一、掃描電鏡如何獲得高品質圖像?

掃描電(dian)鏡觀(guan)察的放(fang)大倍數(shu)在1萬(wan)以下，通常(chang)比其他類型顯微(wei)鏡所觀(guan)察到的圖像更(geng)富(fu)有(you)立體感，清(qing)晰度更(geng)高，層次細節更(geng)分明和豐富(fu)。但在使用(yong)過程中(zhong)，也需要(yao)注意(yi)一些地方，才能(neng)獲得(de)高品(pin)質圖像：

1、制樣：成(cheng)功制(zhi)備出所要觀(guan)察的位置，樣品如果(guo)不導(dao)電，可能(neng)需要鍍金。

2、環境：電(dian)鏡(jing)處在無(wu)振動干(gan)擾和無(wu)磁場干(gan)擾的環境(jing)下。

3、設備：電鏡電子槍(qiang)仍在(zai)合理的(de)使(shi)用時間內。

4、拍攝：找到(dao)拍攝位置，選擇(ze)合適(shi)距離(li)，選擇(ze)合適(shi)探頭→對中→調像散→聚焦，反復操作(zuo)至(zhi)最(zui)清晰即可(ke)。

二、掃描電鏡的圖怎么分析

掃描電鏡圖(tu)(tu)片(pian)分析的(de)(de)(de)(de)方法(fa)是觀察SEM圖(tu)(tu)片(pian)的(de)(de)(de)(de)整體(ti)形(xing)態(tai)(tai)和結構，了解(jie)樣品(pin)的(de)(de)(de)(de)形(xing)貌和表面特(te)征。確(que)定需要分析的(de)(de)(de)(de)區域，可以使用SEM軟件中的(de)(de)(de)(de)標記(ji)工(gong)(gong)具或者直接在圖(tu)(tu)片(pian)上標記(ji)。測量(liang)(liang)樣品(pin)的(de)(de)(de)(de)尺寸和形(xing)態(tai)(tai)，可以使用SEM軟件中的(de)(de)(de)(de)測量(liang)(liang)工(gong)(gong)具進行測量(liang)(liang)。

如：分(fen)析樣品(pin)的(de)成分(fen)和結(jie)構，可以(yi)使用(yong)SEM配合(he)能(neng)譜(pu)儀（EDS）或者電子背(bei)散射（EBSD）等技術進行分(fen)析。根據分(fen)析結(jie)果，結(jie)合(he)SEM圖片的(de)形態(tai)和結(jie)構，對樣品(pin)進行進一(yi)步(bu)的(de)解釋(shi)和推斷。

需要注意的(de)是，SEM圖片的(de)分(fen)(fen)析(xi)(xi)需要結合樣品(pin)(pin)的(de)具體(ti)特征和分(fen)(fen)析(xi)(xi)目的(de)進行(xing)，不同(tong)的(de)樣品(pin)(pin)和分(fen)(fen)析(xi)(xi)目的(de)可(ke)能需要不同(tong)的(de)分(fen)(fen)析(xi)(xi)方法(fa)和技術。