一、什么是鍍層測厚儀

鍍層測厚儀又稱涂層測厚儀、涂鍍層測厚儀，是一種測量鍍(du)(du)層等(deng)金(jin)屬薄(bo)膜(mo)的(de)厚度的(de)儀(yi)器，主(zhu)要用于測量鋼、鐵(tie)(tie)等(deng)鐵(tie)(tie)磁質(zhi)金(jin)屬基體上的(de)非鐵(tie)(tie)磁性涂層、鍍(du)(du)層，其具有以下特點：

1、精(jing)度高(gao)：鍍(du)層(ceng)(ceng)測(ce)(ce)(ce)厚儀的測(ce)(ce)(ce)量精(jing)度通常在(zai)±0.1μm范圍內，可以滿足大多數表面鍍(du)層(ceng)(ceng)或(huo)涂層(ceng)(ceng)的測(ce)(ce)(ce)量需求。

2、快(kuai)速測量：鍍層測厚儀可以在(zai)短時間內快(kuai)速測量大范圍(wei)的表面，提(ti)高生(sheng)產(chan)效率。

3、無損檢(jian)測(ce)：鍍(du)層測(ce)厚儀不會對(dui)被測(ce)物體表面造成(cheng)損傷(shang)，可以用于(yu)生產過程中的質量控制(zhi)和(he)檢(jian)測(ce)。

4、操(cao)作簡單：鍍層測(ce)厚儀操(cao)作簡單，易于掌握(wo)，適合(he)于不同領域的用戶(hu)使用。

二、鍍層測厚儀由什么組成

鍍層測厚儀一般由三部分組成：

1、傳(chuan)感器(qi)：傳(chuan)感器(qi)部分負責與(yu)物體表面接(jie)觸，并采集鍍(du)層(ceng)或(huo)涂(tu)層(ceng)的電阻值、電導率或(huo)磁場強度等參數。

2、測量(liang)電(dian)路(lu)：測量(liang)電(dian)路(lu)部分將傳感器采集的(de)信號進行(xing)處理，計算出鍍層或(huo)涂層的(de)厚度。

3、顯(xian)示(shi)單(dan)元(yuan)：計算出的厚度將顯(xian)示(shi)在顯(xian)示(shi)單(dan)元(yuan)上。

三、鍍層測厚儀原理是什么

鍍層測厚(hou)儀用于測量鍍層厚(hou)度，主要有(you)三種(zhong)原理(li)：

1、磁吸型

永久(jiu)磁(ci)鐵（測頭）與導磁(ci)鋼(gang)材之間的(de)吸力(li)大小與處于這(zhe)兩(liang)者(zhe)之間的(de)距(ju)離(li)成一定比例關系，這(zhe)個距(ju)離(li)就(jiu)是覆(fu)層(ceng)的(de)厚(hou)度。利用這(zhe)一原理(li)制成測厚(hou)儀(yi)，只要覆(fu)層(ceng)與基材的(de)導磁(ci)率之差足夠大，就(jiu)可進行測量。

這(zhe)種測厚儀基本結構(gou)由磁(ci)鋼，接力簧(huang)，標尺及自停機構(gou)組成。磁(ci)鋼與被測物吸合后(hou)，將測量簧(huang)在其后(hou)逐(zhu)漸(jian)拉(la)長，拉(la)力逐(zhu)漸(jian)增(zeng)大(da)。當(dang)拉(la)力剛好大(da)于吸力，磁(ci)鋼脫離(li)的一(yi)瞬間記錄下拉(la)力的大(da)小即可獲得覆層厚度。

2、磁感應型

采用磁(ci)感應原理時，利用從測(ce)頭經(jing)過非(fei)鐵磁(ci)覆(fu)層而流(liu)入(ru)鐵磁(ci)基(ji)體的(de)磁(ci)通(tong)的(de)大小，來(lai)測(ce)定覆(fu)層厚(hou)(hou)度(du)。也可以測(ce)定與(yu)之(zhi)對應的(de)磁(ci)阻(zu)的(de)大小，來(lai)表示其覆(fu)層厚(hou)(hou)度(du)。覆(fu)層越厚(hou)(hou)，則磁(ci)阻(zu)越大，磁(ci)通(tong)越小。

利用磁(ci)(ci)感應原(yuan)理的測(ce)厚儀，原(yuan)則(ze)上可以有導磁(ci)(ci)基(ji)體上的非導磁(ci)(ci)覆層(ceng)厚度，一(yi)般要求基(ji)材導磁(ci)(ci)率在500以上，如果覆層(ceng)材料也(ye)有磁(ci)(ci)性，則(ze)要求與基(ji)材的導磁(ci)(ci)率之差(cha)足夠大（如鋼上鍍(du)鎳）。

3、電渦流型

高頻交流(liu)信號(hao)在測頭(tou)線圈中產(chan)生電磁場，測頭(tou)靠近導(dao)體(ti)(ti)(ti)時(shi)，就在其中形成(cheng)渦流(liu)。測頭(tou)離導(dao)電基體(ti)(ti)(ti)愈(yu)近，則渦流(liu)愈(yu)大(da)(da)，反(fan)射阻抗也(ye)愈(yu)大(da)(da)。這個反(fan)饋(kui)作用量表征(zheng)了測頭(tou)與導(dao)電基體(ti)(ti)(ti)之間距離的大(da)(da)小(xiao)，也(ye)就是(shi)導(dao)電基體(ti)(ti)(ti)上(shang)非導(dao)電覆層厚度的大(da)(da)小(xiao)。

采用電渦流原理的測厚儀，原則上(shang)(shang)對所(suo)有導電體(ti)上(shang)(shang)的(de)(de)非導電體(ti)覆(fu)層均可測(ce)量，如航天航空器表(biao)面、車輛(liang)、家(jia)電、鋁合(he)金門窗及其它鋁制品(pin)表(biao)面的(de)(de)漆，塑料涂層及陽極氧(yang)化膜。覆(fu)層材料有一定(ding)的(de)(de)導電性，通過校準同樣也可測(ce)量，但要求(qiu)兩者(zhe)的(de)(de)導電率之(zhi)比至(zhi)少相差3-5倍（如銅上(shang)(shang)鍍鉻）。