一、鋼板測厚儀測量誤差范圍是多少

鋼板測厚儀是測量鋼板厚度的儀器，一般是超聲波測厚儀，基于超(chao)聲波測量(liang)(liang)原理，可(ke)以測量(liang)(liang)金屬及其它多(duo)種材料(liao)的厚度(du)，并可(ke)以對材料(liao)的聲速進行測量(liang)(liang)。

使用(yong)鋼板測(ce)(ce)(ce)(ce)厚(hou)儀測(ce)(ce)(ce)(ce)量(liang)(liang)厚(hou)度時，可能會有(you)一(yi)定(ding)的(de)(de)誤(wu)差(cha)，不過(guo)標準的(de)(de)鋼板測(ce)(ce)(ce)(ce)厚(hou)儀誤(wu)差(cha)要求在(zai)一(yi)定(ding)范(fan)圍內，一(yi)般正規廠(chang)家生產的(de)(de)鋼板測(ce)(ce)(ce)(ce)厚(hou)儀，在(zai)測(ce)(ce)(ce)(ce)量(liang)(liang)方法正確，不超過(guo)測(ce)(ce)(ce)(ce)量(liang)(liang)范(fan)圍的(de)(de)情(qing)況下，測(ce)(ce)(ce)(ce)量(liang)(liang)誤(wu)差(cha)為：

1、1mm～10mm范圍內：±0.05mm。

2、10mm～200mm范圍內(nei)：（±0.5%H+0.1）mm。

二、導致鋼板測厚儀測不準的原因有哪些

鋼板測厚儀(yi)測量過程中，出現測不準(zhun)、有(you)誤差的(de)情況(kuang)，可能原因有(you)很多(duo)，具體包括(kuo)：

1、檢測面與底面不平行，聲波遇(yu)到底面產生散射，探頭無法(fa)接受到底波信號。被(bei)測工件的另一表面必須(xu)與被(bei)測面平行，否則得(de)不到滿意(yi)的超聲數(shu)據，將引起測量(liang)誤差(cha)或根本無讀(du)數(shu)顯示。

2、鑄件、奧(ao)氏體(ti)鋼組織(zhi)內(nei)部不均勻(yun)或晶(jing)粒粗(cu)大，超(chao)(chao)聲(sheng)波在其(qi)中穿過時產生嚴(yan)重的(de)散射衰減，被散射的(de)超(chao)(chao)聲(sheng)波沿(yan)著復雜的(de)路徑傳播，有可能(neng)使回波湮(yin)沒，造成不顯(xian)示。對于(yu)晶(jing)粒粗(cu)大的(de)鑄件和奧(ao)氏體(ti)不銹(xiu)鋼等，應選用(yong)相對應的(de)專(zhuan)(zhuan)用(yong)測(ce)厚儀(yi)及頻(pin)率較低的(de)粗(cu)晶(jing)專(zhuan)(zhuan)用(yong)探頭（215MHz）模具硬度計(ji)。

3、被(bei)測(ce)(ce)物(wu)(wu)背面有(you)(you)(you)大量(liang)腐蝕坑(keng)。由于被(bei)測(ce)(ce)物(wu)(wu)另一面有(you)(you)(you)銹斑、腐蝕凹坑(keng)，造成(cheng)聲(sheng)波衰減，導(dao)致讀數(shu)(shu)無(wu)規則(ze)變化，測(ce)(ce)厚(hou)儀在極端情況下甚至(zhi)無(wu)讀數(shu)(shu)；此(ci)(ci)外(wai)，用鋼板測(ce)(ce)厚(hou)儀測(ce)(ce)鋼管之類的，如果內(nei)有(you)(you)(you)沉(chen)(chen)積(ji)(ji)物(wu)(wu)，當沉(chen)(chen)積(ji)(ji)物(wu)(wu)與工件聲(sheng)阻抗相差不(bu)大時(shi)(shi)，測(ce)(ce)厚(hou)儀顯示值為壁厚(hou)加沉(chen)(chen)積(ji)(ji)物(wu)(wu)厚(hou)度(du)。當發(fa)現背面有(you)(you)(you)腐蝕凹坑(keng)時(shi)(shi)，這個區域測(ce)(ce)量(liang)就得十分(fen)小(xiao)心，可選擇變換分(fen)割面角度(du)作多次測(ce)(ce)量(liang)；此(ci)(ci)時(shi)(shi)檢驗人(ren)員要(yao)根據事先查閱的資料(liao)及被(bei)測(ce)(ce)物(wu)(wu)體(ti)（如管道）內(nei)沉(chen)(chen)積(ji)(ji)物(wu)(wu)的厚(hou)度(du)、被(bei)測(ce)(ce)物(wu)(wu)體(ti)表面腐蝕和(he)磨損狀況綜合判斷檢測(ce)(ce)數(shu)(shu)據。

4、測量超限，普通測厚儀采(cai)用雙晶探(tan)頭(tou)，測(ce)量(liang)下限(xian)一般(ban)在平(ping)面(mian)碳鋼0.8mm，曲面(mian)碳鋼1.2mm，曲面(mian)下限(xian)會(hui)大于平(ping)面(mian)，超限(xian)會(hui)造成(cheng)示(shi)值偏(pian)大許(xu)多(duo)，這時候已經不(bu)是誤(wu)差，而是不(bu)能測(ce)量(liang)，需要更換合適探(tan)頭(tou)的鋼板測(ce)厚儀(yi)。

5、材料表(biao)面(mian)粗糙度(du)，平面(mian)度(du)影響，表(biao)面(mian)涂層影響等，因為鋼板測(ce)(ce)厚儀測(ce)(ce)量是探(tan)頭下方(fang)的(de)平均值，所以這些因素都會影響到(dao)測(ce)(ce)量的(de)精準度(du)。