一、測厚儀怎么測厚度
測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)厚(hou)儀(yi)(yi)是(shi)一(yi)種(zhong)(zhong)(zhong)測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)量(liang)(liang)厚(hou)度(du)(du)的(de)(de)儀(yi)(yi)器,可以(yi)用于測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)量(liang)(liang)工(gong)業產品表(biao)(biao)(biao)面(mian)涂層(ceng)的(de)(de)厚(hou)度(du)(du),以(yi)保證涂層(ceng)厚(hou)度(du)(du)符合要(yao)求,它的(de)(de)使(shi)(shi)用方(fang)法步(bu)驟如下:1、準備:確(que)(que)定(ding)要(yao)測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)量(liang)(liang)的(de)(de)涂層(ceng)種(zhong)(zhong)(zhong)類(lei)和(he)(he)材料(liao),并檢查涂層(ceng)的(de)(de)質量(liang)(liang)和(he)(he)表(biao)(biao)(biao)面(mian)是(shi)否(fou)干凈整潔。確(que)(que)保表(biao)(biao)(biao)面(mian)沒有(you)任何灰塵或雜物,否(fou)則(ze)可能會影響測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)量(liang)(liang)結果(guo)(guo)(guo)。2、計量(liang)(liang):根據(ju)(ju)涂層(ceng)種(zhong)(zhong)(zhong)類(lei)和(he)(he)材料(liao),選擇相應的(de)(de)測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)量(liang)(liang)方(fang)式(shi)和(he)(he)計量(liang)(liang)單位,確(que)(que)保測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)量(liang)(liang)精度(du)(du)和(he)(he)準確(que)(que)性(xing)。3、測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)量(liang)(liang):將涂層(ceng)測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)厚(hou)儀(yi)(yi)放(fang)置(zhi)在(zai)需要(yao)測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)量(liang)(liang)的(de)(de)表(biao)(biao)(biao)面(mian)區(qu)域上(shang),以(yi)使(shi)(shi)傳感器與涂層(ceng)表(biao)(biao)(biao)面(mian)緊密(mi)接觸。按壓儀(yi)(yi)器,觸發測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)量(liang)(liang)裝置(zhi),等待幾秒鐘,即可獲得涂層(ceng)的(de)(de)厚(hou)度(du)(du)數值。涂層(ceng)測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)量(liang)(liang)儀(yi)(yi)的(de)(de)測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)量(liang)(liang)方(fang)式(shi)有(you)兩種(zhong)(zhong)(zhong):(1)單次(ci)測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)量(liang)(liang)方(fang)式(shi):測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)頭(tou)(tou)每接觸被測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)件(jian) 1 次(ci),隨著一(yi)聲鳴響,顯(xian)示(shi)測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)量(liang)(liang)結果(guo)(guo)(guo)。如若再測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)量(liang)(liang),須提起(qi)測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)頭(tou)(tou)離(li)開被測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)件(jian),然后再壓下測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)頭(tou)(tou)。