一、x射線熒光光譜儀測什么的

X射線熒光光譜儀（X-rayFluorescenceSpectrometer，簡稱：XRF光(guang)(guang)譜儀(yi)），是一(yi)種快速的(de)(de)(de)(de)(de)(de)、非破壞(huai)式的(de)(de)(de)(de)(de)(de)物質(zhi)測量方法(fa)。X射(she)線熒光(guang)(guang)（X-rayfluorescence，XRF）是用(yong)高能(neng)(neng)量X射(she)線或伽瑪射(she)線轟擊(ji)材料(liao)(liao)時激(ji)發(fa)出(chu)(chu)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)次級X射(she)線。XRF用(yong)X光(guang)(guang)或其他激(ji)發(fa)源照射(she)待分(fen)析樣品(pin)，樣品(pin)中的(de)(de)(de)(de)(de)(de)元素(su)之(zhi)內層電(dian)子(zi)(zi)被(bei)擊(ji)出(chu)(chu)后，造成核外電(dian)子(zi)(zi)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)躍遷(qian)，在(zai)(zai)(zai)被(bei)激(ji)發(fa)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)電(dian)子(zi)(zi)返回基態的(de)(de)(de)(de)(de)(de)時候，會放射(she)出(chu)(chu)特(te)(te)征(zheng)X光(guang)(guang)；不(bu)同的(de)(de)(de)(de)(de)(de)元素(su)會放射(she)出(chu)(chu)各自的(de)(de)(de)(de)(de)(de)特(te)(te)征(zheng)X光(guang)(guang)，具(ju)有不(bu)同的(de)(de)(de)(de)(de)(de)能(neng)(neng)量或波長特(te)(te)性。檢(jian)測器(qi)（Detector）接受這(zhe)些(xie)X光(guang)(guang)，儀(yi)器(qi)軟(ruan)件系統將其轉為對應(ying)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)信(xin)號。這(zhe)一(yi)現象廣泛用(yong)于元素(su)分(fen)析和化學(xue)分(fen)析，特(te)(te)別是在(zai)(zai)(zai)研究金屬，玻璃(li)，陶(tao)瓷和建(jian)筑材料(liao)(liao)，以及在(zai)(zai)(zai)地球(qiu)化學(xue)研究、法(fa)醫學(xue)、電(dian)子(zi)(zi)產品(pin)進料(liao)(liao)品(pin)管(guan)（EURoHS）和考古學(xue)等領(ling)域，在(zai)(zai)(zai)某種程度上與原子(zi)(zi)吸收光(guang)(guang)譜儀(yi)互補(bu)，減少(shao)工廠(chang)附設的(de)(de)(de)(de)(de)(de)品(pin)管(guan)實驗(yan)室之(zhi)分(fen)析人力(li)投入(ru)。

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二、X射線熒光光譜儀如何檢測樣品中的金屬元素

當使(shi)用(yong)(yong)X射(she)線(xian)光照樣品(pin)時，樣品(pin)可(ke)以被激發(fa)出各種波長(chang)的(de)熒光X射(she)線(xian)，把混(hun)合的(de)X射(she)線(xian)按波長(chang)（或能量）分開，分別(bie)測量不同波長(chang)（或能量）的(de)X射(she)線(xian)的(de)強度，就可(ke)以進行定(ding)性和(he)定(ding)量分析，為(wei)此使(shi)用(yong)(yong)的(de)儀(yi)(yi)器為(wei)X射(she)線(xian)熒光光譜儀(yi)(yi)（以下簡稱XRF）。

實驗室如何利用XRF這種較為成熟的(de)分(fen)析技術檢測固(gu)體樣(yang)(yang)(yang)品中的(de)金屬元素(su)？實驗室將拿到的(de)試樣(yang)(yang)(yang)過200目篩，按照提(ti)供的(de)方法進行制(zhi)樣(yang)(yang)(yang)，從(cong)中選(xuan)擇能覆蓋分(fen)析元素(su)含量范圍(wei)并具有(you)一(yi)(yi)定梯度的(de)樣(yang)(yang)(yang)品，經化(hua)學方法準確定值后，與同樣(yang)(yang)(yang)粒度的(de)3個標(biao)準樣(yang)(yang)(yang)品一(yi)(yi)起(qi)分(fen)別壓片(pian)用于建(jian)立(li)工作曲線(xian)。

