一、什么是鍍層測厚儀

鍍層測厚儀又稱涂層測厚儀、涂鍍層測厚儀，是一(yi)種測量鍍(du)層(ceng)等(deng)金(jin)屬薄膜的(de)厚度的(de)儀器，主要用(yong)于測量鋼、鐵等(deng)鐵磁(ci)質(zhi)金(jin)屬基(ji)體上的(de)非鐵磁(ci)性涂層(ceng)、鍍(du)層(ceng)，其具(ju)有以下特點(dian)：

1、精度(du)高：鍍層(ceng)測厚儀的測量精度(du)通常在±0.1μm范圍內(nei)，可以滿足大多數表面鍍層(ceng)或涂層(ceng)的測量需求。

2、快速測量：鍍層(ceng)測厚儀可以在短時間內(nei)快速測量大(da)范(fan)圍的表(biao)面(mian)，提高生產(chan)效(xiao)率。

3、無(wu)損檢(jian)測：鍍層測厚儀不(bu)會對(dui)被測物體(ti)表面(mian)造(zao)成損傷，可以用于生產過程中(zhong)的質量控(kong)制(zhi)和檢(jian)測。

4、操作簡單：鍍層測厚儀操作簡單，易(yi)于(yu)掌握，適合(he)于(yu)不同領(ling)域(yu)的用(yong)戶使用(yong)。

二、鍍層測厚儀由什么組成

鍍層測(ce)厚(hou)儀一般由三部分組成(cheng)：

1、傳感(gan)器(qi)：傳感(gan)器(qi)部(bu)分負責與物(wu)體表面接觸，并采集鍍層(ceng)或涂層(ceng)的電阻值(zhi)、電導率或磁場(chang)強(qiang)度(du)等參數(shu)。

2、測(ce)(ce)量電路：測(ce)(ce)量電路部分將傳(chuan)感器采集(ji)的信號進行處(chu)理，計(ji)算出(chu)鍍層或(huo)涂層的厚度。

3、顯(xian)示(shi)(shi)單(dan)元：計算出的厚度將顯(xian)示(shi)(shi)在(zai)顯(xian)示(shi)(shi)單(dan)元上。

三、鍍層測厚儀原理是什么

鍍(du)層(ceng)測(ce)厚(hou)儀用(yong)于測(ce)量鍍(du)層(ceng)厚(hou)度(du)，主要有(you)三種原理：

1、磁吸型

永久(jiu)磁(ci)鐵（測頭）與導(dao)磁(ci)鋼(gang)材(cai)之間的(de)吸力大(da)小與處于這(zhe)(zhe)兩者(zhe)之間的(de)距離成(cheng)一(yi)(yi)定(ding)比例關系(xi)，這(zhe)(zhe)個(ge)距離就是覆層的(de)厚度。利用這(zhe)(zhe)一(yi)(yi)原理(li)制(zhi)成(cheng)測厚儀(yi)，只要(yao)覆層與基材(cai)的(de)導(dao)磁(ci)率之差(cha)足夠(gou)大(da)，就可進(jin)行測量(liang)。

這種測(ce)厚儀基本結構由(you)磁鋼(gang)(gang)，接力(li)(li)簧，標(biao)尺及自(zi)停機構組(zu)成(cheng)。磁鋼(gang)(gang)與被測(ce)物吸(xi)(xi)合(he)后(hou)，將測(ce)量簧在其后(hou)逐漸(jian)(jian)拉長，拉力(li)(li)逐漸(jian)(jian)增大。當拉力(li)(li)剛好大于吸(xi)(xi)力(li)(li)，磁鋼(gang)(gang)脫離(li)的一(yi)瞬間記(ji)錄下拉力(li)(li)的大小即可獲得覆層厚度。

2、磁感應型

采(cai)用磁(ci)(ci)感應(ying)原理時(shi)，利用從測頭經(jing)過非鐵磁(ci)(ci)覆(fu)層而流入鐵磁(ci)(ci)基體的(de)磁(ci)(ci)通的(de)大小，來測定覆(fu)層厚度。也(ye)可以測定與之對應(ying)的(de)磁(ci)(ci)阻(zu)的(de)大小，來表(biao)示其覆(fu)層厚度。覆(fu)層越厚，則磁(ci)(ci)阻(zu)越大，磁(ci)(ci)通越小。

利用磁(ci)感應原(yuan)理的測厚(hou)儀，原(yuan)則(ze)上可以(yi)有導(dao)磁(ci)基(ji)體上的非導(dao)磁(ci)覆(fu)層厚(hou)度(du)，一般要(yao)求(qiu)基(ji)材導(dao)磁(ci)率(lv)在500以(yi)上，如果覆(fu)層材料也有磁(ci)性，則(ze)要(yao)求(qiu)與基(ji)材的導(dao)磁(ci)率(lv)之差足夠大（如鋼上鍍(du)鎳）。

3、電渦流型

高頻交流(liu)(liu)信號(hao)在(zai)(zai)測(ce)頭線圈中(zhong)產生(sheng)電磁場，測(ce)頭靠近導體時，就在(zai)(zai)其中(zhong)形成渦(wo)流(liu)(liu)。測(ce)頭離導電基體愈近，則渦(wo)流(liu)(liu)愈大(da)，反射(she)阻抗也愈大(da)。這個反饋(kui)作用量表征(zheng)了測(ce)頭與導電基體之間距離的大(da)小(xiao)，也就是導電基體上(shang)非導電覆層厚(hou)度(du)的大(da)小(xiao)。

采用電渦流原理的測厚儀，原則上(shang)對所(suo)有導(dao)(dao)電(dian)(dian)體(ti)上(shang)的(de)(de)非(fei)導(dao)(dao)電(dian)(dian)體(ti)覆層均可(ke)測(ce)量，如航(hang)天航(hang)空器表(biao)(biao)面、車輛、家(jia)電(dian)(dian)、鋁合金門窗(chuang)及(ji)其它(ta)鋁制(zhi)品(pin)表(biao)(biao)面的(de)(de)漆，塑料涂層及(ji)陽極氧(yang)化膜。覆層材料有一(yi)定(ding)的(de)(de)導(dao)(dao)電(dian)(dian)性，通過校(xiao)準同樣(yang)也可(ke)測(ce)量，但(dan)要求兩(liang)者的(de)(de)導(dao)(dao)電(dian)(dian)率(lv)之比至少相(xiang)差(cha)3-5倍(bei)（如銅上(shang)鍍(du)鉻）。