(2)連續(xu)測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)量(liang)(liang)方(fang)式(shi):不(bu)提起(qi)測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)頭(tou)(tou)測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)量(liang)(liang),測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)量(liang)(liang)過程中不(bu)伴鳴響,顯(xian)示(shi)屏連續(xu)顯(xian)示(shi)測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)量(liang)(liang)結果(guo)(guo)(guo)。4、記錄:將測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)量(liang)(liang)結果(guo)(guo)(guo)記錄在(zai)記錄表(biao)(biao)(biao)上(shang),包括(kuo)涂層(ceng)種(zhong)(zhong)(zhong)類(lei)、材料(liao)和(he)(he)厚(hou)度(du)(du)信息(xi)。在(zai)處理涂層(ceng)厚(hou)度(du)(du)數據(ju)(ju)時,最(zui)好進(jin)行統計和(he)(he)分析,以(yi)及繪制(zhi)相關圖(tu)表(biao)(biao)(biao)和(he)(he)圖(tu)像,以(yi)便于觀察涂層(ceng)厚(hou)度(du)(du)變(bian)化的(de)(de)規律和(he)(he)趨(qu)勢(shi)。
二、測厚儀原理有哪些
1、超(chao)聲(sheng)(sheng)波(bo)原(yuan)(yuan)(yuan)(yuan)理(li):超(chao)聲(sheng)(sheng)波(bo)在(zai)(zai)各種介質(zhi)(zhi)中(zhong)的(de)(de)(de)聲(sheng)(sheng)速是不(bu)同(tong)的(de)(de)(de),但在(zai)(zai)同(tong)一介質(zhi)(zhi)中(zhong)聲(sheng)(sheng)速是一常數。超(chao)聲(sheng)(sheng)波(bo)在(zai)(zai)介質(zhi)(zhi)中(zhong)傳播遇到第二種介質(zhi)(zhi)時(shi)(shi)會被反(fan)(fan)射(she)(she),測(ce)量(liang)(liang)(liang)超(chao)聲(sheng)(sheng)波(bo)脈沖(chong)從發射(she)(she)至接收的(de)(de)(de)間(jian)(jian)(jian)隔時(shi)(shi)間(jian)(jian)(jian),即可(ke)將這間(jian)(jian)(jian)隔時(shi)(shi)間(jian)(jian)(jian)換算成厚(hou)(hou)度(du)(du)(du)(du)。2、磁(ci)(ci)(ci)性測(ce)厚(hou)(hou)原(yuan)(yuan)(yuan)(yuan)理(li):在(zai)(zai)測(ce)定(ding)(ding)各種導(dao)磁(ci)(ci)(ci)材料(liao)的(de)(de)(de)磁(ci)(ci)(ci)阻時(shi)(shi),測(ce)定(ding)(ding)值會因其表(biao)(biao)面(mian)(mian)(mian)(mian)非導(dao)磁(ci)(ci)(ci)覆(fu)蓋(gai)(gai)層厚(hou)(hou)度(du)(du)(du)(du)的(de)(de)(de)不(bu)同(tong)而發生(sheng)(sheng)變(bian)化,利用(yong)這種變(bian)化即可(ke)測(ce)知(zhi)覆(fu)蓋(gai)(gai)層厚(hou)(hou)度(du)(du)(du)(du)值。3、渦(wo)流(liu)測(ce)厚(hou)(hou)原(yuan)(yuan)(yuan)(yuan)理(li):當載有高(gao)頻(pin)電(dian)流(liu)的(de)(de)(de)探(tan)頭(tou)線(xian)(xian)圈(quan)(quan)置于(yu)被測(ce)金屬表(biao)(biao)面(mian)(mian)(mian)(mian)時(shi)(shi),由于(yu)高(gao)頻(pin)磁(ci)(ci)(ci)場的(de)(de)(de)作用(yong)而使金屬體內(nei)產生(sheng)(sheng)渦(wo)流(liu),此渦(wo)流(liu)產生(sheng)(sheng)的(de)(de)(de)磁(ci)(ci)(ci)場又(you)反(fan)(fan)作用(yong)于(yu)探(tan)頭(tou)線(xian)(xian)圈(quan)(quan),使其阻抗發生(sheng)(sheng)變(bian)化,此變(bian)化量(liang)(liang)(liang)與探(tan)頭(tou)線(xian)(xian)圈(quan)(quan)離金屬表(biao)(biao)面(mian)(mian)(mian)(mian)的(de)(de)(de)距離(即覆(fu)蓋(gai)(gai)層的(de)(de)(de)厚(hou)(hou)度(du)(du)(du)(du))有關,因而根(gen)據探(tan)頭(tou)線(xian)(xian)圈(quan)(quan)阻抗的(de)(de)(de)變(bian)化可(ke)間(jian)(jian)(jian)接測(ce)量(liang)(liang)(liang)金屬表(biao)(biao)面(mian)(mian)(mian)(mian)覆(fu)蓋(gai)(gai)層的(de)(de)(de)厚(hou)(hou)度(du)(du)(du)(du)。