一、探傷儀的原理是什么
探傷儀檢測通(tong)常是對被測物(wu)體（比如工業材料、人(ren)體）發射超聲(sheng)(sheng)，然后利用(yong)其(qi)(qi)反射、多普(pu)勒效(xiao)應、透射等來(lai)獲取被測物(wu)體內部的(de)信(xin)息并經(jing)過處理形成圖像。探傷儀其(qi)(qi)中多普(pu)勒效(xiao)應法(fa)是利用(yong)超聲(sheng)(sheng)在遇到運動的(de)物(wu)體時(shi)發生的(de)多普(pu)勒頻移效(xiao)應來(lai)得出該物(wu)體的(de)運動方(fang)向和(he)速度等特(te)(te)性(xing)；透射法(fa)則是通(tong)過分析超聲(sheng)(sheng)穿透過被測物(wu)體之后的(de)變化(hua)而得出物(wu)體的(de)內部特(te)(te)性(xing)的(de)，其(qi)(qi)應用(yong)還處于(yu)研制階段。
二、探傷儀怎么使用
探(tan)傷(shang)儀五大常規方法(fa)是指射線(xian)探(tan)傷(shang)法(fa)、超聲波探(tan)傷(shang)法(fa)、磁粉探(tan)傷(shang)法(fa)、渦(wo)流探(tan)傷(shang)法(fa)和滲透探(tan)傷(shang)法(fa)。
1、射線探傷方法
射(she)(she)(she)(she)(she)(she)(she)線(xian)(xian)(xian)(xian)探(tan)傷(shang)是利用(yong)(yong)射(she)(she)(she)(she)(she)(she)(she)線(xian)(xian)(xian)(xian)的(de)(de)(de)穿(chuan)透(tou)性和直線(xian)(xian)(xian)(xian)性來探(tan)傷(shang)的(de)(de)(de)方法。這些(xie)射(she)(she)(she)(she)(she)(she)(she)線(xian)(xian)(xian)(xian)雖然不會(hui)像可見(jian)光那(nei)樣(yang)憑肉眼(yan)就(jiu)能直接(jie)察(cha)知，但它(ta)可使照相(xiang)底(di)片感光，也可用(yong)(yong)特殊的(de)(de)(de)接(jie)收(shou)器來接(jie)收(shou)。常用(yong)(yong)于探(tan)傷(shang)的(de)(de)(de)射(she)(she)(she)(she)(she)(she)(she)線(xian)(xian)(xian)(xian)有(you)x光和同位素發出的(de)(de)(de)γ射(she)(she)(she)(she)(she)(she)(she)線(xian)(xian)(xian)(xian)，分別稱為x光探(tan)傷(shang)和γ射(she)(she)(she)(she)(she)(she)(she)線(xian)(xian)(xian)(xian)探(tan)傷(shang)。當這些(xie)射(she)(she)(she)(she)(she)(she)(she)線(xian)(xian)(xian)(xian)穿(chuan)過(guo)（照射(she)(she)(she)(she)(she)(she)(she)）物(wu)質時，該物(wu)質的(de)(de)(de)密度(du)(du)(du)(du)越大(da)，射(she)(she)(she)(she)(she)(she)(she)線(xian)(xian)(xian)(xian)強(qiang)度(du)(du)(du)(du)減弱得(de)(de)越多，即(ji)射(she)(she)(she)(she)(she)(she)(she)線(xian)(xian)(xian)(xian)能穿(chuan)透(tou)過(guo)該物(wu)質的(de)(de)(de)強(qiang)度(du)(du)(du)(du)就(jiu)越小(xiao)(xiao)。此時，若(ruo)用(yong)(yong)照相(xiang)底(di)片接(jie)收(shou)，則(ze)底(di)片的(de)(de)(de)感光量就(jiu)小(xiao)(xiao)；若(ruo)用(yong)(yong)儀(yi)器來接(jie)收(shou)，獲(huo)得(de)(de)的(de)(de)(de)信號就(jiu)弱。