一、覆層測厚儀和涂層測厚儀的區別在哪

覆層測厚儀是對材料覆蓋層厚度進行測量的儀器，它和涂層測厚儀實際上是(shi)一樣(yang)的(de)(de)，是(shi)兩種不同的(de)(de)稱呼而(er)已，如果非要(yao)(yao)說有(you)(you)什么區別的(de)(de)話，那就(jiu)是(shi)覆層測厚儀是(shi)新研發的(de)(de)新產(chan)品，與之前涂層測厚儀相比有(you)(you)以下主要(yao)(yao)優(you)點：

1、測(ce)(ce)量速度快：測(ce)(ce)量速度比(bi)普(pu)通(tong)涂層測(ce)(ce)厚儀快6倍。

2、精度高：產品校準后精度即可(ke)達到(dao)1-2%，比普通的涂(tu)層測厚儀精度更高。

3、穩(wen)定性：測量值的穩(wen)定性和使用穩(wen)定性優于(yu)涂層測厚儀。

4、功能、數據(ju)、操(cao)作、顯示全部是中文。

二、涂層測厚儀和超聲波測厚儀有什么區別

涂層(ceng)測(ce)(ce)厚儀和超聲波測(ce)(ce)厚儀相比(bi)，雖然都是測(ce)(ce)厚儀，但在(zai)以下幾個方面都存在(zai)區別：

1、測量范圍不同

作為無損檢測儀(yi)器，超聲波(bo)測厚(hou)(hou)(hou)儀(yi)和涂層(ceng)(ceng)測厚(hou)(hou)(hou)儀(yi)都有卡(ka)尺和千分尺等測量儀(yi)器達不到(dao)的(de)優(you)勢，但(dan)是(shi)兩者(zhe)在測量范圍上還是(shi)有區(qu)別的(de)，涂層(ceng)(ceng)測厚(hou)(hou)(hou)儀(yi)主要用來表面覆層(ceng)(ceng)，而超聲波(bo)測厚(hou)(hou)(hou)儀(yi)側重于壁厚(hou)(hou)(hou)和板厚(hou)(hou)(hou)的(de)基材(cai)測量。

超聲波測(ce)厚(hou)儀的(de)具體測(ce)量(liang)(liang)(liang)范圍：超聲波測(ce)厚(hou)儀可(ke)(ke)以(yi)測(ce)量(liang)(liang)(liang)金屬材(cai)(cai)質、管道(dao)、壓力容器、板(ban)材(cai)(cai)（鋼板(ban)、鋁(lv)板(ban)）、塑料、鐵管、PVC管、玻璃等其他特殊材(cai)(cai)料的(de)厚(hou)度；也可(ke)(ke)以(yi)測(ce)量(liang)(liang)(liang)工件(jian)表面油漆層等帶涂層的(de)材(cai)(cai)料。

涂層(ceng)測(ce)厚(hou)儀的(de)(de)(de)具體測(ce)量(liang)范圍：主(zhu)要用于測(ce)量(liang)金屬上的(de)(de)(de)涂層(ceng)，防腐層(ceng)，電鍍(du)層(ceng)，塑料，油漆，塑膠，陶瓷(ci)，琺瑯等(deng)覆(fu)蓋層(ceng)的(de)(de)(de)厚(hou)度(du)，也可以擴展應用到(dao)對紙張，薄(bo)膜，板材(cai)等(deng)的(de)(de)(de)厚(hou)度(du)進(jin)行間接(jie)測(ce)量(liang)。

2、測量方法不同

（1）超聲波測厚儀的測量方法

①單(dan)點(dian)測(ce)量(liang)法：在被測(ce)體上任一點(dian)，利用探頭進行測(ce)量(liang)，顯示值即為(wei)厚度值。

②兩(liang)點(dian)(dian)測(ce)量(liang)法：在被測(ce)體(ti)的同一點(dian)(dian)用探(tan)頭進行(xing)兩(liang)次(ci)測(ce)量(liang)，在第(di)二次(ci)測(ce)量(liang)中(zhong)(zhong)，探(tan)頭的分割面成 90°，取兩(liang)次(ci)測(ce)量(liang)中(zhong)(zhong)的較小值(zhi)為厚度值(zhi)。

③多點測量(liang)法：當測量(liang)值(zhi)不(bu)穩定時，以(yi)一個測定點為中(zhong)心，在直徑約為 30mm 的圓內進行(xing)多次測量(liang)，取最小(xiao)值(zhi)為厚(hou)度值(zhi)。

④連續(xu)測量法(fa)：用單點測量法(fa)，沿指定線路連續(xu)測量，其間隔(ge)不小于 5mm，取其中最小值(zhi)為厚(hou)度(du)值(zhi)。

（2）涂層測厚儀的測量方法

①磁性(xing)法：主(zhu)要用(yong)于(yu)鐵(tie)基涂(tu)層(ceng)(ceng)，當測量頭與覆蓋(gai)層(ceng)(ceng)接觸時，測量頭和磁性(xing)金屬基體構成一(yi)閉合磁路，由于(yu)非磁性(xing)覆蓋(gai)層(ceng)(ceng)的(de)存在(zai)，使磁路磁阻變化(hua)，通過測量其變化(hua)可導出覆蓋(gai)層(ceng)(ceng)的(de)厚度。

②渦流(liu)(liu)法(fa)：主(zhu)要用(yong)于非鐵基涂層(ceng)，用(yong)利(li)用(yong)高(gao)頻(pin)交變電(dian)(dian)流(liu)(liu)在線圈中產生一個電(dian)(dian)磁場，當測(ce)(ce)量頭與覆蓋層(ceng)接觸時，金屬基體上產生電(dian)(dian)渦流(liu)(liu)，并對測(ce)(ce)量頭中的(de)線圈產生反(fan)饋作用(yong)，通(tong)過測(ce)(ce)量反(fan)饋作用(yong)的(de)大小可(ke)導出(chu)覆蓋層(ceng)的(de)厚(hou)度。

3、測量精度不同

超聲波測厚儀的測量精度是0.5-600mm；涂層測厚儀的測量(liang)精(jing)度是：0-1250um（標配F1/N1探(tan)頭）00-10000um（選配F10/N10探(tan)頭）。