一、固態硬盤壽命多久

固態硬盤具有擦(ca)寫次數限制的(de)問題，所以(yi)(yi)說固(gu)態(tai)硬盤(pan)是有壽命限制的(de)。固(gu)態(tai)硬盤(pan)內部(bu)閃(shan)存完全擦(ca)寫一次叫(jiao)做1次P/E，因此固(gu)態(tai)硬盤(pan)的(de)壽命就以(yi)(yi)P/E作單位。

固態(tai)硬(ying)盤(pan)壽(shou)命主要是(shi)擦寫次數、容(rong)量決定的(de)，而不同容(rong)量以及不同顆(ke)(ke)粒(li)，擦寫次數也(ye)不是(shi)不同的(de)。目(mu)(mu)前市(shi)面上的(de)固態(tai)硬(ying)盤(pan)有SLC、MLC、TLC、QLC四(si)種顆(ke)(ke)粒(li)，目(mu)(mu)前SLC顆(ke)(ke)粒(li)成(cheng)本較高，容(rong)量較小(xiao)，比較少見，MLC多數定位高端產(chan)品中(zhong)，TLC是(shi)目(mu)(mu)前市(shi)場主流(liu)顆(ke)(ke)粒(li)，而QLC顆(ke)(ke)粒(li)壽(shou)命最(zui)短(duan)，但是(shi)成(cheng)本較小(xiao)，容(rong)量較大。

SLC顆粒(li)理論(lun)擦寫次(ci)(ci)(ci)數在(zai)(zai)10萬次(ci)(ci)(ci)以(yi)上P/E，MLC顆粒(li)理論(lun)擦寫次(ci)(ci)(ci)數在(zai)(zai)3000-5000次(ci)(ci)(ci)P/E左右，TLC顆粒(li)理論(lun)擦寫次(ci)(ci)(ci)數在(zai)(zai)1000-3000次(ci)(ci)(ci)P/E不等(deng)，而QLC顆粒(li)理論(lun)擦寫次(ci)(ci)(ci)數僅(jin)150次(ci)(ci)(ci)P/E。

固態硬盤的使(shi)用壽(shou)命=（實(shi)際容(rong)量(liang)（單位：GB）×P/E數）÷（每天(tian)寫入(ru)容(rong)量(liang)（單位：GB/天(tian)）×寫入(ru)放大×365（單位：天(tian)））。

舉(ju)個例子吧(ba)，假設(she)1個500G的(de)TLC顆粒固態硬盤（理論擦(ca)寫(xie)以最少1000次P/E計），按照(zhao)每天(tian)(tian)擦(ca)寫(xie)100G，也(ye)就是它的(de)壽命=1000*500/100/365=13.7年，還有這(zhe)個寫(xie)入次數也(ye)是理論上的(de)，超出也(ye)不一定會(hui)壞，而(er)且(qie)你每天(tian)(tian)也(ye)不可能擦(ca)寫(xie)100G。

所(suo)以，理論(lun)數據僅供參考，有的固態(tai)(tai)硬(ying)盤(pan)還沒到(dao)理論(lun)壽命(ming)，就(jiu)壞了(le)，有的固態(tai)(tai)硬(ying)盤(pan)超過理論(lun)壽命(ming)，依然(ran)堅挺，所(suo)以大家無需擔心固態(tai)(tai)硬(ying)盤(pan)的使用壽命(ming)問題。

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二、固態硬盤壽命到期表現

現在的SSD管理管理芯片以(yi)及閃存技術都有不小(xiao)的進步，如(ru)果超過了(le)SSD的使用壽(shou)命，不必擔心數(shu)(shu)據，因(yin)為最多只(zhi)是(shi)(shi)不能寫入了(le)，但(dan)是(shi)(shi)數(shu)(shu)據都還在，是(shi)(shi)可以(yi)讀取的。

雖(sui)然現在的(de)SSD即(ji)使有壽(shou)命限制，但也(ye)足夠用5-10年。

三、SSD固態硬盤使用壽命檢測方法

目(mu)前很(hen)多固態(tai)硬盤工具(ju)，都具(ju)備壽命檢測功(gong)能，下面分享幾款(kuan)軟件，供(gong)大(da)家參(can)考。