因(yin)此，用(yong)(yong)射(she)(she)(she)(she)(she)(she)(she)線(xian)(xian)(xian)(xian)來照射(she)(she)(she)(she)(she)(she)(she)待探(tan)傷(shang)的(de)(de)(de)零部件(jian)時，若(ruo)其(qi)內部有(you)氣孔、夾(jia)渣(zha)等(deng)缺(que)陷(xian)(xian)，射(she)(she)(she)(she)(she)(she)(she)線(xian)(xian)(xian)(xian)穿(chuan)過(guo)有(you)缺(que)陷(xian)(xian)的(de)(de)(de)路徑比沒有(you)缺(que)陷(xian)(xian)的(de)(de)(de)路徑所透(tou)過(guo)的(de)(de)(de)物(wu)質密度(du)(du)(du)(du)要小(xiao)(xiao)得(de)(de)多，其(qi)強(qiang)度(du)(du)(du)(du)就(jiu)減弱得(de)(de)少些(xie)，即(ji)透(tou)過(guo)的(de)(de)(de)強(qiang)度(du)(du)(du)(du)就(jiu)大(da)些(xie)，若(ruo)用(yong)(yong)底(di)片接(jie)收(shou)，則(ze)感光量就(jiu)大(da)些(xie)，就(jiu)可以從(cong)底(di)片上反映出缺(que)陷(xian)(xian)垂直于射(she)(she)(she)(she)(she)(she)(she)線(xian)(xian)(xian)(xian)方向的(de)(de)(de)平面(mian)投影；若(ruo)用(yong)(yong)其(qi)它(ta)接(jie)收(shou)器也同樣(yang)可以用(yong)(yong)儀(yi)表來反映缺(que)陷(xian)(xian)垂直于射(she)(she)(she)(she)(she)(she)(she)線(xian)(xian)(xian)(xian)方向的(de)(de)(de)平面(mian)投影和射(she)(she)(she)(she)(she)(she)(she)線(xian)(xian)(xian)(xian)的(de)(de)(de)透(tou)過(guo)量。由此可見(jian)，一般情況下(xia)，射(she)(she)(she)(she)(she)(she)(she)線(xian)(xian)(xian)(xian)探(tan)傷(shang)是不易發現(xian)裂(lie)紋(wen)的(de)(de)(de)，或者說，射(she)(she)(she)(she)(she)(she)(she)線(xian)(xian)(xian)(xian)探(tan)傷(shang)對裂(lie)紋(wen)是不敏(min)(min)感的(de)(de)(de)。因(yin)此，射(she)(she)(she)(she)(she)(she)(she)線(xian)(xian)(xian)(xian)探(tan)傷(shang)對氣孔、夾(jia)渣(zha)、未焊透(tou)等(deng)體積(ji)型缺(que)陷(xian)(xian)最敏(min)(min)感。即(ji)射(she)(she)(she)(she)(she)(she)(she)線(xian)(xian)(xian)(xian)探(tan)傷(shang)適(shi)(shi)宜(yi)用(yong)(yong)于體積(ji)型缺(que)陷(xian)(xian)探(tan)傷(shang)，而不適(shi)(shi)宜(yi)面(mian)積(ji)型缺(que)陷(xian)(xian)探(tan)傷(shang)。
2、超聲波探傷方法
人(ren)們的(de)(de)(de)(de)(de)耳朵能(neng)(neng)直接接收(shou)到的(de)(de)(de)(de)(de)聲(sheng)(sheng)(sheng)(sheng)波(bo)的(de)(de)(de)(de)(de)頻率范圍通常(chang)是20Hz到20kHz，即音（聲(sheng)(sheng)(sheng)(sheng)）頻。頻率低(di)于(yu)20Hz的(de)(de)(de)(de)(de)稱(cheng)(cheng)為(wei)次(ci)聲(sheng)(sheng)(sheng)(sheng)波(bo)，高(gao)于(yu)20 kHz的(de)(de)(de)(de)(de)稱(cheng)(cheng)為(wei)超(chao)聲(sheng)(sheng)(sheng)(sheng)波(bo)。工業上常(chang)用數兆赫茲超(chao)聲(sheng)(sheng)(sheng)(sheng)波(bo)來探(tan)傷。