一、掃描電鏡如何獲得高品質圖像?

掃描電鏡觀(guan)(guan)察(cha)的(de)(de)放大倍(bei)數在(zai)(zai)1萬以(yi)下，通常比其他類(lei)型顯微鏡所觀(guan)(guan)察(cha)到的(de)(de)圖像更富有立體感，清晰度(du)更高，層次細節更分(fen)明和豐富。但在(zai)(zai)使用過程中，也需要注意一(yi)些地(di)方，才能獲得高品質(zhi)圖像：

1、制樣：成功(gong)制備出所要觀察的(de)位置(zhi)，樣品(pin)如果不(bu)導電(dian)，可(ke)能需(xu)要鍍(du)金。

2、環境：電鏡處在(zai)無振動干擾(rao)和無磁場(chang)干擾(rao)的環(huan)境下。

3、設備：電鏡電子槍仍在合理(li)的使(shi)用時間內。

4、拍攝：找到拍(pai)攝位置(zhi)，選擇(ze)合適距離，選擇(ze)合適探(tan)頭→對(dui)中→調(diao)像(xiang)散→聚(ju)焦，反復(fu)操作至最清晰(xi)即(ji)可。

二、掃描電鏡的圖怎么分析

掃描電鏡圖(tu)片(pian)分析的(de)方法(fa)是觀察SEM圖(tu)片(pian)的(de)整體(ti)形(xing)態和結(jie)構，了解(jie)樣(yang)品的(de)形(xing)貌(mao)和表面(mian)特征。確定需要分析的(de)區域，可(ke)以(yi)(yi)使用(yong)SEM軟(ruan)件中(zhong)的(de)標(biao)記工具或者(zhe)直接在圖(tu)片(pian)上標(biao)記。測(ce)量樣(yang)品的(de)尺寸和形(xing)態，可(ke)以(yi)(yi)使用(yong)SEM軟(ruan)件中(zhong)的(de)測(ce)量工具進行(xing)測(ce)量。

如：分析(xi)(xi)樣品(pin)(pin)的成分和(he)(he)結(jie)構(gou)，可以使用SEM配合能譜(pu)儀（EDS）或者(zhe)電子背散(san)射（EBSD）等技(ji)術進行(xing)分析(xi)(xi)。根(gen)據分析(xi)(xi)結(jie)果，結(jie)合SEM圖片的形態和(he)(he)結(jie)構(gou)，對樣品(pin)(pin)進行(xing)進一(yi)步的解釋和(he)(he)推(tui)斷。

需(xu)要(yao)注意的(de)(de)(de)是，SEM圖片的(de)(de)(de)分(fen)析需(xu)要(yao)結合樣(yang)品的(de)(de)(de)具體(ti)特(te)征和(he)分(fen)析目的(de)(de)(de)進行，不(bu)同的(de)(de)(de)樣(yang)品和(he)分(fen)析目的(de)(de)(de)可能(neng)需(xu)要(yao)不(bu)同的(de)(de)(de)分(fen)析方法和(he)技術。