方法采用壓(ya)片法，根(gen)據不同(tong)的壓(ya)力對樣(yang)品進行壓(ya)片，做壓(ya)力與(yu)樣(yang)品元素強(qiang)度(du)試(shi)驗，確定壓(ya)力和保壓(ya)時間(jian)(jian)。（分析(xi)合金樣(yang)品過程中粒(li)度(du)效(xiao)應是影響熒光光譜儀結(jie)果的主(zhu)要主(zhu)要因(yin)素之(zhi)一(yi)，需要通過固(gu)定破碎試(shi)樣(yang)的克數與(yu)研磨(mo)時間(jian)(jian)來保持試(shi)樣(yang)與(yu)分析(xi)試(shi)樣(yang)粒(li)度(du)一(yi)致，確定研磨(mo)時間(jian)(jian)。）

輸入各元(yuan)素(su)的(de)(de)化學值(zhi)，用(yong)熒光光譜(pu)儀測(ce)(ce)定(ding)其強度(du)，以元(yuan)素(su)化學值(zhi)為(wei)橫(heng)坐(zuo)標(biao)，強度(du)為(wei)縱(zong)坐(zuo)標(biao)，分(fen)別建(jian)立一次作曲線，并得到(dao)相應的(de)(de)的(de)(de)回歸情(qing)況，得到(dao)結果(guo)元(yuan)素(su)的(de)(de)相對標(biao)準偏差RSD<1％，這表明用(yong)XRF測(ce)(ce)定(ding)這些(xie)固體樣(yang)品金屬元(yuan)素(su)有很好的(de)(de)分(fen)析(xi)精度(du)。整(zheng)個檢(jian)測(ce)(ce)過程快(kuai)速(su)、準確，不(bu)需要化學方法對樣(yang)品進行前處理，同時可以實現(xian)多元(yuan)素(su)分(fen)析(xi)，并可以替代復雜的(de)(de)檢(jian)測(ce)(ce)方法。

XRF適合(he)用于(yu)(yu)元素(su)(su)分(fen)(fen)析(xi)和(he)化學分(fen)(fen)析(xi)，理論上可以測(ce)(ce)定元素(su)(su)周期表中從F-U（除去(qu)惰性(xing)氣體(ti)一族）的(de)元素(su)(su)，分(fen)(fen)析(xi)范圍廣，可分(fen)(fen)析(xi)濃度(du)范圍從1μg/g～100%。可用于(yu)(yu)（但不限于(yu)(yu)）實驗(yan)室檢測(ce)(ce)依據(ju)的(de)部分(fen)(fen)標準(zhun)方(fang)法包括：

GB/T 21114-2019耐(nai)火(huo)材料 X射線(xian)熒光光譜化學分析(xi) 熔鑄玻(bo)璃片法。

YS/T 575.23-2009 鋁土礦石化學(xue)分析(xi)方法 第23部(bu)分：X射線熒光(guang)光(guang)譜法測定元(yuan)素含(han)量。

GB/T 6609.30-2009 氧化(hua)鋁化(hua)學分析(xi)方(fang)法和物理(li)性(xing)能測定方(fang)法 第30部分：X射線熒光光譜(pu)法測定微量元素含量等。

在研究金屬、玻璃、地質、建筑材料等領域，X射線熒光光譜儀是較為常見的(de)非破壞性(xing)元(yuan)素分析(xi)方法，由于可直(zhi)接分析(xi)固(gu)體(ti)或者是液體(ti)試樣(yang)，進(jin)(jin)行非破壞分析(xi)，適(shi)用場(chang)景(jing)較多(duo)，在元(yuan)素分析(xi)領域是一(yi)種切(qie)實可行的(de)檢測方法。實驗室(shi)X射線熒光光譜(pu)儀XRF可以測量樣(yang)品中(zhong)的(de)金屬元(yuan)素組成(cheng)，對送樣(yang)的(de)需求(qiu)需要進(jin)(jin)行進(jin)(jin)一(yi)步的(de)溝通。