超(chao)聲(sheng)(sheng)(sheng)(sheng)波(bo)頻率高(gao)，則傳(chuan)播(bo)的(de)(de)(de)(de)(de)直線性(xing)強，又(you)易于(yu)在固體中傳(chuan)播(bo)，并且遇到兩種不同介(jie)質形成(cheng)的(de)(de)(de)(de)(de)界(jie)面(mian)時易于(yu)反(fan)射(she)，這樣就(jiu)可(ke)以用它來探(tan)傷。通常(chang)用超(chao)聲(sheng)(sheng)(sheng)(sheng)波(bo)探(tan)頭與待探(tan)工件表(biao)面(mian)良好的(de)(de)(de)(de)(de)接觸，探(tan)頭則可(ke)有效地向工件發射(she)超(chao)聲(sheng)(sheng)(sheng)(sheng)波(bo)，并能(neng)(neng)接收(shou)（缺(que)陷(xian)(xian)）界(jie)面(mian)反(fan)射(she)來的(de)(de)(de)(de)(de)超(chao)聲(sheng)(sheng)(sheng)(sheng)波(bo)，同時轉(zhuan)換成(cheng)電信號，再(zai)傳(chuan)輸給儀器進行處(chu)理。根據(ju)超(chao)聲(sheng)(sheng)(sheng)(sheng)波(bo)在介(jie)質中傳(chuan)播(bo)的(de)(de)(de)(de)(de)速(su)度（常(chang)稱(cheng)(cheng)聲(sheng)(sheng)(sheng)(sheng)速(su)）和傳(chuan)播(bo)的(de)(de)(de)(de)(de)時間，就(jiu)可(ke)知道缺(que)陷(xian)(xian)的(de)(de)(de)(de)(de)位置。當缺(que)陷(xian)(xian)越大(da)，反(fan)射(she)面(mian)則越大(da)，其反(fan)射(she)的(de)(de)(de)(de)(de)能(neng)(neng)量(liang)也就(jiu)越大(da)，故(gu)可(ke)根據(ju)反(fan)射(she)能(neng)(neng)量(liang)的(de)(de)(de)(de)(de)大(da)小來查(cha)知各缺(que)陷(xian)(xian)（當量(liang)）的(de)(de)(de)(de)(de)大(da)小。常(chang)用的(de)(de)(de)(de)(de)探(tan)傷波(bo)形有縱波(bo)、橫波(bo)、表(biao)面(mian)波(bo)等，前二者適(shi)用于(yu)探(tan)測內部缺(que)陷(xian)(xian)，后者適(shi)宜(yi)于(yu)探(tan)測表(biao)面(mian)缺(que)陷(xian)(xian)，但(dan)對表(biao)面(mian)的(de)(de)(de)(de)(de)條件要求高(gao)。
3、磁粉探傷方法
磁(ci)(ci)粉探傷(shang)是(shi)建立(li)在(zai)(zai)漏(lou)磁(ci)(ci)原理基礎上的(de)一種磁(ci)(ci)力探傷(shang)方法(fa)。當磁(ci)(ci)力線穿過鐵(tie)磁(ci)(ci)材料及(ji)其制(zhi)(zhi)(zhi)品時(shi)(shi)，在(zai)(zai)其（磁(ci)(ci)性）不(bu)連續(xu)處(chu)將產生漏(lou)磁(ci)(ci)場，形成磁(ci)(ci)極。此時(shi)(shi)撒(sa)上干磁(ci)(ci)粉或澆上磁(ci)(ci)懸液(ye)，磁(ci)(ci)極就會吸(xi)附磁(ci)(ci)粉，產生用肉眼能直接(jie)(jie)觀察的(de)明顯磁(ci)(ci)痕。因(yin)此，可(ke)(ke)借助于(yu)該磁(ci)(ci)痕來顯示鐵(tie)磁(ci)(ci)材料及(ji)其制(zhi)(zhi)(zhi)品的(de)缺(que)(que)陷情況。磁(ci)(ci)粉探傷(shang)法(fa)可(ke)(ke)探測露出表面(mian)(mian)(mian)，用肉眼或借助于(yu)放大鏡(jing)也(ye)不(bu)能直接(jie)(jie)觀察到的(de)微小缺(que)(que)陷，也(ye)可(ke)(ke)探測未(wei)露出表面(mian)(mian)(mian)，而是(shi)埋(mai)藏在(zai)(zai)表面(mian)(mian)(mian)下幾毫米的(de)近(jin)表面(mian)(mian)(mian)缺(que)(que)陷。用這種方法(fa)雖然(ran)也(ye)能探查氣孔、夾(jia)雜、未(wei)焊(han)透等(deng)體積型(xing)缺(que)(que)陷，但(dan)對面(mian)(mian)(mian)積型(xing)缺(que)(que)陷更(geng)靈敏(min)，更(geng)適于(yu)檢查因(yin)淬(cui)火、軋制(zhi)(zhi)(zhi)、鍛造、鑄造、焊(han)接(jie)(jie)、電鍍、磨削、疲勞等(deng)引起的(de)裂紋。