4、同(tong)位(wei)素(su)測(ce)厚(hou)(hou)原(yuan)(yuan)(yuan)(yuan)理(li):利用(yong)物質(zhi)(zhi)厚(hou)(hou)度(du)(du)(du)(du)不(bu)同(tong)對輻(fu)射(she)(she)的(de)(de)(de)吸收與散射(she)(she)不(bu)同(tong)的(de)(de)(de)原(yuan)(yuan)(yuan)(yuan)理(li),可(ke)以測(ce)定(ding)(ding)薄鋼(gang)板(ban)、薄銅板(ban)、薄鋁板(ban)等材質(zhi)(zhi)的(de)(de)(de)厚(hou)(hou)度(du)(du)(du)(du),常用(yong)的(de)(de)(de)同(tong)位(wei)素(su)射(she)(she)線(xian)(xian)有γ射(she)(she)線(xian)(xian)、β射(she)(she)線(xian)(xian)等。5、激(ji)光測(ce)厚(hou)(hou)原(yuan)(yuan)(yuan)(yuan)理(li):利用(yong)激(ji)光的(de)(de)(de)反(fan)(fan)射(she)(she)原(yuan)(yuan)(yuan)(yuan)理(li),根(gen)據光切(qie)法測(ce)量(liang)(liang)(liang)和觀(guan)察(cha)機械制(zhi)造中(zhong)零(ling)件加工表(biao)(biao)面(mian)(mian)(mian)(mian)的(de)(de)(de)微觀(guan)幾何形狀來測(ce)量(liang)(liang)(liang)產品的(de)(de)(de)厚(hou)(hou)度(du)(du)(du)(du)。
三、測厚儀的價格是多少
測厚儀作為一種精密儀器,其價格主要受到品牌、型號、原理、精度、測量范圍等多方面因素的影響,從兩三百元一臺到上萬元一臺都有,有些精度高的漆膜測厚儀售價可達幾萬元一臺甚至更高,選購測厚儀時,要根據測量需要來選合適類型的測厚儀,綜合考慮測量范圍、精度和分辨率、適應性和靈活性、用戶友好性、數據記錄和分析功能、可靠性和耐用性以及成本效益等多個方面。如果您需要購買一臺測厚儀,可以先來看看測厚儀十大品牌。
四、測厚儀怎么校準
1、選(xuan)用(yong)與被測(ce)(ce)物的(de)材(cai)料、聲速及曲率(lv)一(yi)樣的(de)兩(liang)個標準(zhun)(zhun)試(shi)塊(kuai)(kuai),其中(zhong)一(yi)個試(shi)塊(kuai)(kuai)的(de)厚度等于或略高于測(ce)(ce)量(liang)(liang)(liang)(liang)范(fan)(fan)圍(wei)的(de)上限,另一(yi)個試(shi)塊(kuai)(kuai)的(de)厚度盡能(neng)夠(gou)接近(jin)測(ce)(ce)量(liang)(liang)(liang)(liang)范(fan)(fan)圍(wei)的(de)下限,實行二點(dian)校準(zhun)(zhun)可以提升(sheng)測(ce)(ce)量(liang)(liang)(liang)(liang)精度。2、超(chao)聲波(bo)(bo)測(ce)(ce)厚儀實行兩(liang)點(dian)校準(zhun)(zhun)之前應先關(guan)掉最小(xiao)值(zhi)(zhi)捕獲功(gong)(gong)(gong)能(neng),并一(yi)定要刪除以前的(de)校準(zhun)(zhun)數據,操(cao)作如下:選(xuan)用(yong)功(gong)(gong)(gong)能(neng)菜單存儲管(guan)制中(zhong)的(de)刪除校準(zhun)(zhun)數據,然后將兩(liang)點(dian)校準(zhun)(zhun)功(gong)(gong)(gong)能(neng)打開。3、關(guan)上兩(liang)點(dian)校準(zhun)(zhun)功(gong)(gong)(gong)能(neng),按(an)鍵(jian)(jian)返回到主顯(xian)示(shi)(shi)界面,超(chao)聲波(bo)(bo)測(ce)(ce)厚儀在測(ce)(ce)量(liang)(liang)(liang)(liang)厚度的(de)情況下按(an)進入兩(liang)點(dian)校準(zhun)(zhun)方式,屏(ping)幕(mu)提示(shi)(shi)校準(zhun)(zhun)薄片(pian)(pian)ThinCalibration。4、測(ce)(ce)量(liang)(liang)(liang)(liang)薄片(pian)(pian),調整(zheng)測(ce)(ce)量(liang)(liang)(liang)(liang)值(zhi)(zhi)到標準(zhun)(zhun)值(zhi)(zhi),而后按(an)鍵(jian)(jian)屏(ping)幕(mu)提示(shi)(shi)校準(zhun)(zhun)厚片(pian)(pian)ThickCalibration。5、測(ce)(ce)量(liang)(liang)(liang)(liang)厚片(pian)(pian),調整(zheng)測(ce)(ce)量(liang)(liang)(liang)(liang)值(zhi)(zhi)到規范(fan)(fan)值(zhi)(zhi),超(chao)聲波(bo)(bo)測(ce)(ce)厚儀按(an)鍵(jian)(jian)兩(liang)點(dian)校準(zhun)(zhun)好(hao)了,即(ji)可實行測(ce)(ce)量(liang)(liang)(liang)(liang)狀(zhuang)態。