一、覆層測厚儀和涂層測厚儀的區別在哪

覆層測厚儀是對材料覆蓋層厚度進行測量的儀器，它和涂層測厚儀實際上是一樣的(de)(de)，是兩種不同(tong)的(de)(de)稱呼而(er)已，如(ru)果非要說有什么區別的(de)(de)話，那就是覆層測(ce)(ce)厚(hou)儀(yi)是新(xin)研發的(de)(de)新(xin)產品(pin)，與(yu)之前涂(tu)層測(ce)(ce)厚(hou)儀(yi)相比有以(yi)下主要優點：

1、測(ce)量(liang)速度(du)快：測(ce)量(liang)速度(du)比普(pu)通涂層測(ce)厚儀快6倍。

2、精(jing)(jing)度(du)高：產品校(xiao)準(zhun)后(hou)精(jing)(jing)度(du)即可達到1-2%，比普通(tong)的涂層測厚儀精(jing)(jing)度(du)更高。

3、穩(wen)定(ding)(ding)性：測(ce)量值(zhi)的穩(wen)定(ding)(ding)性和使用穩(wen)定(ding)(ding)性優于涂層測(ce)厚儀。

4、功能(neng)、數據(ju)、操(cao)作(zuo)、顯示全部是中文(wen)。

二、涂層測厚儀和超聲波測厚儀有什么區別

涂層測厚(hou)儀(yi)和超聲(sheng)波(bo)測厚(hou)儀(yi)相比，雖然都(dou)是測厚(hou)儀(yi)，但在(zai)以下幾個(ge)方(fang)面(mian)都(dou)存在(zai)區別(bie)：

1、測量范圍不同

作為無損檢測(ce)(ce)儀(yi)(yi)器(qi)(qi)，超聲(sheng)波測(ce)(ce)厚(hou)儀(yi)(yi)和涂層測(ce)(ce)厚(hou)儀(yi)(yi)都有卡尺和千分尺等(deng)測(ce)(ce)量(liang)儀(yi)(yi)器(qi)(qi)達不到的優勢(shi)，但是兩者在測(ce)(ce)量(liang)范圍上還是有區別的，涂層測(ce)(ce)厚(hou)儀(yi)(yi)主要用(yong)來表面覆層，而超聲(sheng)波測(ce)(ce)厚(hou)儀(yi)(yi)側重于(yu)壁(bi)厚(hou)和板厚(hou)的基材測(ce)(ce)量(liang)。

超(chao)聲波(bo)測(ce)(ce)厚儀的具體測(ce)(ce)量(liang)范圍：超(chao)聲波(bo)測(ce)(ce)厚儀可以(yi)測(ce)(ce)量(liang)金屬材(cai)(cai)質、管(guan)(guan)道(dao)、壓力容(rong)器、板(ban)材(cai)(cai)（鋼板(ban)、鋁板(ban)）、塑料、鐵管(guan)(guan)、PVC管(guan)(guan)、玻璃等其他(ta)特殊材(cai)(cai)料的厚度；也(ye)可以(yi)測(ce)(ce)量(liang)工件表面油(you)漆(qi)層等帶涂層的材(cai)(cai)料。

涂(tu)層(ceng)(ceng)測(ce)厚儀(yi)的具體(ti)測(ce)量范(fan)圍：主要用于測(ce)量金屬上的涂(tu)層(ceng)(ceng)，防腐層(ceng)(ceng)，電鍍層(ceng)(ceng)，塑料，油漆，塑膠，陶瓷，琺瑯等(deng)(deng)覆蓋層(ceng)(ceng)的厚度，也可以(yi)擴展應用到對紙張，薄膜，板材等(deng)(deng)的厚度進(jin)行(xing)間接(jie)測(ce)量。

2、測量方法不同

（1）超聲波測厚儀的測量方法

①單點測量法(fa)：在(zai)被(bei)測體上(shang)任一點，利用探頭(tou)進(jin)行測量，顯示值即為厚度(du)值。

②兩(liang)點(dian)測量(liang)法(fa)：在被測體的同(tong)一點(dian)用(yong)探頭(tou)進行兩(liang)次測量(liang)，在第二次測量(liang)中，探頭(tou)的分(fen)割(ge)面(mian)成 90°，取(qu)兩(liang)次測量(liang)中的較小(xiao)值為厚度(du)值。

③多點(dian)測(ce)量法：當(dang)測(ce)量值(zhi)不穩定時(shi)，以一個測(ce)定點(dian)為中心(xin)，在直徑約為 30mm 的圓內進行(xing)多次測(ce)量，取最小值(zhi)為厚度值(zhi)。

④連(lian)續測量(liang)法(fa)：用單點測量(liang)法(fa)，沿指定線路連(lian)續測量(liang)，其(qi)間隔不小(xiao)(xiao)于 5mm，取其(qi)中最小(xiao)(xiao)值(zhi)為厚度值(zhi)。

（2）涂層測厚儀的測量方法

①磁性法：主要用于鐵基涂層(ceng)，當測量頭(tou)與(yu)覆(fu)(fu)蓋(gai)層(ceng)接觸時，測量頭(tou)和磁性金(jin)屬(shu)基體構成一(yi)閉(bi)合磁路，由于非磁性覆(fu)(fu)蓋(gai)層(ceng)的(de)存在(zai)，使磁路磁阻變化，通過(guo)測量其變化可導出覆(fu)(fu)蓋(gai)層(ceng)的(de)厚度。

②渦(wo)流法(fa)：主(zhu)要用(yong)于非鐵基涂層(ceng)，用(yong)利(li)用(yong)高頻交變電(dian)流在線圈中產(chan)生一個電(dian)磁(ci)場，當測(ce)量(liang)頭(tou)與覆蓋層(ceng)接觸(chu)時，金(jin)屬基體上產(chan)生電(dian)渦(wo)流，并對測(ce)量(liang)頭(tou)中的(de)(de)(de)線圈產(chan)生反(fan)饋(kui)作用(yong)，通過測(ce)量(liang)反(fan)饋(kui)作用(yong)的(de)(de)(de)大小(xiao)可導出覆蓋層(ceng)的(de)(de)(de)厚(hou)度(du)。

3、測量精度不同

超聲波測厚儀的測量精度是0.5-600mm；涂層測厚儀的測量精度是：0-1250um（標配(pei)F1/N1探頭）00-10000um（選配(pei)F10/N10探頭）。