構(gou)復雜,因(yin)此對電路(lu)板的(de)(de)(de)(de)觀(guan)察(cha)也(ye)必須用(yong)到專業(ye)的(de)(de)(de)(de)觀(guan)測儀器。一般的(de)(de)(de)(de),我們(men)采(cai)用(yong)便(bian)攜式視(shi)頻(pin)(pin)顯(xian)微鏡(jing)來觀(guan)察(cha)電路(lu)板的(de)(de)(de)(de)結(jie)構(gou),通(tong)(tong)過(guo)視(shi)頻(pin)(pin)顯(xian)微攝像頭(tou),可以清晰從顯(xian)微鏡(jing)看(kan)到非常直觀(guan)的(de)(de)(de)(de)電路(lu)板的(de)(de)(de)(de)顯(xian)微結(jie)構(gou)。通(tong)(tong)過(guo)這種方(fang)式,我們(men)就比(bi)較(jiao)容易(yi)進行電路(lu)板的(de)(de)(de)(de)設計和檢測了(le)。現工廠(chang)現場采(cai)用(yong)的(de)(de)(de)(de)便(bian)攜式視(shi)頻(pin)(pin)顯(xian)微鏡(jing),采(cai)用(yong)的(de)(de)(de)(de)便(bian)攜式視(shi)頻(pin)(pin)顯(xian)微鏡(jing)MSA200、VT101,因(yin)它可實現“隨時觀(guan)測、隨時檢測、多人討(tao)論(lun)”比(bi)傳統的(de)(de)(de)(de)顯(xian)微鏡(jing)更加方(fang)便(bian)!
3、雙探針飛針測試法
飛針(zhen)測(ce)(ce)試儀(yi)不依賴于(yu)安(an)裝(zhuang)(zhuang)在(zai)夾具或支架上的(de)插腳(jiao)圖案。基于(yu)這種系統,兩(liang)(liang)個(ge)或更多的(de)探(tan)針(zhen)安(an)裝(zhuang)(zhuang)在(zai)x-y平(ping)面上可(ke)自(zi)由移動(dong)的(de)微(wei)小(xiao)磁頭上,測(ce)(ce)試點由CADI?Gerber數據直接(jie)控制(zhi)。雙(shuang)探(tan)針(zhen)能在(zai)彼此相(xiang)距4mil的(de)范圍內移動(dong)。探(tan)針(zhen)能夠獨立地移動(dong),并且(qie)沒有(you)真正的(de)限(xian)定(ding)它們彼此靠近的(de)程度。帶有(you)兩(liang)(liang)個(ge)可(ke)來(lai)回(hui)移動(dong)的(de)臂狀物(wu)的(de)測(ce)(ce)試儀(yi)是以(yi)電容的(de)測(ce)(ce)量(liang)為基礎的(de)。將電路(lu)(lu)板緊壓著放在(zai)一(yi)塊金屬板上的(de)絕緣層上,作為電容器的(de)另一(yi)個(ge)金屬板。假如在(zai)線路(lu)(lu)之間有(you)一(yi)條短(duan)路(lu)(lu),電容將比在(zai)一(yi)個(ge)確(que)定(ding)的(de)點上大(da)。如果有(you)-條斷路(lu)(lu),電容將變小(xiao)。
測試速度是選擇測試儀的一個重要標準。針床測試儀能夠一次精確地測試數千個測試點,而飛針測試儀一次僅僅能測電路板試兩(liang)個(ge)或(huo)四個(ge)測(ce)(ce)試點。另(ling)外,針床(chuang)測(ce)(ce)試儀進行單(dan)面測(ce)(ce)試時,可能僅(jin)僅(jin)花費20-30秒,這要(yao)根據板子的復雜(za)性而定,而飛(fei)針測(ce)(ce)試儀則需要(yao)Ih或(huo)更多的時間完(wan)成同樣的評估(gu)。Shipley(1991)解釋說,即使(shi)高產(chan)(chan)量印制電(dian)路板的生(sheng)產(chan)(chan)商認(ren)為移(yi)動的飛(fei)針測(ce)(ce)試技(ji)術慢,但(dan)是這種方法對于較(jiao)低產(chan)(chan)量的復雜(za)電(dian)路板的生(sheng)產(chan)(chan)商來說還(huan)是不錯的選擇。
對于(yu)(yu)裸(luo)板(ban)測(ce)(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)來(lai)說(shuo),有專用(yong)的(de)(de)(de)(de)測(ce)(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)儀(yi)器。一(yi)種成本更為優化(hua)的(de)(de)(de)(de)方法是(shi)(shi)使(shi)用(yong)一(yi)個(ge)通用(yong)的(de)(de)(de)(de)儀(yi)器,盡管這類(lei)儀(yi)器最(zui)初(chu)比專用(yong)的(de)(de)(de)(de)儀(yi)器更昂貴,但(dan)它最(zui)初(chu)的(de)(de)(de)(de)高(gao)(gao)費(fei)用(yong)將被個(ge)別配(pei)置(zhi)成本的(de)(de)(de)(de)減少(shao)抵(di)消。