1、CrystalDiskInfo

CrystalDiskInfo是一款硬盤(pan)檢(jian)測工具，只要在(zai)裝了SSD的(de)電腦(nao)上，安裝運行CrystalDiskInfo軟(ruan)件(jian)，即可檢(jian)測到硬盤(pan)信息(xi)。我(wo)們打(da)開CrystalDiskInfo軟(ruan)件(jian)檢(jian)測了intel某(mou)型號的(de)固態(tai)硬盤(pan)，在(zai)健康的(de)欄目中，檢(jian)測該固態(tai)陰干剩余壽命還(huan)有(you)92%。

固態(tai)硬(ying)盤的(de)磨損程度(du)實際上是由NAND寫(xie)入(ru)量決定，NAND寫(xie)入(ru)量受主機(ji)寫(xie)入(ru)和寫(xie)入(ru)放(fang)大率的(de)共同影響，不過很(hen)多(duo)固態(tai)硬(ying)盤并沒有提供NAND寫(xie)入(ru)量的(de)具(ju)體數值。

2、SSD廠商工具

不同硬盤檢測工具(ju)，檢測的SSD剩余壽命數值(zhi)也可能有所不同，我們來使用為Intel固(gu)態(tai)(tai)驅(qu)動器工具(ju)來檢測固(gu)態(tai)(tai)硬盤壽命，而壽命數值(zhi)僅為67%。

3、M.2固態硬盤壽命檢測

發展到NVMe固態(tai)硬盤后，SMART健康度(du)信(xin)息終于統一了(le)標準。這是東(dong)芝RC100 240G NVMe固態(tai)硬盤的(de)CrystalDiskMark檢測信(xin)息：健康狀態(tai)是由03 Available Spare可用(yong)(yong)備用(yong)(yong)空間來確定，備用(yong)(yong)塊剩(sheng)余(yu)100%，故而顯示當前剩(sheng)余(yu)壽(shou)命100%。

而通過東芝SSD Utility固態(tai)硬盤工(gong)具(ju)箱，可(ke)以查看到這塊RC100 NVMe固態(tai)硬盤的健康度為97%。

97%這個數值是(shi)根據(ju)主機寫入(ru)量(liang)占廠商標定的(de)(de)(de)固態硬(ying)盤總寫入(ru)量(liang)（TBW）百分比(bi)(bi)得(de)出的(de)(de)(de)，展現在SMART信息05 Percentage Used當中。下圖(tu)是(shi)東芝RC100的(de)(de)(de)TBW信息，它是(shi)按照(zhao)JEDEC標準(zhun)來計算的(de)(de)(de)，比(bi)(bi)實際家用使用強度更大更嚴格。

到了NVMe固(gu)態(tai)(tai)硬(ying)盤(pan)時代(dai)之(zhi)后，不同硬(ying)盤(pan)檢測(ce)軟(ruan)件對健康度的檢測(ce)結果依然不一樣，哪(na)個(ge)結果更準確呢？小編(bian)認為(wei)，固(gu)態(tai)(tai)硬(ying)盤(pan)廠商提供的工具箱軟(ruan)件檢測(ce)相對最科學。

雖然基于固定TBW的(de)百分比計(ji)算比較死板，但相(xiang)比按備用塊消耗程度來預計(ji)壽(shou)命的(de)方法更可靠。

以上就是使用工具檢測固態硬盤壽命方法，不(bu)同工(gong)具檢測(ce)的(de)結構有(you)所不(bu)同，因(yin)此(ci)數值僅供參考，不(bu)一定完全準確。當然，如果多款硬盤(pan)檢測(ce)工(gong)具都顯示您的(de)SSD壽命快(kuai)用盡(jin)，這個(ge)時候就(jiu)需要(yao)注(zhu)意，SSD真的(de)可能快(kuai)壞了，請及時備份(fen)重要(yao)數據(ju)到其(qi)他硬盤(pan)或者U盤(pan)上，以免因(yin)SSD損壞，數據(ju)丟失。