一、什么是鍍層測厚儀

鍍層測厚儀又稱涂層測厚儀、涂鍍層測厚儀，是一種測(ce)量鍍層等(deng)(deng)金(jin)屬(shu)薄(bo)膜的(de)厚度的(de)儀(yi)器，主要(yao)用(yong)于測(ce)量鋼、鐵等(deng)(deng)鐵磁(ci)質金(jin)屬(shu)基體上(shang)的(de)非鐵磁(ci)性涂層、鍍層，其具有以下特(te)點(dian)：

1、精度高：鍍(du)層(ceng)測厚(hou)儀的(de)測量(liang)精度通(tong)常在±0.1μm范圍內(nei)，可以滿足(zu)大多(duo)數(shu)表面鍍(du)層(ceng)或涂(tu)層(ceng)的(de)測量(liang)需(xu)求。

2、快速(su)測量：鍍層(ceng)測厚儀(yi)可以在短(duan)時間(jian)內快速(su)測量大(da)范(fan)圍的表面，提高(gao)生產效率。

3、無損檢(jian)測(ce)：鍍(du)層(ceng)測(ce)厚儀不會(hui)對被測(ce)物(wu)體表面造成損傷，可以用于(yu)生產過程中的質(zhi)量控制和檢(jian)測(ce)。

4、操作(zuo)簡單：鍍層測厚(hou)儀操作(zuo)簡單，易于掌握，適(shi)合于不同領域的用戶使(shi)用。

二、鍍層測厚儀由什么組成

鍍層測厚儀(yi)一(yi)般由三部分組成：

1、傳感(gan)器(qi)：傳感(gan)器(qi)部分(fen)負責與物(wu)體表面接觸，并采集鍍層或(huo)(huo)涂層的電阻值(zhi)、電導率或(huo)(huo)磁場強度等(deng)參數。

2、測量電路(lu)：測量電路(lu)部分(fen)將傳(chuan)感器采集的(de)信(xin)號進行處理(li)，計算出鍍層或涂層的(de)厚度。

3、顯示單元(yuan)：計算出的(de)厚度(du)將顯示在顯示單元(yuan)上(shang)。

三、鍍層測厚儀原理是什么

鍍(du)層測厚儀用(yong)于(yu)測量鍍(du)層厚度(du)，主要(yao)有三(san)種原理：

1、磁吸型

永久磁(ci)鐵(tie)（測頭(tou)）與導(dao)磁(ci)鋼材之(zhi)間的(de)吸力大小與處(chu)于這兩者之(zhi)間的(de)距(ju)離成(cheng)一定(ding)比例關系(xi)，這個距(ju)離就是覆層的(de)厚(hou)度。利用這一原理制成(cheng)測厚(hou)儀，只(zhi)要覆層與基材的(de)導(dao)磁(ci)率之(zhi)差(cha)足夠(gou)大，就可進行測量。

這(zhe)種測厚(hou)儀基本結構由磁鋼，接力(li)簧(huang)，標(biao)尺及自停機(ji)構組成。磁鋼與被(bei)測物吸合后，將測量簧(huang)在其后逐漸(jian)拉(la)長，拉(la)力(li)逐漸(jian)增大。當拉(la)力(li)剛好大于(yu)吸力(li)，磁鋼脫(tuo)離的一(yi)瞬間(jian)記錄(lu)下拉(la)力(li)的大小即可獲得覆(fu)層厚(hou)度。

2、磁感應型

采用(yong)磁(ci)(ci)(ci)(ci)感(gan)應(ying)原理(li)時，利用(yong)從(cong)測頭經過非鐵磁(ci)(ci)(ci)(ci)覆層(ceng)而流入鐵磁(ci)(ci)(ci)(ci)基體的磁(ci)(ci)(ci)(ci)通(tong)的大(da)小(xiao)，來(lai)測定覆層(ceng)厚(hou)度。也(ye)可以(yi)測定與(yu)之對應(ying)的磁(ci)(ci)(ci)(ci)阻的大(da)小(xiao)，來(lai)表示其覆層(ceng)厚(hou)度。覆層(ceng)越(yue)厚(hou)，則磁(ci)(ci)(ci)(ci)阻越(yue)大(da)，磁(ci)(ci)(ci)(ci)通(tong)越(yue)小(xiao)。

利用磁感(gan)應原理的(de)測厚儀，原則上可以有導(dao)磁基體上的(de)非導(dao)磁覆層(ceng)厚度，一般要求基材導(dao)磁率在500以上，如(ru)果覆層(ceng)材料也(ye)有磁性，則要求與基材的(de)導(dao)磁率之(zhi)差足夠大（如(ru)鋼(gang)上鍍鎳）。

3、電渦流型

高頻交流(liu)信號(hao)在(zai)(zai)測(ce)(ce)頭(tou)線(xian)圈中(zhong)產生電(dian)磁場，測(ce)(ce)頭(tou)靠近導體(ti)時，就在(zai)(zai)其(qi)中(zhong)形成渦流(liu)。測(ce)(ce)頭(tou)離(li)導電(dian)基體(ti)愈近，則渦流(liu)愈大(da)，反射阻抗也愈大(da)。這個反饋(kui)作(zuo)用(yong)量(liang)表(biao)征了測(ce)(ce)頭(tou)與(yu)導電(dian)基體(ti)之間距離(li)的大(da)小(xiao)，也就是導電(dian)基體(ti)上非導電(dian)覆層厚(hou)度的大(da)小(xiao)。

采用電渦流原理的測厚儀，原則上對所有導(dao)(dao)電(dian)體(ti)上的(de)非導(dao)(dao)電(dian)體(ti)覆(fu)層均可(ke)測量，如航(hang)天(tian)航(hang)空器(qi)表面、車輛、家電(dian)、鋁合(he)金門窗(chuang)及其(qi)它鋁制品表面的(de)漆(qi)，塑料(liao)涂層及陽極氧化(hua)膜(mo)。覆(fu)層材(cai)料(liao)有一(yi)定的(de)導(dao)(dao)電(dian)性，通過校準(zhun)同樣(yang)也可(ke)測量，但要求(qiu)兩者的(de)導(dao)(dao)電(dian)率之比(bi)至(zhi)少相差3-5倍(bei)（如銅上鍍(du)鉻(ge)）。