對于(yu)(yu)通用(yong)的(de)(de)(de)(de)柵(zha)(zha)格(ge),帶引腳元(yuan)器件的(de)(de)(de)(de)板(ban)子和表面貼裝設備的(de)(de)(de)(de)標準柵(zha)(zha)格(ge)是(shi)(shi)2.5mm。此(ci)(ci)時(shi)測(ce)(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)焊盤(pan)(pan)應該(gai)大于(yu)(yu)或(huo)等于(yu)(yu)1.3mm。對于(yu)(yu)Imm的(de)(de)(de)(de)柵(zha)(zha)格(ge),測(ce)(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)焊盤(pan)(pan)設計得要(yao)大于(yu)(yu)0.7mm。假如柵(zha)(zha)格(ge)較小(xiao),則測(ce)(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)針(zhen)小(xiao)而(er)(er)脆,并且(qie)容易損(sun)壞。因(yin)此(ci)(ci),最(zui)好選用(yong)大于(yu)(yu)2.5mm的(de)(de)(de)(de)柵(zha)(zha)格(ge)。將通用(yong)測(ce)(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)儀(yi)(標準的(de)(de)(de)(de)柵(zha)(zha)格(ge)測(ce)(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)儀(yi))和飛針(zhen)測(ce)(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)儀(yi)聯合(he)使(shi)用(yong),可(ke)使(shi)高(gao)(gao)密度(du)電(dian)路板(ban)的(de)(de)(de)(de)檢測(ce)(ce)(ce)(ce)即精確又經濟(ji)。他建議的(de)(de)(de)(de)另外一(yi)種方法是(shi)(shi)使(shi)用(yong)導電(dian)橡膠測(ce)(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)儀(yi),這種技(ji)術可(ke)以用(yong)來(lai)檢測(ce)(ce)(ce)(ce)偏(pian)離柵(zha)(zha)格(ge)的(de)(de)(de)(de)點(dian)。然(ran)而(er)(er),采用(yong)熱(re)風整平處理的(de)(de)(de)(de)焊盤(pan)(pan)高(gao)(gao)度(du)不同,將有礙測(ce)(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)點(dian)的(de)(de)(de)(de)連(lian)接。
電路板怎么快速檢測出故障
1、看元件的狀態
拿到一塊出故障的電(dian)路(lu)板,首先(xian)觀(guan)察電(dian)路(lu)板有沒有明顯的元件(jian)損(sun)壞(huai),如電(dian)解(jie)電(dian)容燒(shao)毀(hui)和鼓脹(zhang)、電(dian)阻燒(shao)壞(huai)以及功率(lv)器(qi)件(jian)的燒(shao)損(sun)等。
2、看電路板的焊接
如印(yin)制電路板有(you)沒有(you)變形翹(qiao)曲(qu);有(you)沒有(you)焊(han)(han)點脫落、明顯(xian)虛焊(han)(han);電路板覆銅皮(pi)有(you)沒有(you)翹(qiao)起、燒糊變黑。
3、觀察元件的插件
如(ru)集成(cheng)電路(lu)、二極管(guan)、電路(lu)板電源變壓器(qi)等方向有沒插錯(cuo)。
4、電阻電容電感的簡單測試
使用(yong)萬(wan)用(yong)表(biao)對量(liang)程內的電(dian)阻、電(dian)容、電(dian)感等可懷疑元件進行簡單的測試(shi),測試(shi)有否電(dian)阻阻值變大、電(dian)容短路(lu)、開路(lu)和容值變化(hua)、電(dian)感短路(lu)和開路(lu)等現象。
5、上電測試
經過上述簡(jian)單觀察和測(ce)試后(hou),無法(fa)排除(chu)故障(zhang),可進行上電(dian)測(ce)試。首先測(ce)試電(dian)路板(ban)(ban)供(gong)電(dian)是否正常(chang)。如電(dian)路板(ban)(ban)的(de)交(jiao)流(liu)電(dian)源是否異常(chang)、穩(wen)壓器(qi)輸出是否異常(chang)、開關電(dian)源輸出和波形是否異常(chang)等
6、刷程序
對于有單片機、DSP、CPLD等可(ke)編程元件,可(ke)考(kao)慮重新刷一遍(bian)程序,排(pai)除程序運行(xing)異常造成的電路故障。
7、按照功能模塊維修
如果按照以上步驟仍不能維修好電路板,就需要根據(ju)電(dian)(dian)路故(gu)障,確定可能出問題的電(dian)(dian)路模塊,根據(ju)設(she)計圖紙進行(xing)進一步維修了。