磁(ci)力(li)(li)(li)探(tan)傷(shang)(shang)中(zhong)對缺(que)陷的(de)(de)(de)顯(xian)示(shi)(shi)方法有(you)多種，有(you)用(yong)磁(ci)粉(fen)顯(xian)示(shi)(shi)的(de)(de)(de)，也有(you)不(bu)(bu)用(yong)磁(ci)粉(fen)顯(xian)示(shi)(shi)的(de)(de)(de)。用(yong)磁(ci)粉(fen)顯(xian)示(shi)(shi)的(de)(de)(de)稱(cheng)為磁(ci)粉(fen)探(tan)傷(shang)(shang)，因(yin)它(ta)顯(xian)示(shi)(shi)直觀、操作簡(jian)單、人(ren)(ren)們(men)樂于(yu)使(shi)用(yong)，故它(ta)是最常用(yong)的(de)(de)(de)方法之一。不(bu)(bu)用(yong)磁(ci)粉(fen)顯(xian)示(shi)(shi)的(de)(de)(de)，習慣上稱(cheng)為漏磁(ci)探(tan)傷(shang)(shang)，它(ta)常借(jie)助于(yu)感應線圈、磁(ci)敏管、霍爾元件等來反映缺(que)陷，它(ta)比磁(ci)粉(fen)探(tan)傷(shang)(shang)更(geng)衛生，但不(bu)(bu)如前者(zhe)直觀。由于(yu)磁(ci)力(li)(li)(li)探(tan)傷(shang)(shang)主要用(yong)磁(ci)粉(fen)來顯(xian)示(shi)(shi)缺(que)陷，因(yin)此，人(ren)(ren)們(men)有(you)時把(ba)磁(ci)粉(fen)探(tan)傷(shang)(shang)直接稱(cheng)為磁(ci)力(li)(li)(li)探(tan)傷(shang)(shang)，其設(she)備稱(cheng)為磁(ci)力(li)(li)(li)探(tan)傷(shang)(shang)設(she)備。
4、渦流探傷方法
渦(wo)流(liu)(liu)探傷是(shi)由交(jiao)流(liu)(liu)電(dian)流(liu)(liu)產生的(de)交(jiao)變磁場(chang)作用于待探傷的(de)導(dao)電(dian)材(cai)料(liao)(liao)，感(gan)應(ying)出電(dian)渦(wo)流(liu)(liu)。如(ru)(ru)果材(cai)料(liao)(liao)中(zhong)有(you)缺(que)陷，它將干擾(rao)(rao)所產生的(de)電(dian)渦(wo)流(liu)(liu)，即形成干擾(rao)(rao)信(xin)號。用渦(wo)流(liu)(liu)探傷儀檢測出其干擾(rao)(rao)信(xin)號，就(jiu)可(ke)(ke)知道(dao)缺(que)陷的(de)狀況。影響(xiang)渦(wo)流(liu)(liu)的(de)因素很多(duo)，即是(shi)說渦(wo)流(liu)(liu)中(zhong)載有(you)豐富的(de)信(xin)號，這些信(xin)號與材(cai)料(liao)(liao)的(de)很多(duo)因素有(you)關，如(ru)(ru)何將其中(zhong)有(you)用的(de)信(xin)號從諸多(duo)的(de)信(xin)號中(zhong)一一分離(li)出來，是(shi)渦(wo)流(liu)(liu)研究工作者的(de)難題，多(duo)年來已經(jing)取得了(le)一些進展(zhan)，在一定條件(jian)下(xia)可(ke)(ke)解決一些問(wen)題，但還遠(yuan)不(bu)能滿足現(xian)場(chang)的(de)要求，有(you)待于大力發展(zhan)。
渦(wo)流探(tan)傷(shang)的顯著特(te)點是(shi)對(dui)(dui)導電(dian)材料(liao)就能起(qi)作(zuo)用，而(er)不一定(ding)是(shi)鐵(tie)磁材料(liao)，但(dan)對(dui)(dui)鐵(tie)磁材料(liao)的效果(guo)較差。其次，待(dai)探(tan)工(gong)件表面的光(guang)潔度、平整度、邊介(jie)等對(dui)(dui)渦(wo)流探(tan)傷(shang)都有較大影響，因此常(chang)將渦(wo)流探(tan)傷(shang)用于形(xing)狀較規則、表面較光(guang)潔的銅管等非鐵(tie)磁性(xing)工(gong)件探(tan)傷(shang)。
