一、掃描電子顯微鏡的原理是什么

掃描電子顯微鏡已成為現代科學技術中不可缺少的重要工具，在正式使用之前，我們來看看掃描電子顯微鏡的原理是什么吧！

掃描電子顯(xian)微(wei)鏡（SEM）是一(yi)種介于透射電子顯(xian)微(wei)鏡和光學顯(xian)微(wei)鏡之間的(de)(de)一(yi)種觀察(cha)手(shou)段。其(qi)原(yuan)理(li)是利(li)用材料(liao)表(biao)面微(wei)區的(de)(de)特征（如形(xing)貌、原(yuan)子序數(shu)、化學成分、或(huo)晶體結(jie)構等(deng)）的(de)(de)差(cha)異，在電子束作用下通過試樣不同區域產生(sheng)不同的(de)(de)亮(liang)度差(cha)異，從而獲得具有(you)一(yi)定襯度的(de)(de)圖(tu)像。

二、掃描電子顯微鏡有哪些用途

掃描電子(zi)顯微(wei)鏡(jing)可(ke)應用于陶(tao)瓷材料(liao)分析、金屬材料(liao)失效分析。在石油、地質、礦物(wu)(wu)領域(yu)(yu)，電子(zi)、半導體領域(yu)(yu)，醫學、生物(wu)(wu)學領域(yu)(yu)，化工、高分子(zi)材料(liao)領域(yu)(yu)，公安刑偵工作領域(yu)(yu)，以(yi)及農(nong)、林業等方(fang)面都(dou)有廣泛應用。

掃描電(dian)子顯微(wei)(wei)鏡可進行(xing)顯微(wei)(wei)形貌(mao)分(fen)析，如(ru)果配備了其它分(fen)析儀器也可進行(xing)成分(fen)的常規微(wei)(wei)區分(fen)析，包括元素定(ding)量、定(ding)性成分(fen)分(fen)析。進行(xing)顯微(wei)(wei)形貌(mao)分(fen)析時，空(kong)間分(fen)辨率可達亞(ya)微(wei)(wei)米級；能(neng)夠進行(xing)晶界的狀態測量，或者晶體/晶粒(li)的相鑒(jian)定(ding)，以及晶體、晶粒(li)取(qu)向(xiang)測量等；進行(xing)微(wei)(wei)區成分(fen)分(fen)析時，能(neng)夠通過快(kuai)速的多元素面掃描和線掃描進行(xing)分(fen)布測量。

在(zai)(zai)現代產(chan)業化生(sheng)(sheng)產(chan)和(he)科(ke)學研究中(zhong)，掃描電子顯微(wei)鏡發(fa)展(zhan)成為(wei)材料分析、監控工(gong)農業生(sheng)(sheng)產(chan)、保證產(chan)品(pin)質量、保障大生(sheng)(sheng)產(chan)流(liu)程安全高效(xiao)的(de)(de)必(bi)要手段；同時(shi)在(zai)(zai)生(sheng)(sheng)物(wu)、環保、醫學等有(you)關人(ren)類的(de)(de)生(sheng)(sheng)存、發(fa)展(zhan)領域的(de)(de)應(ying)用(yong)也日新月異(yi)；在(zai)(zai)軍事現代高科(ke)技(ji)方面的(de)(de)發(fa)展(zhan)（例(li)如生(sheng)(sheng)物(wu)武(wu)器(qi)、化學武(wu)器(qi)戰(zhan)爭、現場(chang)毒(du)物(wu)檢(jian)測、生(sheng)(sheng)命保障任務等）發(fa)揮了巨(ju)大的(de)(de)作用(yong)。