5、滲透探傷方法
滲透(tou)(tou)(tou)探(tan)(tan)傷(shang)(shang)是(shi)利用(yong)毛(mao)細(xi)現(xian)象(xiang)來進(jin)行探(tan)(tan)傷(shang)(shang)的(de)(de)方法(fa)(fa)。對(dui)于(yu)表(biao)面(mian)光(guang)滑(hua)而(er)清潔的(de)(de)零(ling)部(bu)件，用(yong)一種帶色（常(chang)為(wei)(wei)紅(hong)色）或(huo)帶有(you)熒(ying)(ying)光(guang)的(de)(de)、滲透(tou)(tou)(tou)性(xing)(xing)很(hen)(hen)強的(de)(de)液(ye)體，涂(tu)覆于(yu)待(dai)探(tan)(tan)零(ling)部(bu)件的(de)(de)表(biao)面(mian)。若(ruo)(ruo)表(biao)面(mian)有(you)肉眼不能直(zhi)接察知(zhi)的(de)(de)微裂(lie)紋(wen)，由(you)于(yu)該(gai)液(ye)體的(de)(de)滲透(tou)(tou)(tou)性(xing)(xing)很(hen)(hen)強，它(ta)將沿著裂(lie)紋(wen)滲透(tou)(tou)(tou)到其根部(bu)。然后(hou)將表(biao)面(mian)的(de)(de)滲透(tou)(tou)(tou)液(ye)洗去，再(zai)涂(tu)上對(dui)比(bi)度較(jiao)大的(de)(de)顯(xian)示(shi)液(ye)（常(chang)為(wei)(wei)白(bai)色）。放置片刻后(hou)，由(you)于(yu)裂(lie)紋(wen)很(hen)(hen)窄，毛(mao)細(xi)現(xian)象(xiang)作用(yong)顯(xian)著，原(yuan)滲透(tou)(tou)(tou)到裂(lie)紋(wen)內的(de)(de)滲透(tou)(tou)(tou)液(ye)將上升到表(biao)面(mian)并擴(kuo)散，在(zai)(zai)白(bai)色的(de)(de)襯(chen)底上顯(xian)出(chu)(chu)較(jiao)粗的(de)(de)紅(hong)線，從而(er)顯(xian)示(shi)出(chu)(chu)裂(lie)紋(wen)露于(yu)表(biao)面(mian)的(de)(de)形狀(zhuang)，因此(ci)(ci)，常(chang)稱為(wei)(wei)著色探(tan)(tan)傷(shang)(shang)。若(ruo)(ruo)滲透(tou)(tou)(tou)液(ye)采(cai)用(yong)的(de)(de)是(shi)帶熒(ying)(ying)光(guang)的(de)(de)液(ye)體，由(you)毛(mao)細(xi)現(xian)象(xiang)上升到表(biao)面(mian)的(de)(de)液(ye)體，則會在(zai)(zai)紫外(wai)燈照射下發出(chu)(chu)熒(ying)(ying)光(guang)，從而(er)更能顯(xian)示(shi)出(chu)(chu)裂(lie)紋(wen)露于(yu)表(biao)面(mian)的(de)(de)形狀(zhuang)，故常(chang)常(chang)又將此(ci)(ci)時的(de)(de)滲透(tou)(tou)(tou)探(tan)(tan)傷(shang)(shang)直(zhi)接稱為(wei)(wei)熒(ying)(ying)光(guang)探(tan)(tan)傷(shang)(shang)。此(ci)(ci)探(tan)(tan)傷(shang)(shang)方法(fa)(fa)也可用(yong)于(yu)金屬和非金屬表(biao)面(mian)探(tan)(tan)傷(shang)(shang)。其使(shi)用(yong)的(de)(de)探(tan)(tan)傷(shang)(shang)液(ye)劑有(you)較(jiao)大氣味(wei)，常(chang)有(you)一定毒性(xing)(xing)。
探傷儀除以(yi)上(shang)五大常規方法(fa)(fa)外，近年來又有(you)了紅外、聲發射等一(yi)些新的探傷方法(fa)(fa)。
